JP7528794B2 - ヘッドアップディスプレイ - Google Patents

Description

本開示は、ヘッドアップディスプレイに関する。

レーザ光源と、レーザ光を回折する回折素子とを備えるヘッドアップディスプレイにおいて、レーザ光の波長と回折素子の温度とに基づき、回折素子により回折されるレーザ光による表示像の表示位置を制御する技術が知られている。

国際特許公開ＷＯ２０１１／１３２４０７号

ところで、レーザ光の波長のシフトが生じても、Ｂｒａｇｇ条件を満たすようにレーザ光の入射角（回折素子に対する入射角）をずらせば、大きな回折効率を得ることができる。しかしながら、入射角がずれると、正規の表示位置に対する表示像の表示位置のずれ（画像シフト）が生じる。

そこで、本開示は、表示像の表示位置を有意にずらすことなく、回折素子の状態変化に起因した回折効率の低下を低減する又は無くすことを目的とする。

１つの側面では、以下のヘッドアップディスプレイが提供される：
レーザ光を出力するレーザ光源と
前記レーザ光を回折する回折素子と、
前記回折素子が回折した光の強度又は光量を検出する検出器と、
前記レーザ光源の出力波長を制御する制御部と、
記憶部と、を備え、
前記制御部は、前記検出器が検出した前記強度又は前記光量に基づき、前記レーザ光源の出力波長を所定変動範囲内で変動させながら、前記回折素子による回折効率が大きくなるように前記レーザ光源の出力波長を補正する補正処理を行い、
前記制御部は、起動時に前記補正処理を実行し、
前記記憶部は、起動時の基準雰囲気温度を記憶し、
前記制御部は、前記記憶部内の前記基準雰囲気温度から所定温度変化があった場合に、前記補正処理を再実行する、ヘッドアップディスプレイ；
レーザ光を出力するレーザ光源と、
前記レーザ光を回折する回折素子と、
前記回折素子が回折した光の強度又は光量を検出する検出器と、
前記レーザ光源の出力波長を制御する制御部と、
記憶部と、を備え、
前記制御部は、前記検出器が検出した前記強度又は前記光量に基づき、前記レーザ光源の出力波長を所定変動範囲内で変動させながら、前記回折素子による回折効率が大きくなるように前記レーザ光源の出力波長を補正する補正処理を行い、
前記制御部は、起動時に前記補正処理を実行し、
前記記憶部は、起動時の前記補正処理において前記検出器が検出した前記強度又は前記光量の最大値を記憶し、
前記制御部は、前記記憶部内の前記最大値と現在の検出値との差分が閾値以上になった場合に、前記補正処理を再実行する、ヘッドアップディスプレイ；
レーザ光を出力するレーザ光源と、
前記レーザ光を回折する回折素子と、
前記回折素子が回折した光の強度又は光量を検出する検出器と、
前記レーザ光源の出力波長を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記検出器が検出した前記強度又は前記光量に基づき、前記レーザ光源の出力波長を所定変動範囲内で変動させながら、前記回折素子による回折効率が大きくなるように前記レーザ光源の出力波長を補正する補正処理を行い、
前記レーザ光源は、出力波長がそれぞれ異なる複数の光源を有し、
前記補正処理は、前記複数の光源のうちの、出力波長が最も長い光源に対しての基準補正値を算出し、前記基準補正値に基づいて前記複数の光源の出力波長を補正する、ヘッドアップディスプレイ；
レーザ光を出力するレーザ光源と、
前記レーザ光を回折する回折素子と、
前記回折素子が回折した光の強度又は光量を検出する検出器と、
前記レーザ光源の出力波長を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記検出器が検出した前記強度又は前記光量に基づき、前記回折素子による回折効率が大きくなるように前記レーザ光源の出力波長を補正し、
前記回折素子は、視認者に向けて前記レーザ光を回折する第１回折素子と、前記検出器に向けて前記レーザ光を回折する第２回折素子と、を備え、
前記第２回折素子は、２つの異なる回折素子を備え、
前記検出器は、前記２つの異なる回折素子にそれぞれ対応する２つの検出器を備える、ヘッドアップディスプレイ；又は
レーザ光を出力するレーザ光源と、
前記レーザ光を回折する回折素子と、
前記回折素子が回折した光の強度又は光量を検出する検出器と、
前記レーザ光源の出力波長を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記検出器が検出した前記強度又は前記光量に基づき、前記回折素子による回折効率が大きくなるように前記レーザ光源の出力波長を補正し、
前記回折素子は、視認者に向けて前記レーザ光を回折する第１回折素子と、前記検出器に向けて前記レーザ光を回折する第２回折素子と、を備え、
前記第２回折素子は、Ｂｒａｇｇ条件の満たしやすさに関する感度について、前記第１回折素子よりも入射角度変化において鈍感である、ヘッドアップディスプレイ。

本開示によれば、表示像の表示位置を有意にずらすことなく、回折素子の状態変化に起因した回折効率の低下を低減する又は無くすことが可能となる。

ヘッドアップディスプレイの車両への搭載状態を車両側方視で概略的に示す図である。 画像光照射装置の構成を示す概略図である。 ダイクロイックミラーユニットに対する代替例を示す説明図である。 Ｂｒａｇｇ条件の説明図である。 周辺温度の変化に対する画像シフト量の関係を示す説明図である。 検出器及び補正用ホログラムの一例を示す概略的な断面図である。 ホログラムや補正用ホログラムの特性を示す図である。 補正用ホログラムに係る干渉縞と、入射角度との関係の一例を示す図である。 ホログラムに係る干渉縞と、入射角度との関係の一例を示す図である。 ホログラムの正規の状態での回折特性を示す図である。 状態変化後のホログラムの回折特性を示す図である。 出力波長制御部により実現されてよい補正処理の一例を示す概略的なフローチャートである。 図１０のステップＳ１０６（補正処理の要否判定処理及び光源の出力波長に関する補正処理）の一例を示す概略的なフローチャートである。 図１１のステップＳ２１０（最適値探索処理）の一例を示す概略的なフローチャートである。 変形例による検出器及び補正用ホログラムの一例を示す概略的な断面図である。

以下、添付図面を参照しながら各実施例について詳細に説明する。

［ヘッドアップディスプレイの構成］
図１は、ヘッドアップディスプレイ１の車両ＶＣへの搭載状態を車両側方視で概略的に示す図である。図２は、画像光照射装置２の構成を示す概略図である。なお、図２において、点線の矢印Ｒ０からＲ４は、電気信号の流れを模式的に示す。

ヘッドアップディスプレイ１では、図１に示すように、ウインドシールドＷＳに表示光が照射されると、車両ＶＣを運転する運転者にとっては、ウインドシールドＷＳよりも前方に、当該照射によって得られた表示像（虚像表示）ＶＩが見える。これにより、運転者は、前方風景と重畳させて表示像ＶＩを視認できる。従って、運転者は、インストルメントパネル９内のメータを見る場合に比べて視線移動の少ない態様で車両情報等を把握でき、利便性及び安全性が向上する。

ヘッドアップディスプレイ１は、画像光照射装置２と、ホログラム３とを含む。

画像光照射装置２は、運転者の前方に位置するウインドシールドＷＳ上のホログラム３に向けて画像に係る光を投射する。ウインドシールドＷＳ上のホログラム３は、運転者のアイボックス内に画像に係る光を反射する。この場合、アイボックスに係る視点から視て、運転者の視野前方に、画像に係る光に基づく表示像ＶＩを形成する。

本実施例では、一例として、画像光照射装置２は、図２に示すように、レーザユニット１０と、ダイクロイックミラーユニット２０と、集光レンズ２８と、ＭＥＭＳ（Ｍｉｃｒｏ Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ Ｓｙｓｔｅｍｓ）スキャナ２９と、スクリーン４０と、制御装置５０とを含む。

レーザユニット１０は、赤、青、緑の各色のレーザ照射装置１１、１２、１３を含む。レーザ照射装置１１は、赤色の波長域のレーザ光を出射する。レーザ照射装置１２は、青色の波長域のレーザ光を出射する。レーザ照射装置１３は、緑色の波長域のレーザ光を出射する。なお、本実施例では、かかる３色のレーザ光を出射可能であるので、フルカラーの表示像ＶＩを生成可能である。ただし、変形例では、表示可能な色のバリエーションは少なくてもよい。

ダイクロイックミラーユニット２０は、レーザ照射装置１１、１２、１３のそれぞれに対応するダイクロイックミラー２１、２２、２３を有する。ダイクロイックミラー２１は、赤色の波長域のみを反射する。従って、ダイクロイックミラー２１は、レーザ照射装置１１から入射するレーザ光のみを、集光レンズ２８に向けて反射できる。ダイクロイックミラー２２は、赤色の波長域を透過し、青色の波長域を反射する。従って、ダイクロイックミラー２２は、ダイクロイックミラー２１から入射するレーザ光を透過しつつ、レーザ照射装置１２から入射するレーザ光を、集光レンズ２８に向けて反射できる。同様に、ダイクロイックミラー２３は、赤色及び青色の波長域を透過し、緑色の波長域を反射する。従って、ダイクロイックミラー２３は、ダイクロイックミラー２２から入射するレーザ光を透過しつつ、レーザ照射装置１３から入射するレーザ光を、集光レンズ２８に向けて反射できる。

集光レンズ２８は、上述したようにダイクロイックミラーユニット２０から入射するレーザ光（赤、青、緑の各色のレーザ光）を集光して、ＭＥＭＳスキャナ２９に向けて出射する。

集光レンズ２８は、ダイクロイックミラーユニット２０から入射するレーザ光が、スクリーン４０を形成する複数のマイクロレンズのそれぞれのサイズよりも小さいスポット径（直径）で、スクリーン４０上に投射されるように構成・配置される。

ＭＥＭＳスキャナ２９は、集光レンズ２８から入射するレーザ光を、スクリーン４０上に投射する。ＭＥＭＳスキャナ２９は、直交する２軸まわりに回転可能なＭＥＭＳミラーを備える。スクリーン４０上のレーザ光の投射位置は、ＭＥＭＳミラーの向きに応じて変化する。従って、ＭＥＭＳスキャナ２９は、スクリーン４０上のレーザ光の投射位置を任意に変化させることができる。

スクリーン４０は、平面内に延在する。本実施例では、一例として、スクリーン４０は、水平面内に延在するが、水平面に対して若干傾斜する向きで配置されてもよい。スクリーン４０は、平面内で規則的に配列される複数のマイクロレンズ（図示せず）を含む。すなわち、スクリーン４０は、２次元のマイクロレンズアレイを含む。

制御装置５０は、ＥＣＵ（Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ Ｃｏｎｔｒｏｌ Ｕｎｉｔ）のようなコンピュータにより実現されてよい。制御装置５０は、レーザ制御部５１と、スキャナ制御部５２と、出力波長制御部５３（制御部の一例）、記憶部５４とを含む。

レーザ制御部５１は、表示像ＶＩを生成するための画像信号に基づいて、レーザユニット１０を制御する（図２の矢印Ｒ１からＲ３参照）。なお、画像信号は、外部のＥＣＵにより生成されて、制御装置５０に与えられてもよいし（図２の矢印Ｒ０参照）、制御装置５０が自身で生成してもよい。

画像信号は、例えば、所定のサイズ及び所定の分解能の画像の各画素の画素値（輝度や色）を表す信号である。なお、画像の各画素は、スクリーン４０の各位置（走査面上の各位置）と対応付けられる。例えば、画像の各画素は、スクリーン４０の各位置（走査面上の各位置）と一対一の関係で対応付けられてよい。なお、スクリーン４０の各位置は、ＭＥＭＳスキャナ２９のＭＥＭＳミラーの各向きと対応付けられる。

レーザ制御部５１は、画像信号に基づいて、レーザユニット１０を制御するときは、画像信号に含まれる各画素の画素値に基づいて、レーザユニット１０から各画素に応じたタイミングで各画素値に応じた色のレーザ光が出射されるように、レーザユニット１０を制御する。

スキャナ制御部５２は、ＭＥＭＳスキャナ２９を制御する（図２の矢印Ｒ４参照）。すなわち、スキャナ制御部５２は、ＭＥＭＳスキャナ２９のＭＥＭＳミラーの向きを制御することで、レーザ光をスクリーン４０上で走査する。ここで、「レーザ光をスクリーン４０上で走査する」とは、スクリーン４０に係る平面上のレーザ光の投射位置（スクリーン４０に係る平面に垂直に視たときの、投射位置）を変化させることを指す。また、以下で「走査パターン」とは、投射位置の軌跡（スクリーン４０に係る平面上での、レーザ光の投射位置の軌跡）を指す。また、スクリーン４０に係る平面（すなわち、複数のマイクロレンズが配列される平面）を、「走査面」とも称する。

具体的には、スキャナ制御部５２は、レーザ制御部５１と協動して、画像信号に応じたレーザ光を所定の走査パターンで走査する。すなわち、スキャナ制御部５２は、画像信号に含まれる各画素の画素値に基づいて、各画素に対応した走査面上の各位置に、レーザユニット１０からのレーザ光が投射されるように、ＭＥＭＳスキャナ２９を制御する。

出力波長制御部５３は、光源１１１、１２１、１３１の出力波長を制御する。出力波長制御部５３については後述する。

なお、図２に示した画像光照射装置２は、特定の構成を有するが、画像光照射装置２の構成は、複数の色のレーザ光に係る光源を有する限り、任意である。従って、画像光照射装置２は、ダイクロイックミラーユニット２０に代えて、例えば図３に示すように、クロスプリズム２０Ａが利用されてもよい。なお、図３には、レーザ照射装置１１、１２、１３は、それぞれ、光源１１１、１２１、１３１（レーザ光源の一例）とコリメータレンズ１１２、１２２、１３２とを含む態様で図示されている。また、図２に示した画像光照射装置２は、ウインドシールドＷＳ上のホログラム３に光を直接的に投射するが、光学部材を介して投射されてもよい。例えば、スクリーン４０からの光は、凹面鏡で反射されてからウインドシールドＷＳ上のホログラム３に投射されてもよい。また、図２に示した画像光照射装置２は、ウインドシールドＷＳ上のホログラム３だけに光を投射するが、ホログラム３とウインドシールドＷＳの双方に光を投射することで、表示像ＶＩを形成してもよい。

なお、以下では、一例として、光源１１１、１２１、１３１は、それぞれ、赤、緑、青の波長を有するレーザ光を出力する。以下では、光源１１１、１２１、１３１が本来出力すべきレーザ光の正規の波長を、基本波長λ_０とも称し、光源１１１、１２１、１３１が実際に出力するレーザ光の波長を、出力波長とも称する。

ホログラム３は、ウインドシールドＷＳに設けられる。ホログラム３は、ウインドシールドＷＳの室内側の表面に貼り付けられてもよいし、ウインドシールドＷＳの内層（例えば中間膜内）に設けられてもよい。

ホログラム３は、例えば、フォトポリマーにより形成されてよい。ホログラム３のタイプは、反射型、位相変化型、かつ体積型である。ホログラム３は、厚さ数ミクロンのホログラムフィルムを利用して形成されてもよい。ホログラム３には、干渉縞が例えば屈折率の変化の形で記録される。すなわち、ホログラム３には、干渉縞が材料内部に屈折率分布として層状に記憶される。なお、本実施例では、３色のレーザ光に対応して、ホログラム３にはＲＧＢの波長各々に係る干渉縞が記録される。この場合、ＲＧＢの波長各々に係る干渉縞ごとホログラム層を作成し、それぞれに係るホログラム層を積層することで積層型のホログラム３を形成してもよい。あるいは、ＲＧＢの干渉縞を重ねて記録する多重型のホログラム３が実現されてもよい。なお、このような干渉縞の記録（露光）には、任意のレーザ干渉露光装置が利用されてよい。

ホログラム３は、好ましくは、透過率７０％以上であり回折効率３０％以下である。これにより、ウインドシールドＷＳの透過性を阻害しない態様で、視認性の高い表示像ＶＩを生成できる。

［Ｂｒａｇｇ条件とホログラム３の状態変化］
一般的に、図４に干渉縞３１と入射光３００と回折光３０１とを模式的に示すように、光の回折効率は、入射角度がブラッグ条件（Ｂｒａｇｇ条件）を満たす角度であるときに、ピークとなる。なお、図４には、ホログラム３の断面図が模式的に示されている。ブラッグ条件は、以下のとおりである。
２ｄｓｉｎθ＝ｎλ_０ 式（１）
ここで、ｄは干渉縞の間隔（以下、「干渉縞間隔ｄ」とも称する）、θはホログラム３に対する光のなす角度（入射角度）、λ_０は光の基本波長、ｎは自然数である。

ホログラム３は、光源１１１、１２１、１３１のそれぞれに係る基本波長λ_０に対して、Ｂｒａｇｇ条件が満たされるような干渉縞３１を有するように設計される。

ところで、ホログラム３は、上述したように、ウインドシールドＷＳに設けられるので、温度変化に晒されやすい。このため、ウインドシールドＷＳに設けられるホログラム３は、温度変化に起因した状態変化を起こす場合がある。なお、ホログラム３の状態変化は、ホログラム３を形成する媒体の膨張や収縮（温度変化による膨張や収縮）に起因して生じる。

ホログラム３の状態変化が生じると、干渉縞間隔ｄの変化や干渉縞の傾きの変化が生じうるので、かかる変化に起因して、Ｂｒａｇｇ条件を満たす入射角度θが変化しうる。これに対して、入射角度θをずらせば、Ｂｒａｇｇ条件を満たし、大きな回折効率を得ることができる。しかしながら、入射角度θがずれると、表示像ＶＩの表示位置のずれ（画像シフト）が生じる。

例えば、図５には、横軸を周辺温度（符号５００で示されるホログラム３の周辺温度Ｔ、及び、符号５０２で示される３０℃を基準とした変化温度Δｔ）［℃］とし、縦軸を画像シフト量Δｙ［ｍｍ］としたときの特性Ｌ１、Ｌ２が示されている。特性Ｌ１は、青色の波長領域のレーザ光の特性を示し、特性Ｌ２は、赤色の波長領域のレーザ光の特性を示す。このような、周辺温度の変化に起因した画像シフトは、上述したような、周辺温度の変化に起因したホログラム３の状態変化によって生じる。なお、図５からは、赤色の波長領域のレーザ光の方が、青色の波長領域のレーザ光よりも、周辺温度の変化に対する画像シフトの感度が高いことがわかる。

ここで、式（１）からわかるように、ホログラム３の状態変化により干渉縞間隔ｄが変化しても出力波長を基本波長λ_０に対してずらせば、式（１）を満たし、大きな回折効率を得ることができる。

そこで、本実施例によるヘッドアップディスプレイ１では、以下で詳説するように、光源１１１、１２１、１３１の出力波長を、それぞれ異なる正規の波長λ_０に対して調整（補正）することで、ホログラム３の状態変化に起因した画像シフトを低減又は無くすことを可能とする。

具体的には、本実施例によるヘッドアップディスプレイ１は、以下で詳説するように、ホログラム３が回折したレーザ光の強度を検出する検出器６０と、光源１１１、１２１、１３１の出力波長を制御する出力波長制御部５３とを備える。なお、本明細書の用語に関して、検出器６０が検出するレーザ光の強度とは、検出器６０が検出するレーザ光の光量と実質的に同義であり、互いに置き換えることができる。

［検出器及び補正用ホログラム］
図６は、検出器６０及び補正用ホログラム４の一例を示す概略的な断面図である。

本実施例では、視認者（例えば運転者）に向けてレーザ光を回折するホログラム３（第１回折素子の一例）に加えて、補正用ホログラム４（第２回折素子の一例）が設けられる。補正用ホログラム４は、ホログラム３の近傍に配置されてよく、例えば、図６に概略的に示すように、ホログラム３の下縁に隣接する態様で設けられてもよい。補正用ホログラム４は、ホログラム３よりもサイズが小さくてよい。補正用ホログラム４には、図６に矢印Ｒ６００で模式的に示すように、画像光照射装置２からレーザ光が入射される。

補正用ホログラム４に入射されるレーザ光は、好ましくは、ホログラム３に入射されるレーザ光を生成する光学系（図２及び図３参照）により生成される。これにより、ホログラム３に入射されるレーザ光を生成する光学系を利用した効率的な構成を実現できる。

補正用ホログラム４は、ホログラム３と同様、光源１１１、１２１、１３１のそれぞれに係る基本波長λ_０に対して、Ｂｒａｇｇ条件が満たされるような干渉縞４１を有するように設計される。

本実施例では、画像光照射装置２の筐体（ケース）内に、検出器６０が配置される。検出器６０は、補正用ホログラム４が回折した光（図６に矢印Ｒ６００Ａで模式的に図示）が入射する位置に配置される。検出器６０は、入射する光（補正用ホログラム４が回折した光）の強度を検出する。検出器６０は、例えばフォトダイオード等により形成されてよい。

図７は、ホログラム３や補正用ホログラム４の特性を示す図であり、縦軸を、ホログラム設計時の入射角度（すなわち露光時の露光用レーザ光の入射角度）θ_ｎ［度］とし、横軸を、ホログラム３を形成する媒体が１％膨張したときに、Ｂｒａｇｇ条件を満たすために必要な入射角度のずれ角Δθ［度］としたときの、両者の関係を示す。

図７からわかるように、ホログラム設計時の入射角度が比較的小さい場合（例えば１０度以下である場合）、Ｂｒａｇｇ条件を満たすために必要な入射角度のずれ角は、比較的大きくなる。特に、ホログラム設計時の入射角度が５度以下である場合は、ホログラム設計時の入射角度の変化に対する、Ｂｒａｇｇ条件を満たすために必要な入射角度のずれ角の変化量（すなわち勾配）は、比較的大きくなる。他方、ホログラム設計時の入射角度が比較的大きい場合、Ｂｒａｇｇ条件を満たすために必要な入射角度のずれ角は、比較的小さくなる。

このことから、ホログラムの設計時の入射角度が比較的小さい場合は、当該ホログラムの状態変化が生じると、比較的大きく入射角度θをずらさないと、Ｂｒａｇｇ条件を満たすことができない。すなわち、ホログラムの設計時の入射角度が比較的小さい場合は、Ｂｒａｇｇ条件の満たしやすさに関する感度について、入射角度変化（及び干渉縞の傾き変化）に対して鈍感である。

他方、ホログラムの設計時の入射角度が比較的大きい場合は、当該ホログラムの状態変化が生じると、わずかな入射角度θのずれによっても、Ｂｒａｇｇ条件を満たすことになる。すなわち、ホログラムの設計時の入射角度が比較的大きい場合は、Ｂｒａｇｇ条件の満たしやすさに関する感度について、入射角度変化（及び干渉縞の傾き変化）に対して敏感である。

このような特性を考慮して、本実施例では、図８Ａ及び図８Ｂに模式的に対比して示すように、補正用ホログラム４は、好ましくは、Ｂｒａｇｇ条件の満たしやすさに関する感度について、ホログラム３よりも入射角度変化において鈍感となるように設計される。具体的には、図８Ａには、補正用ホログラム４に係る干渉縞４１と、入射角度θとの関係の一例が示され、図８Ｂには、ホログラム３に係る干渉縞３１と、入射角度θとの関係の一例が示されている。なお、図８Ａには、Ｑ１部の拡大図が併せて示されている。いずれの場合も、ウインドシールドＷＳに対する入射光の入射角は同じであるが、干渉縞４１及び干渉縞３１を基準とした入射角度θが異なる。この場合、補正用ホログラム４の入射角度θ（４）は、ホログラム３の入射角度θ（３）に対して有意に小さい。

これにより、補正用ホログラム４について、補正用ホログラム４の状態変化が生じた場合に、検出器６０に向かう回折光の強度を、より敏感に変化させることができる。検出器６０に向かう回折光の強度を、より敏感に変化できると、後述するように、検出器６０で検出される強度に基づいて、補正用ホログラム４の有意な状態変化（及びホログラム３の有意な状態変化）の有無を、精度良く検出できるとともに、光源１１１、１２１、１３１の出力波長について、適切な調整量（補正量）を算出しやすくなる。この結果、ホログラム３については、補正用ホログラム４と同様のホログラム３の状態変化が生じた場合に、後述するように出力波長制御部５３により、光源１１１、１２１、１３１の出力波長を適切に調整（補正）できる。

［出力波長制御部５３］
本実施例では、制御装置５０は、以下で説明する出力波長制御部５３の機能を実現する。なお、出力波長制御部５３は、制御装置５０とは別のコンピュータにより実現されてもよい。以下では、主に、光源１１１、１２１、１３１の出力波長のうちの、代表として、一の光源の出力波長に関する制御を説明する。以下、光源１１１、１２１、１３１について、特に区別しない一の光源については、単に「一の光源」と称する。

図９Ａは、横軸を波長ずれとし、縦軸を回折効率としたときの、ホログラム３の正規の状態での回折特性を示し、図９Ｂは、横軸を、基本波長λ_０に対する出力波長のずれ量Δλ［ｎｍ］とし、縦軸を回折効率η［％］としたときの、状態変化後のホログラム３の回折特性（ホログラム３を形成する媒体が１％膨張したときの回折特性）を示す。

出力波長制御部５３は、検出器６０が検出した光（補正用ホログラム４が回折した一の光源からのレーザ光）の強度に基づき、一の光源の出力波長を補正する。

例えば、一の光源の出力波長について、図９Ａ及び図９Ｂのような特性である場合、出力波長制御部５３は、一の光源に係る基本波長λ_０に対してプラス方向に４～７［ｎｍ］だけずれた出力波長となるように、一の光源の出力波長を補正する。これにより、ホログラム３の状態変化に起因して図９Ａから図９Ｂのような特性変化が生じた場合でも、高い回折効率を維持でき、かつ、画像シフト量を低減できる。

この場合、出力波長制御部５３は、最も高い回折効率が得られるような補正を実現してもよい。例えば、図９Ｂのような特性である場合、出力波長制御部５３は、最も高い回折効率が得られるずれ量を算出（探索）し、当該ずれ量だけ出力波長を補正する。これにより、回折効率を最大化しつつ、画像シフト量を低減できる。

図１０は、出力波長制御部５３により実現されてよい補正処理の一例を示す概略的なフローチャートである。図１０に示す補正処理は、例えば所定周期（所定時間）ごとに繰り返し実行されてよい。

ステップＳ９０では、出力波長制御部５３は、ヘッドアップディスプレイ１が起動した直後（起動後の初回の処理周期）であるか否かを判定する。判定結果が“ＹＥＳ”の場合、ステップＳ９２に進み、それ以外の場合（すなわち起動済みの場合）は、ステップＳ１００に進む。

ステップＳ９２では、出力波長制御部５３は、基準雰囲気温度として、ヘッドアップディスプレイ１が起動した際の周囲温度を記憶部５４（図２参照）に記憶する。なお、ヘッドアップディスプレイ１が起動した際の周囲温度は、例えば外気温センサや内気温センサの検出温度であってもよいし、外部の気象情報に基づく温度であってもよい。

ステップＳ１００では、出力波長制御部５３は、ステータスが“０”であるか否かを判定する。ステータスは、０～３の値のいずれかを持ち、ステータス＝０は初期状態又は待機状態を表し、ステータス＝１は、補正処理の要否判定処理中の状態又は光源１１１の出力波長に関する補正処理中の状態を表し、ステータス＝２は、光源１２１の出力波長に関する補正処理中の状態を表し、ステータス＝３は、光源１３１の出力波長に関する補正処理中の状態を表す。判定結果が“ＹＥＳ”の場合、ステップＳ１０２に進み、それ以外の場合は、ステップＳ１０８に進む。

ステップＳ１０２では、出力波長制御部５３は、補正処理の要否判定処理の実行条件が成立したか否かを判定する。補正処理の要否判定処理の実行条件は、任意であるが、例えば、以下の条件要素のいずれか１つのみを含んでもよいし、いずれか２つをＯＲ条件として含んでもよいし、他の条件要素が付加されてもよい。

（条件要素１）ヘッドアップディスプレイ１が起動した直後である。

（条件要素２）基準雰囲気温度から所定温度変化があった。

（条件要素３）前回の補正処理から一定時間が経過した。
なお、（条件要素２）に関して、所定温度変化は、基準雰囲気温度（ステップＳ９２参照）に対する所定閾値以上の変化であってよい。所定閾値は、例えばホログラム３の有意な状態変化が生じる温度変化の最小値に対応してよく、試験等で適合されてよい。判定結果が“ＹＥＳ”の場合、ステップＳ１０４に進み、それ以外の場合は、今回周期の処理は終了する（すなわち、補正処理の要否判定処理の実行条件の成立待ち状態となる）。

ステップＳ１０４では、出力波長制御部５３は、サブステータスを“１”にセット又は維持する。サブステータスは、１～４の値のいずれかを持ち、サブステータス＝１は初期状態を表し、サブステータス＝２～４については、最適値（最も高い回折効率が得られる波長のずれ量）の探索中の各種状態を表し、後述する。

ステップＳ１０６では、出力波長制御部５３は、補正処理の要否判定処理及び光源１１１の出力波長に関する補正処理（図１０では、単に「Ｒに係る補正処理」と表記）を実行する。ステップＳ１０６の詳細例は、図１１以降を参照して後述する。

ステップＳ１０８では、出力波長制御部５３は、ステータスが“１”であるか否かを判定する。判定結果が“ＹＥＳ”の場合、ステップＳ１０６に進み、それ以外の場合は、ステップＳ１１０に進む。

ステップＳ１１０では、出力波長制御部５３は、ステータスが“２”であるか否かを判定する。判定結果が“ＹＥＳ”の場合、ステップＳ１１２に進み、それ以外の場合（すなわちステータスが“３”である場合）は、ステップＳ１１４に進む。

ステップＳ１１２では、出力波長制御部５３は、光源１２１の出力波長に関する補正処理（図１０では、単に「Ｇに係る補正処理」と表記）を実行する。ステップＳ１１２の詳細例は、図１１以降を参照して後述するステップＳ１０６の詳細例と類似し、それとの相違については後述する。

ステップＳ１１４では、出力波長制御部５３は、光源１３１の出力波長に関する補正処理（図１０では、単に「Ｂに係る補正処理」と表記）を実行する。ステップＳ１１４の詳細例は、図１１以降を参照して後述するステップＳ１０６の詳細例と類似し、それとの相違については後述する。

ステップＳ１１６では、出力波長制御部５３は、光源１３１の出力波長に関する補正処理が完了したか否かを判定する。判定結果が“ＹＥＳ”の場合、ステップＳ１１８に進み、それ以外の場合は、今回周期の処理は終了する（すなわち、光源１３１の出力波長に関する補正処理の完了待ち状態となる）。

ステップＳ１１８では、出力波長制御部５３は、今回の補正処理において検出器６０が検出した強度の最大値を記憶部５４（図２参照）に記憶する。

ステップＳ１２０では、出力波長制御部５３は、ステータスを“０”にリセットする。

図１１は、図１０のステップＳ１０６（補正処理の要否判定処理及び光源１１１の出力波長に関する補正処理）の一例を示す概略的なフローチャートである。

ステップＳ２００では、出力波長制御部５３は、サブステータスが“１”であるか否かを判定する。上述したように、サブステータス＝１は初期状態を表し、サブステータス＝２～４については、最適値（最も高い回折効率が得られる波長のずれ量）の探索中の各種状態を表し、後述する。判定結果が“ＹＥＳ”の場合、ステップＳ２０２に進み、それ以外の場合（すなわちサブステータス＝２～４である場合）は、ステップＳ２１０に進む。

ステップＳ２０２では、出力波長制御部５３は、光源１１１、１２１、１３１のうちの、光源１１１のみを駆動する。光源１１１の駆動状態は、ステータスが“１”である間だけ維持される。なお、ステータスが“１”である間の光源１１１の駆動状態において、光源１１１からレーザ光は、ホログラム３及び補正用ホログラム４のうちの、補正用ホログラム４のみに入射されてよい。

ステップＳ２０４では、出力波長制御部５３は、検出器６０による検出結果に基づいて、ホログラム３で回折したレーザ光の強度（検出強度）を算出する。なお、レーザ光の強度は、所定数の周期にわたって得られる検出器６０による検出結果に基づいて、算出されてよい。この場合、所定数の周期が経過するまでは、所定の検出中フラグ（図示せず）をセットし、当該検出中フラグがセットされている間は、ステップＳ２０２及びステップＳ２０４だけが繰り返し実行されてよい。この場合、所定数の周期が経過するまでは、ステップＳ２０４は、検出器６０による検出結果を記憶部５４（図２参照）に記憶するだけの処理であってよく、所定数の周期が経過した際に、出力波長制御部５３は、所定数の周期にわたって得られる検出器６０による検出結果に基づいて、ホログラム３で回折したレーザ光の強度（検出強度）を算出する。

ステップＳ２０６では、出力波長制御部５３は、ステップＳ２０４で得た強度に基づいて、補正処理の実行条件により補正処理の要否を判定する。補正処理の実行条件は、例えば、以下の条件要素のいずれか１つのみを含んでもよいし、２つをＯＲ条件又はＡＮＤ条件として含んでもよいし、他の条件要素が付加されてもよい。

（条件要素１１）ステップＳ２０４で得た強度が所定強度以下である。

（条件要素１２）ステップＳ１１８で記憶されている強度の最大値から、ステップＳ２０４で得た強度を差分した値が、閾値以上である。
なお、（条件要素１１）に関して、所定強度は、例えば、ホログラム３が正規の状態であるときの補正用ホログラム４の最大強度に対して所定割合（例えば７４％程度）の値であってもよい。例えば最大強度に対して７４％程度の値は、画像シフトが視認者に認識されてしまうときの値に略対応するが、適宜、変更されてもよい。（条件要素１２）に関して、閾値は、任意であるが、例えば、ステップＳ１１８で記憶されている強度の最大値の２６％程度であってよい。

ステップＳ２０８では、出力波長制御部５３は、ステータスを“１”にセットし、かつ、サブステータスを“２”にセットする。サブステータス＝２は、光源１１１の出力波長を初期的にプラス方向にずらしたときの強度の変化方向を検出するための状態に対応する。

ステップＳ２１０では、出力波長制御部５３は、最適値探索処理を実行する。最適値探索処理の一例は、図１２を参照して後述する。

図１２は、図１１のステップＳ２１０（最適値探索処理）の一例を示す概略的なフローチャートである。

ステップＳ３００では、出力波長制御部５３は、サブステータスが“２”であるか否かを判定する。判定結果が“ＹＥＳ”の場合、ステップＳ３０２に進み、それ以外の場合は、ステップＳ３１２に進む。

ステップＳ３０２では、出力波長制御部５３は、光源１１１の出力波長を、ステップＳ２０２での光源１１１の出力波長λに対してプラス方向に所定量αだけずらす。所定量αは、任意であるが、例えば１ｎｍ程度であってよい。なお、光源１１１の出力波長の変化は、光源１１１の温度を調整することで実現されてもよい。例えば、光源１１１に対して冷却手段（例えばペルチェ素子）が設けられる場合、冷却手段の冷却能力を調整することで、光源１１１の温度を調整してもよい。

また、光源１１１がレーザ光源に代えて、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）光源である場合、バンドパスフィルタを利用して光源１１１の出力波長の変化を実現してもよい。これは、他の光源１２１、１３１についても同様である。

ステップＳ３０４では、出力波長制御部５３は、検出器６０による検出結果に基づいて、ホログラム３で回折したレーザ光の強度を算出する。なお、レーザ光の強度は、所定数の周期にわたって得られる検出器６０による検出結果に基づいて、算出されてよい。この場合、ステップＳ３０２で光源１１１の出力波長がずらされてから所定数の周期が経過するまでは、所定の検出中フラグ（図示せず）をセットし、当該検出中フラグがセットされている間は、ステップＳ３０４として、検出器６０による検出結果を記憶する処理だけが実行されてよい。そして、ステップＳ３０２で光源１１１の出力波長がずらされてから所定数の周期が経過すると、出力波長制御部５３は、検出器６０による所定数の周期分の検出結果に基づいて、ホログラム３で回折したレーザ光の強度を算出する。

ステップＳ３０６では、出力波長制御部５３は、ステップＳ３０４で得られた強度が前回値（すなわち、ステップＳ２０４で得た強度）に対して増加しているか否かを判定する。判定結果が“ＹＥＳ”の場合、ステップＳ３０８に進み、それ以外の場合は、ステップＳ３１０に進む。

ステップＳ３０８では、出力波長制御部５３は、サブステータスを“３”にセットする。サブステータス＝３は、光源１１１の出力波長をプラス方向にずらしながら最適値を探索している状態に対応する。

ステップＳ３１０では、出力波長制御部５３は、サブステータスを“４”にセットする。サブステータス＝４は、光源１１１の出力波長をマイナス方向にずらしながら最適値を探索している状態に対応する。

ステップＳ３１２では、出力波長制御部５３は、サブステータスが“３”であるか否かを判定する。判定結果が“ＹＥＳ”の場合、ステップＳ３１４に進み、それ以外の場合（すなわちサブステータスが“４”である場合）は、ステップＳ３２２に進む。

ステップＳ３１４では、出力波長制御部５３は、光源１１１の出力波長を、現在値からプラス方向に所定量αだけずらす。所定量αは、ステップＳ３０２と同じであってよい。

ステップＳ３１５では、出力波長制御部５３は、検出器６０による検出結果に基づいて、ホログラム３で回折したレーザ光の強度を算出する。なお、レーザ光の強度は、所定数の周期にわたって得られる検出器６０による検出結果に基づいて、算出されてよい。この場合、ステップＳ３１４で光源１１１の出力波長がずらされてから所定数の周期が経過するまでは、所定の検出中フラグ（図示せず）をセットし、当該検出中フラグがセットされている間は、ステップＳ３１５として、検出器６０による検出結果を記憶する処理だけが実行されてよい。そして、ステップＳ３１４で光源１１１の出力波長がずらされてから所定数の周期が経過すると、出力波長制御部５３は、検出器６０による所定数の周期分の検出結果に基づいて、ホログラム３で回折したレーザ光の強度を算出する。

ステップＳ３１６では、出力波長制御部５３は、ステップＳ３１５で得られた強度が前回値（すなわち、直近のステップＳ３１４で光源１１１の出力波長をずらす前に得た強度）に対して増加しているか否かを判定する。判定結果が“ＹＥＳ”の場合、今回周期の処理は終了し、それ以外の場合は、ステップＳ３１８に進む。

ステップＳ３１８では、出力波長制御部５３は、光源１１１の今回の出力波長を、最適値として、光源１１１に係る補正処理を終了する。この場合、以後の光源１１１の出力波長は、次の補正処理が実行されるまで、現在の状態（すなわち直近のステップＳ３１４でずらした状態）で維持される。なお、変形例では、光源１１１の前回の出力波長を、最適値としてもよいし、光源１１１の今回の出力波長と前回の出力波長の間の波長を、最適値としてもよい。

ステップＳ３２０では、出力波長制御部５３は、ステータスを“２”にセットし、かつ、サブステータスを“１”にセットする。

ステップＳ３２２では、出力波長制御部５３は、光源１１１の出力波長を、現在値からマイナス方向に所定量αだけずらす。所定量αは、ステップＳ３０２と同じであってよい。ただし、サブステータスが“４”になった直後の周期では、出力波長制御部５３は、光源１１１の出力波長を、初期の出力波長（ステップＳ２０２での光源１１１の出力波長）から、マイナス方向に所定量αだけずらしてもよい。

ステップＳ３２３では、出力波長制御部５３は、検出器６０による検出結果に基づいて、ホログラム３で回折したレーザ光の強度を算出する。なお、レーザ光の強度は、所定数の周期にわたって得られる検出器６０による検出結果に基づいて、算出されてよい。この場合、ステップＳ３２２で光源１１１の出力波長がずらされてから所定数の周期が経過するまでは、所定の検出中フラグ（図示せず）をセットし、当該検出中フラグがセットされている間は、ステップＳ３２３として、検出器６０による検出結果を記憶する処理だけが実行されてよい。そして、ステップＳ３２２で光源１１１の出力波長がずらされてから所定数の周期が経過すると、出力波長制御部５３は、検出器６０による所定数の周期分の検出結果に基づいて、ホログラム３で回折したレーザ光の強度を算出する。

ステップＳ３２４では、出力波長制御部５３は、ステップＳ３２３で得られた強度が前回値（すなわち、直近のステップＳ３２２で光源１１１の出力波長をずらす前に得た強度）に対して増加しているか否かを判定する。判定結果が“ＹＥＳ”の場合、今回周期の処理は終了し、それ以外の場合は、ステップＳ３２６に進む。

ステップＳ３２６では、出力波長制御部５３は、光源１１１の今回の出力波長を、最適値として、光源１１１に係る補正処理を終了する。この場合、以後の光源１１１の出力波長は、次の補正処理が実行されるまで、現在の状態（すなわち直近のステップＳ３２２でずらした状態）で維持される。なお、変形例では、光源１１１の前回の出力波長を、最適値としてもよいし、光源１１１の今回の出力波長と前回の出力波長の間の波長を、最適値としてもよい。

ステップＳ３２８では、出力波長制御部５３は、ステータスを“２”にセットし、かつ、サブステータスを“１”にセットする。

このようにして図１２の処理が、ステップＳ３２０又はステップＳ３２８を経て終了すると、ステータスが“２”となることによって、次の処理周期から、ステップＳ１１２（図１０）が実行される。

なお、ステップＳ１１２の光源１２１の出力波長に関する補正処理は、補正対象の光源が光源１１１から光源１２１に変化することによる相違以外は、実質的に同じであってもよい。あるいは、補正用ホログラム４の状態変化は実質的に同じであることから、同じずれ量（出力波長のずれ量）がそのまま利用されてもよい。このようにして光源１２１の出力波長に関する補正処理が、図１２に示したステップＳ３２０又はステップＳ３２８に対応する処理を経て終了すると、ステータスが“３”となることによって、次の処理周期から、ステップＳ１１４（図１０）が実行される。ステップＳ１１４の光源１３１の出力波長に関する補正処理は、補正対象の光源が光源１１１から光源１３１に変化することによる相違以外は、実質的に同じであってもよい。あるいは、補正用ホログラム４の状態変化は実質的に同じであることから、同じずれ量（出力波長のずれ量）がそのまま利用されてもよい。このようにして、光源１１１の出力波長に関する補正処理により得られた最適なずれ量（最適値）を基準補正値として、他の光源１２１、１３１に係る補正処理にそのまま利用する方法によれば、補正処理全体の負荷を低減でき、効率的な補正処理を実現できる。

このようにして、図１０から図１２に示した補正処理によれば、光源１１１の出力波長を所定変動範囲内（±所定量α）で変動させながら、光源１１１の出力波長を適切に補正できる。これにより、周囲温度の変化に起因してホログラム３の有意な状態変化が生じた場合でも、高い回折効率を維持でき、かつ、画像シフト量を低減できる。

また、図１０から図１２に示した補正処理によれば、複数の光源１１１、１２１、１３１のうち最も長い波長の光源１１１から順に補正処理が実行される。ここで、図５に示したように、画像シフト量は、長い波長の光源１１１の方が大きくなりやすい。換言すると、検出器６０で検出される強度に関して、光源１１１に係る強度が、他の光源１２１、１３１に係る強度よりも、ホログラム３の状態変化に起因した変化量が大きくなる。従って、光源１１１に係る強度に基づいて、最適なずれ量（最適値）を探索することで、精度の高い最適値を得ることができる。このような、効果は、光源１１１の出力波長に関する補正処理により得られた最適なずれ量（最適値）を基準補正値として、他の光源１２１、１３１に係る補正処理にそのまま利用する場合に、特に顕著となる。

［変形例］
上述した実施例では、補正用ホログラム４は、１つだけあったが、２つ以上設けられてもよい。例えば、図１３に概略的に示す変形例では、２組の補正用ホログラム４Ａ、４Ｂ及び検出器６Ａ、６Ｂが設けられている。なお、２組の補正用ホログラム４Ａ、４Ｂは、ウインドシールドＷＳに対して互いに隣り合う関係で設けられてもよい。また、検出器６Ａ、６Ｂは、画像光照射装置２Ａの筐体内に設けられてもよい。検出器６Ａは、補正用ホログラム４Ａからの回折光（図１３に矢印Ｒ６０１Ａで模式的に図示）を受光するように設けられ、検出器６Ｂは、補正用ホログラム４Ｂからの回折光（図１３に矢印Ｒ６０２Ａで模式的に図示）を受光するように設けられる。なお、補正用ホログラム４Ａ、４Ｂには、図１３に矢印Ｒ６０１、Ｒ６０２で模式的に示すように、画像光照射装置２Ａからレーザ光が入射される。

この場合、補正用ホログラム４Ａ、４Ｂは、互いに異なる構成であってよい。例えば、補正用ホログラム４Ａは、ホログラム３の干渉縞間隔ｄに対して、１％だけ小さい干渉縞間隔ｄを有し、補正用ホログラム４Ｂは、ホログラム３の干渉縞間隔ｄに対して、１％だけ大きい干渉縞間隔ｄを有してよい。この場合、補正処理は、検出器６Ａで検出される強度と、検出器６Ｂで検出される強度との差を算出し、差が負のときは、一の光源（例えば光源１１１）の出力波長を所定量αだけマイナス方向にずらし、差が正のときは、一の光源（例えば光源１１１）の出力波長を所定量αだけプラス方向にずらすことで、実現されてよい。

以上、各実施例について詳述したが、特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された範囲内において、種々の変形及び変更が可能である。また、前述した実施例の構成要素を全部又は複数を組み合わせることも可能である。

例えば、上述した実施例では、表示スクリーンとして、スクリーン４０を例示したが、レーザ光をバックライトとして画像を形成する液晶パネルのような、他の表示パネル（他のスクリーン）が用いられてもよい。また、ＭＥＭＳ技術によるマイクロミラーデバイスを用いるＭＥＭＳ方式の他、反射型液晶パネルを用いるＬＣＯＳ（Ｌｉｑｕｉｄ ｃｒｙｓｔａｌ ｏｎ ｓｉｌｉｃｏｎ）方式、デジタルマイクロミラーデバイスを用いるＤＭＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｍｉｃｒｏｍｉｒｒｏｒ Ｄｅｖｉｃｅ）方式などを用いてもよい。また、上述したように、レーザ光以外の光を発生する光源、例えばＬＥＤ光源が利用されてもよい。ＬＥＤ光源が利用される場合、ＬＥＤ光を平行光にするレンズ（コンデンサレンズ）が併せて利用されてもよい。

１ ヘッドアップディスプレイ
２ 画像光照射装置
３ ホログラム
４、４Ａ、４Ｂ 補正用ホログラム
９ インストルメントパネル
１０ レーザユニット
１１ レーザ照射装置
１２ レーザ照射装置
１３ レーザ照射装置
２０ ダイクロイックミラーユニット
２０Ａ クロスプリズム
２１ ダイクロイックミラー
２２ ダイクロイックミラー
２３ ダイクロイックミラー
２８ 集光レンズ
２９ ＭＥＭＳスキャナ
４０ スクリーン
５０ 制御装置
５１ レーザ制御部
５２ スキャナ制御部
５３ 出力波長制御部
６０、６Ａ、６Ｂ 検出器

Claims (13)

1. レーザ光を出力するレーザ光源と、
   前記レーザ光を回折する回折素子と、
   前記回折素子が回折した光の強度又は光量を検出する検出器と、
   前記レーザ光源の出力波長を制御する制御部と、
   記憶部と、を備え、
   前記制御部は、前記検出器が検出した前記強度又は前記光量に基づき、前記レーザ光源の出力波長を所定変動範囲内で変動させながら、前記回折素子による回折効率が大きくなるように前記レーザ光源の出力波長を補正する補正処理を行い、
   前記制御部は、起動時に前記補正処理を実行し、
   前記記憶部は、起動時の基準雰囲気温度を記憶し、
   前記制御部は、前記記憶部内の前記基準雰囲気温度から所定温度変化があった場合に、前記補正処理を再実行する、ヘッドアップディスプレイ。
2. レーザ光を出力するレーザ光源と、
   前記レーザ光を回折する回折素子と、
   前記回折素子が回折した光の強度又は光量を検出する検出器と、
   前記レーザ光源の出力波長を制御する制御部と、
   記憶部と、を備え、
   前記制御部は、前記検出器が検出した前記強度又は前記光量に基づき、前記レーザ光源の出力波長を所定変動範囲内で変動させながら、前記回折素子による回折効率が大きくなるように前記レーザ光源の出力波長を補正する補正処理を行い、
   前記制御部は、起動時に前記補正処理を実行し、
   前記記憶部は、起動時の前記補正処理において前記検出器が検出した前記強度又は前記光量の最大値を記憶し、
   前記制御部は、前記記憶部内の前記最大値と現在の検出値との差分が閾値以上になった場合に、前記補正処理を再実行する、ヘッドアップディスプレイ。
3. レーザ光を出力するレーザ光源と、
   前記レーザ光を回折する回折素子と、
   前記回折素子が回折した光の強度又は光量を検出する検出器と、
   前記レーザ光源の出力波長を制御する制御部と、を備え、
   前記制御部は、前記検出器が検出した前記強度又は前記光量に基づき、前記レーザ光源の出力波長を所定変動範囲内で変動させながら、前記回折素子による回折効率が大きくなるように前記レーザ光源の出力波長を補正する補正処理を行い、
   前記レーザ光源は、出力波長がそれぞれ異なる複数の光源を有し、
   前記補正処理は、前記複数の光源のうちの、出力波長が最も長い光源に対しての基準補正値を算出し、前記基準補正値に基づいて前記複数の光源の出力波長を補正する、ヘッドアップディスプレイ。
4. 前記回折素子は、
   視認者に向けて前記レーザ光を回折する第１回折素子と、
   前記検出器に向けて前記レーザ光を回折する第２回折素子と、を備える、請求項１～３のうちのいずれか１項に記載のヘッドアップディスプレイ。
5. 前記第２回折素子は、２つの異なる回折素子を備え、
   前記検出器は、前記２つの異なる回折素子にそれぞれ対応する２つの検出器を備える、請求項４に記載のヘッドアップディスプレイ。
6. 前記第２回折素子は、Ｂｒａｇｇ条件の満たしやすさに関する感度について、前記第１回折素子よりも入射角度変化において鈍感である、請求項４又は５に記載のヘッドアップディスプレイ。
7. レーザ光を出力するレーザ光源と、
   前記レーザ光を回折する回折素子と、
   前記回折素子が回折した光の強度又は光量を検出する検出器と、
   前記レーザ光源の出力波長を制御する制御部と、を備え、
   前記制御部は、前記検出器が検出した前記強度又は前記光量に基づき、前記回折素子による回折効率が大きくなるように前記レーザ光源の出力波長を補正し、
   前記回折素子は、視認者に向けて前記レーザ光を回折する第１回折素子と、前記検出器に向けて前記レーザ光を回折する第２回折素子と、を備え、
   前記第２回折素子は、２つの異なる回折素子を備え、
   前記検出器は、前記２つの異なる回折素子にそれぞれ対応する２つの検出器を備える、ヘッドアップディスプレイ。
8. 前記第２回折素子は、Ｂｒａｇｇ条件の満たしやすさに関する感度について、前記第１回折素子よりも入射角度変化において鈍感である、請求項７に記載のヘッドアップディスプレイ。
9. レーザ光を出力するレーザ光源と、
   前記レーザ光を回折する回折素子と、
   前記回折素子が回折した光の強度又は光量を検出する検出器と、
   前記レーザ光源の出力波長を制御する制御部と、を備え、
   前記制御部は、前記検出器が検出した前記強度又は前記光量に基づき、前記回折素子による回折効率が大きくなるように前記レーザ光源の出力波長を補正し、
   前記回折素子は、視認者に向けて前記レーザ光を回折する第１回折素子と、前記検出器に向けて前記レーザ光を回折する第２回折素子と、を備え、
   前記第２回折素子は、Ｂｒａｇｇ条件の満たしやすさに関する感度について、前記第１回折素子よりも入射角度変化において鈍感である、ヘッドアップディスプレイ。
10. 前記制御部は、前記レーザ光源の出力波長を所定変動範囲内で変動させながら、前記レーザ光源の出力波長を補正する補正処理を行う、請求項７～９のうちのいずれか１項に記載のヘッドアップディスプレイ。
11. 前記レーザ光源は、出力波長がそれぞれ異なる複数の光源を有し、
    前記補正処理は、前記複数の光源のうちの、出力波長が最も長い光源に対して実行される、請求項１０に記載のヘッドアップディスプレイ。
12. 前記レーザ光源は、出力波長がそれぞれ異なる複数の光源を有し、
    前記補正処理は、前記複数の光源のそれぞれに対して順に実行される、請求項１０に記載のヘッドアップディスプレイ。
13. 前記レーザ光源の出力波長の変動を、所定時間毎に実行する、請求項１～６及び１０～１２に記載のヘッドアップディスプレイ。