JP7515604B2 - 手続型電子ビームリソグラフィ - Google Patents
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Description
本願は、35 U.S.C 119(e)に基づいて、2020年2月26日に出願され、「PROCEDURAL ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY」と題された、米国仮出願第62/981,756号の優先権を主張するものである
本開示は、自動リソグラフィに関する。
電子ビームリソグラフィシステムに対する既存のソフトウェアインターフェースは、例えば、GDSまたはOASISファイルの形態で、ユーザに、レイアウト全体のモノシリックトップダウン仕様を提供することを要求する。デザイナメタサーフェスの成熟フィールドは、完全に、非周期的および非マンハッタン幾何学形状を伴うことができる、非常に大きな面積のレイアウトを伴う。しかしながら、これらのレイアウトは、例えば、その大きなサイズおよび設計およびレイアウトに費やされる時間のために、使用が困難である。
対称性の本明白な不足にもかかわらず、ほぼ全ての実際に関心を引くレイアウトは、数式によって表されることができる。したがって、ユーザ提供スクリプトから、パターンジェネレータフィールドをオンザフライで要求する、手続型電子ビームリソグラフィ(PEBL)が、本明細書で説明される。制御システムは、次いで、関連基礎数式から、局所露光設定を産出し得る。これは、データサイズだけではなく、設計およびレイアウトに費やされる時間に関して、桁違いに、レイアウトデータ準備の複雑性を低減し得る。本アプローチは、ナノ光学系を参照して、本明細書で議論されるが、これはまた、他の分野のユーザにも適用可能である。例えば、本明細書で議論されるシステムおよび方法は、大規模ホログラフィックパターン、照明設計のための拡散パターン、RFおよびテラヘルツのためのアンテナ設計、ならびにさらに、サブレイアウトが、1つのモノシリックデータベースの代わりに動的に装填される、古典的なIC設計を設計する際に使用され得る。
本例示的メタサーフェスレンズパターンは、結果として、1mmレンズに対して約100Mbであり、50mmレンズに対して500Gbまたはそれを上回る、パターンファイルをもたらし得る。さらにより複雑なパターンに対しては、ファイルサイズは、容易に、テラバイトまたはペタバイトサイズにさえ到達し得る。
本発明は、例えば、以下を提供する。
(項目1)
コンピュータシステムであって、
あるパターンと関連付けられるオラクル関数を記憶する非一過性のコンピュータ可読記憶デバイスであって、前記オラクル関数は、基板の入力座標として受信するため、および前記基板の前記座標において電子ビームリソグラフィ(EBL)システムによって使用可能な制御データを含む、出力を提供するために実行可能である、非一過性のコンピュータ可読記憶デバイスと、
1つ以上のハードウェアコンピュータプロセッサを有する制御システムであって、前記制御システムは、基板上で生産されることになる、あるパターンの複数のフィールド毎に、
基板の複数の座標毎に、
基板の座標を判定することと、
前記基板の前記判定された座標を使用して、前記オラクル関数をコールすることと、
前記オラクル関数から、電子ビームリソグラフィ(EBL)システムの動作を制御するように構成される制御データを受信することと、
前記制御データをEBL駆動電子機器に伝送することと
を行うように構成される、制御システムと、
EBL駆動電子機器であって、
前記制御データを受信することと、
前記制御データに基づいて、前記電子ビームリソグラフィの電流、電圧、ブランキング、またはステージ制御のうちの1つ以上を判定することと
を行うように構成される、EBL駆動電子機器と
を備える、コンピュータシステム。
(項目2)
前記制御システムはさらに、前記パターンを表す断片化データを生成するように構成される、項目1に記載のコンピューティングシステム。
(項目3)
前記断片化データは、前記パターンの複数のフィールドを含む、項目2に記載のコンピューティングシステム。
(項目4)
前記駆動電子機器はさらに、前記制御システムに、前記制御データ内に示される電子ビームアクティビティのステータスを示すフィードバックを伝送するように構成される、項目1に記載のコンピューティングシステム。
(項目5)
前記制御システムは、前記駆動電子機器からのフィードバックに応答して、前記基板の次の座標を選択する、項目1に記載のコンピューティングシステム。
(項目6)
シミュレートされた制御データを生成し、前記パターンと関連付けられる、電子ビームアクティビティの性能をシミュレートするように構成される、シミュレーションモジュールをさらに備える、項目1に記載のコンピューティングシステム。
(項目7)
前記シミュレーションモジュールは、
前記基板の複数の座標毎に、
前記基板の座標を判定することと、
前記基板の前記判定された座標を使用して、前記オラクル関数をコールすることと、
前記オラクル関数から、電子ビームリソグラフィ(EBL)システムの動作を制御するように構成される制御データを受信することと、
前記受信された制御データと関連付けられる電子ビームアクティビティをシミュレートすることと
を行うように構成される、項目5に記載のコンピューティングシステム。
(項目8)
前記シミュレーションモジュールはさらに、前記制御システムにシミュレーションフィードバックを提供するように構成される、項目6に記載のコンピューティングシステム。
(項目9)
コンピューティングシステムによって実施されるコンピュータ化された方法であって、前記コンピューティングシステムは、1つ以上のハードウェアコンピュータプロセッサと、前記コンピュータ化された方法を実施するために前記コンピューティングシステムによって実行可能なソフトウェア命令を記憶する1つ以上の非一過性のコンピュータ可読記憶デバイスとを有し、前記コンピュータ化された方法は、
複数のフィールド内で、基板上に生成されることになる、あるパターンを分割することと、
前記複数のフィールド毎に、
前記基板の座標を判定することと、
前記基板の前記判定された座標を使用してオラクル関数を評価し、断片化データを生成することであって、前記オラクル関数は、電子ビームリソグラフィ(EBL)システムによって使用可能なオンザフライ制御データを提供するように構成される、ユーザ設計機能である、ことと、
少なくとも前記断片化データに基づいて、電子ビームリソグラフィ(EBL)システムの動作を制御するように構成される制御データを生成することであって、前記制御御データは、現在のフィールドにおいて、前記EBLの電流、電圧、ブランキング、またはステージ制御のうちの1つ以上を示す、ことと、
前記制御データを前記EBLシステムに伝送することと
を含む、コンピュータ化された方法。
(項目10)
前記複数のフィールドの次フィールドの制御データは、前記EBLシステムが、前記現在のフィールドにおいて、前記制御データを実行する間に生成される、項目9に記載のコンピュータ化された方法。
(項目11)
前記制御データは、1つ以上の付加的なフィールドのための制御データが生成されるまで、一時的にキャッシュされる、項目9に記載のコンピュータ化された方法。
(項目12)
前記1つ以上の付加的なフィールドの数量は、前記パターンの複雑性に基づいて判定され、より複雑であるパターンは、より高い数量と関連付けられ、あまり複雑ではないパターンは、より低い数量と関連付けられる、項目9に記載のコンピュータ化された方法。
(項目13)
2つ以上のフィールドのための前記制御データは、並行して生成される、項目9に記載のコンピュータ化された方法。
(用語)
本明細書で議論されるシステムおよび方法の理解を促進するために、いくつかの用語が、下記に説明される。これらの用語だけではなく、本明細書で使用される他の用語は、提供される説明、用語の通常かつ慣習的な意味、および/または代表的な用語に対する任意の他の言外の意味を含み、そのような構築は、用語の文脈と一致すると解釈されるものとする。したがって、以下の説明は、これらの用語の意味を限定しないが、例示的説明を提供するのみである。
図1は、分割パターン101Dにおいて図示される、各フィールド(本実施例では、例えば、20×20=400フィールド)に分割されている、例示的完全パターン101を図示する図である。
・ユーザが、電子ビームによって露光されるべき、ウエハまたはレチクル全体の全ての面積を表す多角形を含有する、GDS等のデータファイルを準備する。
・データファイルは、典型的には、断片化と呼ばれるプロセス内で、EBLシステムを駆動する、低レベルソフトウェアによって読み取られる、専用ファイルフォーマットに処理および変換される。本プロセスは、第三者ソフトウェア(例えば、Synopsis CATSまたはGenISys Beamer)または専用ソフトウェアによって行われてもよい。データ操作は、ブール、近接効果補正、スケーリング、ヒーリング、およびトーン反転を含んでもよい。
・断片化プロセスの間、パターンは、書込フィールドに分割され、個々の各書込フィールドでは、全ての形状が、識別され、長方形または台形に断片化され、専用露光機械フォーマット出力に変換される。図1は、分割パターン101Dにおいて図示される、各フィールド(本実施例では、例えば、20×20=400フィールド)に分割されている、完全パターン101の実施例を図示する。
・断片化データは、EBL制御コンピュータに送信される。例えば、各フィールド毎に、ベクトルラスタパターンが、ウエハ上のフィールド場所へのステージの移動を引き起こすために、生成されてもよい。
・ラスタパターンは、電子ビームを駆動する電子機器に送信され、ビームブランキングシステムが、ウエハの上へパターン全体を書き込むために使用されてもよい。
上記に言及されるもの等、既存のリソグラフィ手順の技術的な欠陥に対処するために、その中に、パターンデータが手続的に生成される、手続型電子ビームリソグラフィ(PEBL)が、本明細書に説明される。本アプローチは、既存のEBLワークフローに対して、完全に「下位互換性がある」ものであり得る。実際、いくつかの実施例では、PEBLは、モノシリックレイアウトの表現力の上位集合であり得る。
EBLシステムは、限定されたビーム進行に起因して、一度に1つのフィールドの露光を実施し得る。したがって、ステージは、フィールドサイズ(例えば、約1ミリメートル)に対応するインクリメントずつ移動され、次いで、電子ビームが、ラスタスキャンを実施するにつれて、安定状態を保ち得る。ウエハ全体を露光するプロセスにおいて、露光されることになる次フィールドのためのデータのみが、任意の所与の時間で要求される。したがって、パターンデータの圧倒的多数は、任意の所与の時間で要求されず、次に予定されているフィールドに対して要求される部分が、一度のみ使用され、破棄される。加えて、1つのフィールド内にローカル接続される、データに対する任意の所望の修正は、典型的には、前もって実施され、レイアウト全体上で動作する。
有利なこととして、PEBL構成は、4Bにおける実施例等、包括的レイアウトファイルと(例えば、GDSファイルの形態で)互換性がある。例えば、(例えば、制御システム410およびパターンジェネレータ420によって提供される)オラクル関数は、レイアウトファイルを読み取り、現在の書込フィールド内で要求される部分をレンダリングするように構成されてもよい。
いくつかの実施形態では、ユーザ定義オラクルは、任意複雑であり得、そのため、オンザフライデータ生成は、データパイプラインを失速させ、低レベル駆動システムのデータを不足させ得る。これは、結果として、スループットの減少および書込時間の増加をもたらし得る。したがって、いくつかの実施形態では、PEBLシステムは、必要に応じて、オラクルを呼び出すことを通して、パターン生成プロセスの一部または全体をシミュレートする、(PEBLシステムの随意のコンポーネントとして図4B内に図示された)シミュレーションモジュール425を含み、例えば、駆動電子機器に対して新しい出力データが、利用不可能である、任意の時間的な隔たりを含め、パターン全体を書き込むために要求される時間の長さを判定してもよい。例えば、シミュレーションモジュール425は、パターンジェネレータに結合され、シミュレーションの間、駆動電子機器430と通信するパターンジェネレータではなく、パターンジェネレータ420と通信してもよい。いったんシミュレーションが、正常に実施される(例えば、パターンジェネレータからの出力間に隔たりが存在しない)と、パターン生成は、制御信号を駆動電子機器430に出力する、パターンジェネレータを用いて、再び実施され得る。
上記に議論される、ラスタスキャンモードにおける動作と同様に、完全パターンのデータファイルは、一度に全て生成されないが、個々のフィールドが、スクリプトによって、オンザフライで生成される。いくつかの実装では、ベクトルスキャンモードは、より優れた側壁の平滑性、および典型的には、より優れた書込時間につながり得る、露光領域の境界内で、共形的に、より知的なスキャンが、所望される状況のために、(例えば、システムによって自動的に、またはユーザ入力によって手動で)選択されてもよい。ベクトルスキャンモードは、ベクトル経路の生成のため等、ラスタモードよりも多くの事前計算を要求し得る。
いくつかの実施形態では、全体のパターンレイアウトは、ある時点で既知ではなく、したがって、近接効果のための補正は、先験的に適用されない場合がある。したがって、近接効果補正が所望される実施形態では、パターンデータの局所近傍が、駆動電子機器への出力に先立って、生成されてもよい。例えば、(例えば、図5のベクトルモードにおける)、一度に1つのデータのフィールドを生成する代わりに、フィールドの3×3グリッドが維持され、近接補正が、フィールド(例えば、各方向において生成される、近接フィールドを伴う、中央フィールド)の1つ以上に適用され得る。
本明細書で議論される、PEBLアーキテクチャを使用して、リアルタイムで生成され得るパターンの実施例として、一次で機能し、位相関数F(x、y)を与える、回折光学素子(DOE)を検討する。その結果として生じる、書き込まれることになるパターンは、下式の領域に対応し、
frac{[G+grad F(x,y)].(x,y)}<0.5
式中、Gは、基本回折格子に対応する、一定回折格子ベクトルであり、grad F(x、y)は、位相関数の勾配ベクトルであり、ピリオド「.」は、2Dドット積を表し、frac{}は、その計算結果(常に0と1の間にある値)の端数部分をとることを表す。本実施例では、任意の座標(x、y)を前提として、パターンが書き込まれるべきかどうかが、上記の不等式を評価することによって、判定され得る。この場合は、結果として、略直線の縞模様のシーケンスである、パターンをもたらす。例えば、GDSファイルを使用した本パターン表現は、扱いが容易であり得る。図6Aは、本パターンの例示的近似である。
本明細書に説明される、および/または添付の図面に描写される、プロセス、方法、およびアルゴリズムはそれぞれ、具体的かつ特定のコンピュータ命令を実行するように構成される、1つ以上の物理的コンピューティングシステム、ハードウェアコンピュータプロセッサ、特定用途向け回路網、および/または電子ハードウェアによって実行されるコードモジュールの中で具現化され、それらによって、完全にまたは部分的に自動化されてもよい。例えば、コンピューティングシステムは、具体的なコンピュータ命令とともにプログラムされた、汎用コンピュータ(例えば、サーバ)、または特殊目的コンピュータ、特殊目的回路網等を含むことができる。コードモジュールは、実行可能プログラム内にコンパイルおよびリンクされ、動的リンクライブラリ内にインストールされてもよい、または解釈型プログラミング言語で書き込まれてもよい。いくつかの実装では、特定の動作および方法が、所与の機能に特有の回路網によって実施され得る。
Claims (13)
- コンピュータシステムであって、
基板上に生産されることになるパターンと関連付けられるオラクル関数を記憶する非一過性のコンピュータ可読記憶デバイスであって、前記オラクル関数は、前記基板の入力座標として受信するため、および前記基板の前記座標において電子ビームリソグラフィ(EBL)システムによって使用可能な、露光設定を含む制御データを含む、出力を提供し、前記電子ビームリソグラフィ(EBL)システムによって使用可能なオンザフライ露光設定を提供し、前記パターンを生産するために実行可能である、非一過性のコンピュータ可読記憶デバイスと、
1つ以上のハードウェアコンピュータプロセッサを有する制御システムであって、前記制御システムは、
前記基板上に生産されることになる前記パターンを複数のフィールドに分割することと、
前記複数のフィールド毎に、
前記基板の複数の座標毎に、
前記基板の座標を判定することと、
前記基板の前記判定された座標を使用して、前記オラクル関数をコールすることと、
前記オラクル関数から、露光設定を含む制御データを受信することであって、前記制御データは、電子ビームリソグラフィ(EBL)システムの動作を制御するように構成される、ことと、
前記制御データをEBL駆動電子機器に伝送することと
を行うように構成される、制御システムと、
EBL駆動電子機器であって、
前記制御データを受信することと、
前記制御データに基づいて、前記電子ビームリソグラフィの電流、電圧、ブランキング、またはステージ制御のうちの1つ以上を判定することと
を行うように構成される、EBL駆動電子機器と
を備える、コンピュータシステム。 - 前記制御システムは、前記パターンを表す断片化データを生成するようにさらに構成される、請求項1に記載のコンピューティングシステム。
- 前記断片化データは、前記パターンの複数のフィールドを含む、請求項2に記載のコンピューティングシステム。
- 前記駆動電子機器は、前記制御システムに、前記制御データによって制御される電子ビームリソグラフィ(EBL)システムの動作のステータスを示すフィードバックを伝送するようにさらに構成される、請求項1に記載のコンピューティングシステム。
- 前記制御システムは、前記駆動電子機器からのフィードバックに応答して、前記基板の次の座標を選択する、請求項1に記載のコンピューティングシステム。
- シミュレートされた制御データを生成し、前記パターンを生成するプロセスの少なくとも一部をシミュレートするように構成されるシミュレーションモジュールをさらに備える、請求項1に記載のコンピューティングシステム。
- 前記シミュレーションモジュールは、
前記基板の複数の座標毎に、
前記基板の座標を判定することと、
前記基板の前記判定された座標を使用して、前記オラクル関数をコールすることと、
前記オラクル関数から、電子ビームリソグラフィ(EBL)システムの動作を制御するように構成される制御データを受信することと、
前記受信された制御データを用いて、前記パターンを生成するプロセスの少なくとも一部をシミュレートすることと
を行うように構成される、請求項6に記載のコンピューティングシステム。 - 前記シミュレーションモジュールは、前記制御システムにシミュレーションフィードバックを提供するようにさらに構成される、請求項7に記載のコンピューティングシステム。
- コンピューティングシステムによって実施されるコンピュータ化された方法であって、前記コンピューティングシステムは、1つ以上のハードウェアコンピュータプロセッサと、前記コンピュータ化された方法を実施するために前記コンピューティングシステムによって実行可能なソフトウェア命令を記憶する1つ以上の非一過性のコンピュータ可読記憶デバイスとを有し、前記コンピュータ化された方法は、
基板上に生成されることになるパターンを複数のフィールドに分割することと、
前記複数のフィールド毎に、
前記基板の複数の座標毎に、
前記基板の座標を判定することと、
前記基板の前記判定された座標を使用してオラクル関数を評価し、断片化データを生成することであって、前記オラクル関数は、前記パターンを生産するために、電子ビームリソグラフィ(EBL)システムによって使用可能な、露光設定を含むオンザフライ制御データを提供するように構成される、ユーザ設計機能である、ことと、
少なくとも前記断片化データに基づいて、露光設定を含む前記オンザフライ制御データを生成することであって、前記制御データは、前記パターンを生産するために、前記電子ビームリソグラフィ(EBL)システムの動作を制御するように構成され、前記制御データは、現在のフィールドにおいて、前記EBLの電流、電圧、ブランキング、またはステージ制御のうちの1つ以上を示す、ことと、
前記制御データを前記EBLシステムに伝送することと
を含む、コンピュータ化された方法。 - 前記複数のフィールドの次フィールドの制御データは、前記EBLシステムが、前記現在のフィールドにおいて、前記制御データを実行する間に生成される、請求項9に記載のコンピュータ化された方法。
- 前記制御データは、1つ以上の付加的なフィールドのための制御データが生成されるまで、一時的にキャッシュされる、請求項9に記載のコンピュータ化された方法。
- 前記1つ以上の付加的なフィールドの数量は、前記パターンの複雑性に基づいて判定され、より複雑であるパターンは、より高い数量と関連付けられ、あまり複雑ではないパターンは、より低い数量と関連付けられる、請求項11に記載のコンピュータ化された方法。
- 2つ以上のフィールドのための前記制御データは、並行して生成される、請求項9に記載のコンピュータ化された方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2024080070A JP2024105599A (ja) | 2020-02-26 | 2024-05-16 | 手続型電子ビームリソグラフィ |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US202062981756P | 2020-02-26 | 2020-02-26 | |
| US62/981,756 | 2020-02-26 | ||
| PCT/US2021/019261 WO2021173566A1 (en) | 2020-02-26 | 2021-02-23 | Procedural electron beam lithography |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2024080070A Division JP2024105599A (ja) | 2020-02-26 | 2024-05-16 | 手続型電子ビームリソグラフィ |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2023516596A JP2023516596A (ja) | 2023-04-20 |
| JP2023516596A5 JP2023516596A5 (ja) | 2024-02-08 |
| JP7515604B2 true JP7515604B2 (ja) | 2024-07-12 |
Family
ID=77366351
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022550928A Active JP7515604B2 (ja) | 2020-02-26 | 2021-02-23 | 手続型電子ビームリソグラフィ |
| JP2024080070A Withdrawn JP2024105599A (ja) | 2020-02-26 | 2024-05-16 | 手続型電子ビームリソグラフィ |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2024080070A Withdrawn JP2024105599A (ja) | 2020-02-26 | 2024-05-16 | 手続型電子ビームリソグラフィ |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US11664194B2 (ja) |
| EP (1) | EP4111133A4 (ja) |
| JP (2) | JP7515604B2 (ja) |
| CN (1) | CN115151784B (ja) |
| WO (1) | WO2021173566A1 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2021
- 2021-02-23 JP JP2022550928A patent/JP7515604B2/ja active Active
- 2021-02-23 CN CN202180016720.5A patent/CN115151784B/zh active Active
- 2021-02-23 US US17/183,090 patent/US11664194B2/en active Active
- 2021-02-23 EP EP21761492.4A patent/EP4111133A4/en active Pending
- 2021-02-23 WO PCT/US2021/019261 patent/WO2021173566A1/en not_active Ceased
-
2024
- 2024-05-16 JP JP2024080070A patent/JP2024105599A/ja not_active Withdrawn
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN115151784B (zh) | 2026-02-17 |
| EP4111133A1 (en) | 2023-01-04 |
| US20210265132A1 (en) | 2021-08-26 |
| US11664194B2 (en) | 2023-05-30 |
| JP2024105599A (ja) | 2024-08-06 |
| JP2023516596A (ja) | 2023-04-20 |
| CN115151784A (zh) | 2022-10-04 |
| EP4111133A4 (en) | 2024-11-06 |
| WO2021173566A1 (en) | 2021-09-02 |
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|
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| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
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