JP7488073B2 - 排気ガス浄化用触媒組成物及びbea型ゼオライトの製造方法 - Google Patents
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Description
しかしながら、ベータゼオライトはBET比表面積が比較的小さく、欠損が大きいため、炭化水素(HC)の吸着性能が不十分であり、厳しい熱環境下におかれると更に欠損が増加して、炭化水素(HC)の吸着性能が低下するという問題がある。
(TEABr+TEAOH)/Si比=0.25以上0.89以下
TEAOH/(TEABr+TEAOH)比=0.75を超えて0.99以下
SiO2/Al2O3モル比=10以上50以下
条件1:熱耐久試験
水分を10体積%含有する空気雰囲気において、C3H6を70mL/分、O2を70mL/分及びN2を含むモデルガスを流量3L/分で80秒間流通し、空気を流量3L/分で20秒間流通するサイクルを、1000℃で25時間連続して行う。
(1)結晶度維持率=(熱耐久試験後のBEA型ゼオライトの最大ピーク強度Ia/熱耐久試験前のBEA型ゼオライトの最大ピーク強度Ib)×100
(2)BET比表面積維持率=(熱耐久試験後のBEA型ゼオライトのBET比表面積Sa/熱耐久試験前のBEA型ゼオライトのBET比表面積Sb)×100
次に、本実施形態の排気ガス浄化用触媒組成物に含まれるBEA型ゼオライトの製造方法について説明する。
本発明の実施形態の一例である、BEA型ゼオライトの製造方法は、シリカ源、アルミナ源、アルカリ金属源、有機構造規定剤(テンプレート)、及び水を含む反応混合物を準備する工程と、前記反応混合物を加熱し結晶化させてBEA型ゼオライトを得る工程とを含み、有機構造規定剤(Organic Structure-Directing Agent:OSDA、「鋳型分子(template)」とも称する。)がテトラエチルアンモニウムブロミド(TEABr)及びテトラエチルアンモニウムヒドロキシド(TEAOH)であり、反応混合物が以下のモル比で表される組成を有する。反応混合物中の各成分のモル比は、シリカ源、アルミナ源、アルカリ金属源、及び有機構造規定剤の各原料の仕込み量から換算することができる。
(TEABr+TEAOH)/Si比=0.25以上0.89以下
TEAOH/(TEABr+TEAOH)比=0.75を超えて0.99以下
SiO2/Al2O3モル比=10以上50以下
M(アルカリ金属)/Si比=0.15以上0.20以下
反応混合物において、M/Si比が0.15以上0.20以下であると、ゼオライトの骨格構造を形成するSi、Alなどの金属成分を水中に溶解させる鉱化剤として作用するアルカリ金属源のモル比を低減することができ、アルカリ金属源に含まれるメソ細孔に付着しやすい水酸化物イオンの量を低減することができる。反応混合物において、M/Si比が0.15以上0.18以下であることがより好ましい。M(アルカリ金属)が例えばNaである場合は、M/Si比は、Na/Si比として表すことができる。
反応混合物を準備する際の各原料の添加順序は、均一に混合された反応混合物が得られ易い方法を採用することができる。例えば、室温下、鉱化剤として作用する水酸化ナトリウム水溶液にアルミナ源を添加して溶解させ、次いでシリカ源を添加して撹拌混合することにより、均一に混合した反応混合物を得ることができる。アルミナ源としてアルミノシリケートゲルを用いる場合は、水にアルミノシリケートゲルを入れてゲルスラリーとし、他の原料を添加した後の水酸化ナトリウム水溶液を投入する方法を採用することができる。アルミナ源の添加順序は、この順序に限定されることなく、水にアルミノシリケートゲルを入れたゲルスラリーを他の原料とともに水酸化ナトリウム水溶液に混合してもよい。反応混合物を調製するときの温度は、一般的には室温(20℃から25℃)で反応混合物を準備することができる。
反応混合物は、100℃以上200℃以下の温度で加熱し結晶化させてBEA型ゼオライトを得ることができる。反応混合物に行う加熱を第1加熱又は第1熱処理とも称する。第1加熱は、反応混合物を静置させて行ってもよく、反応混合物を撹拌しながら行ってもよい。加熱温度は、120℃以上180℃以下の温度であってもよい。加熱時間は、5時間以上150時間以内であってもよく、10時間以上100時間以内であってもよく、20時間以上50時間以内であってもよい。加熱は、大気圧下で行っても良く、加圧下で行ってもよい。
反応混合物の準備
脱イオン水、シリカ源(シリカゾル(酸性ゾル)スノーテックス(登録商標)ST-O、日産化学株式会社製)及びアルミナ源(アルミン酸ナトリウム)を混合し得られた含水アルミノシリケートゲルに、アルカリ金属源として水酸化ナトリウム、有機構造規定剤として、テトラエチルアンモニウムブロミド(以下、TEABr)及びテトラエチルアンモニウムヒドロキシド水溶液(以下、TEAOH)を混合した。各原料の仕込み組成が、以下のモル比となるように混合して反応混合物を得た。
SiO2/Al2O3モル比=24.5
Na/Si比=0.18
TEAOH/Si比=0.21
TEABr/Si比=0.06
得られた反応混合物を密閉容器内に充填し、20回転/分で回転させながら、160℃で48時間加熱し結晶化させた。結晶化後の結晶粉末を固液分離し、固液分離した結晶化粉末を、ろ液のpHが中性になるまで脱イオン水で洗浄し、乾燥させてBEA型ゼオライトを得た。
得られたBEA型ゼオライトを大気雰囲気中、600℃まで10時間かけて昇温後、1時間熱処理したのち、塩化アンモニウム水溶液を用いてイオン交換をし、NH4型のBEA型ゼオライトとした。乾燥後、大気雰囲気中、550℃で3時間熱処理し、H型のBEA型ゼオライトとした。このH型のBEA型ゼオライトを排気ガス浄化用触媒組成物とした。
TEAOH/Si比=0.22、TEABr/Si比=0.03となるように仕込み組成のモル比を変えた反応混合物を用いたこと以外は実施例1と同様の方法により、H型のBEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物を得た。
TEAOH/Si比=0.22、TEABr/Si比=0.06となるように仕込み組成のモル比を変えた反応混合物を用いたこと以外は実施例1と同様の方法により、H型のBEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物を得た。
TEAOH/Si比=0.23、TEABr/Si比=0.04となるように仕込み組成のモル比を変えた反応混合物を用いたこと以外は実施例1と同様の方法により、H型のBEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物を得た。
TEAOH/Si比=0.25、TEABr/Si比=0.02となるように仕込み組成のモル比を変えた反応混合物を用いたこと以外は実施例1と同様の方法により、H型のBEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物を得た。
TEAOH/Si比=0.23、TEABr/Si比=0.06となるように仕込み組成のモル比を変えた反応混合物を用いたこと以外は実施例1と同様の方法により、H型のBEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物を得た。
TEAOH/Si比=0.25、TEABr/Si比=0.06となるように仕込み組成のモル比を変えた反応混合物を用いたこと以外は実施例1と同様の方法により、H型のBEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物を得た。
TEAOH/Si比=0.27、TEABr/Si比=0.07となるように仕込み組成のモル比を変えた反応混合物を用いたこと以外は実施例1と同様の方法により、H型のBEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物を得た。
TEAOH/Si比=0.28、TEABr/Si比=0.08となるように仕込み組成のモル比を変えた反応混合物を用いたこと以外は実施例1と同様の方法により、H型のBEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物を得た。
H型のBEA型ゼオライト(品名:CZB30、クラリアント社製)を、排気ガス浄化用触媒組成物として用意した。
TEAOH/Si比=0.20、TEABr/Si比=0.04となるように仕込み組成のモル比を変えた反応混合物を用いたこと以外は実施例1と同様の方法により、H型のBEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物を得た。
BEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物を直径30mmの塩化ビニル管に詰め、圧縮成型して測定試料を調製した。
走査型蛍光X線分析装置(型番:ZSX PrimusII、株式会社リガク製)を用いて、実施例及び比較例のBEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物の各測定試料中のSi量及びAl量を測定し、得られたSi量及びAl量からモル比としてSiO2/Al2O3モル比を算出した。また、前記装置を用いて、各測定試料中のP量及びAl量を測定し、P/Al比を算出した。
窒素吸着等温線測定
メソ細孔容積V1、マイクロ細孔容積V2は、窒素吸着等温線から算出した。
BEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物の窒素吸着等温線は、高精度ガス/蒸気吸着量測定装置(型番:BELSORP-maxII、マイクロトラックベル株式会社製)を用いて、高純度窒素ガスを77Kで試料に吸着させ、容量法により測定した。測定試料は、乾燥重量で0.1g~0.2gを試料管に秤量した。測定前処理は、510℃で真空排気(1×10-5kPa)を8時間以上行った。窒素吸着等温線は、相対圧(P/P0)1×10-5以下から測定した。
メソ細孔容積V1は、ISO 15901-2に記載のBJH法(Barrett-Joyner―Halenda法)に従い、測定して得られた窒素吸着等温線から、メソ細孔分布及びメソ細孔容積算出した。算出には、脱離曲線を使用し、窒素分子の吸着断面積は0.1620nm2として算出した。細孔径が2nm以上50nm以下の範囲の細孔容積をメソ細孔容積V1とした。
マイクロ細孔容積V2は、ISO 15901-3に記載のSF法(Saito-Foley法)に従い、測定して得られた窒素吸着等温線から、マイクロ細孔分布及びマイクロ細孔容積を算出した(A.Saito,H.C.Foley,Microporous Materials,3(1995)531)。マイクロ細孔容積の算出に使用した物理定数、吸着材及び吸着質ガスのパラメータは、Physical Parameters for Microporo Size Calculation(ISO 15901-3、JIS Z8831-3)に記載の定数を使用した。窒素分子の吸着断面積は0.1620nm2として算出した。細孔径が0nm以上2nm以下の範囲の細孔容積をマイクロ細孔容積V2とした。
ISO 9277(JIS Z8330:2013)に準拠して測定した窒素吸着等温線からBET法により、実施例及び比較例の各排気ガス浄化用触媒組成物の比表面積を算出した。
BEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物に対して、下記の条件1の熱耐久試験を行った。
条件1:
水分を10体積%含有する空気雰囲気において、C3H6を70mL/分、O2を70mL/分及びN2を含むモデルガスを流量3L/分で80秒間流通し、空気を流量3L/分で20秒間流通するサイクルを、1000℃で25時間連続して行う。
モデルガス及び空気は、それぞれ10体積%H2Oとなるように水入りタンクより気化させた水蒸気を混入させた。温度により飽和水蒸気圧を調整し、上記体積%の水蒸気量とした。
各BEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物について、前記条件1の熱耐久試験を行った。BEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物の熱耐久試験前後のX線回折スペクトルを、X線回折装置(型番:MiniFlex600、株式会社リガク製)を用いて測定した。図1に熱耐久試験前後の実施例1に係るBEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物のX線回折スペクトルを示した。図1中、縦軸の強度の単位は任意単位(a.u.)である。熱耐久試験前のBEA型ゼオライトのX線回折スペクトルの回折角度2θ=22.4°±1.0°における最大ピーク強度をIb、熱耐久試験後のBEA型ゼオライトのX線回折スペクトルの回折角度2θ=22.4°±1.0°の最大ピーク強度をIaとした。最大ピーク強度Ibに対する最大ピーク強度Iaの割合を、結晶度維持率として算出した。具体的には、下記式(1)により、結晶度維持率を算出した。
(1)結晶度維持率=(熱耐久試験後の最大ピーク強度Ia/熱耐久試験前の最大ピーク強度Ib)×100
実施例及び比較例の各BEA型ゼオライトからなる排気ガス浄化用触媒組成物について、前述の条件1の熱耐久試験前後のBET比表面積を前述の方法で測定し、熱耐久試験前のBET比表面積に対する熱耐久試験後のBET比表面積の割合を、BET比表面積維持率として算出した。具体的には、下記式(2)により、BET比表面積維持率を算出した。
(2)比表面積維持率(%)=(熱耐久試験後のBEA型ゼオライトのBET比表面積Sa/熱耐久試験前のBEA型ゼオライトのBET比表面積Sb)×100
Claims (9)
- BEA型ゼオライト(但し、ジンコシリケートベータ型ゼオライトを除く。)を含む排気ガス浄化用触媒組成物であって、
前記BEA型ゼオライトは、BJH法により測定される細孔径2nm以上50nm以下の範囲であるメソ細孔容積V1が0.03cm3/g以上0.10cm3/g以下の範囲内であり、全体量に対するリンの含有量が0.01質量%以下である、排気ガス浄化用触媒組成物。 - 前記BEA型ゼオライトが、BJH法により測定される細孔径2nm以上50nm以下の範囲であるメソ細孔容積V1に対する、SF法により測定される細孔径2nm以下であるマイクロ細孔容積V2の細孔容積比(V2/V1)が2.0以上である、請求項1に記載の排気ガス浄化用触媒組成物。
- 前記BEA型ゼオライトのBET比表面積が650m2/g以上である、請求項1又は2に記載の排気ガス浄化用触媒組成物。
- 前記BEA型ゼオライトのSiO2/Al2O3モル比が50以下である、請求項1から3のいずれか1項に記載の排気ガス浄化用触媒組成物。
- 前記BEA型ゼオライトが、以下の条件1で熱耐久試験を行い、熱耐久試験前のBEA型ゼオライトのX線回折スペクトルの回折角度2θ=22.4°±1.0°における最大ピーク強度をIb、熱耐久試験後のBEA型ゼオライトのX線回折スペクトルの回折角度2θ=22.4°±1.0°における最大ピーク強度をIaとしたとき、Ibに対するIaの割合で表される結晶度維持率が40%以上である、請求項1から4のいずれか1項に記載の排気ガス浄化用触媒組成物。
条件1:熱耐久試験
水分を10体積%含有する空気雰囲気において、C3H6を70mL/分、O2を70mL/分及びN2を含むモデルガスを流量3L/分で80秒間流通し、空気を流量3L/分で20秒間流通するサイクルを、1000℃で25時間連続して行う。 - 前記BEA型ゼオライトが、以下の条件1の熱耐久試験を行ったときの、熱耐久試験前のBET比表面積Sb100%に対する、熱耐久試験後のBET比表面積Saの割合で表される比表面積維持率が20%以上である、請求項1から5のいずれか1項に記載の排気ガス浄化用触媒組成物。
条件1:熱耐久試験
水分を10体積%含有する空気雰囲気において、C3H6を70mL/分、O2を70mL/分及びN2を含むモデルガスを流量3L/分で80秒間流通し、空気を流量3L/分で20秒間流通するサイクルを、1000℃で25時間連続して行う。 - シリカ源、アルミナ源、アルカリ金属源、有機構造規定剤、及び水を含む反応混合物を準備する工程と、
前記反応混合物を加熱し、結晶化させてBEA型ゼオライト(但し、ジンコシリケートベータ型ゼオライトを除く。)を得る工程を含み、
前記有機構造規定剤は、テトラエチルアンモニウムブロミド(TEABr)及びテトラエチルアンモニウムヒドロキシド(TEAOH)を含み、
前記反応混合物が、以下のモル比で表される組成を有し、
BJH法により測定される細孔径2nm以上50nm以下の範囲であるメソ細孔容積V1が0.03cm3/g以上0.10cm3/g以下の範囲内であり、全体量に対するリンの含有量が0.01質量%以下であり、BET比表面積が650m 2 /g以上である、BEA型ゼオライトを得て、得られる前記BEA型ゼオライトを含む排気ガス浄化用触媒組成物の製造方法。
(TEABr+TEAOH)/Si比=0.25以上0.89以下
TEAOH/(TEABr+TEAOH)比=0.75を超えて0.99以下
SiO2/Al2O3モル比=10以上50以下 - 前記反応混合物が、以下のモル比で表される組成を有する、請求項7記載の排気ガス浄化用触媒組成物の製造方法。
M/Si比=0.15以上0.20以下
(式中、Mはアルカリ金属を表す。) - 前記BEA型ゼオライトが、BJH法により測定される細孔径2nm以上50nm以下の範囲であるメソ細孔容積V1に対する、SF法により測定される細孔径2nm以下であるマイクロ細孔容積V2の細孔容積比(V2/V1)が2.0以上である、請求項7又は8に記載の排気ガス浄化用触媒用組成物の製造方法。
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