JP7369736B2 - 質量分析方法及び情報処理装置 - Google Patents

Description

本発明は、質量分析方法及び情報処理装置に関する。

一般的に、ＧＣＭＳ（ガスクロマトグラフ質量分析装置）における化合物同定には、ハードイオン化法の一例である電子イオン化（ＥＩ）法によって得られるスペクトルを用いたライブラリーサーチが有用である。ＥＩ法によって得られるスペクトルは、化合物の組成と構造とを反映して固有のフラグメントパターンを安定的に示す。そのため、予めライブラリーに登録されている既知のスペクトルと、ＥＩ法によって得られたスペクトルと、の一致度に基づいて、化合物の同定を行うことができる。

しかし、ライブラリーを用いる方法では、ＥＩ法によって得られたスペクトルが、ライブラリーに登録されている既知の物質のスペクトルでないと、化合物を同定することができない。

一方で、化学イオン化（ＣＩ）法、電界イオン化（ＦＩ）法、光イオン化（ＰＩ）法又は電界脱離イオン化（ＦＤ）法等のソフトイオン化法では、化合物の分子量関連イオン（分子イオンやカチオン付加分子等の分子量情報を得ることができるイオン）が検出され易いので、ソフトイオン化法は、化合物同定に有用である。飛行時間質量分析装置等のように精密質量を取得することができる高分解能質量分析装置と組み合わせることで、分子量関連イオンの精密質量が得られ、化合物の分子組成を推定することができる。化合物の分子組成を推定する処理（以下、「組成推定処理」と呼ぶ）とは、予め設定された元素の種類と数の範囲内において、実測の精密質量に対して許容誤差内に含まれる理論質量を有する組成を算出する処理のことをいう。

組成推定処理では、未知の物質の同定を行う場合、ある程度広い範囲の条件を設定しておかないと、正しい組成が算出されない。しかし、ある程度広い範囲の条件を設定すると、複数の組成の候補が算出されてしまう。複数の組成の候補の中から正しい組成を特定するためには、複数の指標を総合的に考慮する必要がある。

１つの指標として、同位体ピークの分布を用いることが考えられる。組成の候補から理論的な同位体ピークの分布を算出し、実測の同位体ピークの分布と理論的な同位体ピークの分布との一致度を算出し、その一致度を用いて、組成を特定することが考えられる。

別の指標として、電子総数を用いることが考えられる。分子量関連イオンが、分子イオンであるのかカチオン付加分子（又は脱離イオン）であるのかが予め分かっている場合に、電子総数を用いて組成を特定することができる。分子量関連イオンが分子イオンであると分かっている場合には、電子総数が奇数であるので、組成の候補から電子総数が奇数の候補のみを絞ることができる。分子量関連イオンがカチオン付加分子であることが分かっている場合には、電子総数が偶数であるので、組成の候補から電子総数が偶数の候補のみを絞ることができる。

なお、ＥＩ法は、化合物の中性分子に電子を衝突させてイオン化する方法であり、電子の衝突によって分子内の電子が放出され、更に、分子間の結合に開裂が生じる。ＥＩ法では、分子イオンやフラグメントイオンが生成される。化合物によっては、分子イオンが全く検出されず、フラグメントイオンのみが検出される場合がある。イオン化の原理上、カチオン付加分子は生成されない。

一方、ソフトイオン化法は、化合物の分子になるべく負荷を与えずにイオン化する方法である。分子イオンやカチオン付加分子が生成され易く、フラグメントイオンの生成量が少ない。

なお、特許文献１には、実測の同位体パターンと同位体存在比によるパターンとを表示する方法が記載されている。

特許文献２には、同位体ピークの包絡線と理論同位体分布の包絡線とを比較し、モノアイソトピックイオンピークを求める方法が記載されている。

特許文献３には、ピーク情報に基づいて、予測される同位体パターンを作成し、その同位体パターンとスペクトルデータのピークとの一致度に基づいて、ピーク干渉の有無を判断する方法が記載されている。

特公平４－３４２５６号公報 特許第６０２０３１５号 特開２００８－９６３５３号公報

ところで、未知の成分のマススペクトルからは、分子イオンとプロトン付加分子（又は脱離イオン）が同時に検出されたのか否かを判定することができない。分子イオンとプロトン付加イオン（脱離イオン）が同時に検出された場合、分子イオンの同位体分布が理論値からずれるため、得られた組成が正しい組成であるのか否かを評価することができず、同定の確度が低下する。

また、分子量関連イオンのピークが、分子イオンのピークであるのか、プロトン付加分子（又は離脱イオン）のピークであるのかを判定することができないことで、分子量関連イオンから得られる組成の候補に、分子イオンとプロトン付加分子（又は離脱イオン）の組成が混在する。そのため、化合物の同定が困難となる。

本発明の目的は、試料に対する質量分析を行うことで測定されたマススペクトルから、当該試料における付加イオン又は脱離イオンの有無を判定することができる仕組みを提供することにある。

本発明の１つの態様は、試料に対する質量分析を行うことで測定されたマススペクトルから組成推定対象ピークと、前記組成推定対象ピークに関連する一群の実測同位体ピークとを選択し、前記組成推定対象ピークに基づいて、前記試料の組成の候補を推定し、前記組成の候補に対応する理論同位体ピークの分布を算出し、前記実測同位体ピークの分布における同位体間の第１質量差と、前記理論同位体ピークの分布における同位体間の第２質量差と、に基づいて、前記試料における付加イオン又は脱離イオンの有無を判定する、ことを特徴とする質量分析方法である。

上記の質量分析方法において、更に、前記第１質量差と前記第２質量差との差に基づいて、前記試料における付加イオン又は脱離イオンの存在比が算出されてもよい。

上記の質量分析方法において、更に、前記存在比に基づいて前記実測同位体ピークの強度を補正することで、補正実測同位体ピークの強度が算出されてもよい。

上記の質量分析方法において、更に、前記補正実測同位体ピークの分布の強度と前記理論同位体ピークの分布の強度との一致度が算出されてもよい。

上記の質量分析方法において、前記組成推定対象ピークに基づいて、前記試料の組成の複数の候補が推定され、組成の候補毎に、前記理論同位体ピークの分布が算出され、組成の候補毎に、前記存在比が算出され、組成の候補毎に、前記存在比に基づいて前記実測同位体ピークの強度を補正することで、前記補正実測同位体ピークの強度が算出され、組成の候補毎に、前記補正実測同位体ピークの強度と前記理論同位体ピークの強度との一致度が算出され、組成の候補毎に、前記一致度が表示されてもよい。

本発明の１つの態様は、試料に対する質量分析を行うことでマススペクトルを生成する質量分析部と、前記マススペクトルから組成推定対象ピークと、前記組成推定対象ピークに関連する一群の実測同位体ピークとを選択する選択部と、前記組成推定対象ピークに基づいて、前記試料の組成の候補を推定する推定部と、前記組成の候補に対応する理論同位体ピークの分布を算出する第１算出部、前記実測同位体ピークの分布における同位体間の第１質量差と、前記理論同位体ピークの分布における同位体間の第２質量差と、に基づいて、前記試料における付加イオン又は脱離イオンの有無を判定する判定部と、を含むことを特徴とする情報処理装置である。

上記の情報処理装置は、更に、前記第１質量差と前記第２質量差との差に基づいて、前記試料における付加イオン又は脱離イオンの存在比を算出する第２算出部を含んでもよい。

上記の情報処理装置は、更に、前記存在比に基づいて前記実測同位体ピークの強度を補正することで、補正実測同位体ピークの強度を算出する第３算出部を含んでもよい。

上記の情報処理装置は、更に、前記補正実測同位体ピークの分布の強度と前記理論同位体ピークの分布の強度との一致度を算出する第４算出部を含んでもよい。

上記の情報処理装置は、情報を表示部に表示させる表示制御部を更に含み、前記推定部は、前記組成推定ピークに基づいて、前記試料の組成の複数の候補を推定し、前記第１算出部は、組成の候補毎に、前記理論同位体ピークの分布を算出し、前記第２算出部は、組成の候補毎に、前記存在比を算出し、前記第３算出部は、組成の候補毎に、前記補正実測同位体ピークの強度を算出し、前記第４算出部は、組成の候補毎に、前記補正実測同位体ピークの強度と前記理論同位体ピークの強度との一致度を算出し、前記表示制御部は、組成の候補毎に、前記一致度を前記表示部に表示させてもよい。

本発明によれば、試料に対する質量分析を行うことで測定されたマススペクトルから、当該試料における付加イオン又は脱離イオンの有無を判定することができる。

実施形態に係る質量分析システムの構成を示すブロック図である。 実施例１に係る処理の流れを示すフローチャートである。 実施例１の処理結果を示す図である。 実施例２に係る処理の流れを示すフローチャートである。 マススペクトルを示す図である。 マススペクトルを示す図である。 推定された組成の候補を示す図である。 理論同位体ピークの分布と実測同位体ピークの分布を示す図である。 付加イオンの存在比等を示す図である。 実施例２の解析結果を示す図である。 補正前の同位体ピーク分布の比較結果を示す図である。 補正後の同位体ピーク分布の比較結果を示す図である。 実施例４に係る処理の流れを示すフローチャートである。 実施例４の解析結果を示す図である。 実施例５に係る処理の流れを示すフローチャートである。

図１には、実施形態に係る質量分析システムの構成の一例が示されている。質量分析システム１０は、元試料に含まれる複数の化合物を時間的に分離し、個々の化合物に対して質量分析を実行するシステムである。質量分析システム１０は、例えば、クロマトグラフ装置１２と、質量分析装置１４と、情報処理装置１６とを含む。なお、クロマトグラフ装置１２は、質量分析システム１０に含まれなくてもよい。

クロマトグラフ装置１２は、ガスクロマトグラフ装置又は液体クロマトグラフである。クロマトグラフ装置１２に対して元試料が導入されると、出力側に、時間的に分離された複数の化合物が現れる。複数の化合物は、それぞれ、質量分析装置１４から見て分析対象としての試料である。分離された複数の化合物が質量分析装置１４に順次導入される。質量分析装置１４は、例えば、イオン源１８と、質量分析部２０と、検出部２２とを含む。

イオン源１８は、ソフトイオン源又はハードイオン源を有する。イオン源１８は、ソフトイオン源及びハードイオン源の両方を有してもよい。ソフトイオン源は、例えば、電界イオン化（ＦＩ）法、化学イオン化（ＣＩ）法、光イオン化（ＰＩ）法、又は、電界脱離イオン化（ＦＤ）法等に従うイオン源である。ハードイオン源は、例えば、電子イオン化（ＥＩ）法に従うイオン源である。

イオン源１８において、導入された試料からイオンが生成される。そのイオンは、電界の作用によって質量分析部２０に導入される。

質量分析部２０は、イオンが有する質量電荷比（ｍ／ｚ）に基づいて、イオンに対して質量分析を実行する。例えば、質量分析部２０が飛行時間型質量分析部である場合、個々のイオンは、イオンが有するｍ／ｚに応じた飛行時間を経て、検出部２２によって検出される。他のタイプの質量分析部（例えば、磁場セクター型質量分析部、四重極型質量分析部）が利用されてもよい。

検出部２２は、例えば、電子増倍管を有し、イオンを検出する。検出部２２から検出信号が出力される。検出信号は、情報処理装置１６へ送られる。

情報処理装置１６は、プロセッサ２４と、メモリ２６と、操作部２８と、表示部３０とを含む。プロセッサ２４は、例えば、プログラムを実行するＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）によって構成される。プロセッサ２４に代えて、又は、プロセッサ２４と共に、演算や制御や処理を行う回路等が利用されてもよい。情報処理装置１６が、複数のコンピュータによって構成されてもよい。また、情報処理装置１６の一部の機能が、ネットワーク等の通信経路を介して提供されてもよい。

プロセッサ２４は、演算部、制御部及び処理部として機能する。例えば、プロセッサ２４は、選択部、推定部、第１算出部、第２算出部、第３算出部、第４算出部、判定部、及び、表示制御部として機能する。例えば、ＣＰＵがプログラムを実行することで、これらの機能が実現される。

メモリ２６は、半導体メモリやハードディスクドライブ等によって構成される。メモリ２６には、ＣＰＵによって実行される複数のプログラムが記憶されている。例えば、スペクトル処理プログラムや組成推定プログラム等が記憶されている。

操作部２８は、キーボードやマウスやポインティングデバイス等によって構成されている。ユーザーによって操作部２８が操作されて、各種の情報が情報処理装置１６に入力される。

表示部３０は、液晶ディスプレイやＥＬディスプレイ等のディスプレイである。表示部３０には、例えば、クロマトグラフ、マススペクトル、及び、その他の情報が表示される。

以下、各実施例について説明する。

＜実施例１＞
以下、図２を参照して実施例１について説明する。図２には、実施例１に係る処理の流れを示すフローチャートが示されている。

クロマトグラフ装置１２に対して元試料が導入され、クロマトグラフ装置１２によってクロマトグラムデータが得られる。プロセッサ２４は、得られたクロマトグラムデータからピークを検出する（Ｓ０１）。ピーク検出によって、ｃ個（ｃ＝１～Ｃ）のサンプル成分に対応するクロマトグラムピークが得られる。

まず、ｃ＝１のサンプル成分について、以下の処理が実行される。

ｃ＝１のサンプル成分に対応するクロマトグラムピークから、その検出時間に対応するマススペクトルが生成される（Ｓ０２）。

プロセッサ２４は、ステップＳ０２にて生成されたマススペクトル上の分子関連イオンのピーク群から組成推定対象ピークを選択する（Ｓ０３）。具体的には、プロセッサ２４は、マススペクトル上において、強度が閾値以上であり、かつ、最も高質量のｍ／ｚを有するピーク群を選択し、そのピーク群の中から、最も低質量のｍ／ｚを有するピークを、組成推定対象ピークとして選択する。このようにして選択された組成推定対象ピークは、通常、対象サンプル成分のモノアイソトピックピークである。また、同位体群から、予め設定された条件に従って、同位体ピークが排除され、その上で、組成推定対象ピークが選択される。同位体ピークを排除するデアイソトープ処理として、公知の処理を用いることができる。組成推定対象ピークは、ｃ＝１のサンプル成分の組成の候補を推定するために用いられる。

プロセッサ２４は、ステップＳ０３にて選択された組成推定対象ピークの重心のｍ／ｚを算出し、そのｍ／ｚを用いて組成推定処理を実行することで、ｃ＝１のサンプル成分の分子イオン組成の候補を推定する（Ｓ０４）。この組成推定処理として、公知の処理を用いることができる。

プロセッサ２４は、分子イオン組成の候補に基づいて、理論的な同位体ピーク（以下、「理論同位体ピーク」と称する）の分布を生成する（Ｓ０５）。具体的には、プロセッサ２４は、候補を構成する各元素の天然同位体比を足し合わせることで、各同位体ピークについて、ｍ／ｚと相対強度（モノアイソトピックピークの強度を「１」とする）との組み合わせを生成する。

プロセッサ２４は、理論同位体ピークの分布に含まれる各ピークについて、ステップＳ０３にて選択された組成推定対象ピークを基準ピークＰ_０として定め、１Ｄａ毎に高質量側のピークをピークＰ_１，Ｐ_２，・・・，Ｐ_Ｎと定める。理論的同位体ピーク分布は、同位体ピークＰ_ｎ毎にｍ／ｚ（ｍ_ｔｎ）と相対強度（Ｉ_ｔｎ）とを有する。

プロセッサ２４は、実際に測定された同位体ピーク（以下、「実測同位体ピーク」と称する）の分布を対象として、ステップＳ０５にて得られた理論同位体ピーク毎に、その理論同位体ピークのｍ／ｚを基準として予め定められたｍ／ｚ範囲に含まれるｍ／ｚを有する実測同位体ピークを、その理論同位体ピークに割り当てる（Ｓ０６）。その割り当てられた各実測同位体ピークのｍ／ｚをｍ／ｚ（ｍ_ｊｎ）と定義し、相対強度を相対強度（Ｉ_ｊｎ）と定義する。実測同位体ピークの相対強度（Ｉ_ｊｎ）は、ピークＰ_０に割り当てられたモノアイソトピックピークの相対強度（Ｉ_ｊｎ）を「１」として相対化された値である。また、各ｍ／ｚにおいて、閾値以上の相対強度を有する実測同位体ピークが割り当てられる。必ずしも、理論同位体ピークの数と実測同位体ピークの数とが同じになるとは限らない。

その割り当てられた実測同位体ピークは、組成推定対象ピークに関連する一群の実測同位体ピークの一例である。

プロセッサ２４は、理論同位体ピークの分布に含まれる各ピークの相対強度（Ｉ_ｔｎ）と、実測同位体ピークの分布に含まれる各ピークの相対強度（Ｉ_ｊｎ）とを比較し、それらの一致度（同位体分布スコア）を算出する（Ｓ０７）。例えば、コサイン類似度等、一般的な一致度の算出方法が用いられる。プロセッサ２４は、相対強度の値の差を算出し、その差をスコアリングして一致度を算出してもよい。

ここで、実測同位体ピークＰ_１の相対強度において、同位体の存在比の真値を「１」と定義し、付加イオンの存在比を「α」と定義する。つまり、実測同位体ピークＰ_１の相対強度には、同位体ピークの相対強度と付加イオンの相対強度とが混在しており、ここでは、それらの存在比を１：αと定義する。

プロセッサ２４は、下記の式（１）に従って、実測同位体ピークＰ_１における付加イオンの存在比αを算出する（Ｓ０８）。
α＝（Δｍ－ａ）／（ｂ－Δｍ）・・・（１）
Δｍ＝ｍ_ｊ１－ｍ_ｊ０－１
ａ＝ｍ_ｔ１－ｍ_ｔ０－１
ｂ＝０．００７８３
Δｍは、同位体間（Ｐ_０－Ｐ_１）の質量欠損の差の実測値である。
ａは、同位体間（Ｐ_０－Ｐ_１）の質量欠損の差の理論値である。ａとして、簡易的に^１２Ｃと^１３Ｃとの間の質量欠損差である０．００３３６を用いてもよい。
ｂは、水素原子の質量欠損である。

Δｍは、実測同位体ピークの分布における同位体間の第１質量差の一例に相当する。ａは、理論同位体ピークの分布における同位体間の第２質量差の一例に相当する。

プロセッサ２４は、付加イオンの存在比αを用いて、付加イオンが検出されたか否かを判定する（Ｓ０９）。

例えば、プロセッサ２４は、α＞０の場合に付加イオンが存在すると判定し、α≦０の場合に付加イオンが存在しないと判定する。

プロセッサ２４は、測定誤差等を考慮して判定基準値βを設定し、α＞βの場合に付加イオンが存在すると判定し、α≦βの場合に付加イオンが存在しないと判定してもよい。

付加イオンが存在すると判定された場合（Ｓ０９，Ｙｅｓ）、プロセッサ２４は、付加イオンの存在比αに基づいて、実測同位体ピーク毎に、実測同位体ピークの相対強度を補正することで、補正実測同位体ピークの相対強度を算出する（Ｓ１０）。補正実測同位体ピークの相対強度を、相対強度（Ｉ´_ｊｎ）と定義する。相対強度（Ｉ´_ｊｎ）は、以下の式（２）に従って算出される。
Ｉ´_ｊ０＝Ｉ_ｊ０＝１
Ｉ´_ｊ１＝Ｉ_ｊ１／（１＋α）
Ｉ´_ｊｎ＝Ｉ_ｊｎ－Ｉ´_{ｊ（ｎ－１）}×Ｉ´_ｊ１×α （ｎ≧２）
・・・（２）

ここでは、ピークＰ_０（つまりモノアイソトピックピーク）の強度を「１」と定義し、各ピークの強度を相対化している。

補正後の相対強度（Ｉ´_ｊｎ）は、実測値である相対強度（Ｉ_ｊｎ）から付加イオンの相対強度が差し引かれた強度（つまり、付加イオンの相対強度が除去された同位体ピークの相対強度の真値）に相当する。

上記の式（２）について詳しく説明する。ピークＰ_０のｍ／ｚをＭ、ピークＰ_１のｍ／ｚをＭ＋１、ピークＰ_２のｍ／ｚをＭ＋２、ピークＰ_ｎのｍ／ｚをＭ＋ｎと定義すると、実測値である相対強度Ｉ_ｊｎと、補正後の相対強度Ｉ´_ｊｎとの間は以下のように定義される。
Ｍ：Ｉ´_ｊ０＝Ｉ_ｊ０＝１
Ｍ＋１：Ｉ´_ｊ１＋Ｓ＝Ｉ_ｊ１
Ｍ＋２：Ｉ´_ｊ２＋Ｉ´_ｊ１×Ｓ＝Ｉ_ｊ２
Ｍ＋３：Ｉ´_ｊ３＋Ｉ´_ｊ２×Ｓ＝Ｉ_ｊ３
Ｍ＋４以降についても同様である。

ここで、係数Ｓは、実測同位体ピークの相対強度において、付加イオンの存在比αに対応する相対強度である。上述したように、同位体の存在比の真値は、付加イオンの存在比αに対して「１」である。例えば、真値である補正後の相対強度Ｉ´_ｊ１の存在比は、付加イオンの存在比αに対して「１」である。
したがって、Ｉ´_ｊ１：Ｓ＝１：αの関係が成立し、Ｓ＝Ｉ´_ｊ１×αとなる。

係数Ｓを、Ｍ＋１についての式に代入すると、上述した式（２）によって表現される相対強度（Ｉ´_ｊ１）が得られる。また、Ｍ＋２以降の各式に、係数Ｓを代入し、式を整理すると、上述した式（２）によって表現される相対強度（Ｉ´_ｊｎ）が得られる。

プロセッサ２４は、理論同位体ピークの分布に含まれる各ピークの相対強度（Ｉ_ｔｎ）と、補正実測同位体ピークの分布に含まれる各ピークの相対強度（Ｉ´_ｊｎ）（つまり補正後の相対強度）とを比較し、それらの一致度（同位体分布スコア）を算出する（Ｓ１１）。

ステップＳ０９にて付加イオンが存在しないと判定された場合（Ｓ０９，Ｎｏ）、ステップＳ１０，Ｓ１１の処理は実行されない。以上で、ｃ＝１のサンプル成分についての処理は終了する。その後、ｃ≦Ｃになるまで、全てのサンプル成分について、ステップＳ０２～Ｓ１１の処理を繰り返す。

全てのサンプル成分についての処理が終了すると、プロセッサ２４は、全てのサンプル成分についての処理の結果を表示部３０に表示させる（Ｓ１２）。

例えば、図３に示されている処理の結果が、表示部３０に表示される。図３には、組成が既知である１７個のサンプル成分（ｃ＝１～１７のそれぞれのサンプル成分）についての処理の結果が示されている。例えば、サンプル成分毎に、組成と、相対強度が補正される前の同位体分布スコアと、付加イオンの存在比αと、付加イオンの存在の判定結果と、相対強度が補正された後の同位体分布スコアと、補正前の同位体分布スコアと補正後の同位体分布スコアとの差（スコア差）と、が紐付けられている。これらの全部又は一部が表示される。

図３に示す例では、１７成分中９個の成分に付加イオンが存在すると判定された。９個の成分のそれぞれについて補正後の同位体分布スコアが算出され、９成分中７個の成分について、補正後の同位体分布スコアは、補正前の同位体分布スコアよりも高くなった。つまり、付加イオンの存在比αを用いて相対強度を補正することで、組成の同定の精度を向上させることができる。

＜実施例２＞
以下、図４を参照して実施例２について説明する。図４には、実施例２に係る処理の流れを示すフローチャートが示されている。

クロマトグラフ装置１２に対して元試料が導入され、クロマトグラフ装置１２によってクロマトグラムデータが得られる。プロセッサ２４は、得られたクロマトグラムデータからピークを検出する（Ｓ２０）。ピーク検出によって、ｃ個（ｃ＝１～Ｃ）のサンプル成分に対応するクロマトグラムピークが得られる。

まず、ｃ＝１のサンプル成分について、以下の処理が実行される。

ｃ＝１のサンプル成分に対応するクロマトグラムピークから、その検出時間に対応するマススペクトルが生成される（Ｓ２１）。

プロセッサ２４は、ステップＳ２１にて生成されたマススペクトル上の分子関連イオンのピーク群から組成推定対象ピークを選択する（Ｓ２２）。具体的には、プロセッサ２４は、マススペクトル上において、強度が閾値以上であり、かつ、最も高質量のｍ／ｚを有するピーク群を選択し、そのピーク群の中から、最も低質量のｍ／ｚを有するピークを、組成推定対象ピークとして選択する。このようにして選択された組成推定対象ピークは、通常、対象サンプル成分のモノアイソトピックピークである。また、同位体群から、予め設定された条件に従って、同位体ピークが排除され、その上で、組成推定対象ピークが選択される。組成推定対象ピークは、ｃ＝１のサンプル成分の組成の候補を推定するために用いられる。

図５及び図６には、マススペクトルの一例が示されている。図６は、図５の一部を拡大した図である。図５及び図６において、横軸はｍ／ｚであり、縦軸は相対強度である。

図５に示されているピーク群３２は、相対強度が閾値以上であり、かつ、最も高質量のｍ／ｚを有するピーク群である。図６には、拡大されたピーク群３２が示されている。ピーク３４は、ピーク群３２の中で最も低質量のｍ／ｚを有するピークである。プロセッサ２４は、ピーク群３２を選択し、そのピーク群３２の中からピーク３４を組成推定対象ピークとして選択する。

プロセッサ２４は、ステップＳ２２にて選択された組成推定対象ピーク（つまりピーク３４）の重心のｍ／ｚを算出し、そのｍ／ｚを用いて組成推定処理を実行することで、ｃ＝１のサンプル成分の分子イオン組成の候補を推定する（Ｓ２３）。ピーク３４の重心のｍ／ｚは、２２７．１１９８５であり、この値を用いてサンプル成分の分子イオン組成の候補が推定される。例えば、ｓ個（ｓ＝１～Ｓ）の候補が推定される。

図７には、ステップＳ２３にて推定された組成の候補の一覧が示されている。図７に示す例では、４個の候補（ｓ＝１～４の候補）が推定されており、各候補のｍ／ｚの理論値が算出されている。

まず、ｃ＝１のサンプル成分についてのｓ＝１の組成の候補（つまり、Ｃ９Ｈ１７Ｎ５Ｓ）について、以下の処理が実行される。

プロセッサ２４は、ｓ＝１の候補について、理論同位体ピークの分布を生成する（Ｓ２４）。具体的には、プロセッサ２４は、ｓ＝１の候補を構成する各元素の天然同位体比を足し合わせることで、各同位体ピークについて、ｍ／ｚと相対強度（モノアイソトピックピークの強度を「１」とする）との組み合わせを生成する。

プロセッサ２４は、理論同位体ピークの分布に含まれる各ピークについて、ステップＳ２２にて選択された組成推定対象ピークを基準ピークＰ_０として定め、１Ｄａ毎に高質量側のピークをピークＰ_１，Ｐ_２，・・・，Ｐ_Ｎと定める。理論的同位体ピーク分布は、同位体ピークＰ_ｎ毎にｍ／ｚ（ｍ_ｔｎ）と相対強度（Ｉ_ｔｎ）とを有する。

図８中の（ａ）には、ｓ＝１についての各理論同位体ピーク（ピークＰ_０～Ｐ_６）のｍ／ｚ（ｍ_ｔｎ）と相対強度（Ｉ_ｔｎ）とが示されている。

プロセッサ２４は、実際に測定された同位体ピークである実測同位体ピークの分布を対象として、ステップＳ２４にて得られた理論同位体ピーク毎に、その理論同位体ピークのｍ／ｚを基準として予め定められたｍ／ｚ範囲に含まれるｍ／ｚを有する実測同位体ピークを、その理論同位体ピークに割り当てる（Ｓ２５）。その割り当てられた各実測同位体ピークのｍ／ｚをｍ／ｚ（ｍ_ｊｎ）と定義し、相対強度を相対強度（Ｉ_ｊｎ）と定義する。実測同位体ピークの相対強度（Ｉ_ｊｎ）は、ピークＰ_０に割り当てられたモノアイソトピックピークの相対強度（Ｉ_ｊｎ）を「１」として相対化された値である。また、各ｍ／ｚにおいて、閾値以上の相対強度を有する実測同位体ピークが割り当てられる。必ずしも、理論同位体ピークの数と実測同位体ピークの数とが同じになるとは限らない。

図８中の（ｂ）には、ｓ＝１についての各実測同位体ピーク（ピークＰ_０～Ｐ_３）のｍ／ｚ（ｍ_ｊｎ）と相対強度（Ｉ_ｊｎ）とが示されている。

ステップＳ２５の処理について更に詳しく説明する。プロセッサ２４は、ピークＰ_０に相当する理論同位体ピークのｍ／ｚ（ｍ_ｔ０）を基準として予め定められたｍ／ｚ範囲に含まれるｍ／ｚを有する実測同位体ピークを、ピークＰ_０に相当する理論同位体ピークに割り当てる。ピークＰ_０に相当する理論同位体ピークのｍ／ｚ（ｍ_ｔ０）は、２２７．１１９９２であり、プロセッサ２４は、その値を基準として予め定められたｍ／ｚ範囲内に含まれるｍ／ｚを有する実測同位体ピークを、ピークＰ_０に相当する理論同位体ピークに割り当てる。図８の（ｂ）に示す例では、ｍ／ｚが２２７．１１９８５である実測同位体ピークが検出されている。そのｍ／ｚ（＝２２７．１１９８５）は、ピークＰ_０に相当する理論同位体ピークのｍ／ｚ（ｍ_ｔ０）（＝２２７．１１９９２）を基準として予め定められたｍ／ｚ範囲内に含まれる。したがって、プロセッサ２４は、ｍ／ｚが２２７．１１９８５である実測同位体ピークを、ピークＰ_０に相当する理論同位体ピークに割り当てる。

ｍ／ｚ（ｍ_ｔ０）が２２７．１１９９２である理論同位体ピークと、ｍ／ｚ（ｍ_ｊ０）が２２７．１１９８５である実測同位体ピークが、ｓ＝１の組成の候補についてピークＰ_０に相当するピークとして扱われる。

ピークＰ_１以降の各ピークについても、ピークＰ_０と同様に、実測同位体ピークが理論同位体ピークに割り当てられる。

割り当てられた実測同位体ピークは、組成推定対象ピークに関連する一群の実測同位体ピークの一例である。

プロセッサ２４は、理論同位体ピークの分布に含まれる各ピークの相対強度（Ｉ_ｔｎ）と、実測同位体ピークの分布に含まれる各ピークの相対強度（Ｉ_ｊｎ）とを比較し、それらの一致度（同位体分布スコア）を算出する（Ｓ２６）。例えば、コサイン類似度等、一般的な一致度の算出方法が用いられる。プロセッサ２４は、相対強度の値の差を算出し、その差をスコアリングして一致度を算出してもよい。

実施例１と同様に、実測同位体ピークＰ_１の相対強度において、同位体の存在比の真値を「１」と定義し、付加イオンの存在比を「α」と定義する。

プロセッサ２４は、上述した式（１）に従って、実測同位体ピークＰ_１における付加イオンの存在比αを算出する（Ｓ２７）。Δｍ、ａ及びｂの定義は、実施例１に係る定義と同じである。図９中の（ａ）に、α、ａ、ｂ及びΔｍが示されている。

プロセッサ２４は、付加イオンの存在比αを用いて、付加イオンが検出されたか否かを判定する（Ｓ２８）。

例えば、プロセッサ２４は、α＞０の場合に付加イオンが存在すると判定し、α≦０の場合に付加イオンが存在しないと判定する。

プロセッサ２４は、測定誤差等を考慮して判定基準値βを設定し、α＞βの場合に付加イオンが存在すると判定し、α≦βの場合に付加イオンが存在しないと判定してもよい。

図９中の（ｂ）には、付加イオンの有無の判定結果が示されている。ここでは、付加イオンが存在すると判定されている。

付加イオンが存在すると判定された場合（Ｓ２８，Ｙｅｓ）、プロセッサ２４は、付加イオンの存在比αに基づいて、実測同位体ピーク毎に、実測同位体ピークの相対強度を補正することで、補正実測同位体ピークの相対強度を算出する（Ｓ２９）。補正実測同位体ピークの相対強度を、相対強度（Ｉ´_ｊｎ）と定義する。相対強度（Ｉ´_ｊｎ）は、上述した式（２）に従って算出される。

図８中の（ｃ）には、補正後の相対強度（Ｉ´_ｊｎ）が示されている。

プロセッサ２４は、理論同位体ピークの分布に含まれる各ピークの相対強度（Ｉ_ｔｎ）と、補正実測同位体ピークの分布に含まれる各ピークの相対強度（Ｉ´_ｊｎ）（つまり補正後の相対強度）とを比較し、それらの一致度（同位体分布スコア）を算出する（Ｓ３０）。

以上で、ｃ＝１のサンプル成分について、ｓ＝１の組成の候補に対する処理は終了する。つまり、ｓ＝１の組成の候補（Ｃ９Ｈ１７Ｎ５Ｓ）（図７参照）に対する処理は終了する。その後、ｓ≦Ｓ（図７に示す例ではＳ＝４）になるまで、全ての組成の候補について、ステップＳ２４～Ｓ３０の処理を繰り返す。

ｓ＞Ｓになった場合、ｃ＝１のサンプル成分についての処理は終了し、その後、ｃ≦Ｃとなるまで、全てのサンプル成分について、ステップＳ２１～Ｓ３０の処理を繰り返す。

全てのサンプル成分についての処理が終了すると、プロセッサ２４は、全てのサンプル成分についての処理の結果を表示部３０に表示させる（Ｓ３１）。

図１０には、組成が既知である試料（分子組成がＣ９Ｈ１７Ｎ５Ｓ）についての解析の結果が示されている。つまり、分子組成がＣ９Ｈ１７Ｎ５Ｓであることが分かっている試料を対象としてステップＳ２０～Ｓ３０の処理が実行され、その解析の結果が、図１０に示されている。

具体的には、ｓ＝１～４のそれぞれの組成の候補について、付加イオンの判定結果、補正前の同位体分布スコア、補正後の同位体分布スコア、補正前の同位体分布スコアの順位、及び、補正後の同位体分布スコアの順位が、示されている。補正前の同位体分布スコアは、ステップＳ２６にて算出された値、つまり、補正前の実測同位体ピークの分布を用いて算出された値である。補正後の同位体分布スコアは、ステップＳ３０にて算出された値、つまり、補正後の実測同位体ピークの分布（つまり、補正実測同位体ピークの分布）を用いて算出された値である。同位体分布スコアは、コサイン類似度を用いて算出されており、値が「１」に近いほど一致度が高い。同位体分布スコアの「１」に近いほど、つまり、一致度が高いほど、同位体分布スコアの順位は高い。

ｓ=１の候補（つまり、Ｃ９Ｈ１７Ｎ５Ｓ）は、実際に測定された試料の組成である。ｓ＝１の候補について、補正前の順位は４位であるが、補正後の順位は１位になっている。つまり、付加イオンの存在比αを用いて実測同位体ピークの相対強度を補正することで、正しい組成の候補の同位体分布スコアが上昇し、スコア順位が上昇する。

プロセッサ２４は、理論同位体ピークの相対強度と実測同位体ピークの相対強度との比較結果を表示部３０に表示させてもよい。この場合、プロセッサ２４は、補正前の比較結果を表示部３０に表示させてもよいし、補正後の比較結果を表示部３０に表示させてもよい。ユーザーが操作部２８を用いて、比較結果の表示の切替を指示した場合、プロセッサ２４は、その指示に従って、表示対象を補正前の比較結果から補正後の比較結果に切り替え、又は、表示対象を補正後の比較結果から補正前の比較結果に切り替えてもよい。プロセッサ２４は、補正前の比較結果と補正後の比較結果の両方を同時に表示部３０に表示させてもよい。

図１１には、補正前の比較結果が示されている。図１２には、補正後の比較結果が示されている。図１１及び図１２において、横軸は、ピークＰ_ｎを示しており、縦軸は、相対強度を示している。図１２には、補正後の実測同位体ピークの相対強度と共に、補正前の実測同位体ピークの相対強度も示されている。例えば、図１１に示されている比較結果や、図１２に示されている比較結果が、表示部３０に表示される。また、ユーザーの指示に従って、図１２に示されている比較結果において、補正前の実測同位体ピークの相対強度が表示されずに補正後の相対強度が表示されてもよいし、補正後の相対強度と共に補正前の相対強度が表示されてもよい。

＜実施例３＞
実施例１，２において、分子量関連イオンのピークであると判定されて選択されたピークが、［Ｍ－Ｈ］＋，［Ｍ－Ｈ２］＋，・・・，［Ｍ－Ｈｎ］等の分子組成から水素が脱離したイオンであった場合であっても、実施例１，２の基準ピークＰ_０が、分子イオンからＨｎ脱離したイオンのピークとして、実施例１，２と同様の処理が実行されてもよい。その場合も、基準ピークから１Ｄａ毎に高質量側のピークを、ピークＰ_１，Ｐ_２，・・・，Ｐ_Ｎと定める。各ピークが基準ピークＰ_０から見てＨが付加された組成を有するピークとして解釈されて、付加イオンの存在の有無が判定される。実施例３では、脱離イオンの有無が判定され、それ以外の構成及び処理は、実施例１，２に係る構成及び処理と同じである。

＜実施例４＞
実施例４では、イオン源１８は、ソフトイオン化法に従ったイオン源である。ソフトイオン化法によって得られたマススペクトル上の分子量関連イオンにおいて、付加イオンが存在すると判定された場合、プロセッサ２４は、その候補の組成から電子総数を算出し、その算出された電子総数が奇数であるか否かを判定する。算出された電子総数が奇数である場合、プロセッサ２４は、相対強度を補正し、その補正後の相対強度に基づいて、同位体分布スコアを算出する。算出された電子総数が奇数でない場合（つまり、算出された電子総数が偶数である場合）、プロセッサ２４は、その候補の組成を対象として、相対強度の補正、及び、補正後の相対強度を用いた同位体分布スコアの算出を実行しない。

図１３に、実施例４に係る処理の流れを示すフローチャートが示されている。図１３に示すように、実施例４に係る処理は、実施例２に係るステップＳ２０～Ｓ３１（図４参照）に係る処理と、ステップ３２に係る処理とを含む。

ステップＳ２８の処理によって、付加イオンが存在すると判定された場合（Ｓ２８，Ｙｅｓ）、プロセッサ２４は、ステップＳ３２の処理を実行する。ステップＳ３２では、プロセッサ２４は、候補である組成ｓから電子総数を算出し、その電子総数が奇数であるか否かを判定する。電子総数が奇数である場合（Ｓ３２，Ｙｅｓ）、プロセッサ２４は、実施例２と同様に、ステップＳ２９，Ｓ３０の処理を実行する。電子総数が奇数でない場合（Ｓ３２，Ｎｏ）、プロセッサ２４は、ステップＳ２９，Ｓ３０の処理を実行しない。つまり、電子総数が奇数でない組成は、候補から除外される。

電子総数の代わりに不飽和度が用いられてもよい。不飽和度を用いる場合、プロセッサ２４は、不飽和度が整数であるか否かを判定する。不飽和度が整数でない場合（つまり、不飽和度が端数を有する場合）、プロセッサ２４は、ステップＳ２９，Ｓ３０の処理を実行しない。不飽和度が整数である場合、プロセッサ２４は、ステップＳ２９，Ｓ３０の処理を実行する。

図１４には、実施例４の解析結果が示されている。この解析結果は、組成が既知である試料（分子組成がＣ９Ｈ１７Ｎ５Ｓ）についての解析結果である。つまり、分子組成がＣ９Ｈ１７Ｎ５Ｓであることが分かっている試料を対象としてステップＳ２０～Ｓ３０，Ｓ３２の処理が実行され、その解析の結果が、図１４に示されている。

具体的には、ｓ＝１～４のそれぞれの組成の候補について、付加イオンの判定結果、補正前の同位体分布スコア、補正後の同位体分布スコア、補正前の同位体分布スコアの順位、補正後の同位体分布スコアの順位、電子総数、及び、電子総数の判定結果が、示されている。電子総数は、ステップＳ３２の処理によって算出された値である。

ｓ＝１，４の組成の電子総数は奇数であり、ｓ＝２，３の組成の電子総数は偶数である。ｓ＝２，３の組成の電子総数は偶数であるため、ｓ＝２，３の組成は、候補から除外されている。

電子総数の判定を実行することで、４つの候補の中から、電子総数が偶数である２つの候補（ｓ＝２，３の組成の候補）が除外され、電子総数が奇数である２つの候補（ｓ＝１，４の組成の候補）が残る。補正後の同位体分布スコアの順位を含めて、より正しい候補を得ることができる。

＜実施例５＞
実施例５では、ＥＩイオン化法に従ったイオン源１８を用いて測定が行われて、実施例２に係る処理が実行される。また、ソフトイオン化法に従ったイオン源１８を用いて測定が行われて、実施例２に係る処理が実行される。つまり、ＥＩイオン化法とソフトイオン化法のそれぞれに従って実施例２に係る処理が実行される。

プロセッサ２４は、ＥＩイオン化法によって得られたクロマトグラムピークとソフトイオン化法によって得られたクロマトグラムピークとを比較し、同一成分のピークが存在する場合、そのマススペクトル上で選択された基準ピークのｍ／ｚ差（ΔｍＰ_０）を算出する。この差が、予め定められた許容範囲内に含まれる場合、プロセッサ２４は、ＥＩイオン化法とソフトイオン化法のそれぞれの付加イオンの存在判定結果を考慮して、対象の成分が分子イオン又はＨ_ｎ脱離イオンのいずれかであるのかを判定する。更に、プロセッサ２４は、ＥＩイオン化法とソフトイオン化法のそれぞれについて電子総数を算出し、その電子総数が奇数であるのか偶数であるのかに応じて、組成の候補を絞ってもよい。

なお、ＥＩイオン化法ではカチオン付加分子は検出されず、ソフトイオン化法を用いて検出された基準ピークは脱離イオンでないことを前提として、ＥＩイオン化法によって検出された基準ピークのｍ／ｚと、ソフトイオン化法によって検出された基準ピークのｍ／ｚとが一致する場合、その基準ピークは分子イオンであると判断することができる。

分子量関連イオンに付加イオンが存在することが確認することができる場合、ＥＩイオン化法又はソフトイオン化法を用いて、分子量関連イオンの同位体ピークのどこに分子イオンピークが位置するのかが分かる。それにより、プロセッサ２４は、他方のイオン化法を用いて得られた基準ピークが、分子イオンであるのかＨ_ｎ脱離イオンであるのかを判定する。

図１５に、実施例５に係る処理の流れを示すフローチャートが示されている。

ＥＩイオン化法に従ったイオン源１８が用いられ、プロセッサ２４は、ｃ＞ＣになるまでステップＳ２０～Ｓ３０の処理（図４参照）を実行する。また、ソフトイオン化法に従ったイオン源１８が用いられ、プロセッサ２４は、ｃ＞ＣになるまでステップＳ２０～Ｓ３０の処理（図４参照）を実行する。

プロセッサ２４は、ＥＩイオン化法によって得られたクロマトグラムピークとソフトイオン化法によって得られたクロマトグラムピークとが一致するか否かの判定を行う（Ｓ６０）。具体的には、プロセッサ２４は、ＥＩイオン化法によって得られた情報とソフトイオン化法によって得られた情報とに基づいて、同一成分が検出されたか否かを判定する。例えば、プロセッサ２４は、それぞれの方法によって得られたクロマトグラムピークの保持時間（ＲＴ）が予め定められた許容範囲に含まれる否かによって、同一成分が検出されたか否かを判定してもよいし、ピーク間の強度パターンの一致度によって、同一成分が検出されたか否かを判定してもよい。

次に、プロセッサ２４は、ＥＩイオン化法によって得られた基準ピークの質量（具体的にはｍ／ｚ）とソフトイオン化法によって得られた基準ピークの質量（具体的にはｍ／ｚ）との差を算出する（Ｓ６１）。ステップＳ６０にて、同一成分が検出されたと判定された場合、プロセッサ２４は、ＥＩイオン化法によって得られたマススペクトル上で選択された基準ピークＰ_０の実測のｍ／ｚと、ソフトイオン化法によって得られたマススペクトル上で選択された基準ピークＰ_０のｍ／ｚと、差Δｍｐ_０（例えば、ソフトイオン化法によって得られた基準ピークＰ_０のｍ／ｚからＥＩイオン化法によって得られた基準ピークＰ_０のｍ／ｚを減算して得られた値）を算出する。

次に、プロセッサ２４は、ＥＩイオン化法によって得られた組成の候補から電子総数を算出し、ソフトイオン化法によって得られた組成の候補から電子総数を算出する（Ｓ６２）。

プロセッサ２４は、ステップＳ６１にて算出されたΔｍＰ_０と、付加イオンの存在の有無とに基づいて、ＥＩイオン化法によって得られた基準ピークとソフトイオン化法によって得られた基準ピークが、分子イオン由来のピークであるのか、Ｈ_ｎ脱離イオン由来のピークであるのかを判定する。また、プロセッサ２４は、電子総数に応じて候補を除外する。以下、具体的な方法について説明する。

ΔｍＰ_０＝０±γの場合、プロセッサ２４は、ＥＩイオン化法によって得られた基準ピークとソフトイオン化法によって得られた基準ピークとを分子イオン由来のピークであると判定する。また、プロセッサ２４は、ＥＩイオン化法によって得られた組成の候補とソフトイオン化法によって得られた組成の候補から、電子総数が偶数である組成を除外する。

ΔｍＰ_０＝－１±γであり、かつ、ＥＩイオン化法及びソフトイオン化法の中の少なくとも１つの方法によって得られたピークの分布に付加イオンが存在すると判定された場合、プロセッサ２４は、ＥＩイオン化法によって得られた基準ピークをＨ脱離イオン由来のピークであると判定し、ＥＩイオン化法によって組成の候補から、電子総数が奇数である候補を除外する。また、プロセッサ２４は、ソフトイオン化法によって得られた基準ピークを分子イオン由来のピークであると判定し、ソフトイオン化法によって得られた組成の候補から、電子総数が偶数である候補を除外する。

ΔｍＰ_０＝－２±γであり、かつ、ソフトイオン化法によって得られたピークの分布に付加イオンが存在すると判定された場合、プロセッサ２４は、ＥＩイオン化法によって得られた基準ピークをＨ_２脱離イオン由来のピークであると判定し、ＥＩイオン化法によって得られた組成の候補から、電子総数が偶数である候補を除外する。また、プロセッサ２４は、ソフトイオン化法によって得られた基準ピークを分子イオン由来のピークであると判定し、ソフトイオン化法によって得られた組成の候補から、電子総数が偶数である候補を除外する。

なお、γは、質量分析装置の測定誤差に起因する値であり、通常、０．０１程度の値である。

プロセッサ２４は、ステップＳ６２にて得られた結果を表示部３０に表示させる（Ｓ６３）。

各実施例によれば、マススペクトル上において分子イオンと付加イオンとが同時に検出されているのか否かを判定することができる。付加イオンが存在していると判定された場合、実測の同位体ピークの強度を補正することで、正しい組成を判別することができる。また、電子総数を用いて組成の候補を絞ることで、更に正しい組成を判別することができる。

１０ 質量分析システム、１２ クロマトグラフ装置、１４ 質量分析装置、１６ 情報処理装置、１８ イオン源、２０ 質量分析部、２２ 検出部、２４ プロセッサ、２６ メモリ、２８ 操作部、３０ 表示部。

Claims (4)

1. 試料に対する質量分析を行うことで測定されたマススペクトルから組成推定対象ピークと、前記組成推定対象ピークに関連する一群の実測同位体ピークとを選択し、
   前記組成推定対象ピークに基づいて、前記試料の組成の候補を推定し、
   前記組成の候補に対応する理論同位体ピークの分布を算出し、
   前記実測同位体ピークの分布における同位体間の第１質量差と、前記理論同位体ピークの分布における同位体間の第２質量差と、に基づいて、前記試料における付加イオン又は脱離イオンの有無を判定し、
   前記第１質量差と前記第２質量差との差に基づいて、前記試料における付加イオン又は脱離イオンの存在比を算出し、
   前記存在比に基づいて前記実測同位体ピークの強度を補正することで、補正実測同位体ピークの強度を算出し、
   前記補正実測同位体ピークの分布の強度と前記理論同位体ピークの分布の強度との一致度を算出する、
   ことを特徴とする質量分析方法。
2. 請求項１に記載の質量分析方法において、
   前記組成推定対象ピークに基づいて、前記試料の組成の複数の候補を推定し、
   組成の候補毎に、前記理論同位体ピークの分布を算出し、
   組成の候補毎に、前記存在比を算出し、
   組成の候補毎に、前記存在比に基づいて前記実測同位体ピークの強度を補正することで、前記補正実測同位体ピークの強度を算出し、
   組成の候補毎に、前記補正実測同位体ピークの強度と前記理論同位体ピークの強度との一致度を算出し、
   組成の候補毎に、前記一致度を表示する、
   ことを特徴とする質量分析方法。
3. 試料に対する質量分析を行うことでマススペクトルを生成する質量分析部と、
   前記マススペクトルから組成推定対象ピークと、前記組成推定対象ピークに関連する一群の実測同位体ピークとを選択する選択部と、
   前記組成推定対象ピークに基づいて、前記試料の組成の候補を推定する推定部と、
   前記組成の候補に対応する理論同位体ピークの分布を算出する第１算出部、
   前記実測同位体ピークの分布における同位体間の第１質量差と、前記理論同位体ピークの分布における同位体間の第２質量差と、に基づいて、前記試料における付加イオン又は脱離イオンの有無を判定する判定部と、
   前記第１質量差と前記第２質量差との差に基づいて、前記試料における付加イオン又は脱離イオンの存在比を算出する第２算出部と、
   前記存在比に基づいて前記実測同位体ピークの強度を補正することで、補正実測同位体ピークの強度を算出する第３算出部と、
   前記補正実測同位体ピークの分布の強度と前記理論同位体ピークの分布の強度との一致度を算出する第４算出部と、
   を含むことを特徴とする情報処理装置。
4. 請求項３に記載の情報処理装置において、
   情報を表示部に表示させる表示制御部を更に含み、
   前記推定部は、前記組成推定対象ピークに基づいて、前記試料の組成の複数の候補を推定し、
   前記第１算出部は、組成の候補毎に、前記理論同位体ピークの分布を算出し、
   前記第２算出部は、組成の候補毎に、前記存在比を算出し、
   前記第３算出部は、組成の候補毎に、前記補正実測同位体ピークの強度を算出し、
   前記第４算出部は、組成の候補毎に、前記補正実測同位体ピークの強度と前記理論同位体ピークの強度との一致度を算出し、
   前記表示制御部は、組成の候補毎に、前記一致度を前記表示部に表示させる、
   ことを特徴とする情報処理装置。

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