JP7329598B2 - 導電性ペーストおよび半導体装置 - Google Patents
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Description
銀粉と、
脂肪酸と、
希釈剤と、
を含む導電性ペーストであって、
前記希釈剤が、アクリルモノマーを含み、
前記アクリルモノマーは、単官能アクリルモノマーおよび多官能アクリルモノマーを含み、
前記脂肪酸は、前記希釈剤中に溶解または分散された遊離脂肪酸であり、
前記脂肪酸は、当該導電性ペースト全体に対して、0.3質量%以上1質量%以下の量である、導電性ペースト、が提供される。
支持部材と、
前記支持部材上に接着層を介して搭載された半導体素子と、を備え、
前記接着層は、上記導電性ペーストからなる、半導体装置が提供される。
本実施形態の導電性ペーストは、半導体素子等の電子部品を、リードフレームまたは配線基板等の支持部材に接着するためのダイアタッチ層を形成するために用いられるダイアタッチペーストである。本実施形態の導電性ペーストは、導電性金属粉である銀粉と、脂肪酸と、希釈剤とを含む。本実施形態の導電性ペーストは、熱処理により、銀粉同士が互いに凝集して銀粒子連結構造を形成する。このように導電性ペーストを加熱して得られるダイアタッチ層は、導電性または熱導電性を有するとともに、支持部材に対する高い密着性を有する。
(銀粉)
本実施形態の導電性ペーストに含まれる銀粉は、導電性ペーストに対して熱処理が施されることにより、凝集して銀粒子連結構造を形成する。すなわち、導電性ペーストを加熱して得られるダイアタッチペースト層において、銀粉同士は互いに凝集して存在する。これにより、導電性や熱伝導性、支持部材への密着性が発現される。
本実施形態の導電性ペーストは、脂肪酸を含む。本実施形態の導電性ペーストは、使用時において、支持部材の表面に塗布された際、支持部材の表面に対する高い密着性および高い接着性を発現し得る。これは、これは上述のとおり、支持部材の表面に存在する表面処理剤に対し、脂肪酸が作用することに起因すると考えられる。
本実施形態の導電性ペーストは、支持部材への塗布性や細部への充填性を考慮して、導電性ペーストを適切な粘度とするために、希釈剤を含む。希釈剤としては、反応性希釈剤または非反応性溶剤を用いることができる。ここで、反応性希釈剤とは、加熱処理により硬化して、銀粒子の凝集を促進させる重合性単量体、または導電性ペーストにバインダー樹脂としての熱硬化性樹脂が含まれる場合には、この樹脂との架橋反応に関与する反応性基を有する化合物を意味する。非反応性溶剤とは、重合性または架橋性を有する反応基を有していない、加熱処理により揮発し得る溶剤を意味する。
本実施形態の導電性ペーストは、必要に応じて、バインダー樹脂としての熱硬化性樹脂を含んでもよい。熱硬化性樹脂としては、シアネート樹脂、エポキシ樹脂、ラジカル重合性の炭素-炭素二重結合を1分子内に2つ以上有する樹脂、アリル樹脂、およびマレイミド樹脂から選択される一種または二種以上を用いることができる。
また、上記アリル基を備える化合物としては、具体的には、アリル基を備えるポリエーテル、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリアクリレート、ポリメタクリレート、ポリブタジエン、ブタジエンアクリロニトリル共重合体などが挙げられる。アリル基を備える化合物としては、上記具体例のうち、1種または2種以上を組み合わせて用いることができる。アリル樹脂としては、具体的には、1,2-シクロヘキサンジカルボン酸ビス(2-プロペニル)とプロパン-1,2-ジオールとの重合体などを用いることができる。
本実施形態の導電性ペーストは、硬化剤を含んでもよい。これにより、導電性ペーストの硬化性を向上させることができる。硬化剤としては、例えば、脂肪族アミン、芳香族アミン、ジシアンジアミド、ジヒドラジド化合物、酸無水物、およびフェノール化合物から選択される一種または二種以上を用いることができる。これらの中でも、ジシアンジアミドおよびフェノール化合物のうちの少なくとも一方を含むことが、製造安定性を向上させる観点から特に好ましい。
本実施形態の導電性ペーストは、上述の成分に加え、必要に応じて、当該分野で通常用いられる種々のさらなる成分を含み得る。さらなる成分としては、シランカップリング剤、硬化促進剤、ラジカル重合開始剤、低応力剤、無機フィラー等が挙げられるが、これらに限定されず、所望の性能に応じて選択することができる。
導電性の調製方法は、特に限定されないが、たとえば上述した各成分を予備混合した後、3本ロールを用いて混練を行い、さらに真空脱泡することにより、ペースト状の組成物を得ることができる。この際、たとえば予備混合を減圧下にて行う等、調製条件を適切に調整することによって、導電性ペーストの長期作業性を向上することができる。
本実施形態の導電性ペーストの用途について説明する。
本実施形態に係る導電性ペーストは、例えば、基板と、半導体素子とを接着するために用いられる。ここで、半導体素子としては、例えば、半導体パッケージ、LEDなどが挙げられる。
本実施形態に係る導電性ペーストは、従来のペースト状接着剤組成物と比べて、接続信頼性と外観とが向上できる。これにより、発熱量が大きい半導体素子を基板に搭載する用途に好適に用いることができる。なお、本実施形態において、LEDとは、発光ダイオード(Light Emitting Diode)を示す。
図1は、本実施形態に係る半導体装置の一例を示す断面図である。
本実施形態に係る半導体装置100は、支持部材30と、導電性ペーストの硬化物である接着剤層10を介して支持部材30上に搭載された半導体素子20とを備える。半導体素子20と支持部材30は、たとえばボンディングワイヤ40等を介して電気的に接続される。また、半導体素子20は、たとえば封止樹脂50により封止される。
本実施形態に係る半導体装置の製造方法の一例について説明する。
まず、支持部材30の上に、導電性ペーストを塗工し、次いで、その上に半導体素子20を配置する。すなわち、支持部材30、ペースト状接着剤組成物、半導体素子20がこの順で積層される。導電性ペーストを塗工する方法としては限定されないが、具体的には、ディスペンシング、印刷法、インクジェット法などを用いることができる。
以下、実施形態の例を付記する。
1. 銀粉と、
脂肪酸と、
希釈剤と、
を含む導電性ペースト。
2. 前記脂肪酸が、前記希釈剤中に溶解または分散された遊離脂肪酸である、1.に記載の導電性ペースト。
3. 前記脂肪酸が、炭素数4~22の、飽和または不飽和の脂肪酸である、1.または2.に記載の導電性ペースト。
4. 前記脂肪酸が、当該導電性ペースト全体に対して、0.01質量%以上2質量%以下の量である、1.~3.のいずれかに記載の導電性ペースト。
5. 前記希釈剤が、グリコールモノマー、アクリルモノマー、エポキシモノマー、マレイミドモノマー、およびイミドモノマーから選択される少なくとも1つの重合性単量体を含む、1.~4.のいずれかに記載の導電性ペースト。
6. 前記銀粉が、当該導電性ペースト全体に対して、40質量%以上90質量%以下の量である、1.~5.のいずれかに記載の導電性ペースト。
7. 熱硬化性樹脂をさらに含む、1.~6.のいずれかに記載の導電性ペースト。
8. 硬化剤をさらに含む、1.~7.のいずれかに記載の導電性ペースト。
9. 前記銀粉が、脂肪酸で表面処理された銀粉を含む、1.~8.のいずれかに記載の導電性ペースト。
10. 支持部材と、
前記支持部材上に接着層を介して搭載された半導体素子と、を備え、
前記接着層は、1.~9.のいずれかに記載の導電性ペーストからなる、半導体装置。
(銀粉)
・銀粉1:脂肪酸で表面処理した銀粉、徳力本店社製、TKR-88、フレーク状、平均粒径(D50)3μm
(脂肪酸)
・脂肪酸1:オレイン酸、関東化学社製
(希釈剤)
・希釈剤1:単官能アクリルモノマー((メタ)アクリルモノマー2:2-フェノキシエチルメタクリレート)、共栄社化学株式会社製、ライトエステルPO
・希釈剤2:2官能アクリルモノマー(ポリエチレングリコールジメタクリレート)、共栄社化学社製、ライトエステル1,6Hx
(低応力剤)
・低応力剤1:アクリル樹脂、東亜合成株式会社製、UG4035
・低応力剤2:アリル樹脂、関東化学社製、SBM8C03
(ラジカル重合開始剤)
・ラジカル重合開始剤1:過酸化物、化薬アクゾ社製、パーカドックスBC
<ワニス状樹脂組成物の作製>
まず表1の「ワニス組成」に記載の配合量の成分を、常温で、3本ロールミルで混練することにより、ワニス状混合物を作製した。次いで、得られたワニス状混合物を、表1の「ペースト組成」に記載の配合量で用い、銀粉を混合し、常温で、3本ロールミルで混練することにより、ペースト状の組成物(導電性ペースト)を得た。
<吸湿後ダイシェア強度(長さ2mm×幅2mm×厚み350μmシリコンチップ)>
硬化条件:上記で得られた導電性ペーストを、銅フレーム上に塗布し、その上に、長さ2mm×幅2mmのシリコンチップをマウントし、20μm厚にした。その後窒素雰囲気下で175℃、30分間で昇温し、5時間放置(1時間硬化とポストモールドキュア)して、試験片を得た。
吸湿条件:得られた試験片を、温度120℃、相対湿度100%の環境に24時間放置し、取り出したサンプルを260Cのリフロー工程に3度通した。
ダイシェア強度の測定条件:吸湿処理後の試験片を、260℃のプレート上に20秒間置き、その状態でボンドテスター(DAGE 4000P型)によりチップ剥離強度を測定した。図3は、チップ剥離強度の測定方法を示す模式図である。シリコンチップ220は、ブリードアウト防止剤で表面処理された銅フレーム200の上に導電性ペースト210を介して接着されている。シリコンチップ220の側面に治具230を押し当て、測定速度50μm/秒、測定高さ50μmの条件で、図3に示した矢印方向に力を加えたときの最大応力としてダイシェア強度を測定して、これを接着強度とした。ダイシェア強度とその標準偏差の値を表1に示す。ダイシェア強度の単位は「N」である。ダイシェア強度の値が大きいほど、シリコンチップと銅フレームとが強固に接着されていることを示す。
また、ダイシェア強度の測定試験で破壊した導電性ペースト硬化物の破壊モードを目視にて確認した。銅フレームと導電性ペースト硬化物との界面で剥離している場合には、「LF破壊」、ダイアタッチペースト硬化物自体に亀裂が入っている場合には、「凝集破壊」、これら両方の剥離が観察される場合は、「凝集破壊/LF破壊」として、表1に示す。
硬化条件:上記で得られた導電性ペーストを、銅フレーム上に塗布し、その上に、5mm×5mmのシリコンチップをマウントし、20μm厚にした。その後窒素雰囲気下で175℃、30分間で昇温し、5時間放置(1時間硬化とポストモールドキュア)して、試験片を得た。
ダイシェア強度の測定条件:上記「吸湿後ダイシェア強度(長さ2mm×幅2mmシリコンチップ)」に記載の「ダイシェア強度の測定条件」と同様にして、ダイシェア強度を測定した。ダイシェア強度とその標準偏差の測定結果を表1に示す。
硬化条件:上記で得られた導電性ペーストを、銅フレーム上に塗布し、その上に、5mm×5mmのシリコンチップをマウントし、20μm厚にした。その後窒素雰囲気下で175℃、30分間で昇温し、5時間放置(1時間硬化とポストモールドキュア)して、試験片を得た。
吸湿条件:得られた試験片を、温度120℃、相対湿度100%の環境に24時間放置し、取り出したサンプルを260Cのリフロー工程に3度通した。
ダイシェア強度の測定条件:上記「吸湿後ダイシェア強度(長さ2mm×幅2mmシリコンチップ)」に記載の「ダイシェア強度の測定条件」と同様にして、ダイシェア強度を測定した。ダイシェア強度とその標準偏差の測定結果を表1に示す。
上記で得られた導電性ペーストを、銅フレーム上に塗布し、その上に、長さ8mm×幅8mmの200μm厚のシリコンチップをマウントし、20μm厚にした。その後窒素雰囲気下で175℃、30分間で昇温し、1時間放置して、試験片を得た。その後エポキシモールディングコンパウンドで封止しパッケージを得た。その後ポストモールドキュアを175℃で4時間行い、パッケージ構造物を得た。このパッケージ構造物は長さ14mm、幅14mm、厚み0.8mmである。その後得られたパッケージ構造物を、以下の環境下に、それぞれ9個ずつ投入した。
環境1:温度85℃、相対湿度85%、72時間
環境2:温度85℃、相対湿度85%、168時間
環境3:温度120℃、相対湿度100%、24時間
各環境に所定の時間晒されたパッケージ構造物を取り出し、次いで、260℃のリフロー工程に3度通した。その後、このパッケージ構造物における銅フレームからのシリコンチップの剥離の有無を確認した。剥離が観察されたパッケージ構造物の個数を表1に示す。なお、信頼性の評価は実施例2、実施例4および比較例1についてのみ実施した。実施例1、3および5については、未実施(「-」として示す)である。
Claims (7)
- 銀粉と、
脂肪酸と、
希釈剤と、
を含む導電性ペーストであって、
前記希釈剤が、アクリルモノマーを含み、
前記アクリルモノマーは、単官能アクリルモノマーおよび多官能アクリルモノマーを含み、
前記脂肪酸は、前記希釈剤中に溶解または分散された遊離脂肪酸であり、
前記脂肪酸は、当該導電性ペースト全体に対して、0.3質量%以上1質量%以下の量である、導電性ペースト。 - 前記脂肪酸が、炭素数4~22の、飽和または不飽和の脂肪酸である、請求項1に記載の導電性ペースト。
- 前記銀粉が、当該導電性ペースト全体に対して、40質量%以上90質量%以下の量である、請求項1または2に記載の導電性ペースト。
- 熱硬化性樹脂をさらに含む、請求項1~3のいずれかに記載の導電性ペースト。
- 硬化剤をさらに含む、請求項1~4のいずれかに記載の導電性ペースト。
- 前記銀粉が、脂肪酸で表面処理された銀粉を含む、請求項1~5のいずれかに記載の導電性ペースト。
- 支持部材と、
前記支持部材上に接着層を介して搭載された半導体素子と、を備え、
前記接着層は、請求項1~6のいずれかに記載の導電性ペーストからなる、半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2022178877A JP2023022054A (ja) | 2020-01-28 | 2022-11-08 | 導電性ペーストおよび半導体装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020011504 | 2020-01-28 | ||
| JP2020011504 | 2020-01-28 | ||
| PCT/JP2021/001892 WO2021153383A1 (ja) | 2020-01-28 | 2021-01-20 | 導電性ペーストおよび半導体装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022178877A Division JP2023022054A (ja) | 2020-01-28 | 2022-11-08 | 導電性ペーストおよび半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2021153383A1 JPWO2021153383A1 (ja) | 2021-08-05 |
| JP7329598B2 true JP7329598B2 (ja) | 2023-08-18 |
Family
ID=77079869
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2021529064A Active JP7329598B2 (ja) | 2020-01-28 | 2021-01-20 | 導電性ペーストおよび半導体装置 |
| JP2022178877A Pending JP2023022054A (ja) | 2020-01-28 | 2022-11-08 | 導電性ペーストおよび半導体装置 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022178877A Pending JP2023022054A (ja) | 2020-01-28 | 2022-11-08 | 導電性ペーストおよび半導体装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (2) | JP7329598B2 (ja) |
| CN (1) | CN115023771A (ja) |
| TW (1) | TWI869535B (ja) |
| WO (1) | WO2021153383A1 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7711468B2 (ja) * | 2021-07-21 | 2025-07-23 | 住友ベークライト株式会社 | 導電性ペーストおよび半導体装置 |
| KR20240136364A (ko) * | 2022-01-14 | 2024-09-13 | 각코호진 와세다다이가쿠 | 접착층의 접착 강도를 저하시키는 방법 |
| TW202602957A (zh) * | 2024-03-29 | 2026-01-16 | 日商可舒磨潤滑油股份有限公司 | 硬化性組成物、硬化物、及硬化物的製造方法 |
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-
2021
- 2021-01-20 JP JP2021529064A patent/JP7329598B2/ja active Active
- 2021-01-20 CN CN202180011262.6A patent/CN115023771A/zh active Pending
- 2021-01-20 WO PCT/JP2021/001892 patent/WO2021153383A1/ja not_active Ceased
- 2021-01-27 TW TW110103055A patent/TWI869535B/zh active
-
2022
- 2022-11-08 JP JP2022178877A patent/JP2023022054A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2012253031A (ja) | 2003-09-26 | 2012-12-20 | Hitachi Chem Co Ltd | 導電ペースト |
| JP2010225312A (ja) | 2009-03-19 | 2010-10-07 | Hitachi Chem Co Ltd | 樹脂ペースト組成物及び半導体装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2021153383A1 (ja) | 2021-08-05 |
| TW202135098A (zh) | 2021-09-16 |
| TWI869535B (zh) | 2025-01-11 |
| JP2023022054A (ja) | 2023-02-14 |
| JPWO2021153383A1 (ja) | 2021-08-05 |
| CN115023771A (zh) | 2022-09-06 |
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|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
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