JP7576301B2 - 磁場影響を考慮した線量分布作成プログラム、磁場影響を考慮した線量分布作成方法、および線量分布作成装置 - Google Patents
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Description
図1は、本実施形態に係る磁場影響を考慮した線量分布作成処理の概要を示す図である。図1のように、磁場影響を考慮した線量分布作成処理は、学習工程と線量分布作成工程を備える。
次に、線量分布作成装置の構成例を説明する。図2は、本実施形態に係る線量分布作成装置の構成例を示すブロック図である。図2のように、線量分布作成装置1は、架台装置11、寝台装置12、撮影装置13、放射線治療装置14、画像処理部15(取得部、処理部)、線量分布処理部16(取得部、処理部)、磁場補正部17、制御部18、記憶部19、操作部20、および表示部21を備える。また、磁場補正部17は、学習モデル171を備える。
・第1の処理;非磁場下の線量分布を例えば0~1の間の値に正規化する。
・第2の処理;磁場下の線量分布を例えば0~1の間の値に正規化し、係数{例えば(最大値(磁場下)/最大値(非磁場下))}を乗じる。
なお、線量分布処理部16は、三次元情報を二次元情報に切り分けなくてもよい。
線量分布処理部16は、記憶部19が記憶する線量計算に使用するCT-ED Table(CT-相対電子密度変換テーブル)を元に、CT-ED Tableの範囲でテーブルの下限を0とし上限を1として正規化してED mapを作成する。なお、ED mapは二次元情報である。
ここで、電子密度マップ(ED map)について説明する。図3は、CT値電子密度変換テーブルを説明するための図である。
線量計算に直接影響する値が電子密度である。CT値電子密度変換テーブルは、各ボクセルのCT値(MR画像g21)またはMR値(MR画像g22)から電子密度に変換するマップ(g23)である。マップg23において、横軸はCT値[HU]であり、縦軸は電子密度[g/cm3]である。画像処理部15は、この変換テーブルを用いて、CT画像を電子密度に変換して電子密度マップを作成する。
ここで、学習モデルである磁場補正モデル例について説明する。図4は、本実施形態に係る磁場補正モデルの一例を示す図である。図4の学習モデルである磁場補正モデル100は、CNN(Convolutional Neural Networks)とDenseNet(参考文献1)をベースにした例である。また、本実施形態の磁場補正モデル100では、局所的特徴に重きを置くため、プーリングや圧縮等のDown Samplingは使用しない。
また、磁場補正モデル100は、Dense Block後の任意の位置、例えば畳み込み層125と畳み込み層126との間にED map102を再入力する。
次に、Dense Block122~124は、Dense Blockでの処理を行う(106~108)。
次に、フィルターサイズが1×1の畳み込みを行う(109)。
次に、畳み込み層125の出力とED map102を入力として、フィルターサイズが3×3の畳み込みを行う(110)。
次に、フィルターサイズが3×3の畳み込みを行う(111~112)。
次に、フィルターサイズが1×1の畳み込みを行う(113)。
磁場補正モデル100の出力は、二次元の磁場下の線量分布114であり、解像度は、例えば160×224である。
次に、学習時の処理例について説明する。図5は、本実施形態に係る学習時の処理例を示す図である。なお、以下の処理例では、撮影画像に基づく情報として電子密度マップ(ED map)情報を用い、学習モデルに三次元から切り出した二次元の情報を入力する例を説明する。
撮影装置13は、非磁場下または磁場下の撮影画像g302(MR画像またはCT画像)を撮影する。次に、線量分布作成装置1は、撮影画像を取得する。次に、線量分布処理部16は、取得した撮影画像から非磁場下の線量分布と磁場下の線量分布とを計算して取得する。
線量分布作成装置1は、切り分けた二次元の非磁場下の線量分布g312と、撮影画像からCT値電子密度変換テーブルを用いて生成した電子密度マップ(ED map)情報g313を学習モデル(磁場補正モデル)g322に入力する。また、教師データとして磁場下の線量分布g314を用いる。
線量分布作成装置1は、4分割した学習モデルg323を用いて、学習と確認を4分割交差検証法で行う。
線量分布作成装置1は、4分割された学習モデルg323毎の推定した磁場下の線量分布g332を合成し平均化して補正された磁場下の線量分布g333を作成する。
線量分布作成装置1は、正解データである磁場下の線量分布g314と比較し、比較した結果に基づいて報酬を作成して学習に反映させる。なお、正解データである磁場下の線量分布g314は、学習時のため、演算に時間を要しても支障が無いので、磁場が常に発生した状態で患者体内の放射線ビームの挙動を計算する。
次に、作業手順例を説明する。まず、学習時の処理手順について説明する。
図7は、本実施形態に係る磁場下の線量分布の推定処理手順例を示すフローチャートである。なお、以下の処理例も、撮影画像に基づく情報として電子密度マップ(ED map)情報を用い、学習モデルに三次元から切り出した二次元の情報を入力する例を説明する。
(ステップS12)撮影装置13は、学習用に制御部18の制御に応じて被験者の撮影を行う。
(ステップS13)画像処理部15は、撮影装置13が撮影した撮影画像(CT画層またはMR画像)を取得する。続けて、画像処理部15は、撮影画像からCT値電子密度変換テーブルを用いて電子密度マップを生成し、生成した電子密度マップを正規化する。
図6は、本実施形態に係る処理手順例を示すフローチャートである。なお、以下の処理例では、撮影画像に基づく情報として電子密度マップ(ED map)情報を用い、学習モデルに三次元から切り出した二次元の情報を入力する例を説明する。
また、上記処理のステップS24において、制御部18は、推定された磁場下の線量分布に基づいて治療計画を作成し、作成した治療計画も表示部21に表示させるようにしてもよい。
次に、本実施形態の学習モデルの学習や、学習された学習モデルを用いて推定した場合等の確認結果を説明する。
図8は、学習曲線を示す図である。図8において、横軸は学習回数(エポック数)であり、縦軸はMSE(Mean Squared Error;平均二乗誤差)[×10-3]である。折れ線g401は学習データの損失特性であり、折れ線g402は検証データの損失特性である。図8のように、数回の学習でMSEが収束している。
図10は、線量分布の第1の例を示す図である。線量分布g421は、補正無しの非磁場下の線量分布を示し、拡大図g422は線量分布g421の一部を拡大したものである。線量分布g431は、補正無しの磁場下の線量分布示し、拡大図g432は線量分布g431の一部を拡大したものである。符号g441はED mapを示す。線量分布g451は、本実施形態による補正有りの磁場下の線量分布示し、拡大図g452は線量分布g451の一部を拡大したものである。図10のように、本実施形態による補正を行った場合は、拡大図g452のように、補正無しと比較して右下の部分の分布が異なっている。
図11は、図10に対応するプロファイルの例を示す図である。図10において横軸はピクセルであり、グラフg460の左縦軸は相対線量であり、グラフg460の右縦軸はエラーであり、グラフg470の縦軸は相対電子密度である。
また、実線g461は磁場下の線量分布における相対線量を示し、破線g462は本実施形態の手法で補正した磁場下の線量分布における相対線量を示し、破線g463は補正していない磁場下の線量分布における相対線量を示す。さらに、破線g464は本実施形態の手法で補正した磁場下の線量分布におけるエラーを示し、破線g465は補正していない磁場下の線量分布におけるエラーを示す。
図11のように、本実施形態の手法で補正した場合は、ピクセルが約90以上で補正していない場合と比較して、相対線量とエラーとに差が出ている。本実施形態の手法で補正した場合の方が、補正していない場合と比較してピクセルが約90以上でも、実線g461の磁場下の線量分布における相対線量に非常に近い。また、エラーについても、ピクセル90以上で、補正してない場合はエラーが増えている。
図12は、線量分布の第2の例を示す図である。線量分布g521は、補正無しの非磁場下の線量分布を示し、拡大図g522は線量分布g521の一部を拡大したものである。線量分布g531は、補正無しの磁場下の線量分布示し、拡大図g532は線量分布g531の一部を拡大したものである。符号g541はED mapを示す。線量分布g551は、本実施形態による補正有りの磁場下の線量分布示し、拡大図g552は線量分布g551の一部を拡大したものである。図12のように、本実施形態による補正を行った場合は、拡大図g552のように、補正無しと比較して下の部分の分布が異なっている。
図13は、図12に対応するプロファイルの例を示す図である。図13において横軸はピクセル番号(位置)であり、グラフg560の左縦軸は相対線量であり、グラフg560の右縦軸はエラーであり、グラフg570の縦軸は相対電子密度である。
また、実線g561は磁場下の線量分布における相対線量を示し、破線g562は本実施形態の手法で補正した磁場下の線量分布における相対線量を示し、破線g563は補正していない磁場下の線量分布における相対線量を示す。さらに、破線g564は本実施形態の手法で補正した磁場下の線量分布におけるエラーを示し、破線g565は補正していない磁場下の線量分布におけるエラーを示す。
図13のように、本実施形態の手法で補正した場合は、ピクセルが約60~70で補正していない場合と比較して、相対線量とエラーとに差が出ている。本実施形態の手法で補正した場合の方が、補正していない場合と比較してピクセルが約60~70でも、実線g561の磁場下の線量分布における相対線量に近い。また、エラーについても、ピクセル60~70で、補正してない場合の方が、エラーの増加が多い。
図14は、測定箇所全てにおけるGamma passing rateを示す図である。図15は、皮膚(3mm)におけるGamma passing rateを示す図である。図14と図15の横軸は(ΔD[%]/Δd[mm])であり、縦軸はGamma passing rate[%]である。なお、ΔD[%]は線量差であり、Δd[mm]はDTA(Distance To Agreement)である。また、ハッチング領域g601は本実施形態の補正を行った場合であり、ハッチング領域g602は補正を行っていない場合である。
これに対して、本実施形態によれば、従来より高速に磁場の影響を考慮した補正を行うことができる。
次に、他の学習モデルの例を説明する。
図16は、本実施形態に係る他の学習モデルの例を示す図である。図16のように、学習モデルである磁場補正モデル100Aは、Skip Connection(恒等写像)を備えるCNNである。Skip Connectionは、層を飛び越えた結合を有している。また、磁場補正モデル100Aの各層は、3×3の畳み込み(Conv;Convolution)層、1×1の畳み込み層、3×3のプーリング(枝刈り,Pool;Pooling)層、逆畳み込み(Deconv;Deconvolution)層である。
なお、図15に示した構成は一例であり、層数や入出力の解像度等はこれに限らない。
また、本実施形態の手法は、治療に用いる最終的な線量分布の導出のために使用することもでき、最適化プロセスに結合することもできる。
Claims (9)
- コンピュータに、
被験者を磁場と電波または光子線によって撮影させた撮影画像と、前記撮影画像から計算され且つ正規化された非磁場下の線量分布とを取得させ、
正規化された非磁場下の線量分布と、撮影画像に基づく情報とが入力されたときに、正規化された磁場下の線量分布を出力するように学習された複数の層から成る学習モデルに、取得された前記非磁場下の線量分布と、取得された前記撮影画像に基づく情報とを入力させ、磁場下の線量分布を推定させる、
磁場影響を考慮した線量分布作成プログラム。 - 前記撮影画像に基づく情報は、
前記被験者のCT画像、前記被験者のMR画像、前記被験者のCT画像から生成した電子密度マップ、および前記被験者のMR画像から生成した電子密度マップのうちの1つである、
請求項1に記載の磁場影響を考慮した線量分布作成プログラム。 - 前記学習モデルは、
Dense Blockを備える畳み込みニューラルネットワークであり、
前記コンピュータは、
前記複数の層から成る学習モデルの前記Dense Blockの後の任意の層に、前記被験者を光子線または荷電粒子線によって撮影させた画像に基づく情報を入力させる、 請求項1または請求項2に記載の磁場影響を考慮した線量分布作成プログラム。 - 前記学習モデルは、
Skip Connectionを備える畳み込みニューラルネットワークである、
請求項1または請求項2に記載の磁場影響を考慮した線量分布作成プログラム。 - コンピュータが、
被験者を磁場と電波または光子線によって撮影させた撮影画像と、前記撮影画像から計算され且つ正規化された非磁場下の線量分布とを取得し、
正規化された非磁場下の線量分布と、撮影画像に基づく情報とが入力されたときに、正規化された磁場下の線量分布を出力するように学習された複数の層から成る学習モデルに、取得された前記非磁場下の線量分布と、取得された前記撮影画像に基づく情報とを入力し、磁場下の線量分布を推定する、
磁場影響を考慮した線量分布作成方法。 - 被験者を磁場と電波または光子線によって撮影させた撮影画像と、前記撮影画像から計算され且つ正規化された非磁場下の線量分布とを取得する取得部と、
正規化された非磁場下の線量分布と、撮影画像に基づく情報とが入力されたときに、正規化された磁場下の線量分布を出力するように学習された複数の層から成る学習モデルに、取得された前記非磁場下の線量分布と、取得された前記撮影画像に基づく情報とを入力し、磁場下の線量分布を推定する磁場補正部と、
を備える線量分布作成装置。 - コンピュータに、
被験者を磁場と電波または光子線によって撮影させた撮影画像と、非磁場下の線量分布と、磁場下の線量分布とを取得させ、
前記非磁場下の線量分布と、前記磁場下の線量分布と、前記撮影画像に基づく情報と、を用いて学習された複数の層から成る学習モデルに、前記非磁場下の線量分布と、前記撮影画像に基づく情報とを入力させ、磁場下の線量分布を推定させ、
前記線量分布は、
放射線の照射方向に平行な分布像または前記照射方向に垂直な複数の断層像からなり、事前学習および入力に供する前記非磁場下における線量分布は正規化された前記分布像または複数の断層像であり、磁場下の線量分布は正規化されたのち、各画素値を磁場の影響を表す係数で補正して得られる複数の断層像である、
磁場影響を考慮した線量分布作成プログラム。 - コンピュータが、
被験者を磁場と電波または光子線によって撮影させた撮影画像と、非磁場下の線量分布と、磁場下の線量分布とを取得し、
前記非磁場下の線量分布と、前記磁場下の線量分布と、前記撮影画像に基づく情報と、を用いて学習された複数の層から成る学習モデルに、前記非磁場下の線量分布と、前記撮影画像に基づく情報とを入力し、磁場下の線量分布を推定し、
前記線量分布は、
放射線の照射方向に平行な分布像または前記照射方向に垂直な複数の断層像からなり、事前学習および入力に供する前記非磁場下における線量分布は正規化された前記分布像または複数の断層像であり、磁場下の線量分布は正規化されたのち、各画素値を磁場の影響を表す係数で補正して得られる複数の断層像である、
磁場影響を考慮した線量分布作成方法。 - 被験者を磁場と電波または光子線によって撮影させた撮影画像と、非磁場下の線量分布と、磁場下の線量分布とを取得する取得部と、
前記非磁場下の線量分布と、前記磁場下の線量分布と、前記撮影画像に基づく情報と、を用いて学習された複数の層から成る学習モデルに、前記非磁場下の線量分布と、前記撮影画像に基づく情報とを入力し、磁場下の線量分布を推定する磁場補正部と、
を備え、
前記線量分布は、
放射線の照射方向に平行な分布像または前記照射方向に垂直な複数の断層像からなり、事前学習および入力に供する前記非磁場下における線量分布は正規化された前記分布像または複数の断層像であり、磁場下の線量分布は正規化されたのち、各画素値を磁場の影響を表す係数で補正して得られる複数の断層像である、
線量分布作成装置。
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