JP7414629B2 - 学習用データ処理装置、学習装置、学習用データ処理方法、およびプログラム - Google Patents
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Description
<1-1.検査装置の構成>
図1は、第1実施形態の検査装置10を示す図である。検査装置10は、対象物90の画像を解析することによって、対象物90の欠陥を検出する。対象物90は、具体的には錠剤であるが、錠剤に限定されない。検査装置10は、カメラ110と、情報処理装置120とを備える。カメラ110は、情報処理装置120と電気的に接続されている。カメラ110は、イメージセンサを備えている。カメラ110は、イメージセンサを用いて対象物90を撮像することにより得られる画像信号を、情報処理装置120へ出力する。カメラ110に撮像される対象物90は、所定の位置に停止していてもよいし、ベルトコンベアなどの搬送機構により、所定の方向へ移動していてもよい。
第1学習部20が行う第1学習処理S10について、図5を参照しつつ説明する。図5は、本実施形態の第1学習処理S10の流れを示すフローチャートである。第1学習処理S10では、第1学習モデルM1を用いて、入力画像の再構成画像を出力するためのパラメータ等である第1学習済データD1を生成する。
次に、学習用データ処理部30が行うデータクレンジング処理S20について、図8を参照しつつ説明する。図8は、本実施形態のデータクレンジング処理S20の流れを示すフローチャートである。データクレンジング処理S20は、学習済第1学習モデルL1を用いて、学習用のデータセットD30に含まれる複数の学習用画像から不適切な画像を除去するデータ処理である。
Th1=S―3*σ
Th2=S+3*σ
第2学習部40が行う第2学習処理S30について、図13を参照しつつ説明する。図13は、本実施形態の第2学習処理S30の流れを示すフローチャートである。第2学習処理S30では、第2学習モデルM2を用いて、入力画像の再構成画像を出力するためのパラメータ等である第2学習済データD2を生成する。
最後に、欠陥検出部50における学習済第2学習モデルL2を用いた欠陥検出処理S40について、図14を参照しつつ説明する。この欠陥検出処理S40では、対象物90を撮像して得られた対象物画像D50に基づいて、対象物90の欠陥を検出する。図14は、本実施形態の欠陥検出部50における欠陥検出処理の流れを示すフローチャートである。
図15は、第2実施形態の情報処理装置120Aが備える機能的な構成を示す図である。図15に示す情報処理装置120Aは、第1実施形態と異なる構成である第1学習部20Aおよび学習用データ処理部30Aと、第1実施形態と同様の構成である第2学習部40および欠陥検出部50とを有する。なお、図15中、第1実施形態と同様の構成については、同じ符号を付している。
以上、実施形態について説明してきたが、本発明は上記のようなものに限定されるものではなく、様々な変形および組み合わせが可能である。
20,20A 第1学習部
31 第1画像再構成部
32,32A 異常度算出部
33,33A データクレンジング部
40 第2学習部
50 欠陥検出部
90 対象物
321 第1差分画像生成部
322 スコア算出部
331 閾値算出部
332 不良品データ除去部
D1,D1A 第1学習済データ
D2 第2学習済データ
D20 標本画像
D30 データセット
D31 第1再構成画像
D32,D32A スコアデータ
D321 第1差分画像
D33 閾値
D40,D40A 処理済データセット
L1,L1A 学習済第1学習モデル
L2 学習済第2学習モデル
M1,M1A 第1学習モデル
M2 第2学習モデル
P プログラム
Claims (4)
- 学習用のデータセットに含まれる複数の学習用画像から不適切な画像を除去する学習用データ処理装置であって、
画像を入力とし、スコアを出力とする第1学習モデルと、
複数の標本画像を前記第1学習モデルに入力し、入力された前記標本画像の外れ値検知を行った結果を前記スコアとして出力するように学習させた第1学習済データと、
前記学習用画像のそれぞれを、前記第1学習済データを適用した前記第1学習モデルに入力して、外れ値であるか否かを示す前記スコアを取得する異常度算出部と、
前記スコアに基づいて、前記データセットから不適切な前記学習用画像を除去するデータクレンジング部と、
を有する、学習用データ処理装置。 - 対象物を検査する検査装置を構築するための学習装置であって、
学習用のデータセットに含まれる複数の学習用画像から不適切な画像を除去する、請求項1に記載の学習用データ処理装置と、
前記学習用データ処理装置によって不適切な画像が除去された処理済データセットを用いて学習を行う第2学習部と、
を有し、
前記第2学習部は、前記処理済データセットに含まれる複数の前記学習用画像を、画像を入力および出力とする第2学習モデルに入力し、前記第2学習モデルが入力された前記学習用画像の再構成画像を出力するように学習させた第2学習済データを生成する、学習装置。 - 学習用のデータセットに含まれる複数の学習用画像から不適切な画像を除去する学習用データ処理方法であって、
a)前記学習用画像のそれぞれについて外れ値であるか否かを示すスコアを取得する異常度算出工程と、
b)前記スコアに基づいて、前記データセットから不適切な前記学習用画像を除去するデータクレンジング工程と、
を有し、
前記異常度算出工程において、
画像を入力とし、スコアを出力とする第1学習モデルと、
複数の標本画像を前記第1学習モデルに入力し、入力された前記標本画像の外れ値検知を行った結果を前記スコアとして出力するように学習させた第1学習済データと、
が用いられ、
前記異常度算出工程において、前記学習用画像のそれぞれを、第1学習済データを適用した前記第1学習モデルに入力して、外れ値であるか否かを示すスコアを取得する、学習用データ処理方法。 - コンピュータに、学習用のデータセットに含まれる複数の学習用画像から不適切な画像を除去する学習用データ処理を行わせるためのプログラムであって、
前記コンピュータに、
a)前記学習用画像のそれぞれについて異常度を示すスコアを算出する異常度算出工程と、
b)前記スコアに基づいて、前記データセットから不適切な前記学習用画像を除去するデータクレンジング工程と、
を実行させ、
前記コンピュータは、前記異常度算出工程において、
画像を入力とし、スコアを出力とする第1学習モデルと、
複数の標本画像を前記第1学習モデルに入力し、入力された前記標本画像の外れ値検知を行った結果を前記スコアとして出力するように学習させた第1学習済データと、
が用い、
前記コンピュータは、前記異常度算出工程において、前記学習用画像のそれぞれを、第1学習済データを適用した前記第1学習モデルに入力して、外れ値であるか否かを示すスコアを取得する、プログラム。
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| JP2021174194A JP2021174194A (ja) | 2021-11-01 |
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Citations (3)
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|---|---|---|---|---|
| JP2018005773A (ja) | 2016-07-07 | 2018-01-11 | 株式会社リコー | 異常判定装置及び異常判定方法 |
| JP2018112863A (ja) | 2017-01-11 | 2018-07-19 | 株式会社東芝 | 異常検知装置、異常検知方法、および異常検知プログラム |
| JP2020035097A (ja) | 2018-08-28 | 2020-03-05 | 株式会社モルフォ | 画像識別装置、画像識別方法及び画像識別プログラム |
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- 2020-04-23 JP JP2020076673A patent/JP7414629B2/ja active Active
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Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 工藤 郁弥 外3名,畳み込みオートエンコーダを用いた工業製品の不良検査,電子情報通信学会技術研究報告 Vol.118 No.492 [online],日本,一般社団法人電子情報通信学会,2019年03月04日,第118巻 第492号,pp.31-36 |
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