JP7300511B2 - 硬化膜の製造方法、光硬化性樹脂組成物、積層体の製造方法、及び、半導体デバイスの製造方法 - Google Patents
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Description
このような光硬化性樹脂組成物を、例えば塗布等により基材に適用し、その後、必要に応じて露光、現像、加熱等を行うことにより、硬化した樹脂を基材上に形成することができる。
光硬化性樹脂組成物は、公知の塗布方法等により適用可能であるため、例えば、適用される光硬化性樹脂組成物の形状、大きさ、適用位置等の設計の自由度が高いなど、製造上の適応性に優れるといえる。ポリイミド、ポリベンゾオキサゾール等が有する高い性能に加え、このような製造上の適応性に優れる観点から、これらの樹脂を含む光硬化性樹脂組成物の産業上の応用展開がますます期待されている。
上記硬化膜の製造において、パターン形状及び膜強度に優れた硬化膜が得られる硬化膜の製造方法の提供が望まれている。
<1> 光硬化性樹脂組成物から形成された光硬化性膜の一部を露光する第1露光工程、
上記露光後の上記光硬化性膜を現像液により現像してパターンを得る現像工程、及び、
上記第1露光工程において使用した光の波長とは異なる波長の光を含む光により上記パターンを露光する第2露光工程を含み、
上記光硬化性樹脂組成物が、
ポリイミド及びポリベンゾオキサゾールよりなる群から選ばれた少なくとも1種の樹脂、
上記第1露光工程における露光波長に対して感度を有する感光性化合物A、及び、
上記第1露光工程における露光波長に対しては感度を有さず、かつ、上記第2露光工程における露光波長に対して感度を有する感光性化合物Bを含み、
上記感光性化合物Aが、上記第1露光工程において上記光硬化性膜の上記現像液に対する溶解度を変化させる化合物であり、
下記条件1及び条件2の少なくとも一方を満たす
硬化膜の製造方法;
条件1:上記光硬化性樹脂組成物における上記樹脂が、上記第2露光工程において上記感光性化合物Bの感光によって他の基との結合反応が促進される基を含む;
条件2:上記光硬化性樹脂組成物が、上記第2露光工程において上記感光性化合物Bの感光によって他の基との結合反応が促進される基を有する架橋剤を更に含む。
<2> 上記感光性化合物Aが、上記第1露光工程によりラジカルを発生する化合物である、<1>に記載の硬化膜の製造方法。
<3> 上記感光性化合物Bが、上記第2露光工程により酸を発生する化合物である、<1>又は<2>に記載の硬化膜の製造方法。
<4> 上記感光性化合物Bが、上記第2露光工程によりラジカルを発生する化合物である、<1>又は<2>に記載の硬化膜の製造方法。
<5> 上記感光性化合物Bが、上記第2露光工程により塩基を発生する化合物である、<1>又は<2>に記載の硬化膜の製造方法。
<6> 上記感光性化合物Aが光ラジカル重合開始剤であり、上記感光性化合物Bが光酸発生剤である、<1>に記載の硬化膜の製造方法。
<7> 上記感光性化合物A、及び、上記感光性化合物Bがいずれも光ラジカル重合開始剤である、<1>に記載の硬化膜の製造方法。
<8> 上記第1露光工程における露光が、i線による露光である、<1>~<7>のいずれか1つに記載の硬化膜の製造方法。
<9> <1>~<8>のいずれか1つに記載の硬化膜の製造方法に用いられる、光硬化性樹脂組成物。
<10> ポリイミド及びポリベンゾオキサゾールよりなる群から選ばれた少なくとも1種の樹脂、並びに、極大吸収波長の差が80nm以上である感光性化合物A及び感光性化合物Bを含み、
上記感光性化合物Aが、下記第1露光工程において上記光硬化性膜の上記現像液に対する溶解度を変化させる化合物であり、
下記条件1及び条件2の少なくとも一方を満たし、
光硬化性樹脂組成物から形成された光硬化性膜の一部を露光する第1露光工程、
上記露光後の上記光硬化性膜を現像液により現像してパターンを得る現像工程、及び、
上記第1露光工程において使用した光の波長とは異なる波長の光を含む光により上記パターンを露光する第2露光工程を含む硬化膜の製造方法に供される
光硬化性樹脂組成物。
条件1:上記光硬化性樹脂組成物における上記樹脂が、上記第2露光工程において上記感光性化合物Bの感光によって他の基との結合反応が促進される基を含む;
条件2:上記光硬化性樹脂組成物が、上記第2露光工程において上記感光性化合物Bの感光によって他の基との結合反応が促進される基を有する架橋剤を更に含む。
<11> <1>~<8>のいずれか1つに記載の硬化膜の製造方法を含む、積層体の製造方法。
<12> <1>~<8>のいずれか1つに記載の硬化膜の製造方法、又は、<11>に記載の積層体の製造方法を含む、電子デバイスの製造方法。
本明細書において「~」という記号を用いて表される数値範囲は、「~」の前後に記載される数値をそれぞれ下限値及び上限値として含む範囲を意味する。
本明細書において「工程」との語は、独立した工程だけではなく、その工程の所期の作用が達成できる限りにおいて、他の工程と明確に区別できない工程も含む意味である。
本明細書における基(原子団)の表記において、置換及び無置換を記していない表記は、置換基を有しない基(原子団)と共に置換基を有する基(原子団)をも包含する。例えば、「アルキル基」とは、置換基を有しないアルキル基(無置換アルキル基)のみならず、置換基を有するアルキル基(置換アルキル基)をも包含する。
本明細書において「露光」とは、特に断らない限り、光を用いた露光のみならず、電子線、イオンビーム等の粒子線を用いた露光も含む。また、露光に用いられる光としては、水銀灯の輝線スペクトル、エキシマレーザーに代表される遠紫外線、極紫外線(EUV光)、X線、電子線等の活性光線又は放射線が挙げられる。
本明細書において、「(メタ)アクリレート」は、「アクリレート」及び「メタクリレート」の両方、又は、いずれかを意味し、「(メタ)アクリル」は、「アクリル」及び「メタクリル」の両方、又は、いずれかを意味し、「(メタ)アクリロイル」は、「アクリロイル」及び「メタクリロイル」の両方、又は、いずれかを意味する。
本明細書において、構造式中のMeはメチル基を表し、Etはエチル基を表し、Buはブチル基を表し、Phはフェニル基を表す。
本明細書において、全固形分とは、組成物の全成分から溶剤を除いた成分の総質量をいう。また本明細書において、固形分濃度とは、組成物の総質量に対する、溶剤を除く他の成分の質量百分率である。
本明細書において、重量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)は、特に述べない限り、ゲル浸透クロマトグラフィ(GPC測定)に従い、ポリスチレン換算値として定義される。本明細書において、重量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)は、例えば、HLC-8220GPC(東ソー(株)製)を用い、カラムとしてガードカラムHZ-L、TSKgel Super HZM-M、TSKgel Super HZ4000、TSKgel Super HZ3000、TSKgel Super HZ2000(東ソー(株)製)を用いることによって求めることができる。それらの分子量は特に述べない限り、溶離液としてTHF(テトラヒドロフラン)を用いて測定したものとする。また、GPC測定における検出は特に述べない限り、UV線(紫外線)の波長254nm検出器を使用したものとする。
本明細書において、積層体を構成する各層の位置関係について、「上」又は「下」と記載したときには、注目している複数の層のうち基準となる層の上側又は下側に他の層があればよい。すなわち、基準となる層と上記他の層の間に、更に第3の層や要素が介在していてもよく、基準となる層と上記他の層は接している必要はない。また、特に断らない限り、基材に対し層が積み重なっていく方向を「上」と称し、又は、光硬化性層がある場合には、基材から光硬化性層へ向かう方向を「上」と称し、その反対方向を「下」と称する。なお、このような上下方向の設定は、本明細書中における便宜のためであり、実際の態様においては、本明細書における「上」方向は、鉛直上向きと異なることもありうる。
本明細書において、特段の記載がない限り、組成物は、組成物に含まれる各成分として、その成分に該当する2種以上の化合物を含んでもよい。また、特段の記載がない限り、組成物における各成分の含有量とは、その成分に該当する全ての化合物の合計含有量を意味する。
本明細書において、特に述べない限り、温度は23℃、気圧は101,325Pa(1気圧)である。
本明細書において、好ましい態様の組み合わせは、より好ましい態様である。
本発明の硬化膜の製造方法の第一の態様は、光硬化性樹脂組成物から形成された光硬化性膜の一部を露光する第1露光工程、上記露光後の上記光硬化性膜を現像液により現像してパターンを得る現像工程、及び、上記第1露光工程において使用した光の波長とは異なる波長の光を含む光により上記パターンを露光する第2露光工程を含み、上記光硬化性樹脂組成物が、ポリイミド及びポリベンゾオキサゾールよりなる群から選ばれた少なくとも1種の樹脂(以下、「特定樹脂」ともいう。)、上記第1露光工程における露光波長に対して感度を有する感光性化合物A、及び、上記第1露光工程における露光波長に対しては感度を有さず上記第2露光工程における露光波長に対して感度を有する感光性化合物Bを含み、上記感光性化合物Aが、上記第1露光工程において上記光硬化性膜の上記現像液に対する溶解度を変化させる化合物であり、下記条件1及び条件2の少なくとも一方を満たす。
条件1:上記光硬化性樹脂組成物における上記樹脂が、上記第2露光工程において上記感光性化合物Bの感光によって他の基との結合反応が促進される基を含む。
条件2:上記光硬化性樹脂組成物が、上記第2露光工程において上記感光性化合物Bの感光によって他の基との結合反応が促進される基を有する架橋剤を更に含む。
本発明の硬化膜の製造方法の第二の態様は、光硬化性樹脂組成物から形成された光硬化性膜の一部を露光する第1露光工程、上記露光後の上記光硬化性膜を現像液により現像してパターンを得る現像工程、及び、上記第1露光工程において使用した光の波長とは異なる波長の光を含む光により上記パターンを露光する第2露光工程を含み、上記光硬化性樹脂組成物が、ポリイミド及びポリベンゾオキサゾールよりなる群から選ばれた少なくとも1種の樹脂、並びに、極大吸収波長の差が80nm以上である感光性化合物A及び感光性化合物Bを含み、上記感光性化合物Aが、上記第1露光工程において上記光硬化性膜の上記現像液に対する溶解度を変化させる化合物であり、上記条件1及び条件2の少なくとも一方を満たす。
上記第一の態様及び第二の態様は、感光性化合物A及び感光性化合物Bが異なる以外は同一の態様である。
以下、上記第一の態様を単に「第一の態様」、上記第二の態様を単に「第二の態様」といい、上記第一の態様及び第二の態様を併せて、「本発明の硬化膜の製造方法」ともいう。
上記効果が得られるメカニズムは不明であるが、下記のように推測される。
本発明者らは、上記加熱及びその後の冷却等において、露光現像後のパターンが膨張、収縮するなどにより、変形してしまう点について、改善の余地があることを見出した。
本発明者らは鋭意検討した結果、上記光硬化性樹脂組成物から形成された光硬化性膜に対して、上記第1露光工程及び第2露光工程の2段階の露光を行うことにより、上記変形が抑制された硬化膜が得られることを見出し、本発明を完成するに至った。
本発明の硬化膜の製造方法によれば、硬化のための加熱(例えば、180℃以上の加熱)を行わずに硬化膜を得ることも可能であるため、プロセスを短時間化することも可能であると考えられる。
また、上記2段階の露光により、硬化膜中の架橋密度が増加する等の理由により、膜強度に優れた硬化膜が得られやすいと考えられる。
また同様に、上記架橋密度の増加等の理由により、溶剤耐性に優れた硬化膜が得られやすいと考えられる。
以下、本発明の硬化膜の製造方法について詳細に説明する。
本発明の硬化膜の製造方法は、光硬化性樹脂組成物から形成された光硬化性膜の一部を露光する第1露光工程を含む。
第1露光工程においては、後述する感光性化合物Aが感光し、上記光硬化性膜の現像液に対する溶解度が変化する。
具体的には、例えば感光性化合物Aが後述する光重合開始剤である場合、光硬化性膜において重合が進行し、第1露光工程後の光硬化性膜の現像液に対する溶解度が低下する。
また、例えば感光性化合物Aが後述する光酸発生剤であり、現像液が後述するアルカリ現像液である場合、光硬化性膜において酸が発生し、現像液に対する溶解度が増大する。
更に、例えば感光性化合物Aが後述する光酸発生剤であり、現像液が後述する有機溶剤である場合、光硬化性膜において酸が発生し、現像液に対する溶解度が低下する。
このように、第1露光工程においては、感光性化合物Aの感光により、特定樹脂又は架橋剤に含まれる架橋性基と他の基との結合反応が促進されることにより、光硬化性膜の現像液に対する溶解度が変化してもよいし、感光性化合物Aの感光による化学変化により発生した生成物によって、光硬化性膜の現像液に対する溶解度が変化してもよい。
ポジ型光硬化性膜とは、第1露光工程において露光された部分(露光部)が現像液により除去される光硬化性膜をいい、ネガ型光硬化性膜とは、第1露光工程において露光されていない部分(非露光部)が現像液により除去される光硬化性膜をいう。
本発明の硬化膜の製造方法の第二の態様において、第1露光工程における露光波長は、後述する感光性化合物Aの極大吸収波長付近(例えば、極大吸収波長±10nmの範囲内の波長等)であり、かつ、感光性化合物Bの極大吸収波長から十分離れた波長(例えば、極大吸収波長±20nmの範囲外の波長等)である波長として適宜設定すればよいが、190~1,000nmが好ましく、240~550nmがより好ましく、300~380nmであることが更に好ましい。
また取り扱いと生産性の観点では、高圧水銀灯のブロード(g,h,i線の3波長)光源や半導体レーザー405nmも好適である。
感光性化合物Bの感光を抑制するため、これらの光源において特定の波長を除去する光学フィルタ等を用いてもよい。
本発明の硬化膜の製造方法の第二の態様において、第1露光工程における露光量は、感光性化合物Aの極大吸収波長における露光エネルギー換算で、100~10,000mJ/cm2であることが好ましく、200~8,000mJ/cm2であることがより好ましい。
本発明の硬化膜の製造方法は、上記第1露光工程後、現像工程前に、露光後の光硬化性膜を加熱する工程(露光後加熱工程)を含んでもよい。
露光後加熱工程における加熱温度は、50℃~140℃であることが好ましく、60℃~120℃であることがより好ましい。
露光後加熱工程における加熱時間は、1分間~300分間が好ましく、5分間~120分間がより好ましい。
露光後加熱工程における昇温速度は、加熱開始時の温度から最高加熱温度まで1~12℃/分が好ましく、2~10℃/分がより好ましく、3~10℃/分が更に好ましい。
また、昇温速度は加熱途中で適宜変更してもよい。
露光後加熱工程における加熱手段としては、特に限定されず、公知のホットプレート、オーブン、赤外線ヒーター等を用いることができる。
また、加熱に際し、窒素、ヘリウム、アルゴンなどの不活性ガスを流す、減圧下で行う等により、低酸素濃度の雰囲気で行うことも好ましい。
本発明の硬化膜の製造方法は、光硬化性樹脂組成物から光硬化性膜を形成する膜形成工程を含んでいてもよい。
第一露光工程における上記光硬化性膜は、膜形成工程により形成された光硬化性膜であってもよいし、購入等の手段により入手した光硬化性膜であってもよい。
膜形成工程は、光硬化性樹脂組成物を基材に適用して膜(層状)にし、光硬化性膜を得る工程であることが好ましい。
基材の種類は、用途に応じて適宜定めることができるが、シリコン、窒化シリコン、ポリシリコン、酸化シリコン、アモルファスシリコンなどの半導体作製基材、石英、ガラス、光学フィルム、セラミック材料、蒸着膜、磁性膜、反射膜、Ni、Cu、Cr、Feなどの金属基材、紙、SOG(Spin On Glass)、TFT(薄膜トランジスタ)アレイ基材、プラズマディスプレイパネル(PDP)の電極板など特に制約されない。本発明では、特に、半導体作製基材が好ましく、シリコン基材、Cu基材およびモールド基材がより好ましい。
また、これらの基材にはヘキサメチルジシラザン(HMDS)等による密着層や酸化層などの層が表面に設けられていてもよい。
また、基材の形状は特に限定されず、円形状であっても矩形状であってもよい。
基材のサイズとしては、円形状であれば、例えば直径が100~450mmであり、好ましくは200~450mmである。矩形状であれば、例えば短辺の長さが100~1000mmであり、好ましくは200~700mmである。 また、基材としては、例えば板状の基材(基板)が用いられる。
また感光性樹脂組成物の粘度や設定する膜厚によっては、300~3,500rpmの回転数で、10~180秒適用することも好ましい。また膜厚の均一性を得るために、複数の回転数を組み合わせて塗布することもできる。
また、あらかじめ仮支持体上に上記付与方法によって付与して形成した塗膜を、基材上に転写する方法を適用することもできる。
転写方法に関しては特開2006-023696号公報の段落0023、0036~0051や、特開2006-047592号公報の段落0096~0108に記載の作製方法を本発明においても好適に用いることができる。
また、基材の端部において余分な膜の除去を行なう工程を行なってもよい。このような工程の例には、エッジビードリンス(EBR)、バックリンスなどが挙げられる。
また樹脂組成物を基材に塗布する前に基材を種々の溶剤を塗布し、基材の濡れ性を向上させた後に樹脂組成物を塗布するプリウェット工程を採用しても良い。
本発明の硬化膜の製造方法は、膜形成工程(層形成工程)の後に、溶剤を除去するために形成された膜(層)を乾燥する工程(乾燥工程)を含んでいてもよい。
好ましい乾燥温度は50~150℃で、70℃~130℃がより好ましく、90℃~110℃が更に好ましい。乾燥時間としては、30秒~20分が例示され、1分~10分が好ましく、3分~7分がより好ましい。光硬化性樹脂組成物の溶剤量が多い場合、真空乾燥と加熱乾燥を組み合わせることもできる。加熱乾燥はホットプレート、熱風式オーブン等が用いられ、特に制限されない。
本発明の硬化膜の製造方法は、上記露光後の上記光硬化性膜を現像液により現像してパターンを得る現像工程を含む。
現像を行うことにより、露光部、及び、非露光部の一方が除去される。現像方法は、所望のパターンを形成できれば特に制限は無く、例えば、パドル、スプレー、浸漬、超音波等の現像方法が採用可能である。
本発明において、現像液としてアルカリ現像液を用いる場合をアルカリ現像、現像液として有機溶剤を50質量%以上含む現像液を用いる場合を溶剤現像という。
アルカリ現像における現像液は、pHが10~15である水溶液がより好ましい。
アルカリ現像における現像液に含まれるアルカリ化合物としては、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム、炭酸水素ナトリウム、炭酸水素カリウム、ケイ酸ナトリウム、ケイ酸カリウム、メタケイ酸ナトリウム、メタケイ酸カリウム、アンモニア又はアミンなどが挙げられる。アミンとしては、例えば、エチルアミン、n-プロピルアミン、ジエチルアミン、ジ-n-プロピルアミン、トリエチルアミン、メチルジエチルアミン、アルカノールアミン、ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミン、四級アンモニウム水酸化物、水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)又は水酸化テトラエチルアンモニウムなどが挙げられる。なかでも金属を含まないアルカリ化合物が好ましく、アンモニウム化合物がより好ましい。より好ましくはTMAHである。現像液における塩基性化合物の含有量は、例えばTMAHを用いる場合、現像液全質量中0.01~10質量%が好ましく、0.1~5質量%がより好ましく、0.3~3質量%が更に好ましい。
アルカリ化合物は1種のみでもよいし、2種以上であってもよい。アルカリ化合物が2種以上の場合は、その合計が上記範囲であることが好ましい。
他の成分としては、例えば、公知の界面活性剤や公知の消泡剤等が挙げられる。
現像液の供給方法は、所望のパターンを形成できれば特に制限は無く、基材を現像液に浸漬する方法、基材上にノズルを用いて現像液を供給しパドル現像、または、現像液を連続供給する方法がある。ノズルの種類は特に制限は無く、ストレートノズル、シャワーノズル、スプレーノズル等が挙げられる。
現像液の浸透性、非画像部の除去性、製造上の効率の観点から、現像液をストレートノズルで供給する方法、又はスプレーノズルにて連続供給する方法が好ましく、画像部への現像液の浸透性の観点からは、スプレーノズルで供給する方法がより好ましい。
また、現像液をストレートノズルにて連続供給後、基材をスピンし現像液を基材上から除去し、スピン乾燥後に再度ストレートノズルにて連続供給後、基材をスピンし現像液を基材上から除去する工程を採用してもよく、この工程を複数回繰り返しても良い。
また現像工程における現像液の供給方法としては、現像液が連続的に基材に供給され続ける工程、基材上で現像液が略静止状態で保たれる工程、基材上で現像液を超音波等で振動させる工程及びそれらを組み合わせた工程などが採用可能である。
溶剤現像の場合、リンスは、現像液とは異なる有機溶剤で行うことが好ましい。例えば、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートが挙げられる。リンス時間は5秒~5分が好ましい。また現像とリンスの間に、現像液とリンス液の両方を適用する工程を含んでいても良い。上記工程の時間は1秒~5分が好ましい。
アルカリ現像の場合、リンスは、純水を用いて行うことが好ましい。
リンス時間は、10秒~10分間が好ましく、20秒~5分間がより好ましく、5秒~1分が更に好ましい。
リンス時のリンス液の温度は、特に定めるものではないが、好ましくは、10~45℃、より好ましくは、18℃~30℃で行うことができる。
他の成分としては、例えば、公知の界面活性剤や公知の消泡剤等が挙げられる。
リンス液の供給方法は、所望のパターンを形成できれば特に制限は無く、基材をリンス液に浸漬する方法、基材上でのパドル現像、基材にリンス液をシャワーで供給する方法、基材上にストレートノズル等の手段により現像液を連続供給する方法がある。
リンス液の浸透性、非画像部の除去性、製造上の効率の観点から、リンス液をシャワーノズル、ストレートノズル、スプレーノズルなどで供給する方法があり、スプレーノズルにて連続供給する方法が好ましく、画像部へのリンス液の浸透性の観点からは、スプレーノズルで供給する方法がより好ましい。ノズルの種類は特に制限は無く、ストレートノズル、シャワーノズル、スプレーノズル等が挙げられる。
すなわち、リンス工程は、リンス液を上記露光後の膜に対してストレートノズルにより供給、又は、連続供給する工程であることが好ましく、リンス液をスプレーノズルにより供給する工程であることがより好ましい。
またリンス工程におけるリンス液の供給方法としては、リンス液が連続的に基材に供給され続ける工程、基材上でリンス液が略静止状態で保たれる工程、基材上でリンス液を超音波等で振動させる工程及びそれらを組み合わせた工程などが採用可能である。
本発明の硬化膜の製造方法は、上記第1露光工程において使用した光の波長とは異なる波長の光を含む光により上記パターンを露光する第2露光工程を含む。
第2露光工程においては、感光性化合物Bが感光し、硬化膜の膜強度及び溶剤耐性が向上すると考えられる。
例えば感光性化合物Bが光ラジカル重合開始剤である場合、架橋剤、特定樹脂等に含まれるラジカル重合性基が重合し、硬化膜の膜強度及び溶剤耐性が向上すると考えられる。
また、例えば感光性化合物Bが光酸発生剤である場合、架橋剤、特定樹脂等に含まれる架橋性基が重合し、硬化膜の膜強度及び溶剤耐性が向上すると考えられる。
更に、例えば感光性化合物Bが光塩基発生剤である場合、架橋剤、特定樹脂等に含まれる架橋性基が重合し、硬化膜の膜強度及び溶剤耐性が向上すると考えられる。
本発明の硬化膜の製造方法の第二の態様において、第2露光工程における露光光は、感光性化合物Bの極大吸収波長付近(例えば、感光性化合物Bの極大吸収波長±10nmの範囲内の波長等)の波長の光を含んでいればよく、感光性化合物Aの極大吸収波長付近(例えば、感光性化合物Aの極大吸収波長±10nmの範囲内の波長等)である波長の光を更に含んでいてもよい。
すなわち、第2露光工程において、感光性化合物Aは感光してもよいし、感光しなくともよい。
光硬化性膜がネガ型光硬化性膜である場合、得られる硬化膜の膜強度、及び、溶剤耐性の観点からは、第2露光工程における露光光は、感光性化合物Aが感光する波長の光を更に含むことが好ましい。
例えば、感光性化合物Aが光ラジカル重合開始剤であり、感光性化合物Bが酸発生剤であり、第2露光工程において、感光性化合物Bに加えて感光性化合物Aが感光する場合には、酸による架橋のみならずラジカル重合も更に進行するため、得られる硬化膜の膜強度、及び、溶剤耐性が更に向上すると考えられる。
このように、第2露光工程における露光光が、感光性化合物Aが感光する波長の光を更に含むことにより、膜強度、及び、溶剤耐性に優れた硬化膜が得られる場合がある。
本発明の硬化膜の製造方法の第一の態様において、第2露光工程における露光光が含んでもよい、感光性化合物Aが感度を有する波長の光は、後述する感光性化合物Aの感度を考慮して適宜設定すればよいが、190~1,000nmが好ましく、240~550nmがより好ましく、300~380nmであることが更に好ましい。
本発明の硬化膜の製造方法の第二の態様において、第2露光工程における露光波長は、後述する感光性化合物Bの極大吸収波長付近(例えば、感光性化合物Bの極大吸収波長±10nmの範囲内の波長等)である波長として適宜設定すればよいが、190~1,000nmが好ましく、200~550nmがより好ましく、200~280nmであることが更に好ましい。
本発明の硬化膜の製造方法の第二の態様において、第2露光工程における露光光は、後述する感光性化合物Aの極大吸収波長付近(例えば、感光性化合物Aの極大吸収波長±10nmの範囲内の波長等)である波長の光を含んでもよい。このような光の波長としては、感光性化合物Aの極大吸収波長を考慮して適宜設定すればよいが、190~1,000nmが好ましく、240~550nmがより好ましく、300~380nmであることが更に好ましい。
第2露光工程における感光性化合物Aの感光を抑制するため、これらの光源において特定の波長を除去する光学フィルタ等を用いてもよいが、第2露光工程における感光性化合物Aの感光を促進するため、特に光学フィルタなどを用いず、例えば波長200~600nmの範囲内の様々な波長の光を含む光源である、上記高圧水銀灯等を用いることが好ましい。
本発明の硬化膜の製造方法の第二の態様において、第2露光工程における露光量は、感光性化合物Bの極大吸収波長における露光エネルギー換算で、100~20,000mJ/cm2であることが好ましく、200~15,000mJ/cm2であることがより好ましい。
製造方法の短時間化、省エネルギー化の観点から、本発明の硬化膜の製造方法は、現像工程により得られたパターンを加熱する工程(加熱工程)を含まないことが好ましい。
具体的には、パターン形状を向上する観点からは、現像工程の後、パターンを200℃以上で加熱する工程を含まないことが好ましく、パターンを160℃以上で加熱する工程を含まないことがより好ましい。
加えて、急速加熱可能なオーブンの場合、加熱開始時の温度から最高加熱温度まで1~8℃/秒の昇温速度で行うことが好ましく、2~7℃/秒がより好ましく、3~6℃/秒が更に好ましい。
加熱工程における加熱手段としては、特に限定されないが、例えばホットプレート、電熱式オーブン、熱風式オーブン、などが挙げられる。
本発明の硬化膜の製造方法は、第2露光工程後の硬化膜の表面に金属層を形成する金属層形成工程を含むことが好ましい。
本発明の硬化膜の製造方法により得られる硬化膜の適用可能な分野としては、半導体デバイスの絶縁膜、再配線層用層間絶縁膜、ストレスバッファ膜などが挙げられる。そのほか、封止フィルム、基板材料(フレキシブルプリント基板のベースフィルムやカバーレイ、層間絶縁膜)、又は上記のような実装用途の絶縁膜をエッチングでパターン形成することなどが挙げられる。これらの用途については、例えば、サイエンス&テクノロジー(株)「ポリイミドの高機能化と応用技術」2008年4月、柿本雅明/監修、CMCテクニカルライブラリー「ポリイミド材料の基礎と開発」2011年11月発行、日本ポリイミド・芳香族系高分子研究会/編「最新ポリイミド 基礎と応用」エヌ・ティー・エス,2010年8月等を参照することができる。
本発明の積層体の製造方法は、本発明の硬化膜の製造方法を含むことが好ましい。
本発明の積層体の製造方法により得られる積層体は、硬化膜を2層以上含む積層体であり、3~7層積層した積層体としてもよい。
上記積層体に含まれる2層以上の上記硬化膜のうち、少なくとも1つが本発明の硬化膜の製造方法により得られる硬化膜であり、硬化膜のパターン形状を向上する観点からは、上記積層体に含まれる全ての硬化膜が本発明の硬化膜の製造方法により得られる硬化膜であることが好ましい。
上記積層体は、硬化膜を2層以上含み、上記硬化膜同士のいずれかの間に金属層を含む態様が好ましい。上記金属層は、上記金属層形成工程により形成されることが好ましい。
上記積層体としては、例えば、第一の硬化膜、金属層、第二の硬化膜の3つの層がこの順に積層された層構造を少なくとも含む積層体が好ましいものとして挙げられる。
上記第一の硬化膜及び上記第二の硬化膜は、いずれも本発明の硬化膜の製造方法により得られた硬化膜であることが好ましい。上記第一の硬化膜の形成に用いられる本発明の光硬化性樹脂組成物と、上記第二の硬化膜の形成に用いられる本発明の光硬化性樹脂組成物とは、組成が同一の組成物であってもよいし、組成が異なる組成物であってもよい。本発明の積層体における金属層は、再配線層などの金属配線として好ましく用いられる。
本発明の積層体の製造方法は、積層工程を含むことが好ましい。
積層工程とは、硬化膜(樹脂層)又は金属層の表面に、再度、(a)膜形成工程(層形成工程)、(b)第1露光工程、(c)現像工程、(d)第2露光工程を、この順に行うことを含む一連の工程である。ただし、(a)の膜形成工程のみを繰り返す態様であってもよい。また、(d)第2露光工程の後には(e)金属層形成工程を含んでもよい。積層工程には、更に、上記乾燥工程や加熱工程等を適宜含んでいてもよいことは言うまでもない。
例えば、樹脂層/金属層/樹脂層/金属層/樹脂層/金属層のように、樹脂層を2層以上20層以下とする構成が好ましく、3層以上7層以下とする構成がより好ましく、3層以上5層以下とする構成が更に好ましい。
本発明の積層体の製造方法は、上記金属層および感光性樹脂組成物層の少なくとも一部を表面活性化処理する、表面活性化処理工程を含んでもよい。
表面活性化処理工程は、通常、金属層形成工程の後に行うが、上記露光現像工程の後、感光性樹脂組成物層に表面活性化処理工程を行ってから、金属層形成工程を行ってもよい。
表面活性化処理は、金属層の少なくとも一部のみに行ってもよいし、露光後の感光性樹脂組成物層の少なくとも一部のみに行ってもよいし、金属層および露光後の感光性樹脂組成物層の両方について、それぞれ、少なくとも一部に行ってもよい。表面活性化処理は、金属層の少なくとも一部について行うことが好ましく、金属層のうち、表面に感光性樹脂組成物層を形成する領域の一部または全部に表面活性化処理を行うことが好ましい。このように、金属層の表面に表面活性化処理を行うことにより、その表面に設けられる樹脂層との密着性を向上させることができる。
また、表面活性化処理は、露光後の感光性樹脂組成物層(樹脂層)の一部または全部についても行うことが好ましい。このように、感光性樹脂組成物層の表面に表面活性化処理を行うことにより、表面活性化処理した表面に設けられる金属層や樹脂層との密着性を向上させることができる。
表面活性化処理としては、具体的には、各種原料ガス(酸素、水素、アルゴン、窒素、窒素/水素混合ガス、アルゴン/酸素混合ガスなど)のプラズマ処理、コロナ放電処理、CF4/O2、NF3/O2、SF6、NF3、NF3/O2によるエッチング処理、紫外線(UV)オゾン法による表面処理、塩酸水溶液に浸漬して酸化皮膜を除去した後にアミノ基とチオール基を少なくとも一種有する化合物を含む有機表面処理剤への浸漬処理、ブラシを用いた機械的な粗面化処理から選択され、プラズマ処理が好ましく、特に原料ガスに酸素を用いた酸素プラズマ処理が好ましい。コロナ放電処理の場合、エネルギーは、500~200,000J/m2が好ましく、1000~100,000J/m2がより好ましく、10,000~50,000J/m2が最も好ましい。
本発明は、本発明の硬化膜の製造方法、又は、本発明の積層体の製造方法を含む半導体デバイスの製造方法も開示する。本発明の光硬化性樹脂組成物を再配線層用層間絶縁膜の形成に用いた半導体デバイスの具体例としては、特開2016-027357号公報の段落0213~0218の記載及び図1の記載を参酌でき、これらの内容は本明細書に組み込まれる。
以下、本発明の硬化膜の製造方法、本発明の積層体の製造方法、又は、本発明の半導体デバイスの製造方法において用いられる光硬化性樹脂組成物の詳細について説明する。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、本発明の硬化膜の製造方法、本発明の積層体の製造方法、又は、本発明の半導体デバイスの製造方法において用いられる光硬化性樹脂組成物である。
本発明の光硬化性樹脂組成物の第一の態様は、ポリイミド及びポリベンゾオキサゾールよりなる群から選ばれた少なくとも1種の樹脂、上記第1露光工程における露光波長に対して感度を有する感光性化合物A、及び、上記第1露光工程における露光波長に対しては感度を有さず上記第2露光工程における露光波長に対して感度を有する感光性化合物Bを含み、上記感光性化合物Aが、上記第1露光工程において上記光硬化性膜の上記現像液に対する溶解度を変化させる化合物であり、下記条件1及び条件2の少なくとも一方を満たす。
本発明の光硬化性樹脂組成物の第二の態様は、ポリイミド及びポリベンゾオキサゾールよりなる群から選ばれた少なくとも1種の樹脂、並びに、極大吸収波長の差が80nm以上である感光性化合物A及び感光性化合物Bを含み、上記感光性化合物Aが、下記第1露光工程において上記光硬化性膜の上記現像液に対する溶解度を変化させる化合物であり、下記条件1及び条件2の少なくとも一方を満たし、光硬化性樹脂組成物から形成された光硬化性膜の一部を露光する第1露光工程、上記露光後の上記光硬化性膜を現像液により現像してパターンを得る現像工程、及び、上記第1露光工程において使用した光の波長とは異なる波長の光を含む光により上記パターンを露光する第2露光工程を含む硬化膜の製造方法に供される光硬化性樹脂組成物である。
条件1:上記光硬化性樹脂組成物における上記樹脂が、上記第2露光工程において上記感光性化合物Bの感光によって他の基との結合反応が促進される基を含む;
条件2:上記光硬化性樹脂組成物が、上記第2露光工程において上記感光性化合物Bの感光によって他の基との結合反応が促進される基を有する架橋剤を更に含む。
態様1:感光性化合物Aが光ラジカル重合開始剤であり、感光性化合物Bが光酸発生剤である。
態様2:感光性化合物A、及び、感光性化合物Bがいずれも光ラジカル重合開始剤である。
態様3:感光性化合物Aが光ラジカル重合開始剤であり、感光性化合物Bが光塩基発生剤である。
態様4:感光性化合物Aが光酸発生剤であり、感光性化合物Bが光ラジカル重合開始剤である。
態様5:感光性化合物Aが光塩基発生剤であり、感光性化合物Bが光ラジカル重合開始剤である。
態様6:感光性化合物A及び感光性化合物Bのいずれもが光酸発生剤である。
態様7:感光性化合物A及び感光性化合物Bのいずれもが光塩基発生剤である。
パターン矩形性の観点からは、態様1が好ましい。
溶剤耐性の観点からは、態様6が好ましい。
得られる硬化膜の膜強度の観点からは、態様4が好ましい。
光硬化性膜のポジ型現像を可能とする観点からは、態様4が好ましい。
露光量に対するロバストネス(許容度)が良好である点からは、態様2が好ましい。
態様1において、光硬化性樹脂組成物は、後述するラジカル架橋剤及び後述する他の架橋剤を更に含むことが好ましい。
また、態様1において、光硬化性樹脂に含まれる特定樹脂は後述する架橋性基を有していてもよいし、有していなくともよい。上記架橋性基としては、後述するラジカル重合性基であってもよいし、後述する他の架橋性基であってもよい。
また、態様1における感光性化合物Bは、後述するオニウム塩化合物又はスルホネート化合物であることが好ましい。
本発明の硬化膜の製造方法において、態様1に係る光硬化性樹脂組成物を用いた場合、第1露光工程における露光部でラジカル重合が促進され、第2露光工程における露光部では酸による架橋が促進される。
態様2において、光硬化性樹脂組成物は、後述するラジカル架橋剤を更に含むことが好ましい。
また、態様2において、光硬化性樹脂に含まれる特定樹脂は後述する架橋性基を有していてもよいし、有していなくともよい。上記架橋性基としては、後述するラジカル重合性基が好ましい。
本発明の硬化膜の製造方法において、態様2に係る光硬化性樹脂組成物を用いた場合、第1露光工程における露光部でラジカル重合が促進され、第2露光工程における露光部でもラジカル重合が促進される。
態様3において、光硬化性樹脂組成物は、後述するラジカル架橋剤及び後述する他の架橋剤を更に含むことが好ましい。
上記他の架橋剤としては、エポキシ化合物が好ましい。
また、態様3において、光硬化性樹脂に含まれる特定樹脂は後述する架橋性基を有していてもよいし、有していなくともよい。上記架橋性基としては、後述するラジカル重合性基又はエポキシ基が好ましい。
本発明の硬化膜の製造方法において、態様3に係る光硬化性樹脂組成物を用いた場合、第1露光工程における露光部でラジカル重合が促進され、第2露光工程における露光部では塩基による架橋が促進される。
態様4において、光硬化性樹脂組成物は、後述するラジカル架橋剤を更に含むことが好ましい。
また、態様4において、光硬化性樹脂に含まれる特定樹脂は後述する架橋性基を有していてもよいし、有していなくともよい。上記架橋性基としては、後述するラジカル重合性基が好ましい。
また、態様4における感光性化合物Aは、後述するキノンジアジド化合物であることが好ましい。
本発明の硬化膜の製造方法において、態様4に係る光硬化性樹脂組成物を用いた場合、第1露光工程における露光部では酸の発生により露光部の現像液への溶解度が変化し、第2露光工程における露光部ではラジカル重合が促進される。
また、感光性化合物Aである光酸発生剤及び架橋剤を適宜選択することにより、第1露光工程における露光部では酸による架橋が促進され、第2露光工程における露光部ではラジカル重合が促進される設計とすることも可能である。
態様5において、光硬化性樹脂組成物は、後述するラジカル架橋剤及び後述する他の架橋剤を更に含むことが好ましい。
また、態様5において、光硬化性樹脂に含まれる特定樹脂は後述する架橋性基を有していてもよいし、有していなくともよい。上記架橋性基としては、後述するラジカル重合性基であってもよいし、後述する他の架橋性基であってもよい。
本発明の硬化膜の製造方法において、態様5に係る光硬化性樹脂組成物を用いた場合、第1露光工程における露光部では塩基による架橋が促進され、第2露光工程における露光部ではラジカル重合が促進される。
態様6又は態様7において、光硬化性樹脂組成物は、後述する他の架橋剤を更に含むことが好ましい。
また、態様6又は態様7において、光硬化性樹脂に含まれる特定樹脂は後述する架橋性基を有していてもよいし、有していなくともよい。上記架橋性基としては、後述する他の架橋性基が好ましい。
本発明の硬化膜の製造方法において、態様6に係る光硬化性樹脂組成物を用いた場合、第1露光工程における露光部では酸による架橋が促進され、第2露光工程における露光部でも酸による架橋が促進される。
本発明の硬化膜の製造方法において、態様7に係る光硬化性樹脂組成物を用いた場合、第1露光工程における露光部では塩基の発生による架橋が促進され、第2露光工程における露光部でも塩基の発生による架橋が促進される。
以下、本発明の光硬化性樹脂組成物に含まれる、各成分の詳細について説明する。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、ポリイミド及びポリベンゾオキサゾールよりなる群から選ばれた少なくとも1種の樹脂(特定樹脂)を含む。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、特定樹脂として、ポリイミドを含むことが好ましい。
本発明に用いられるポリイミドは、上述の現像液に対して可溶であるポリイミドが好ましい。
現像液がアルカリ現像液である場合、ポリイミドはアルカリ可溶性ポリイミドであることが好ましく、現像液が有機溶剤である場合、ポリイミドは有機溶剤に可溶性なポリイミドであることが好ましい。
現像液に対して可溶であるとは、100gの現像液に対し、23℃で0.1g以上溶解するポリイミドをいい、パターン形成性の観点からは、0.5g以上溶解するポリイミドであることが好ましく、1.0g以上溶解するポリイミドであることが更に好ましい。上記溶解量の上限は特に限定されないが、100g以下であることが好ましい。
また、ポリイミドがアルカリ可溶性ポリイミドである場合、100gの2.38質量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシドに対し、23℃で0.1g以上溶解するポリイミドが好ましく、パターン形成性の観点からは、0.5g以上溶解するポリイミドであることが好ましく、1.0g以上溶解するポリイミドであることが更に好ましい。上記溶解量の上限は特に限定されないが、100g以下であることが好ましい。
また、ポリイミドは、得られる硬化膜の膜強度及び絶縁性の観点からは、複数個のイミド構造を主鎖に有するポリイミドであることが好ましい。
本明細書において、「主鎖」とは、樹脂を構成する高分子化合物の分子中で相対的に最も長い結合鎖をいい、「側鎖」とはそれ以外の結合鎖をいう。
得られる硬化膜の膜強度の観点からは、ポリイミドは、フッ素原子を有することが好ましい。
フッ素原子は、例えば、後述する式(4)で表される繰返し単位におけるR132、又は、後述する式(4)で表される繰返し単位におけるR131に含まれることが好ましく、後述する式(4)で表される繰返し単位におけるR132、又は、後述する式(4)で表される繰返し単位におけるR131にフッ化アルキル基として含まれることがより好ましい。
ポリイミドの全質量に対するフッ素原子の量は、1~50mol/gであることが好ましく、5~30mol/gであることがより好ましい。
得られる硬化膜の膜強度の観点からは、ポリイミドは、ケイ素原子を有することが好ましい。
ケイ素原子は、例えば、後述する式(4)で表される繰返し単位におけるR131に含まれることが好ましく、後述する式(4)で表される繰返し単位におけるR131に後述する有機変性(ポリ)シロキサン構造として含まれることがより好ましい。
また、上記ケイ素原子又は上記有機変性(ポリ)シロキサン構造はポリイミドの側鎖に含まれていてもよいが、ポリイミドの主鎖に含まれることが好ましい。
ポリイミドの全質量に対するケイ素原子の量は、0.01~5mol/gであることが好ましく、0.05~1mol/gであることがより好ましい。
得られる硬化膜の膜強度の観点からは、ポリイミドは、エチレン性不飽和結合を有することが好ましい。
ポリイミドは、ラジカル重合性基としてエチレン性不飽和基を有することが好ましい。
ポリイミドにおける上記エチレン性不飽和結合を有する基が、上述の条件1における上記第2露光工程において上記感光性化合物Bの感光によって他の基との結合反応が促進される基であってもよい。
また、ポリイミドにおける上記エチレン性不飽和結合を有する基が、上記第1露光工程において上記感光性化合物Aの感光によって他の基との結合反応が促進される基であってもよい。
ポリイミドは、エチレン性不飽和結合を主鎖末端に有していてもよいし、側鎖に有していてもよいが、側鎖に有することが好ましい。
上記エチレン性不飽和結合は、ラジカル重合性を有することが好ましい。
エチレン性不飽和結合は、後述する式(4)で表される繰返し単位におけるR132、又は、後述する式(4)で表される繰返し単位におけるR131に含まれることが好ましく、後述する式(4)で表される繰返し単位におけるR132、又は、後述する式(4)で表される繰返し単位におけるR131にエチレン性不飽和結合を有する基として含まれることがより好ましい。
これらの中でも、エチレン性不飽和結合は、後述する式(4)で表される繰返し単位におけるR131に含まれることが好ましく、後述する式(4)で表される繰返し単位におけるR131にエチレン性不飽和結合を有する基として含まれることがより好ましい。
エチレン性不飽和結合を有する基としては、ビニル基、アリル基、ビニルフェニル基等の芳香環に直接結合した、置換されていてもよいビニル基を有する基、(メタ)アクリルアミド基、(メタ)アクリロイルオキシ基、下記式(III)で表される基などが挙げられる。
なお、(ポリ)オキシアルキレン基とは、オキシアルキレン基又はポリオキシアルキレン基を意味する。
式(R1)~(R3)中、Lにおける炭素数2~12のアルキレン基、又は、炭素数2~30の(ポリ)オキシアルキレン基の好ましい態様は、上述のR201における、炭素数2~12のアルキレン基、又は、炭素数2~30の(ポリ)オキシアルキレン基の好ましい態様と同様である。
式(R1)中、Xは酸素原子であることが好ましい。
式(R1)~(R3)中、*は式(III)中の*と同義であり、好ましい態様も同様である。
式(R1)で表される構造は、例えば、フェノール性ヒドロキシ基等のヒドロキシ基を有するポリイミドと、イソシアナト基及びエチレン性不飽和結合を有する化合物(例えば、2-イソシアナトエチルメタクリレート等)とを反応することにより得られる。
式(R2)で表される構造は、例えば、カルボキシ基を有するポリイミドと、ヒドロキシ基及びエチレン性不飽和結合を有する化合物(例えば、2-ヒドロキシエチルメタクリレート等)とを反応することにより得られる。
式(R3)で表される構造は、例えば、フェノール性ヒドロキシ基等のヒドロキシ基を有するポリイミドと、グリシジル基及びエチレン性不飽和結合を有する化合物(例えば、グリシジルメタクリレート等)とを反応することにより得られる。
ポリアルキレンオキシ基としては、溶剤溶解性及び耐溶剤性の観点からは、ポリエチレンオキシ基、ポリプロピレンオキシ基、ポリトリメチレンオキシ基、ポリテトラメチレンオキシ基、又は、複数のエチレンオキシ基と複数のプロピレンオキシ基とが結合した基が好ましく、ポリエチレンオキシ基又はポリプロピレンオキシ基がより好ましく、ポリエチレンオキシ基が更に好ましい。上記複数のエチレンオキシ基と複数のプロピレンオキシ基とが結合した基において、エチレンオキシ基とプロピレンオキシ基とはランダムに配列していてもよいし、ブロックを形成して配列していてもよいし、交互等のパターン状に配列していてもよい。これらの基におけるエチレンオキシ基等の繰り返し数の好ましい態様は上述の通りである。
また、製造適性の観点では、ポリイミドの全質量に対するエチレン性不飽和結合の量は、0.0001~0.1mol/gであることが好ましく、0.0005~0.05mol/gであることがより好ましい。
ポリイミドは、エチレン性不飽和結合以外の架橋性基(他の架橋性基)を有していてもよい。
ポリイミドにおける上記エチレン性不飽和結合以外の架橋性基が、上述の条件1における上記第2露光工程において上記感光性化合物Bの感光によって他の基との結合反応が促進される基であってもよい。
また、ポリイミドにおける上記エチレン性不飽和結合以外の架橋性基が、上記第1露光工程において上記感光性化合物Aの感光によって他の基との結合反応が促進される基であってもよい。
エチレン性不飽和結合以外の架橋性基としては、エポキシ基、オキセタニル基等の環状エーテル基、メトキシメチル基等のアルコキシメチル基、メチロール基等が挙げられる。
エチレン性不飽和結合以外の架橋性基は、例えば、後述する式(4)で表される繰返し単位におけるR131に含まれることが好ましい。
ポリイミドの全質量に対するエチレン性不飽和結合以外の架橋性基の量は、0.05~10mol/gであることが好ましく、0.1~5mol/gであることがより好ましい。
また、製造適性の観点では、ポリイミドの全質量に対するエチレン性不飽和結合以外の架橋性基の量は、0.0001~0.1mol/gであることが好ましく、0.001~0.05mol/gであることがより好ましい。
ポリイミドは、酸分解性基等の極性変換基を有していてもよい。酸分解性基としては、酸の作用で分解して、フェノール性ヒドロキシ基、カルボキシ基等のアルカリ可溶性基を生じるものであれば特に限定されないが、アセタール基、ケタール基、シリル基、シリルエーテル基、第三級アルキルエステル基等が好ましく、露光感度の観点からは、アセタール基がより好ましい。
酸分解性基の具体例としては、tert-ブトキシカルボニル基、イソプロポキシカルボニル基、テトラヒドロピラニル基、テトラヒドロフラニル基、エトキシエチル基、メトキシエチル基、エトキシメチル基、トリメチルシリル基、tert-ブトキシカルボニルメチル基、トリメチルシリルエーテル基などが挙げられる。露光感度の観点からは、エトキシエチル基、又は、テトラヒドロフラニル基が好ましい。
ポリイミドがアルカリ現像に供される場合、現像性を向上する観点からは、ポリイミドの酸価は、30mgKOH/g以上であることが好ましく、50mgKOH/g以上であることがより好ましく、70mgKOH/g以上であることが更に好ましい。
また、上記酸価は500mgKOH/g以下であることが好ましく、400mgKOH/g以下であることがより好ましく、200mgKOH/g以下であることが更に好ましい。
また、ポリイミドが有機溶剤を主成分とする現像液を用いた現像(例えば、後述する「溶剤現像」)に供される場合、ポリイミドの酸価は、2~35mgKOH/gが好ましく、3~30mgKOH/gがより好ましく、5~20mgKOH/gが更に好ましい。
上記酸価は、公知の方法により測定され、例えば、JIS K 0070:1992に記載の方法により測定される。
また、ポリイミドに含まれる酸基としては、保存安定性及び現像性の両立の観点から、pKaが0~10である酸基が好ましく、3~8である酸基がより好ましい。
pKaとは、酸から水素イオンが放出される解離反応を考え、その平衡定数Kaをその負の常用対数pKaによって表したものである。本明細書において、pKaは、特に断らない限り、ACD/ChemSketch(登録商標)による計算値とする。又は、日本化学会編「改定5版 化学便覧 基礎編」に掲載の値を参照してもよい。
また、酸基が例えばリン酸等の多価の酸である場合、上記pKaは第一解離定数である。
このような酸基として、ポリイミドは、カルボキシ基、及び、フェノール性ヒドロキシ基よりなる群から選ばれた少なくとも1種を含むことが好ましく、フェノール性ヒドロキシ基を含むことがより好ましい。
アルカリ現像液による現像速度を適切なものとする観点からは、ポリイミドは、フェノール性ヒドロキシ基を有することが好ましい。
ポリイミドは、フェノール性ヒドロキシ基を主鎖末端に有してもよいし、側鎖に有してもよい。
フェノール性ヒドロキシ基は、例えば、後述する式(4)で表される繰返し単位におけるR132、又は、後述する式(4)で表される繰返し単位におけるR131に含まれることが好ましい。
ポリイミドの全質量に対するフェノール性ヒドロキシ基の量は、0.1~30mol/gであることが好ましく、1~20mol/gであることがより好ましい。
本発明で用いるポリイミドとしては、イミド環を有する高分子化合物であれば、特に限定はないが、下記式(4)で表される繰り返し単位を含むことが好ましく、式(4)で表される繰り返し単位を含み、架橋性基を有する化合物であることがより好ましい。
架橋性基としては、上述のエチレン性不飽和結合を有する基、又は、エチレン性不飽和結合以外の架橋性基が挙げられる。
ポリイミドが架橋性基を有する場合、架橋性基は、R131及びR132の少なくとも一方に位置していてもよいし、下記式(4-1)又は式(4-2)に示すようにポリイミドの末端に位置していてもよい。
式(4-1)
式(4-2)
R131は、2価の有機基を表す。2価の有機基としては、直鎖又は分岐の脂肪族基、環状の脂肪族基及び芳香族基を含む基が例示され、炭素数2~20の直鎖又は分岐の脂肪族基、炭素数6~20の環状の脂肪族基、炭素数6~20の芳香族基、又は、これらの組み合わせからなる基が好ましく、炭素数6~20の芳香族基を含む基がより好ましい。本発明の特に好ましい実施形態として、-Ar-L-Ar-で表される基であることが例示される。但し、Arは、それぞれ独立に、芳香族基であり、Lは、フッ素原子で置換されていてもよい炭素数1~10の脂肪族炭化水素基、-O-、-CO-、-S-、-SO2-又は-NHCO-、又は、上記の2つ以上の組み合わせからなる基である。Arは、フェニレン基が好ましく、Lは、フッ素原子で置換されていてもよい炭素数1又は2の脂肪族炭化水素基、-O-、-CO-、-S-又はSO2-が好ましい。ここでの脂肪族炭化水素基は、アルキレン基が好ましい。
具体的には、炭素数2~20の直鎖又は分岐の脂肪族基、炭素数6~20の環状の脂肪族基、炭素数6~20の芳香族基、又は、これらの組み合わせからなる基を含むジアミンであることが好ましく、炭素数6~20の芳香族基からなる基を含むジアミンであることがより好ましい。芳香族基を含む基の例としては、下記が挙げられる。下記式中、*はそれぞれ独立に、他の構造との結合部位を表す
式中、R1~R3はそれぞれ独立に、水素原子又は置換基を表し、水素原子、炭化水素基、又は、架橋性基を有する基であることが好ましく、水素原子、グリシジル基又は下記式(E1)で表される基がより好ましい。
式(E1)中、Xは、-O-又は-NRN-を表す。RNは水素原子又は炭化水素基を表し、水素原子、アルキル基又は芳香族炭化水素基が好ましく、水素原子又はメチル基がより好ましい
式(E1)中、RE2は2価の連結基を表し、炭素数2~12のアルキレン基、-O-CH2CH(OH)CH2-、-C(=O)O-、-O(C=O)NH-、炭素数2~30の(ポリ)オキシアルキレン基(アルキレン基の炭素数は2~12が好ましく、2~6がより好ましく、2又は3が特に好ましい;繰り返し数は1~12が好ましく、1~6がより好ましく、1~3が特に好ましい)、又はこれらを2以上組み合わせた基が好ましく、炭素数2~12のアルキレン基がより好ましい。
式(E1)中、*は他の構造との結合部位を表す。
ジェファーミン(登録商標)KH-511、ED-600、ED-900、ED-2003、EDR-148、EDR-176の構造を以下に示す。
式(51)
R50~R57の1価の有機基としては、炭素数1~10(好ましくは炭素数1~6)の無置換のアルキル基、炭素数1~10(好ましくは炭素数1~6)のフッ化アルキル基等が挙げられる。
式(51)又は(61)の構造を与えるジアミン化合物としては、2,2’-ジメチルベンジジン、2,2’-ビス(トリフルオロメチル)-4,4’-ジアミノビフェニル、2,2’-ビス(フルオロ)-4,4’-ジアミノビフェニル、4,4’-ジアミノオクタフルオロビフェニル等が挙げられる。これらは1種で又は2種以上を組み合わせて用いてもよい。
R132は4価の有機基を表す。4価の有機基としては、芳香環を含む4価の有機基が好ましく、下記式(5)又は式(6)で表される基がより好ましい。下記式(5)及び(6)中、*はそれぞれ独立に、他の構造との結合部位を表す。
テトラカルボン酸二無水物は、下記式(O)で表されることが好ましい。
ポリイミドのイミド化率(「閉環率」ともいう)は、得られる硬化膜の膜強度、絶縁性等の観点からは、70%以上であることが好ましく、80%以上であることがより好ましく、90%以上であることがより好ましい。
上記イミド化率の上限は特に限定されず、100%以下であればよい。
上記イミド化率は、例えば下記方法により測定される。
ポリイミドの赤外吸収スペクトルを測定し、イミド構造由来の吸収ピークである1377cm-1付近のピーク強度P1を求める。次に、そのポリイミドを350℃で1時間熱処理した後、再度、赤外吸収スペクトルを測定し、1377cm-1付近のピーク強度P2を求める。得られたピーク強度P1、P2を用い、下記式に基づいて、ポリイミドのイミド化率を求めることができる。
イミド化率(%)=(ピーク強度P1/ピーク強度P2)×100
ポリイミドの市販品としては、Durimide(登録商標)284(富士フイルム(株)製)、Matrimide5218(HUNTSMAN(株)製)が例示される。
ポリイミド又はポリイミド前駆体等の製造方法に際し、保存安定性をより向上させるため、酸無水物、モノカルボン酸、モノ酸クロリド化合物、モノ活性エステル化合物などの末端封止剤で、ポリイミド前駆体等の末端を封止することが好ましい。末端封止剤としては、モノアルコール、フェノール、チオール、チオフェノール、モノアミンを用いることがより好ましい。
モノアルコールの好ましい化合物としては、メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノール、ヘキサノール、オクタノール、ドデシノール、ベンジルアルコール、2-フェニルエタノール、2-メトキシエタノール、2-クロロメタノール、フルフリルアルコール等の1級アルコール、イソプロパノール、2-ブタノール、シクロヘキシルアルコール、シクロペンタノール、1-メトキシ-2-プロパノール等の2級アルコール、t-ブチルアルコール、アダマンタンアルコール等の3級アルコール、などが挙げられる。フェノール類の好ましい化合物としては、フェノール、メトキシフェノール、メチルフェノール、ナフタレン-1-オール、ナフタレン-2-オールなどが挙げられる。
モノアミンの好ましい化合物としては、アニリン、2-エチニルアニリン、3-エチニルアニリン、4-エチニルアニリン、5-アミノ-8-ヒドロキシキノリン、1-ヒドロキシ-7-アミノナフタレン、1-ヒドロキシ-6-アミノナフタレン、1-ヒドロキシ-5-アミノナフタレン、1-ヒドロキシ-4-アミノナフタレン、2-ヒドロキシ-7-アミノナフタレン、2-ヒドロキシ-6-アミノナフタレン、2-ヒドロキシ-5-アミノナフタレン、1-カルボキシ-7-アミノナフタレン、1-カルボキシ-6-アミノナフタレン、1-カルボキシ-5-アミノナフタレン、2-カルボキシ-7-アミノナフタレン、2-カルボキシ-6-アミノナフタレン、2-カルボキシ-5-アミノナフタレン、2-アミノ安息香酸、3-アミノ安息香酸、4-アミノ安息香酸、4-アミノサリチル酸、5-アミノサリチル酸、6-アミノサリチル酸、2-アミノベンゼンスルホン酸、3-アミノベンゼンスルホン酸、4-アミノベンゼンスルホン酸、3-アミノ-4,6-ジヒドロキシピリミジン、2-アミノフェノール、3-アミノフェノール、4-アミノフェノール、2-アミノチオフェノール、3-アミノチオフェノール、4-アミノチオフェノールなどが挙げられる。これらを2種以上用いてもよく、複数の末端封止剤を反応させることにより、複数の異なる末端基を導入してもよい。
また、樹脂末端のアミノ基を封止する際、アミノ基と反応可能な官能基を有する化合物で封止することが可能である。アミノ基に対する好ましい封止剤は、カルボン酸無水物、カルボン酸クロリド、カルボン酸ブロミド、スルホン酸クロリド、無水スルホン酸、スルホン酸カルボン酸無水物などが好ましく、カルボン酸無水物、カルボン酸クロリドがより好ましい。カルボン酸無水物の好ましい化合物としては、無水酢酸、無水プロピオン酸、無水シュウ酸、無水コハク酸、無水マレイン酸、無水フタル酸、無水安息香酸などが挙げられる。また、カルボン酸クロリドの好ましい化合物としては、塩化アセチル、アクリル酸クロリド、プロピオニルクロリド、メタクリル酸クロリド、ピバロイルクロリド、シクロヘキサンカルボニルクロリド、2-エチルヘキサノイルクロリド、シンナモイルクロリド、1-アダマンタンカルボニルクロリド、ヘプタフルオロブチリルクロリド、ステアリン酸クロリド、ベンゾイルクロリド、などが挙げられる。
ポリイミド等の製造に際し、固体を析出する工程を含んでいてもよい。具体的には、反応液中のポリイミド等を、水中に沈殿させ、テトラヒドロフラン等のポリイミド等が可溶な溶剤に溶解させることによって、固体析出することができる。
その後、ポリイミド等を乾燥して、粉末状のポリイミド等を得ることができる。
ポリベンゾオキサゾールとしては、ベンゾオキサゾール環を有する高分子化合物であれば、特に限定はないが、下記式(X)で表される化合物であることが好ましく、下記式(X)で表される化合物であって、架橋性基を有する化合物であることがより好ましい。
架橋性基を有する場合、架橋性基は、R133及びR134の少なくとも一方に位置していてもよいし、下記式(X-1)又は式(X-2)に示すようにポリベンゾオキサゾールの末端に位置していてもよい。
式(X-1)
式(X-2)
ポリベンゾオキサゾールにおける上記架橋性基が、上述の条件1における上記第2露光工程において上記感光性化合物Bの感光によって他の基との結合反応が促進される基であってもよい。
また、ポリベンゾオキサゾールにおける上記架橋性基が、上記第1露光工程において上記感光性化合物Aの感光によって他の基との結合反応が促進される基であってもよい。
R133は、2価の有機基を表す。2価の有機基としては、脂肪族基及び芳香族基の少なくとも一方を含む基が好ましい。脂肪族基としては、直鎖の脂肪族基が好ましい。R133は、ジカルボン酸残基が好ましい。ジカルボン酸残基は、1種のみ用いてもよいし、2種以上用いてもよい。
脂肪族基を含むジカルボン酸としては、直鎖又は分岐(好ましくは直鎖)の脂肪族基を含むジカルボン酸が好ましく、直鎖又は分岐(好ましくは直鎖)の脂肪族基と2つの-COOHからなるジカルボン酸がより好ましい。直鎖又は分岐(好ましくは直鎖)の脂肪族基の炭素数は、2~30であることが好ましく、2~25であることがより好ましく、3~20であることが更に好ましく、4~15であることが一層好ましく、5~10であることが特に好ましい。直鎖の脂肪族基はアルキレン基であることが好ましい。
直鎖の脂肪族基を含むジカルボン酸としては、マロン酸、ジメチルマロン酸、エチルマロン酸、イソプロピルマロン酸、ジ-n-ブチルマロン酸、スクシン酸、テトラフルオロスクシン酸、メチルスクシン酸、2,2-ジメチルスクシン酸、2,3-ジメチルスクシン酸、ジメチルメチルスクシン酸、グルタル酸、ヘキサフルオログルタル酸、2-メチルグルタル酸、3-メチルグルタル酸、2,2-ジメチルグルタル酸、3,3-ジメチルグルタル酸、3-エチル-3-メチルグルタル酸、アジピン酸、オクタフルオロアジピン酸、3-メチルアジピン酸、ピメリン酸、2,2,6,6-テトラメチルピメリン酸、スベリン酸、ドデカフルオロスベリン酸、アゼライン酸、セバシン酸、ヘキサデカフルオロセバシン酸、1,9-ノナン二酸、ドデカン二酸、トリデカン二酸、テトラデカン二酸、ペンタデカン二酸、ヘキサデカン二酸、ヘプタデカン二酸、オクタデカン二酸、ノナデカン二酸、エイコサン二酸、ヘンエイコサン二酸、ドコサン二酸、トリコサン二酸、テトラコサン二酸、ペンタコサン二酸、ヘキサコサン二酸、ヘプタコサン二酸、オクタコサン二酸、ノナコサン二酸、トリアコンタン二酸、ヘントリアコンタン二酸、ドトリアコンタン二酸、ジグリコール酸、更に下記式で表されるジカルボン酸等が挙げられる。
式(X)中、R134は4価の有機基を表す。4価の有機基としては、上記式(4)におけるR132と同義であり、好ましい範囲も同様である。
R134は、また、ビスアミノフェノール誘導体由来の基であることが好ましく、ビスアミノフェノール誘導体由来の基としては、例えば、3,3’-ジアミノ-4,4’-ジヒドロキシビフェニル、4,4’-ジアミノ-3,3’-ジヒドロキシビフェニル、3,3’-ジアミノ-4,4’-ジヒドロキシジフェニルスルホン、4,4’-ジアミノ-3,3’-ジヒドロキシジフェニルスルホン、ビス-(3-アミノ-4-ヒドロキシフェニル)メタン、2,2-ビス(3-アミノ-4-ヒドロキシフェニル)プロパン、2,2-ビス-(3-アミノ-4-ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2-ビス-(4-アミノ-3-ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、ビス-(4-アミノ-3-ヒドロキシフェニル)メタン、2,2-ビス-(4-アミノ-3-ヒドロキシフェニル)プロパン、4,4’-ジアミノ-3,3’-ジヒドロキシベンゾフェノン、3,3’-ジアミノ-4,4’-ジヒドロキシベンゾフェノン、4,4’-ジアミノ-3,3’-ジヒドロキシジフェニルエーテル、3,3’-ジアミノ-4,4’-ジヒドロキシジフェニルエーテル、1,4-ジアミノ-2,5-ジヒドロキシベンゼン、1,3-ジアミノ-2,4-ジヒドロキシベンゼン、1,3-ジアミノ-4,6-ジヒドロキシベンゼンなどが挙げられる。これらのビスアミノフェノールは、単独にて、あるいは混合して使用してもよい。
閉環に伴う反りの発生を抑制できる点で、下記式(SL)で表されるジアミン残基を他の種類の繰り返し単位として含むことが好ましい。
なお、ジカルボン酸の場合には反応収率等を高めるため、1-ヒドロキシ-1,2,3-ベンゾトリアゾール等を予め反応させた活性エステル型のジカルボン酸誘導体を用いてもよい。
また、ポリベンゾオキサゾール又はポリベンゾオキサゾール前駆体の合成において、上述のポリイミド又はポリイミド前駆体の合成と同様に、上述の末端封止剤を用いてもよいし、上述のポリベンゾオキサゾール前駆体の合成と同様に固体析出を行ってもよい。
本発明の光硬化性樹脂組成物における特定樹脂の含有量は、光硬化性樹脂組成物の全固形分に対し20質量%以上であることが好ましく、30質量%以上であることがより好ましく、40質量%以上であることが更に好ましく、50質量%以上であることが一層好ましい。また、本発明の光硬化性樹脂組成物における特定樹脂の含有量は、光硬化性樹脂組成物の全固形分に対し、99.5質量%以下であることが好ましく、99質量%以下であることがより好ましく、98質量%以下であることが更に好ましく、97質量%以下であることが一層好ましく、95質量%以下であることがより一層好ましい。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、特定樹脂を1種のみ含んでいてもよいし、2種以上含んでいてもよい。2種以上含む場合、合計量が上記範囲となることが好ましい。
本発明の樹脂組成物は、上述した特定樹脂と、特定樹脂とは異なる他の樹脂(以下、単に「他の樹脂」ともいう)とを含んでもよい。
他の樹脂としては、フェノール樹脂、ポリアミド、エポキシ樹脂、ポリシロキサン、シロキサン構造を含む樹脂、アクリル樹脂等が挙げられる。
例えば、アクリル樹脂を更に加えることにより、塗布性に優れた組成物が得られ、また、耐溶剤性に優れたパターン(硬化膜)が得られる。
例えば、後述する重合性化合物に代えて、又は、後述する重合性化合物に加えて、重量平均分子量が20,000以下の重合性基価の高いアクリル系樹脂を組成物に添加することにより、組成物の塗布性、パターン(硬化膜)の耐溶剤性等を向上させることができる。
また、本発明の樹脂組成物における、他の樹脂の含有量は、組成物の全固形分に対し、80質量%以下であることが好ましく、75質量%以下であることがより好ましく、70質量%以下であることが更に好ましく、60質量%以下であることが一層好ましく、50質量%以下であることがより一層好ましい。
また、本発明の樹脂組成物の好ましい一態様として、他の樹脂の含有量が低含有量である態様とすることもできる。上記態様において、他の樹脂の含有量は、組成物の全固形分に対し、20質量%以下であることが好ましく、15質量%以下であることがより好ましく、10質量%以下であることが更に好ましく、5質量%以下であることが一層好ましく、1質量%以下であることがより一層好ましい。上記含有量の下限は特に限定されず、0質量%以上であればよい。
本発明の樹脂組成物は、他の樹脂を1種のみ含んでいてもよいし、2種以上含んでいてもよい。2種以上含む場合、合計量が上記範囲となることが好ましい。
本発明の硬化膜の製造方法の第一の態様において、光硬化性樹脂組成物は、上記第1露光工程における露光波長に対して感度を有する感光性化合物Aを含む。
感光性化合物が、第1露光工程における露光波長に対して感度を有するか否かは、下記方法により判定される。
感光性化合物と、ポリメチルメタクリレート(PMMA)とをメチルエチルケトンに溶解し、モデル膜形成用組成物を調製する。モデル膜形成用組成物における、感光性化合物AとPMMAとの全質量に対する感光性化合物の含有量は、0.5mmol/gとする。また、モデル膜形成用組成物における、感光性化合物AとPMMAとの全質量に対するメチルエチルケトンの使用量は、後述するモデル膜の膜厚に応じて適宜設定すればよい。
また、PMMAの重量平均分子量は、10,000とする。
その後、得られたモデル膜形成用組成物をガラス上に塗布し、80℃で1分間熱乾燥して、モデル膜を得る。モデル膜の膜厚は、10μmとなるようにする。その後、第1露光工程における露光と同様の光源を用い、上記露光と同様の波長、照射量により上記組成物膜を露光する。
上記露光後、上記モデル膜、及び、上記モデル膜が形成されたガラスを、メタノール/THF=50/50(質量比)溶液に超音波を当てながら10分浸漬させる。上記溶液に抽出された抽出物をHPLC(高速液体クロマトグラフィ)にて分析することで感光性化合物の残存率を以下の式より算出する。
感光性化合物の残存率(%)=露光後のモデル膜に含まれる感光性化合物の量(mol)/露光前のモデル膜に含まれる感光性化合物の含有量(mol)×100
また、上記感光性化合物の残存率が80%未満である場合に、上記感光性化合物は第1露光工程における露光波長に対して感度を有する化合物であると判定する。上記残存率は、70%以下であることが好ましく、60%以下であることがより好ましく、50%以下であることが更に好ましい。上記残存率の下限は特に限定されず、0%であってもよい。
上記感光性化合物の残存率が80%以上である場合に、上記感光性化合物は第1露光工程における露光波長に対して感度を有しない化合物であると判定する。上記残存率は、85%以上であることが好ましく、90%以上であることがより好ましく、95%以上であることが更に好ましい。上記残存率の上限は特に限定されず、100%であってもよい。
第2露光工程における露光波長に対して感度を有するか否かについては、上記第1露光工程における露光波長に対して感度を有するか否かの判定方法において、「第1露光工程」の記載を「第2露光工程」の記載に読み替えた判定方法により判定することが可能である。
感光性化合物Aの極大吸収波長は、190~450nmであることが好ましく、320~450nmであることがより好ましい。
また、感光性化合物Aの極大吸収波長は、感光性化合物Bの極大吸収波長よりも大きいことが好ましい。
感光性化合物の極大吸収波長は、波長190~500nmの波長範囲における極大吸収波長のうち、最も長波長側に存在する波長として定義される。
具体的には、感光性化合物Aは、第1露光工程によりラジカルを発生する、酸を発生する等の化学変化が起こり、上記構造変化に伴い光硬化性層の現像液への溶解度を変化させる作用を有する化合物であることが好ましく、第1露光工程によりラジカルを発生する化合物であることがより好ましい。
また、感光性化合物Aは、光重合開始剤、又は、光酸発生剤であることが好ましい。
光重合開始剤としては、光ラジカル重合開始剤、光カチオン重合開始剤等が挙げられ、光ラジカル重合開始剤が好ましい。
光ラジカル重合開始剤は、上述の第1露光工程によりラジカルを発生する化合物に該当する化合物である。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、感光性化合物Aとして、光ラジカル重合開始剤を含むことが好ましい。
例えば、光硬化性樹脂組成物が、光ラジカル重合開始剤、並びに、ラジカル重合性を有するエチレン性不飽和結合を有する特定樹脂、及び、後述するラジカル架橋剤の少なくとも一方を含有することで、ラジカル重合が進行し、光硬化性層の露光部の現像液に対する溶解度が低下するため、ネガ型のパターンを形成することができる。
光ラジカル重合開始剤としては、特に制限はなく、例えば、公知の化合物の中から適宜選択することができる。例えば、紫外線領域から可視領域の光線に対して感光性を有する光ラジカル重合開始剤が好ましい。また、光励起された増感剤と何らかの作用を生じ、活性ラジカルを生成する活性剤であってもよい。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、感光性化合物Aとして、光酸発生剤を含むことも好ましい。
光酸発生剤を含有することで、例えば、光硬化性層の露光部に酸が発生して、上記露光部の現像液(例えば、アルカリ水溶液)に対する溶解性が増大し、露光部が現像液により除去されるポジ型のレリーフパターンを得ることができる。
また、光硬化性樹脂組成物が、光酸発生剤と、後述する架橋剤とを含有することにより、例えば、露光部に発生した酸により架橋剤の架橋反応が促進され、露光部が非露光部よりも現像液により除去されにくくなる態様とすることもできる。このような態様によれば、ネガ型のレリーフパターンを得ることができる。
オキシムスルホネート化合物は、オキシムスルホネート基を有していれば特に制限はないが、下記式(OS-1)、後述する式(OS-103)、式(OS-104)、又は、式(OS-105)で表されるオキシムスルホネート化合物であることが好ましい。
式(OS-1)中、m3は、0~3の整数を表し、0又は1が好ましい。m3が2又は3であるとき、複数のX3は同一でも異なっていてもよい。
式(OS-1)中、R34は、アルキル基又はアリール基を表し、炭素数1~10のアルキル基、炭素数1~10のアルコキシル基、炭素数1~5のハロゲン化アルキル基、炭素数1~5のハロゲン化アルコキシル基、Wで置換されていてもよいフェニル基、Wで置換されていてもよいナフチル基又はWで置換されていてもよいアントラニル基であることが好ましい。Wは、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、炭素数1~10のアルキル基、炭素数1~10のアルコキシル基、炭素数1~5のハロゲン化アルキル基又は炭素数1~5のハロゲン化アルコキシル基、炭素数6~20のアリール基、炭素数6~20のハロゲン化アリール基を表す。
式(OS-103)~式(OS-105)中、Rs1で表されるアルキル基(炭素数1~30が好ましい)、アリール基(炭素数6~30が好ましい)又はヘテロアリール基(炭素数4~30が好ましい)は、置換基Tを有していてもよい。
式(OS-103)、式(OS-104)、又は、式(OS-105)中、XsはO又はSを表し、Oであることが好ましい。上記式(OS-103)~(OS-105)において、Xsを環員として含む環は、5員環又は6員環である。
式(OS-103)~式(OS-105)中、Rs6で表されるアルキル基(炭素数1~30が好ましい)及びアルキルオキシ基(炭素数1~30が好ましい)は、置換基を有していてもよい。
式(OS-103)~式(OS-105)中、msは0~6の整数を表し、0~2の整数であることが好ましく、0又は1であることがより好ましく、0であることが特に好ましい。
式(OS-106)~式(OS-111)中、Rt7は、水素原子又は臭素原子を表し、水素原子であることが好ましい。
Rt2は、水素原子又はメチル基を表し、水素原子であることが好ましい。
また、上記オキシムスルホネート化合物において、オキシムの立体構造(E,Z)については、いずれか一方であっても、混合物であってもよい。
上記式(OS-103)~式(OS-105)で表されるオキシムスルホネート化合物の具体例としては、特開2011-209692号公報の段落番号0088~0095、特開2015-194674号公報の段落番号0168~0194に記載の化合物が例示され、これらの内容は本明細書に組み込まれる。
式(OS-101)又は式(OS-102)中、Ru2aは、アルキル基又はアリール基を表す。
式(OS-101)又は式(OS-102)中、Xuは、-O-、-S-、-NH-、-NRu5-、-CH2-、-CRu6H-又はCRu6Ru7-を表し、Ru5~Ru7はそれぞれ独立に、アルキル基又はアリール基を表す。
また、上記オキシムスルホネート化合物において、オキシムやベンゾチアゾール環の立体構造(E,Z等)についてはそれぞれ、いずれか一方であっても、混合物であってもよい。
式(OS-101)で表される化合物の具体例としては、特開2011-209692号公報の段落番号0102~0106、特開2015-194674号公報の段落番号0195~0207に記載の化合物が例示され、これらの内容は本明細書に組み込まれる。
上記化合物の中でも、b-9、b-16、b-31、b-33が好ましい。
より好適には、すくなくとも一つのモノ、ジ、又はトリハロゲン置換メチル基がs-トリアジン環に結合したs-トリアジン誘導体、具体的には、例えば、2,4,6-トリス(モノクロロメチル)-s-トリアジン、2,4,6-トリス(ジクロロメチル)-s-トリアジン、2,4,6-トリス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-メチル-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2―n-プロピル-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-(α,α,β-トリクロロエチル)-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-フェニル-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-(p-メトキシフェニル)-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-(3,4-エポキシフェニル)-4、6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-(p-クロロフェニル)-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-〔1-(p-メトキシフェニル)-2,4-ブタジエニル〕-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-スチリル-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-(p-メトキシスチリル)-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-(p-i-プロピルオキシスチリル)-4、6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-(p-トリル)-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-(4-ナトキシナフチル)-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-フェニルチオ-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-ベンジルチオ-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2,4,6-トリス(ジブロモメチル)-s-トリアジン、2,4,6-トリス(トリブロモメチル)-s-トリアジン、2-メチル-4,6-ビス(トリブロモメチル)-s-トリアジン、2-メトキシ-4,6-ビス(トリブロモメチル)-s-トリアジン等が挙げられる。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、感光性化合物Aとして、光塩基発生剤を含んでもよい。
光硬化性樹脂組成物が、光塩基発生剤と、後述する架橋剤とを含有することにより、例えば、露光部に発生した塩基により架橋剤の架橋反応が促進され、露光部が非露光部よりも現像液により除去されにくくなる態様とすることもできる。このような態様によれば、ネガ型のレリーフパターンを得ることができる。
例えば、M.Shirai,and M.Tsunooka, Prog.Polym.Sci.,21,1(1996);角岡正弘,高分子加工,46,2(1997);C.Kutal,Coord.Chem.Rev.,211,353(2001);Y.Kaneko,A.Sarker, and D.Neckers,Chem.Mater.,11,170(1999);H.Tachi,M.Shirai, and M.Tsunooka,J.Photopolym.Sci.Technol.,13,153(2000);M.Winkle, and K.Graziano,J.Photopolym.Sci.Technol.,3,419(1990);M.Tsunooka,H.Tachi, and S.Yoshitaka,J.Photopolym.Sci.Technol.,9,13(1996);K.Suyama,H.Araki,M.Shirai,J.Photopolym.Sci.Technol.,19,81(2006)に記載されているように、遷移金属化合物錯体や、アンモニウム塩などの構造を有するものや、アミジン部分がカルボン酸と塩形成することで潜在化されたもののように、塩基成分が塩を形成することにより中和されたイオン性の化合物や、カルバメート誘導体、オキシムエステル誘導体、アシル化合物などのウレタン結合やオキシム結合などにより塩基成分が潜在化された非イオン性の化合物を挙げることができる。
本発明では、光塩基発生剤として、カルバメート誘導体、アミド誘導体、イミド誘導体、αコバルト錯体類、イミダゾール誘導体、桂皮酸アミド誘導体、オキシム誘導体等がより好ましい例として挙げられる。
本発明に係る光塩基発生剤としては、例えば、特開2009-080452号公報および国際公開第2009/123122号で開示されたような桂皮酸アミド構造を有する光塩基発生剤、特開2006-189591号公報および特開2008-247747号公報で開示されたようなカルバメート構造を有する光塩基発生剤、特開2007-249013号公報および特開2008-003581号公報で開示されたようなオキシム構造、カルバモイルオキシム構造を有する光塩基発生剤等が挙げられるが、これらに限定されず、その他にも公知の光塩基発生剤の構造を用いることができる。
本発明の硬化膜の製造方法の第一の態様において、光硬化性樹脂組成物は、上記第1露光工程における露光波長に対しては感度を有さず、かつ、上記第2露光工程における露光波長に対して感度を有する化合物である感光性化合物Bを含む。
感光性化合物Bが、上記第1露光工程における露光波長に対しては感度を有しないこと、及び、上記第2露光工程における露光波長に対して感度を有することは、上述の感光性化合物Aの説明において記載した感度を有するか否かの判定方法と同様の方法により判定される。
第一の態様において、感光性化合物Bとしては、上述の感光性化合物Aと同様の光重合開始剤、光酸発生剤、光塩基発生剤であって、感光性化合物Aとして選択した化合物とは感度を有する露光波長が異なる化合物が挙げられる。
一例としては、感光性化合物Aとして、365nm付近に感度を有する光ラジカル重合開始剤を用いる場合、感光性化合物Bとして、216nm付近に感度を有する光酸発生剤を用いることができる。
また、別の一例として、感光性化合物Aとして、365nm付近に感度を有する光ラジカル重合開始剤を用いる場合、感光性化合物Bとして、270nm付近に感度を有する光ラジカル重合開始剤を用いることもできる。
感光性化合物Bの極大吸収波長は、190~450nmであることが好ましく、190~315nmであることがより好ましい。
感光性化合物Bの極大吸収波長は、上述の方法により測定される。
第二の態様において、感光性化合物Bとしては、上述の感光性化合物Aと同様の光重合開始剤、光酸発生剤、光塩基発生剤であって、感光性化合物Aとして選択した化合物とは極大吸収波長が80nm以上離れた化合物が挙げられる。
一例としては、感光性化合物Aとして、365nm付近に極大吸収波長を有する光ラジカル重合開始剤を用いる場合、感光性化合物Bとして、216nm付近に極大吸収波長を有する光酸発生剤を用いることができる。
また、別の一例として、感光性化合物Aとして、365nm付近に極大吸収波長を有する光ラジカル重合開始剤を用いる場合、感光性化合物Bとして、270nm付近に極大吸収波長を有する光ラジカル重合開始剤を用いることもできる。
その他、感光性化合物A及び感光性化合物Bの好ましい組み合わせについては上述の態様1~態様7の通りである。
感光性化合物Bが、上記第2露光工程により酸を発生する化合物である場合、本発明の光硬化性樹脂組成物は、後述の他の架橋剤を含むことが好ましい。
感光性化合物Bが、上記第2露光工程によりラジカルを発生する化合物である場合、本発明の光硬化性樹脂組成物は、後述のラジカル架橋剤を含むことが好ましい。
感光性化合物Bが、上記第2露光工程により塩基を発生する化合物である場合、本発明の光硬化性樹脂組成物は、後述の他の架橋剤を含むことが好ましく、後述のエポキシ化合物を含むことがより好ましい。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、溶剤を含むことが好ましい。
溶剤は、公知の溶剤を任意に使用できる。溶剤は有機溶剤が好ましい。有機溶剤としては、エステル類、エーテル類、ケトン類、環状炭化水素類、スルホキシド類、アミド類、アルコール類などの化合物が挙げられる。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、架橋剤を含むことが好ましい。
架橋剤は、上述の条件2における上記第2露光工程において上記感光性化合物Bの感光によって他の基との結合反応が促進される基を有する架橋剤であることが好ましい。
架橋剤としては、ラジカル架橋剤、又は、他の架橋剤が挙げられる。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、ラジカル架橋剤を更に含むことが好ましい。
ラジカル架橋剤は、ラジカル重合性基を有する化合物である。ラジカル重合性基としては、エチレン性不飽和結合を含む基が好ましい。上記エチレン性不飽和結合を含む基としては、ビニル基、アリル基、ビニルフェニル基、(メタ)アクリロイル基などのエチレン性不飽和結合を有する基が挙げられる。
これらの中でも、上記エチレン性不飽和結合を含む基としては、(メタ)アクリロイル基が好ましく、反応性の観点からは、(メタ)アクリロキシ基がより好ましい。
エチレン性不飽和結合を2個有する化合物は、上記エチレン性不飽和結合を含む基を2個有する化合物であることが好ましい。
また、得られる硬化膜の膜強度の観点からは、本発明の光硬化性樹脂組成物は、ラジカル架橋剤として、エチレン性不飽和結合を3個以上有する化合物を含むことが好ましい。上記エチレン性不飽和結合を3個以上有する化合物としては、エチレン性不飽和結合を3~15個有する化合物が好ましく、エチレン性不飽和結合を3~10個有する化合物がより好ましく、3~6個有する化合物が更に好ましい。
また、上記エチレン性不飽和結合を3個以上有する化合物は、上記エチレン性不飽和結合を含む基を3個以上有する化合物であることが好ましく、3~15個有する化合物であることがより好ましく、3~10個有する化合物であることが更に好ましく、3~6個有する化合物であることが特に好ましい。
また、得られる硬化膜の膜強度の観点からは、本発明の光硬化性樹脂組成物は、エチレン性不飽和結合を2個有する化合物と、上記エチレン性不飽和結合を3個以上有する化合物とを含むことも好ましい。
一方、現像性の観点からは、ラジカル架橋剤は、上記エチレン性不飽和結合を2個有する化合物であることが特に好ましい。
具体的な化合物としては、トリエチレングリコールジアクリレート、トリエチレングリコールジメタクリレート、テトラエチレングリコールジメタクリレート、テトラエチレングリコールジアクリレート、PEG200ジアクリレート(ポリエチレングリコールジアクリレートであって、ポリエチレングリコール鎖の式量が200程度のもの)、PEG200ジメタクリレート、PEG600ジアクリレート、PEG600ジメタクリレート、ポリテトラエチレングリコールジアクリレート、ポリテトラエチレングリコールジメタクリレート、ネオペンチルグリコールジアクリレート、ネオペンチルグリコールジメタクリレート、3-メチル-1,5-ペンタンジオールジアクリレート、1,6-ヘキサンジオールジアクリレート、1,6ヘキサンジオールジメタクリレート、ジメチロール-トリシクロデカンジアクリレート、ジメチロール-トリシクロデカンジメタクリレート、ビスフェノールAのEO(エチレンオキサイド)付加物ジアクリレート、ビスフェノールAのEO付加物ジメタリレート、ビスフェノールAのPO(プロピレンオキサイド)付加物ジアクリレート、ビスフェノールAのEO付加物ジメタリレート、2-ヒドロキシー3-アクリロイロキシプロピルメタクリレート、イソシアヌル酸EO変性ジアクリレート、イソシアヌル酸変性ジメタクリレート、その他ウレタン結合を有する2官能アクリレート、ウレタン結合を有する2官能メタクリレートを使用することができる。これらは必要に応じ、2種以上を混合し使用することができる。
硬化膜の弾性率制御に伴う反り抑制の観点から、ラジカル架橋剤として、単官能ラジカル架橋剤を好ましく用いることができる。単官能ラジカル架橋剤としては、n-ブチル(メタ)アクリレート、2-エチルヘキシル(メタ)アクリレート、2-ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、ブトキシエチル(メタ)アクリレート、カルビトール(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、フェノキシエチル(メタ)アクリレート、N-メチロール(メタ)アクリルアミド、グリシジル(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールモノ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールモノ(メタ)アクリレート等の(メタ)アクリル酸誘導体、N-ビニルピロリドン、N-ビニルカプロラクタム等のN-ビニル化合物類、アリルグリシジルエーテル等が好ましく用いられる。単官能ラジカル架橋剤としては、露光前の揮発を抑制するため、常圧下で100℃以上の沸点を持つ化合物も好ましい。
また、2官能以上のラジカル架橋剤として、ジアリルフタレート、トリアリルトリメリテート等のアリル化合物類等を用いることもできる。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、上述したラジカル架橋剤とは異なる、他の架橋剤を含むことが好ましい。
本発明において、他の架橋剤とは、上述したラジカル架橋剤以外の架橋剤をいい、上述の感光性化合物A又は感光性化合物Bの感光により、組成物中の他の化合物又はその反応生成物との間で共有結合を形成する反応が促進される基を分子内に複数個有する化合物であることが好ましく、組成物中の他の化合物又はその反応生成物との間で共有結合を形成する反応が酸又は塩基の作用によって促進される基を分子内に複数個有する化合物が好ましい。
上記酸又は塩基は、第1露光工程又は第2露光工程において、感光性化合物A又は感光性化合物Bである光酸発生剤又は光塩基発生剤から発生する酸又は塩基である。
他の架橋剤としては、メチロール基及びアルコキシメチル基よりなる群から選ばれた少なくとも一種の基を有する化合物が好ましく、メチロール基及びアルコキシメチル基よりなる群から選ばれた少なくとも一種の基が窒素原子に直接結合した構造を有する化合物がより好ましい。
他の架橋剤としては、例えば、メラミン、グリコールウリル、尿素、アルキレン尿素、ベンゾグアナミンなどのアミノ基含有化合物にホルムアルデヒド又はホルムアルデヒドとアルコールを反応させ、上記アミノ基の水素原子をメチロール基又はアルコキシメチル基で置換した構造を有する化合物が挙げられる。これらの化合物の製造方法は特に限定されず、上記方法により製造された化合物と同様の構造を有する化合物であればよい。また、これらの化合物のメチロール基同士が自己縮合してなるオリゴマーであってもよい。
上記のアミノ基含有化合物として、メラミンを用いた架橋剤をメラミン系架橋剤、グリコールウリル、尿素又はアルキレン尿素を用いた架橋剤を尿素系架橋剤、アルキレン尿素を用いた架橋剤をアルキレン尿素系架橋剤、ベンゾグアナミンを用いた架橋剤をベンゾグアナミン系架橋剤という。
これらの中でも、本発明の光硬化性樹脂組成物は、尿素系架橋剤及びメラミン系架橋剤よりなる群から選ばれた少なくとも1種の化合物を含むことが好ましく、後述するグリコールウリル系架橋剤及びメラミン系架橋剤よりなる群から選ばれた少なくとも1種の化合物を含むことがより好ましい。
ビスメトキシメチル尿素、ビスエトキシメチル尿素、ビスプロポキシメチル尿素、ビスブトキシメチル尿素等の尿素系架橋剤、
モノヒドロキシメチル化エチレン尿素又はジヒドロキシメチル化エチレン尿素、モノメトキシメチル化エチレン尿素、ジメトキシメチル化エチレン尿素、モノエトキシメチル化エチレン尿素、ジエトキシメチル化エチレン尿素、モノプロポキシメチル化エチレン尿素、ジプロポキシメチル化エチレン尿素、モノブトキシメチル化エチレン尿素、又は、ジブトキシメチル化エチレン尿素などのエチレン尿素系架橋剤、
モノヒドロキシメチル化プロピレン尿素、ジヒドロキシメチル化プロピレン尿素、モノメトキシメチル化プロピレン尿素、ジメトキシメチル化プロピレン尿素、モノジエトキシメチル化プロピレン尿素、ジエトキシメチル化プロピレン尿素、モノプロポキシメチル化プロピレン尿素、ジプロポキシメチル化プロピレン尿素、モノブトキシメチル化プロピレン尿素、又は、ジブトキシメチル化プロピレン尿素などのプロピレン尿素系架橋剤、
1,3-ジ(メトキシメチル)4,5-ジヒドロキシ-2-イミダゾリジノン、1,3-ジ(メトキシメチル)-4,5-ジメトキシ-2-イミダゾリジノンなどが挙げられる。
このような化合物の具体例としては、ベンゼンジメタノール、ビス(ヒドロキシメチル)クレゾール、ビス(ヒドロキシメチル)ジメトキシベンゼン、ビス(ヒドロキシメチル)ジフェニルエーテル、ビス(ヒドロキシメチル)ベンゾフェノン、ヒドロキシメチル安息香酸ヒドロキシメチルフェニル、ビス(ヒドロキシメチル)ビフェニル、ジメチルビス(ヒドロキシメチル)ビフェニル、ビス(メトキシメチル)ベンゼン、ビス(メトキシメチル)クレゾール、ビス(メトキシメチル)ジメトキシベンゼン、ビス(メトキシメチル)ジフェニルエーテル、ビス(メトキシメチル)ベンゾフェノン、メトキシメチル安息香酸メトキシメチルフェニル、ビス(メトキシメチル)ビフェニル、ジメチルビス(メトキシメチル)ビフェニル、4,4’,4’’-エチリデントリス[2,6-ビス(メトキシメチル)フェノール]、5,5’-[2,2,2‐トリフルオロ‐1‐(トリフルオロメチル)エチリデン]ビス[2‐ヒドロキシ‐1,3‐ベンゼンジメタノール]、3,3’,5,5’-テトラキス(メトキシメチル)-1,1’-ビフェニル-4,4’-ジオール等が挙げられる。
エポキシ化合物としては、一分子中にエポキシ基を2以上有する化合物であることが好ましい。エポキシ基は、200℃以下で架橋反応し、かつ、架橋に由来する脱水反応が起こらないため膜収縮が起きにくい。このため、エポキシ化合物を含有することは、光硬化性樹脂組成物の低温硬化及び反りの抑制に効果的である。
オキセタン化合物としては、一分子中にオキセタン環を2つ以上有する化合物、3-エチル-3-ヒドロキシメチルオキセタン、1,4-ビス{[(3-エチル-3-オキセタニル)メトキシ]メチル}ベンゼン、3-エチル-3-(2-エチルヘキシルメチル)オキセタン、1,4-ベンゼンジカルボン酸-ビス[(3-エチル-3-オキセタニル)メチル]エステル等を挙げることができる。具体的な例としては、東亞合成(株)製のアロンオキセタンシリーズ(例えば、OXT-121、OXT-221、OXT-191、OXT-223)が好適に使用することができ、これらは単独で、又は2種以上混合してもよい。
ベンゾオキサジン化合物は、開環付加反応に由来する架橋反応のため、硬化時に脱ガスが発生せず、更に熱収縮を小さくして反りの発生が抑えられることから好ましい。
得られる硬化膜の基材への密着性を向上する観点からは、本発明の光硬化性樹脂組成物は、スルホンアミド構造を有する化合物及びチオウレア構造を有する化合物よりなる群から選ばれた少なくとも1種の化合物を更に含むことが好ましい。
スルホンアミド構造とは、下記式(S-1)で表される構造である。
上記Rは、下記式(S-2)におけるR2と同様の基であることが好ましい。
スルホンアミド構造を有する化合物は、スルホンアミド構造を2以上有する化合物であってもよいが、スルホンアミド構造を1つ有する化合物であることが好ましい。
R1、R2及びR3はそれぞれ独立に、1価の有機基であることが好ましい。
R1、R2及びR3の例としては、水素原子、又は、アルキル基、シクロアルキル基、アルコキシ基、アルキルエーテル基、アルキルシリル基、アルコキシシリル基、アリール基、アリールエーテル基、カルボキシ基、カルボニル基、アリル基、ビニル基、複素環基、若しくはこれらを2以上組み合わせた基などが挙げられる。
上記アルキル基としては、炭素数1~10のアルキル基が好ましく、炭素数1~6のアルキル基がより好ましい。上記アルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、イソプロピル基、2-エチルへキシル基等が挙げられる。
上記シクロアルキル基としては、炭素数5~10のシクロアルキル基が好ましく、炭素数6~10のシクロアルキル基がより好ましい。上記シクロアルキル基としては、例えば、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基及びシクロヘキシル基等が挙げられる。
上記アルコキシ基としては、炭素数1~10のアルコキシ基が好ましく、炭素数1~5のアルコキシ基がより好ましい。上記アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基及びペントキシ基等が挙げられる。
上記アルコキシシリル基としては、炭素数1~10のアルコキシシリル基が好ましく、炭素数1~4のアルコキシシリル基がより好ましい。上記アルコキシシリル基としては、メトキシシリル基、エトキシシリル基、プロポキシシリル基及びブトキシシリル基等が挙げられる。
上記アリール基としては、炭素数6~20のアリール基が好ましく、炭素数6~12のアリール基がより好ましい。上記アリール基は、アルキル基等の置換基を有していてもよい。上記アリール基としては、フェニル基、トリル基、キシリル基及びナフチル基等が挙げられる。
上記複素環基としては、トリアゾール環、ピロール環、フラン環、チオフェン環、イミダゾール環、オキサゾール環、チアゾール環、ピラゾール環、イソオキサゾール環、イソチアゾール環、テトラゾール環、ピリジン環、ピリダジン環、ピリミジジン環、ピラジン環、ピペリジン環、ピペリジン、ピペラジン環、モルホリン環、ジヒドロピラン環、テトラヒドロピラン基、トリアジン環等の複素環構造から水素原子を1つ除いた基などが挙げられる。
チオウレア構造とは、下記式(T-1)で表される構造である。
R4及びR5の例としては、水素原子、又は、アルキル基、シクロアルキル基、アルコキシ基、アルキルエーテル基、アルキルシリル基、アルコキシシリル基、アリール基、アリールエーテル基、カルボキシ基、カルボニル基、アリル基、ビニル基、複素環基、若しくは、これらを2以上組み合わせた基などが挙げられる。
上記アルキル基としては、炭素数1~10のアルキル基が好ましく、炭素数1~6のアルキル基がより好ましい。上記アルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、イソプロピル基、2-エチルへキシル基等が挙げられる。
上記シクロアルキル基としては、炭素数5~10のシクロアルキル基が好ましく、炭素数6~10のシクロアルキル基がより好ましい。上記シクロアルキル基としては、例えば、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基及びシクロヘキシル基等が挙げられる。
上記アルコキシ基としては、炭素数1~10のアルコキシ基が好ましく、炭素数1~5のアルコキシ基がより好ましい。上記アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基及びペントキシ基等が挙げられる。
上記アルコキシシリル基としては、炭素数1~10のアルコキシシリル基が好ましく、炭素数1~4のアルコキシシリル基がより好ましい。上記アルコキシシリル基としては、メトキシシリル基、エトキシシリル基、プロポキシシリル基及びブトキシシリル基等が挙げられる。
上記アリール基としては、炭素数6~20のアリール基が好ましく、炭素数6~12のアリール基がより好ましい。上記アリール基は、アルキル基等の置換基を有していてもよい。上記アリール基としては、フェニル基、トリル基、キシリル基及びナフチル基等が挙げられる。
上記複素環基としては、トリアゾール環、ピロール環、フラン環、チオフェン環、イミダゾール環、オキサゾール環、チアゾール環、ピラゾール環、イソオキサゾール環、イソチアゾール環、テトラゾール環、ピリジン環、ピリダジン環、ピリミジジン環、ピラジン環、ピペリジン環、ピペリジン、ピペラジン環、モルホリン環、ジヒドロピラン環、テトラヒドロピラン基、トリアジン環等の複素環構造から水素原子を1つ除いた基などが挙げられる。
チオウレア構造を有する化合物は、チオウレア構造を2以上有する化合物であってもよいが、チオウレア構造を1つ有する化合物であることが好ましい。
式(T-2)中、R6及びR7はそれぞれ独立に、1価の有機基であることが好ましい。
式(T-2)中、R6及びR7における1価の有機基の好ましい態様は、式(T-1)中のR4及びR5における1価の有機基の好ましい態様と同様である。
本発明の光硬化性樹脂組成物の全質量に対する、スルホンアミド構造を有する化合物及びチオウレア構造を有する化合物の合計含有量は、0.05~10質量%であることが好ましく、0.1~5質量%であることがより好ましく、0.2~3質量%であることが更に好ましい。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、スルホンアミド構造を有する化合物及びチオウレア構造を有する化合物よりなる群から選ばれる化合物を、1種のみ含んでもよいし、2種以上を含んでもよい。1種のみ含む場合にはその化合物の含有量が、2種以上を含む場合にはその合計量が、上記の範囲となることが好ましい。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、マイグレーション抑制剤を更に含むことが好ましい。マイグレーション抑制剤を含むことにより、金属層(金属配線)由来の金属イオンが光硬化性層内へ移動することを効果的に抑制可能となる。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、重合禁止剤を含むことが好ましい。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、電極や配線などに用いられる金属材料との接着性を向上させるための金属接着性改良剤を含んでいることが好ましい。金属接着性改良剤としては、シランカップリング剤、アルミニウム系接着助剤、チタン系接着助剤、スルホンアミド構造を有する化合物及びチオウレア構造を有する化合物、リン酸誘導体化合物、β-ケトエステル化合物、アミノ化合物等などが挙げられる。
アルミニウム系接着助剤としては、例えば、アルミニウムトリス(エチルアセトアセテート)、アルミニウムトリス(アセチルアセトネート)、エチルアセトアセテートアルミニウムジイソプロピレート等を挙げることができる。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、本発明の効果が得られる範囲で、必要に応じて、各種の添加物、例えば、N-フェニルジエタノールアミンなどの増感剤、界面活性剤、連鎖移動剤、高級脂肪酸誘導体、無機粒子、硬化剤、硬化触媒、充填剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、凝集防止剤等を配合することができる。これらの添加剤を配合する場合、その合計配合量は光硬化性樹脂組成物の固形分の3質量%以下とすることが好ましい。
界面活性剤としては、フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤、炭化水素系界面活性剤などの各種界面活性剤を使用できる。界面活性剤はノニオン型界面活性剤であってもよく、カチオン型界面活性剤であってもよく、アニオン型界面活性剤であってもよい。
フッ素系界面活性剤は、フッ素原子を有する(メタ)アクリレート化合物に由来する繰り返し単位と、アルキレンオキシ基(好ましくはエチレンオキシ基、プロピレンオキシ基)を2以上(好ましくは5以上)有する(メタ)アクリレート化合物に由来する繰り返し単位と、を含む含フッ素高分子化合物も好ましく用いることができ、下記化合物も本発明で用いられるフッ素系界面活性剤として例示される。
フッ素系界面活性剤は、エチレン性不飽和基を側鎖に有する含フッ素重合体をフッ素系界面活性剤として用いることもできる。具体例としては、特開2010-164965号公報の段落0050~0090および段落0289~0295に記載された化合物、例えばDIC(株)製のメガファックRS-101、RS-102、RS-718K等が挙げられる。
界面活性剤の含有量は、組成物の全固形分に対して、0.001~2.0質量%が好ましく、0.005~1.0質量%がより好ましい。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、増感剤を含んでいてもよい。増感剤は、特定の活性放射線を吸収して電子励起状態となる。電子励起状態となった増感剤は、熱ラジカル重合開始剤、光ラジカル重合開始剤などと接触して、電子移動、エネルギー移動、発熱などの作用が生じる。これにより、熱ラジカル重合開始剤、光ラジカル重合開始剤は化学変化を起こして分解し、ラジカル、酸又は塩基を生成する。
増感剤としては、N-フェニルジエタノールアミン等の増感剤が挙げられる。他には、ベンゾフェノン系、ミヒラーズケトン系、クマリン系、ピラゾールアゾ系、アニリノアゾ系、トリフェニルメタン系、アントラキノン系、アントラセン系、アンスラピリドン系、ベンジリデン系、オキソノール系、ピラゾロトリアゾールアゾ系、ピリドンアゾ系、シアニン系、フェノチアジン系、ピロロピラゾールアゾメチン系、キサンテン系、フタロシアニン系、ペンゾピラン系、インジゴ系等の化合物を使用することができる。
例えば、ミヒラーズケトン、4,4’-ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、2,5-ビス(4’-ジエチルアミノベンザル)シクロペンタン、2,6-ビス(4’-ジエチルアミノベンザル)シクロヘキサノン、2,6-ビス(4’-ジエチルアミノベンザル)-4-メチルシクロヘキサノン、4,4’-ビス(ジメチルアミノ)カルコン、4,4’-ビス(ジエチルアミノ)カルコン、p-ジメチルアミノシンナミリデンインダノン、p-ジメチルアミノベンジリデンインダノン、2-(p-ジメチルアミノフェニルビフェニレン)-ベンゾチアゾール、2-(p-ジメチルアミノフェニルビニレン)ベンゾチアゾール、2-(p-ジメチルアミノフェニルビニレン)イソナフトチアゾール、1,3-ビス(4’-ジメチルアミノベンザル)アセトン、1,3-ビス(4’-ジエチルアミノベンザル)アセトン、3,3’-カルボニル-ビス(7-ジエチルアミノクマリン)、3-アセチル-7-ジメチルアミノクマリン、3-エトキシカルボニル-7-ジメチルアミノクマリン、3-ベンジロキシカルボニル-7-ジメチルアミノクマリン、3-メトキシカルボニル-7-ジエチルアミノクマリン、3-エトキシカルボニル-7-ジエチルアミノクマリン(7-(ジエチルアミノ)クマリン-3-カルボン酸エチル)、N-フェニル-N’-エチルエタノールアミン、N-フェニルジエタノールアミン、N-p-トリルジエタノールアミン、N-フェニルエタノールアミン、4-モルホリノベンゾフェノン、ジメチルアミノ安息香酸イソアミル、ジエチルアミノ安息香酸イソアミル、2-メルカプトベンズイミダゾール、1-フェニル-5-メルカプトテトラゾール、2-メルカプトベンゾチアゾール、2-(p-ジメチルアミノスチリル)ベンズオキサゾール、2-(p-ジメチルアミノスチリル)ベンズチアゾール、2-(p-ジメチルアミノスチリル)ナフト(1,2-d)チアゾール、2-(p-ジメチルアミノベンゾイル)スチレン、ジフェニルアセトアミド、ベンズアニリド、N-メチルアセトアニリド、3‘,4’-ジメチルアセトアニリド等が挙げられる。
また、増感剤としては、増感色素を用いてもよい。
増感色素の詳細については、特開2016-027357号公報の段落0161~0163の記載を参酌でき、この内容は本明細書に組み込まれる。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、連鎖移動剤を含有してもよい。連鎖移動剤は、例えば高分子辞典第三版(高分子学会編、2005年)683-684頁に定義されている。連鎖移動剤としては、例えば、分子内に-S-S-、-SO2-S-、-N-O-、SH、PH、SiH、及びGeHを有する化合物群、RAFT(Reversible Addition Fragmentation chain Transfer)重合に用いられるチオカルボニルチオ基を有するジチオベンゾアート、トリチオカルボナート、ジチオカルバマート、キサンタート化合物等が用いられる。これらは、低活性のラジカルに水素を供与して、ラジカルを生成するか、若しくは、酸化された後、脱プロトンすることによりラジカルを生成しうる。特に、チオール化合物を好ましく用いることができる。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、酸素に起因する重合阻害を防止するために、ベヘン酸やベヘン酸アミドのような高級脂肪酸誘導体を添加して、塗布後の乾燥の過程で光硬化性樹脂組成物の表面に偏在させてもよい。
本発明の樹脂組成物は、熱重合開始剤を含んでもよく、特に熱ラジカル重合開始剤を含んでもよい。熱ラジカル重合開始剤は、熱のエネルギーによってラジカルを発生し、重合性を有する化合物の重合反応を開始又は促進させる化合物である。熱ラジカル重合開始剤を添加することによって樹脂及び重合性化合物の重合反応を進行させることもできるので、より耐溶剤性を向上できる。
本発明の樹脂組成物は、無機微粒子を含んでもよい。無機粒子として、具体的には、炭酸カルシウム、リン酸カルシウム、シリカ、カオリン、タルク、二酸化チタン、アルミナ、硫酸バリウム、フッ化カルシウム、フッ化リチウム、ゼオライト、硫化モリブデン、ガラス等を含むことができる。
上記無機粒子の平均粒子径を多量に含有させることによって、上記硬化膜の機械特性が劣化することがある。また、上記無機粒子の平均粒子径が2.0μmを超えると、露光光の散乱によって解像度が低下することがある。
本発明の組成物は、紫外線吸収剤を含んでいてもよい。紫外線吸収剤としては、サリシレート系、ベンゾフェノン系、ベンゾトリアゾール系、置換アクリロニトリル系、トリアジン系などの紫外線吸収剤を使用することができる。
サリシレート系紫外線吸収剤の例としては、フェニルサリシレート、p-オクチルフェニルサリシレート、p-t-ブチルフェニルサリシレートなどが挙げられ、ベンゾフェノン系紫外線吸収剤の例としては、2,2’-ジヒドロキシ-4-メトキシベンゾフェノン、2,2’-ジヒドロキシ-4,4’-ジメトキシベンゾフェノン、2,2’,4,4’-テトラヒドロキシベンゾフェノン、2-ヒドロキシ-4-メトキシベンゾフェノン、2,4-ジヒドロキシベンゾフェノン、2-ヒドロキシ-4-オクトキシベンゾフェノンなどが挙げられる。また、ベンゾトリアゾール系紫外線吸収剤の例としては、2-(2’-ヒドロキシ-3’,5’-ジ-tert-ブチルフェニル)-5-クロロベンゾトリアゾール、2-(2’-ヒドロキシ-3’-tert-ブチル-5’-メチルフェニル)-5-クロロベンゾトリアゾール、2-(2’-ヒドロキシ-3’-tert-アミル-5’-イソブチルフェニル)-5-クロロベンゾトリアゾール、2-(2’-ヒドロキシ-3’-イソブチル-5’-メチルフェニル)-5-クロロベンゾトリアゾール、2-(2’-ヒドロキシ-3’-イソブチル-5’-プロピルフェニル)-5-クロロベンゾトリアゾール、2-(2’-ヒドロキシ-3’,5’-ジ-tert-ブチルフェニル)ベンゾトリアゾール、2-(2’-ヒドロキシ-5’-メチルフェニル)ベンゾトリアゾール、2-[2’-ヒドロキシ-5’-(1,1,3,3-テトラメチル)フェニル]ベンゾトリアゾールなどが挙げられる。
本発明の組成物は、紫外線吸収剤を含んでも含まなくてもよいが、含む場合、紫外線吸収剤の含有量は、本発明の組成物の全固形分質量に対して、0.001質量%以上1質量%以下であることが好ましく、0.01質量%以上0.1質量%以下であることがより好ましい。
本実施形態の樹脂組成物は、有機チタン化合物を含有してもよい。樹脂組成物が有機チタン化合物を含有することにより、低温で硬化した場合であっても耐薬品性に優れる樹脂層を形成できる。
有機チタン化合物の具体例を、以下のI)~VII)に示す:
I)チタンキレート化合物:中でも、ネガ型感光性樹脂組成物の保存安定性がよく、良好な硬化パターンが得られることから、アルコキシ基を2個以上有するチタンキレート化合物がより好ましい。具体的な例は、チタニウムビス(トリエタノールアミン)ジイソプロポキサイド、チタニウムジ(n-ブトキサイド)ビス(2,4-ペンタンジオネート、チタニウムジイソプロポキサイドビス(2,4-ペンタンジオネート)、チタニウムジイソプロポキサイドビス(テトラメチルヘプタンジオネート)、チタニウムジイソプロポキサイドビス(エチルアセトアセテート)等である。
II)テトラアルコキシチタン化合物:例えば、チタニウムテトラ(n-ブトキサイド)、チタニウムテトラエトキサイド、チタニウムテトラ(2-エチルヘキソキサイド)、チタニウムテトライソブトキサイド、チタニウムテトライソプロポキサイド、チタニウムテトラメトキサイド、チタニウムテトラメトキシプロポキサイド、チタニウムテトラメチルフェノキサイド、チタニウムテトラ(n-ノニロキサイド)、チタニウムテトラ(n-プロポキサイド)、チタニウムテトラステアリロキサイド、チタニウムテトラキス[ビス{2,2-(アリロキシメチル)ブトキサイド}]等である。
III)チタノセン化合物:例えば、ペンタメチルシクロペンタジエニルチタニウムトリメトキサイド、ビス(η5-2,4-シクロペンタジエン-1-イル)ビス(2,6-ジフルオロフェニル)チタニウム、ビス(η5-2,4-シクロペンタジエン-1-イル)ビス(2,6-ジフルオロ-3-(1H-ピロール-1-イル)フェニル)チタニウム等である。
IV)モノアルコキシチタン化合物:例えば、チタニウムトリス(ジオクチルホスフェート)イソプロポキサイド、チタニウムトリス(ドデシルベンゼンスルホネート)イソプロポキサイド等である。
V)チタニウムオキサイド化合物:例えば、チタニウムオキサイドビス(ペンタンジオネート)、チタニウムオキサイドビス(テトラメチルヘプタンジオネート)、フタロシアニンチタニウムオキサイド等である。
VI)チタニウムテトラアセチルアセトネート化合物:例えば、チタニウムテトラアセチルアセトネート等である。
VII)チタネートカップリング剤:例えば、イソプロピルトリドデシルベンゼンスルホニルチタネート等である。
本発明の組成物は、酸化防止剤を含んでいてもよい。添加剤として酸化防止剤を含有することで、硬化後の膜の伸度特性や、金属材料との密着性を向上させることができる。酸化防止剤としては、フェノール化合物、亜リン酸エステル化合物、チオエーテル化合物などが挙げられる。フェノール化合物としては、フェノール系酸化防止剤として知られる任意のフェノール化合物を使用することができる。好ましいフェノール化合物としては、ヒンダードフェノール化合物が挙げられる。フェノール性ヒドロキシ基に隣接する部位(オルト位)に置換基を有する化合物が好ましい。前述の置換基としては炭素数1~22の置換又は無置換のアルキル基が好ましい。また、酸化防止剤は、同一分子内にフェノール基と亜リン酸エステル基を有する化合物も好ましい。また、酸化防止剤は、リン系酸化防止剤も好適に使用することができる。リン系酸化防止剤としてはトリス[2-[[2,4,8,10-テトラキス(1,1-ジメチルエチル)ジベンゾ[d,f][1,3,2]ジオキサホスフェピン-6-イル]オキシ]エチル]アミン、トリス[2-[(4,6,9,11-テトラ-tert-ブチルジベンゾ[d,f][1,3,2]ジオキサホスフェピン-2-イル)オキシ]エチル]アミン、亜リン酸エチルビス(2,4-ジ-tert-ブチル-6-メチルフェニル)などが挙げられる。酸化防止剤の市販品としては、例えば、アデカスタブ AO-20、アデカスタブ AO-30、アデカスタブ AO-40、アデカスタブ AO-50、アデカスタブ AO-50F、アデカスタブ AO-60、アデカスタブ AO-60G、アデカスタブ AO-80、アデカスタブ AO-330(以上、(株)ADEKA製)などが挙げられる。また、酸化防止剤は、特許第6268967号公報の段落番号0023~0048に記載された化合物を使用することもできる。また、本発明の組成物は、必要に応じて、潜在酸化防止剤を含有してもよい。潜在酸化防止剤としては、酸化防止剤として機能する部位が保護基で保護された化合物であって、100~250℃で加熱するか、又は酸/塩基触媒存在下で80~200℃で加熱することにより保護基が脱離して酸化防止剤として機能する化合物が挙げられる。潜在酸化防止剤としては、国際公開第2014/021023号、国際公開第2017/030005号、特開2017-008219号公報に記載された化合物が挙げられる。潜在酸化防止剤の市販品としては、アデカアークルズGPA-5001((株)ADEKA製)等が挙げられる。好ましい酸化防止剤の例としては、2,2-チオビス(4-メチル-6-t-ブチルフェノール)、2,6-ジ-t-ブチルフェノールおよび一般式(3)で表される化合物が挙げられる。
本発明の光硬化性樹脂組成物の水分含有量は、塗布面性状の観点から、5質量%未満が好ましく、1質量%未満がより好ましく、0.6質量%未満が更に好ましい。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、再配線層用層間絶縁膜の形成に用いられることが好ましい。
また、その他、半導体デバイスの絶縁膜の形成、又は、ストレスバッファ膜の形成等にも用いることができる。
本発明の光硬化性樹脂組成物は、上記各成分を混合して調製することができる。混合方法は特に限定はなく、従来公知の方法で行うことができる。
フィルターを用いたろ過の他、吸着材を用いた不純物の除去処理を行ってもよい。フィルターろ過と吸着材を用いた不純物除去処理とを組み合わせてもよい。吸着材としては、公知の吸着材を用いることができる。例えば、シリカゲル、ゼオライトなどの無機系吸着材、活性炭などの有機系吸着材が挙げられる。
〔ポリイミドPI-1の合成〕
乾燥窒素気流下、2,2-ビス(3-アミノ-4-ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(32.78g(0.0895モル))と、1,3-ビス(3-アミノプロピル)テトラメチルジシロキサン(1.24g(0.005モル))とを、N-メチル-2-ピロリドン(NMP、100g)に溶解させて溶液とした。
上記溶液に、ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)エーテル二無水物(31.02g(0.10モル))をNMP(30g)とともに加えて、20℃で1時間撹拌し、次いで50℃で4時間撹拌した。この撹拌後の溶液に、3-アミノフェノール(1.09g(0.01モル))を加え、50℃で2時間撹拌した後、180℃で5時間撹拌して樹脂溶液を得た。次に、この樹脂溶液を水(3L)に投入して、白色沈殿を生成させた。この白色沈殿を、濾過で集めて水で3回洗浄した後、80℃の真空乾燥機で5時間乾燥した。この結果、アルカリ可溶性ポリイミド(ポリイミドPI-1)の粉末が得られた。
〔ポリイミドPI-2の合成〕
4,4’-(ヘキサフルオロイソプロピリデン)ビス(フタル酸無水物)(2.370kg、5.33モル)を、25℃の1-(4-アミノフェニル)-1,3,3-トリメチルインダン-5-アミン(4,4’-[1,4-フェニレン-ビス(1-メチルエチリデン)]ビスアニリン(DAPI)としても既知)(1.465kg、5.51モル)のNMP(9.86kg)溶液中に投入した。反応混合物の温度を40℃まで上昇させ、6時間反応させた。次に、無水酢酸(1.125kg)及びピリジン(0.219kg)を添加して、反応混合物の温度を100℃まで上昇させ、12時間反応させた。
上記反応混合物を室温まで冷却し、機械式スターラを備えたより大型の容器に移した。反応溶液を酢酸エチルで希釈し、水で1時間洗浄(1回目)した。撹拌を停止した後、混合物を静置した。相分離が生じた後、水相を除去した。有機相を酢酸エチル及びアセトンの組み合わせで希釈し、水で2回洗浄(2回目、3回目)した。上記1回目~3回目の洗浄に使用した有機溶剤(酢酸エチル及びアセトン)及び水の量を、それぞれ表1に示す。
〔ポリイミドPI-3の合成〕
三口フラスコにN-メチルピロリドン 123ml、4,4’-(ヘキサフルオロイソプロピリデン)ジフタル酸二無水物(東京化成工業(株)製、製品番号:H1438)54.97g(0.124mol)を加えて40℃で溶解させ、窒素気流下で撹拌しているところに、2,3,5,6-テトラメチルフェニレンジアミン(東京化成工業(株)製、製品番号:T1457) 8.13g(0.049mol)、2,2’-ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン 19.85g(0.062mol)、3,5-ジアミノ安息香酸(東京化成工業(株)製、製品番号:D0294) 1.971g(0.013mol)のN-メチルピロリドン 84.0ml溶液を30分かけて系内を40℃に保ちつつ滴下した。反応液を40℃で2.5時間撹拌した後、ピリジン 2.94g(0.037mol)、無水酢酸 31.58g(0.31mol)をそれぞれ加えて、さらに80℃で3時間撹拌した。その後、反応液にアセトン676.6mLを加え、希釈した。ステンレス容器にメタノール 1.15L、アセトン 230mLを加えて撹拌しているところに、反応液のアセトン希釈液を滴下した。得られたポリマー結晶を吸引ろ過し、60℃で送風乾燥させて 70.9gのポリマーを得た。
三口フラスコに上記ポリマー 10g、テトラヒドロフラン 200mlを加えて室温下で撹拌しながら、N-(2-アミノエチル)アクリルアミド(富士フイルム和光純薬(株)製) 0.21g(0.002mol)を加えてさらに2時間撹拌した。ステンレス容器に酢酸エチル 1.5Lを加えて撹拌しているところに、反応液のテトラヒドロフラン溶液を滴下した。得られたポリマー結晶を吸引ろ過し、60℃で送風乾燥させて9.2gのポリマー(ポリイミドPI-3)を得た。
〔ポリイミドPI-4及びPI-5の合成〕
-ポリイミドPI-5の合成-
三口フラスコにN-メチルピロリドン123ml、4,4’-(ヘキサフルオロイソプロピリデン)ジフタル酸無水物(6FDA、東京化成工業(株)製、製品番号:H1438)54.97g(0.124mol)を加えて40℃で溶解させ、窒素気流下で撹拌しながら、2,3,5,6-テトラメチルフェニレンジアミン(TeMPD、東京化成工業(株)製、製品番号:T1457)8.13g(0.049mol)、m-フェニレンジアミン(富士フイルム和光純薬(株)製、製品番号:164-01515)6.69g(0.062mol)、及び、3,5-ジアミノ安息香酸(DABA、東京化成工業(株)製、製品番号:D0294)1.971g(0.012mol)のN-メチルピロリドン84.0ml溶液を30分かけて系内を40℃に保ちつつ滴下した。反応液を40℃で2.5時間撹拌した後、ピリジン(富士フイルム和光純薬(株)製、製品番号:166-22575)2.94g(0.037mol)、無水酢酸(富士フイルム和光純薬(株)製、製品番号:018-00286)31.58g(0.31mol)をそれぞれ加えて、さらに80℃で3時間撹拌した。その後、反応液にアセトン676.6mLを加え、希釈した。5Lステンレス容器にメタノール1.15L、アセトン230mLを加えて撹拌しているところに、反応液のアセトン希釈液を滴下した。得られたポリマー結晶を吸引ろ過し、60℃で送風乾燥させて60.1gのポリマー(PI-5)を得た。
三口フラスコに上記ポリマー10g、テトラヒドロフラン 200ml、テトラメチルアンモニウムクロライド 0.00185g(0.017mmol)、エピクロロヒドリン 0.2g(0.002mol)を添加した。フラスコ内に空気を10ml/分で導入しつつ、反応液を撹拌しながらオイルバスで反応液を90℃まで加熱した。反応液の温度が90℃になってからさらに3時間撹拌後、室温まで冷却した。ステンレス容器に酢酸エチル 1.5Lを加えて撹拌しているところに、上記反応液のテトラヒドロフラン溶液を滴下した。得られたポリマー結晶を吸引ろ過し、60℃で送風乾燥させて9.2gのポリマー(ポリイミドPI-4)を得た。
ポリマー(PI-4)の構造は下記式の通りである。下記式中、括弧の添え字は各繰返し単位の含有比(モル比)を表す。
300gのPPA(ポリリン酸)に2,2-ビス(3-アミノ-4-ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(6F-BAPh)50.0g(0.137モル)と2,2-ビス(4-カルボキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(BIS-B-AF)53.5g(0.137モル)とを加え、窒素気流下で100℃に加熱してさせた後に、約10℃/分の昇温速度で200℃まで加熱して、150分間200℃を維持し、ポリベンゾオキサゾールPBOを得た。
各実施例において、それぞれ、下記表2又は表3に記載の成分を混合し、各光硬化性樹脂組成物を得た。また、各比較例において、それぞれ、下記表3に記載の成分を混合し、各比較用組成物を得た。
具体的には、表2又は表3に記載の成分の含有量は、表2又は表3の「質量部」に記載の量とした。また、各組成物において、溶剤の含有量は、組成物の固形分濃度が表2又は表3に記載の値となるようにした。
得られた光硬化性樹脂組成物及び比較用組成物を、フィルタ孔径が0.8μmのポリテトラフルオロエチレン製フィルターを通して加圧ろ過した。
また、表2又は表3中、「-」の記載は該当する成分を組成物が含有していないことを示している。
・PI-1~PI-5:上記で合成したPI-1~PI-5
・PBO:上記で合成したPBO
・B-1:ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート
・B-2:ライトエステルTMP(共栄化学(株)製)
・B-3:ライトエステルBP-6EM(共栄化学(株)製)
・B-4:ライトエステル9EG(共栄化学(株)製)
・B-5:ライトアクリレート DCP-A(共栄化学(株)製)
・C-1:ADEKA NCI-930((株)ADEKA製)
・C-2:ジアゾナフトキノン
・C-3:ADEKA NCI-831((株)ADEKA製)
・C-4:Irgacure 784(BASF社製)
・D-1:ダイセル セロキサイド CEL2081((株)ダイセル製)
・D-2:二カラックMX-270((株)三和ケミカル製)
・D-3:EPPN-502H(日本化薬(株)製)
・E-1:WPAG-145(富士フイルム和光純薬(株)製)
・E-2:Irgacure 2959(BASF社製)
・E-3:WPBG-027(富士フイルム和光純薬(株)製)
・E-4:Irgacure 290(BASF社製)
・F-1:IM-1000(JX金属(株)製)
・G-1:4-メトキシ-1-ナフトール
・H-1:1,3-ジブチルチオ尿素
・I-1:N-メチル-2-ピロリドン
・I-2:ジアセトンアルコール
・I-3:乳酸エチル
表2又は表3中、「溶剤中比率」の欄の記載は、溶剤の全質量に対する各溶剤の含有量(質量%)を示している。
〔パターン形状の評価〕
各実施例及び比較例において、それぞれ、各光硬化性樹脂組成物又は比較用組成物を、シリコンウェハ上にスピンコート法により層状に適用(塗布)して、樹脂組成物膜を形成した。
各実施例及び比較例において、得られた樹脂組成物膜を適用したシリコンウェハをホットプレート上で、80℃で3分間乾燥し、シリコンウェハ上に表2又は表3に記載の厚さの光硬化性膜を形成した。
表2又は表3の「硬化方法」の欄に「1」又は「2」と記載された例においては、シリコンウェハ上の光硬化性膜を、ステッパー(Nikon NSR 2005 i9C)を用いて、500mJ/cm2の露光エネルギーでi線により露光(第1露光工程)した。露光はマスク(パターンが1:1ラインアンドスペースであり、線幅が表2又は表3中の「パターンサイズ(μm)」の欄に記載の線幅であるバイナリマスク)を介して行った。
表2又は表3の「硬化方法」の欄に「3」と記載された例においては、シリコンウェハ上の光硬化性膜を、高圧水銀灯を用いて、バンドパスフィルター MZ405(朝日分光株式会社製)を介して、500mJ/cm2の露光エネルギーでh線(405nm)により露光(第1露光工程)した。露光はマスク(パターンが1:1ラインアンドスペースであり、線幅が表2又は表3中の「パターンサイズ(μm)」の欄に記載の線幅であるバイナリマスク)を介して行った。
表2又は表3の「硬化方法」の欄に「4」と記載された例においては、シリコンウェハ上の光硬化性膜を、高圧水銀灯を用いて、バンドパスフィルター MZ436(朝日分光株式会社製)を介して、500mJ/cm2の露光エネルギーでg線(436nm)により露光(第1露光工程)した。露光はマスク(パターンが1:1ラインアンドスペースであり、線幅が表2又は表3中の「パターンサイズ(μm)」の欄に記載の線幅であるバイナリマスク)を介して行った。
また、各実施例において使用した感光性化合物Aと、ポリメチルメタクリレート(PMMA、重量平均分子量:10,000)とをメチルエチルケトンに溶解し、モデル膜形成用組成物を調製した。モデル膜形成用組成物における、感光性化合物AとPMMAとの全質量に対する感光性化合物の含有量は、0.5mmol/gとした。また、モデル膜形成用組成物における、感光性化合物AとPMMAとの全質量に対するメチルエチルケトンの使用量は、後述するモデル膜の膜厚に応じて適宜設定した。
その後、上記モデル膜形成用組成物をスピンコート法によりガラス上に塗布し、80℃で1分間熱乾燥して、モデル膜を得た。モデル膜の膜厚は、10μmとなるようにした。
その後、上記モデル膜に対し、上記ステッパーを用いて、上記露光と同様の露光波長、露光量による露光を行い、感光性化合物Aの残存率を上述の方法によりそれぞれ測定した。
また、感光性化合物Bの残存率についても、上記モデル膜の作製において感光性化合物Aを感光性化合物Bに置き換えた以外は、感光性化合物Aの残存率と同様の方法によりそれぞれ測定した。
各実施例において、感光性化合物Aの残存率はいずれも80%未満であった。
また、各実施例において、感光性化合物Bの残存率はいずれも80%以上であった。
上記露光後、表2又は表3の「現像液」の欄に「1」と記載された例においては、2.5質量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液を用いて60秒間現像し、純水で20秒間リンスして、露光後の光硬化性膜のラインアンドスペースパターンを得た。
表2又は表3の「現像液」の欄に「2」と記載された例においては、シクロペンタノンを用いて60秒間現像し、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)で20秒間リンスして、光硬化性膜のラインアンドスペースパターンを得た。
表2又は表3の「現像液」の欄に「3」と記載された例においては、7.5質量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液を用いて60秒間現像し、純水で20秒間リンスして、露光後の光硬化性膜のラインアンドスペースパターンを得た。
表2又は表3の「硬化方法」の欄に「1」又は「3」と記載された例においては、上記現像後のパターンを、高圧水銀灯を用いて、60℃の条件下で10J/cm2の露光量で露光(第2露光工程)して硬化し、硬化膜が形成されたシリコンウェハを得た。
表2又は表3の「硬化方法」の欄に「4」と記載された例においては、上記現像後のパターンを、ステッパー(Nikon NSR 2005 i9C)を用いて、60℃の条件下で10J/cm2の露光エネルギーでi線により露光(第2露光工程)して硬化し、硬化膜が形成されたシリコンウェハを得た。
表2又は表3の「硬化方法」の欄に「2」と記載された例においては、上記現像後のパターン、及び、上記パターンが形成されたシリコンウェハを、窒素雰囲気下で、10℃/分の昇温速度で昇温し、180℃に達した後、180℃で2時間維持して硬化し、硬化膜が形成されたシリコンウェハを得た。
表2又は表3の「硬化方法」の欄に「-」と記載された例においては、上記高圧水銀灯による露光及び上記180℃の加熱のいずれも行わず、上記現像後のパターンが形成されたシリコンウェハを、硬化膜が形成されたシリコンウェハとした。
また、各実施例において、上記上記高圧水銀灯を用いて、上記露光と同様の露光波長、露光量による露光を行った以外は、上述の感光性化合物Bの残存率の測定と同様の方法により、感光性化合物Bの残存率をそれぞれ測定した。
各実施例において、感光性化合物Bの残存率はいずれも80%未満であった。
得られた硬化膜が形成されたシリコンウェハについて、硬化膜のラインアンドスペースパターンに対して垂直になるようにシリコンウェハをカットし、パターン断面を露出させた。光学顕微鏡を用いて、倍率200倍で、上記ラインアンドスペースパターンのパターン断面を観察し、パターンの断面形状の評価を行った。
具体的には、各実施例及び比較例において、それぞれ、シリコンウェハの表面(基板表面)と硬化膜の側面とのなすテーパ角を測定し、下記評価基準に従って評価した。テーパ角が90°を超えず、かつ、パターンの断面形状がくびれた形状ではなく、テーパ角が90°に近いほど、パターン形状に優れるといえる。
-評価基準-
A:テーパ角が85°以上90°以下であった。
B:テーパ角が80°以上85°未満であった
C:テーパ角が80°未満であるか、パターンの断面形状が90°を超えるテーパ角をなす逆テーパ形状であるか、又は、パターンの断面形状がくびれた形状であった。
各実施例及び比較例において、それぞれ、各光硬化性樹脂組成物又は比較用組成物を、シリコンウェハ上にスピンコート法により層状に適用(塗布)して、樹脂組成物膜を形成した。
各実施例及び比較例において、得られた樹脂組成物膜を適用したシリコンウェハをホットプレート上で、80℃で3分間乾燥し、シリコンウェハ上に表2又は表3に記載の厚さの光硬化性膜を形成した。
表2又は表3の「硬化方法」の欄に「1」又は「2」と記載された例においては、シリコンウェハ上の光硬化性膜を、ステッパー(Nikon NSR 2005 i9C)を用いて、500mJ/cm2の露光エネルギーで全面露光(第1露光工程)した。
表2又は表3の「硬化方法」の欄に「3」と記載された例においては、シリコンウェハ上の光硬化性膜を、高圧水銀灯を用いて、バンドパスフィルター MZ405(朝日分光株式会社製)を介して、500mJ/cm2の露光エネルギーでh線(405nm)により全面露光(第1露光工程)した。
表2又は表3の「硬化方法」の欄に「4」と記載された例においては、シリコンウェハ上の光硬化性膜を、高圧水銀灯を用いて、バンドパスフィルター MZ436(朝日分光株式会社製)を介して、500mJ/cm2の露光エネルギーでg線(436nm)により全面露光(第1露光工程)した。
表2又は表3の「硬化方法」の欄に「1」又は「3」と記載された例においては、上記露光後の光硬化性膜を、高圧水銀灯を用いて、60℃の条件下で10J/cm2の露光量で全面露光(第2露光工程)して硬化し、硬化膜が形成されたシリコンウェハを得た。
表2又は表3の「硬化方法」の欄に「4」と記載された例においては、上記現像後のパターンを、ステッパー(Nikon NSR 2005 i9C)を用いて、60℃の条件下で10J/cm2の露光エネルギーでi線により全面露光(第2露光工程)して硬化し、硬化膜が形成されたシリコンウェハを得た。
表2又は表3の「硬化方法」の欄に「2」と記載された例においては、上記露光後の光硬化性膜を、窒素雰囲気下で、10℃/分の昇温速度で昇温し、180℃に達した後、180℃で2時間維持して硬化し、硬化膜が形成されたシリコンウェハを得た。
表2又は表3の「硬化方法」の欄に「-」と記載された例においては、上記高圧水銀灯による露光及び上記180℃の加熱のいずれも行わず、上記ステッパーを用いた露光後の光硬化性膜が形成されたシリコンウェハを、硬化膜が形成されたシリコンウェハとした。
それぞれの操作後、硬化膜を4.9質量%フッ化水素酸水溶液に浸漬し、シリコンウェハから硬化膜を剥離した。以下、剥離した上記硬化膜を硬化膜1ともいう。
-評価基準-
A:上記指標値が60%を超えた。
B:上記指標値が40%を超えて60%以下であった。
C:上記指標値が40%以下であった。
上記破断伸び評価に記載の方法と同様の方法により、硬化膜が形成されたシリコンウェハを得た。
上記硬化膜が形成されたシリコンウェハを、N-メチル-2-ピロリドンに3時間浸漬し、イソプロピルアルコールで洗浄した後、風乾させた。浸漬前後の硬化膜の膜厚を測定し、溶剤耐性について下記評価基準に従い評価した。
評価結果は表2又は表3の「溶剤耐性」の欄に記載した。膜厚変化が小さいほど溶剤耐性に優れるといえる。
-評価基準-
A:膜厚変化(浸漬後の膜厚/浸漬前の膜厚×100(%))が95%未満であった。
B:膜厚変化が95%以上80%未満であった。
C:膜厚変化が80%以上であった。
実施例1の組成にて固形分濃度を30質量%に調整し、塗布方法をスピンコートからスリットコートに変更し、塗布GAPを100μm、スリットダイのScan speedを5mm/秒として塗布した。その他の評価は実施例1と同様に行い、評価結果も実施例1と同じであった。
実施例2の組成にて固形分濃度を30質量%に調整し、塗布方法をスピンコートからスリットコートに変更し、塗布GAPを100μm、スリットダイのScan speedを5mm/秒として塗布した。その他の評価は実施例2と同様に行い、評価結果も実施例2と同じであった。
また、本発明に係る、光硬化性樹脂組成物から形成された光硬化性膜の一部を露光する第1露光工程、上記露光後の上記光硬化性膜を現像液により現像してパターンを得る現像工程、及び、上記第1露光工程において使用した光の波長とは異なる波長の光を含む光により上記パターンを露光する第2露光工程を含み、上記光硬化性樹脂組成物が、ポリイミド及びポリベンゾオキサゾールよりなる群から選ばれた少なくとも1種の樹脂、並びに、極大吸収波長の差が80nm以上である感光性化合物A及び感光性化合物Bを含み、上記感光性化合物Aが、上記第1露光工程において上記光硬化性膜の上記現像液に対する溶解度を変化させる化合物であり、上記条件1及び条件2の少なくとも一方を満たす硬化膜の製造方法によれば、比較例1~3と比較して、パターン形状及び膜強度に優れた硬化膜が得られることがわかる。
比較例1又は比較例3に係る硬化膜の製造方法は、第2露光工程の代わりに加熱による硬化を行っている。このような例においては、パターン形状に劣ることがわかる。
比較例2に係る硬化膜の製造方法は、第2露光工程に相当する硬化を行っていない。このような例においては、硬化膜の破断伸び(膜強度)に劣ることがわかる。
実施例1において使用した光硬化性樹脂組成物を、表面に銅薄層が形成された樹脂基材の銅薄層の表面にスピンコート法により層状に適用して、80℃で5分間乾燥し、膜厚30μmの光硬化性層を形成した後、ステッパー((株)ニコン製、NSR1505 i6)を用いて露光した。露光はマスク(パターンが1:1ラインアンドスペースであり、線幅が10μmであるバイナリマスク)を介して、波長365nmで行った。露光の後、2.5質量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシドを用いて60秒間現像し、純水で20秒間リンスして、層のパターンを得た。
次いで、高圧水銀灯を用いて、10J/cm2の露光量で全面露光して硬化し、再配線層用層間絶縁膜を形成した。この再配線層用層間絶縁膜は、絶縁性に優れていた。
また、これらの再配線層用層間絶縁膜を使用して半導体デバイスを製造したところ、問題なく動作することを確認した。
Claims (10)
- 光硬化性樹脂組成物から形成された光硬化性膜の一部を露光する第1露光工程、
前記露光後の前記光硬化性膜を現像液により現像してパターンを得る現像工程、及び、
前記第1露光工程において使用した光の波長とは異なる波長の光を含む光により前記パターンを露光する第2露光工程を含み、
前記光硬化性樹脂組成物が、
ポリイミド及びポリベンゾオキサゾールよりなる群から選ばれた少なくとも1種の樹脂、
前記第1露光工程における露光波長に対して感度を有する感光性化合物A、及び、
前記第1露光工程における露光波長に対しては感度を有さず、かつ、前記第2露光工程における露光波長に対して感度を有する感光性化合物Bを含み、
前記感光性化合物Aが、前記第1露光工程において前記光硬化性膜の前記現像液に対する溶解度を変化させる化合物であり、
下記条件1及び条件2の少なくとも一方を満たす
硬化膜の製造方法;
条件1:前記光硬化性樹脂組成物における前記樹脂が、前記第2露光工程において前記感光性化合物Bの感光によって他の基との結合反応が促進される基を含む;
条件2:前記光硬化性樹脂組成物が、前記第2露光工程において前記感光性化合物Bの感光によって他の基との結合反応が促進される基を有する架橋剤を更に含む。 - 前記感光性化合物Aが、前記第1露光工程によりラジカルを発生する化合物である、請求項1に記載の硬化膜の製造方法。
- 前記感光性化合物Bが、前記第2露光工程により酸を発生する化合物である、請求項1又は2に記載の硬化膜の製造方法。
- 前記感光性化合物Bが、前記第2露光工程によりラジカルを発生する化合物である、請求項1又は2に記載の硬化膜の製造方法。
- 前記感光性化合物Bが、前記第2露光工程により塩基を発生する化合物である、請求項1又は2に記載の硬化膜の製造方法。
- 前記感光性化合物Aが光ラジカル重合開始剤であり、前記感光性化合物Bが光酸発生剤である、請求項1に記載の硬化膜の製造方法。
- 前記感光性化合物A、及び、前記感光性化合物Bがいずれも光ラジカル重合開始剤である、請求項1に記載の硬化膜の製造方法。
- 前記第1露光工程における露光が、i線による露光である、請求項1~7のいずれか1項に記載の硬化膜の製造方法。
- 請求項1~8のいずれか1項に記載の硬化膜の製造方法を含む、積層体の製造方法。
- 請求項1~8のいずれか1項に記載の硬化膜の製造方法、又は、請求項9に記載の積層体の製造方法を含む、電子デバイスの製造方法。
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