JP7724207B2 - 封止剤、硬化体、有機エレクトロルミネッセンス表示装置、及び、有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法 - Google Patents
封止剤、硬化体、有機エレクトロルミネッセンス表示装置、及び、有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法Info
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Description
<1>
重合性化合物、重合開始剤及び無機充填材を含み、前記重合性化合物が、比重が1.3~4.0の化合物を含有する、封止剤。
<2>
前記封止剤を硬化して、前記重合性化合物の重合体及び前記無機充填材を含有する硬化体としたとき、前記硬化体の比重が1.35~19.0となる、<1>に記載の封止剤。
<3>
前記封止剤を硬化して、前記重合性化合物の重合体及び前記無機充填材を含有する硬化体としたとき、前記重合体のガラス転移温度が85℃以上となる、<1>又は<2>に記載の封止剤。
<4>
前記封止剤を硬化して、前記重合性化合物の重合体及び前記無機充填材を含有する硬化体としたとき、前記硬化体の架橋密度が1.5×10-3mol/cm3以上となる、<1>~<3>のいずれかに記載の封止剤。
<5>
前記重合性化合物が、原子番号9以上の元素を有する重合性化合物(X)を含有する、<1>~<4>のいずれかに記載の封止剤。
<6>
前記重合性化合物(X)が、ハロゲン族元素を有する、<5>に記載の封止剤。
<7>
前記重合性化合物(X)が、フッ素元素及び臭素元素からなる群より選択される少なくとも一種のハロゲン族元素を有する、<6>に記載の封止剤。
<8>
前記重合性化合物(X)中のハロゲン族元素の含有量が、前記重合性化合物の総元素量に対して、10~50質量%である、<6>又は<7>に記載の封止剤。
<9>
前記重合性化合物が、重合性官能基を2個以上有する架橋性化合物(Y)を含有する、<1>~<8>のいずれかに記載の封止剤。
<10>
前記重合性化合物が、グリシジルエーテル化合物、脂環式エポキシ化合物、ビニルエーテル化合物及びオキセタン化合物からなる群より選択される少なくとも一種を含有する、<1>~<9>のいずれかに記載の封止剤。
<11>
前記重合性化合物が、ラジカル重合性官能基を有する、<1>~<10>のいずれかに記載の封止剤。
<12>
前記重合開始剤が、光重合開始剤である、<1>~<11>のいずれかに記載の封止剤。
<13>
前記重合開始剤が、オニウム塩を含有する、<1>~<12>のいずれかに記載の封止剤。
<14>
前記重合開始剤が、ラジカル重合開始剤である、<1>~<12>のいずれか一項に記載の封止剤。
<15>
前記無機充填材の真比重が、1.5~5.0である、<1>~<14>のいずれかに記載の封止剤。
<16>
前記無機充填材が、シリカ、マイカ、カオリン、タルク及び酸化アルミニウムからなる群より選択される少なくとも1種を含む、<1>~<15>のいずれかに記載の封止剤。
<17>
前記無機充填材が、タルクを含む、<1>~<16>のいずれかに記載の封止剤。
<18>
前記無機充填材が、平均粒子径が0.01~30μmの無機粒子を含む、<1>~<17>のいずれかに記載の封止剤。
<19>
樹脂粒子を更に含む、<1>~<18>のいずれかに記載の封止剤。
<20>
前記樹脂粒子が、架橋ポリ(メタ)アクリル酸メチル粒子、架橋ポリスチレン粒子、及び、架橋ポリ(メタ)アクリル酸メチルポリスチレン共重合体粒子からなる群より選択される少なくとも一種を含有する、<19>に記載の封止剤。
<21>
前記樹脂粒子の平均粒子径が1μm~100μmである、<19>又は<20>に記載の封止剤。
<22>
前記樹脂粒子の粒径(μm)を対数で表示したときの粒径に対する粒子体積分布の標準偏差が、0.25以下である、<19>~<21>のいずれかに記載の封止剤。
<23>
前記樹脂粒子の含有量が、前記重合性化合物100質量部に対して、0.01~5質量部である、<19>~<22>のいずれかに記載の封止剤。
<24>
前記重合開始剤の含有量が、前記重合性化合物100質量部に対して、0.01~5質量部である、<1>~<23>のいずれかに記載の封止剤。
<25>
前記無機充填材の含有量が、前記重合性化合物100質量部に対して、5~500質量部である、<1>~<24>のいずれかに記載の封止剤。
<26>
前記重合性化合物の全量混合物の80℃における粘度が、500~30000mPa・sである、<1>~<25>のいずれかに記載の封止剤。
<27>
25℃における粘度が、50000~1000000mPa・sである、<1>~<26>のいずれかに記載の封止剤。
<28>
25℃、1rpmにおける粘度η1に対する、25℃、0.1rpmにおける粘度η2の比(η2/η1)が、1.1~10.0である、<1>~<27>のいずれかに記載の封止剤。
<29>
前記封止剤を硬化して、前記重合性化合物の重合体及び前記無機充填材を含有する硬化体としたとき、前記硬化体の平均自由体積が1nm3以下となる、<1>~<28>のいずれかに記載の封止剤。
<30>
前記封止剤を硬化して、前記重合性化合物の重合体及び前記無機充填材を含有する硬化体としたとき、前記硬化体の空孔率が20%未満となる、<1>~<29>のいずれかに記載の封止剤。
<31>
前記封止剤を硬化して、前記重合性化合物の重合体及び前記無機充填材を含有する硬化体としたとき、前記硬化体の、JIS Z0208に準拠して、温度85℃、相対湿度85%の条件下で測定される透湿度が、50(g/m2・24h/100μm)以下となる、<1>~<30>のいずれかに記載の封止剤。
<32>
有機エレクトロルミネッセンス表示素子用封止剤である、<1>~<31>のいずれかに記載の封止剤。
<33>
ダム形成用封止剤である、<1>~<32>のいずれかに記載の封止剤。
<34>
<1>~<33>のいずれかに記載の封止剤を硬化してなる、硬化体。
<35>
<1>~<33>のいずれかに記載の封止剤を塗布及び硬化して、ダムを形成する工程を含む、ダム・フィル封止構造を有する有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法。
<36>
ダム及びフィル剤を備えるダム・フィル封止構造を有し、前記ダムが、<1>~<33>のいずれかに記載の封止剤の硬化体を含む、有機エレクトロルミネッセンス表示装置。
すなわち、重合性化合物に占める低比重化合物の割合は、例えば0~70質量%、0~60質量%、0~55質量%、0~50質量%、0~45質量%、10~70質量%、10~60質量%、10~55質量%、10~50質量%、10~45質量%、15~70質量%、15~60質量%、15~55質量%、15~50質量%、15~45質量%、20~70質量%、20~60質量%、20~55質量%、20~50質量%、20~45質量%、25~70質量%、25~60質量%、25~55質量%、25~50質量%、25~45質量%、30~70質量%、30~60質量%、30~55質量%、30~50質量%、30~45質量%、35~70質量%、35~60質量%、35~55質量%、35~50質量%又は35~45質量%であってよい。
・溶媒(移動相):THF
・脱気装置:ERMA社製ERC-3310
・ポンプ:日本分光社製PU-980
・流速:1.0ml/min
・オートサンプラ:東ソー社製AS-8020
・カラムオーブン:日立製作所製L-5030
・設定温度:40℃
・カラム構成:東ソー社製TSKguardcolumnMP(×L)6.0mmID×4.0cm 2本、及び東ソー社製TSK-GELMULTIPORE HXL-M 7.8mmID×30.0cm 2本、計4本
・検出器:RI 日立製作所製L-3350
・データ処理:SIC480データステーション
AはVIA族~VIIA族の原子価mの元素を示し、
mは1~2を示し、
pは0~3を示し、
RはAに結合している有機基を示し、
Dは下記式(B-1-1):
X-はオニウムの対イオンである。)
メチル、エチル、プロピル、ブチル、ペンチル、オクチル、デシル、ドデシル、テトラデシル、ヘキサデシル、オクダデシル等の炭素数1~18の直鎖アルキル基;
イソプロピル、イソブチル、sec-ブチル、tert-ブチル、イソペンチル、ネオペンチル、tert-ペンチル、イソヘキシル等の炭素数1~18の分岐アルキル基;
シクロプロピル、シクロブチル、シクロペンチル、シクロヘキシル等の炭素数3~18のシクロアルキル基;
ヒドロキシ基;
メトキシ、エトキシ、プロポキシ、イソプロポキシ、ブトキシ、イソブトキシ、sec-ブトキシ、tert-ブトキシ、ヘキシルオキシ、デシルオキシ、ドデシルオキシ等の炭素数1~18の直鎖又は分岐のアルコキシ基;
アセチル、プロピオニル、ブタノイル、2-メチルプロピオニル、ヘプタノイル、2-メチルブタノイル、3-メチルブタノイル、オクタノイル、デカノイル、ドデカノイル、オクタデカノイル等の炭素数2~18の直鎖又は分岐のアルキルカルボニル基;
ベンゾイル、ナフトイル等の炭素数7~11のアリールカルボニル基;
メトキシカルボニル、エトキシカルボニル、プロポキシカルボニル、イソプロポキシカルボニル、ブトキシカルボニル、イソブトキシカルボニル、sec-ブトキシカルボニル、tert-ブトキシカルボニル、オクチロキシカルボニル、テトラデシルオキシカルボニル、オクタデシロキシカルボニル等の炭素数2~19の直鎖又は分岐のアルコキシカルボニル基;
フェノキシカルボニル、ナフトキシカルボニル等の炭素数7~11のアリールオキシカルボニル基;
フェニルチオカルボニル、ナフトキシチオカルボニル等の炭素数7~11のアリールチオカルボニル基;
アセトキシ、エチルカルボニルオキシ、プロピルカルボニルオキシ、イソプロピルカルボニルオキシ、ブチルカルボニルオキシ、イソブチルカルボニルオキシ、sec-ブチルカルボニルオキシ、tert-ブチルカルボニルオキシ、オクチルカルボニルオキシ、テトラデシルカルボニルオキシ、オクタデシルカルボニルオキシ等の炭素数2~19の直鎖又は分岐のアシロキシ基;
フェニルチオ、2-メチルフェニルチオ、3-メチルフェニルチオ、4-メチルフェニルチオ、2-クロロフェニルチオ、3-クロロフェニルチオ、4-クロロフェニルチオ、2-ブロモフェニルチオ、3-ブロモフェニルチオ、4-ブロモフェニルチオ、2-フルオロフェニルチオ、3-フルオロフェニルチオ、4-フルオロフェニルチオ、2-ヒドロキシフェニルチオ、4-ヒドロキシフェニルチオ、2-メトキシフェニルチオ、4-メトキシフェニルチオ、1-ナフチルチオ、2-ナフチルチオ、4-[4-(フェニルチオ)ベンゾイル]フェニルチオ、4-[4-(フェニルチオ)フェノキシ]フェニルチオ、4-[4-(フェニルチオ)フェニル]フェニルチオ、4-(フェニルチオ)フェニルチオ、4-ベンゾイルフェニルチオ、4-ベンゾイル-2-クロロフェニルチオ、4-ベンゾイル-3-クロロフェニルチオ、4-ベンゾイル-3-メチルチオフェニルチオ、4-ベンゾイル-2-メチルチオフェニルチオ、4-(4-メチルチオベンゾイル)フェニルチオ、4-(2-メチルチオベンゾイル)フェニルチオ、4-(p-メチルベンゾイル)フェニルチオ、4-(p-エチルベンゾイル)フェニルチオ4-(p-イソプロピルベンゾイル)フェニルチオ、4-(p-tert-ブチルベンゾイル)フェニルチオ等の炭素数6~20のアリールチオ基;
メチルチオ、エチルチオ、プロピルチオ、イソプロピルチオ、ブチルチオ、イソブチルチオ、sec-ブチルチオ、tert-ブチルチオ、ペンチルチオ、イソペンチルチオ、ネオペンチルチオ、tert-ペンチルチオ、オクチルチオ、デシルチオ、ドデシルチオ等の炭素数1~18の直鎖又は分岐のアルキルチオ基;
フェニル、トリル、ジメチルフェニル、ナフチル等の炭素数6~10のアリール基;
チエニル、フラニル、ピラニル、ピロリル、オキサゾリル、チアゾリル、ピリジル、ピリミジル、ピラジニル、インドリル、ベンゾフラニル、ベンゾチエニル、キノリル、イソキノリル、キノキサリニル、キナゾリニル、カルバゾリル、アクリジニル、フェノチアジニル、フェナジニル、キサンテニル、チアントレニル、フェノキサジニル、フェノキサチイニル、クロマニル、イソクロマニル、ジベンゾチエニル、キサントニル、チオキサントニル、ジベンゾフラニル等の炭素数4~20の複素環基;
フェノキシ、ナフチルオキシ等の炭素数6~10のアリールオキシ基;メチルスルフィニル、エチルスルフィニル、プロピルスルフィニル、イソプロピルスルフィニル、ブチルスルフィニル、イソブチルスルフィニル、sec-ブチルスルフィニル、tert-ブチルスルフィニル、ペンチルスルフィニル、イソペンチルスルフィニル、ネオペンチルスルフィニル、tert-ペンチルスルフィニル、オクチルスルフィニル等の炭素数1~18の直鎖又は分岐のアルキルスルフィニル基;
フェニルスルフィニル、トリルスルフィニル、ナフチルスルフィニル等の炭素数6~10のアリールスルフィニル基;
メチルスルホニル、エチルスルホニル、プロピルスルホニル、イソプロピルスルホニル、ブチルスルホニル、イソブチルスルホニル、sec-ブチルスルホニル、tert-ブチルスルホニル、ペンチルスルホニル、イソペンチルスルホニル、ネオペンチルスルホニル、tert-ペンチルスルホニル、オクチルスルホニル等の炭素数1~18の直鎖又は分岐のアルキルスルホニル基;
フェニルスルホニル、トリルスルホニル(トシル基)、ナフチルスルホニル等の炭素数の6~10のアリールスルホニル基;
式(B-1-2):
非置換のアミノ基;
炭素数1~5のアルキル及び/又は炭素数6~10のアリールでモノ置換もしくはジ置換されているアミノ基;
シアノ基;
ニトロ基;
フッ素、塩素、臭素、ヨウ素等のハロゲン等が挙げられる。
ジフェニルフェナシルスルホニウム、ジフェニル4-ニトロフェナシルスルホニウム、ジフェニルベンジルスルホニウム、ジフェニルメチルスルホニウム等のジアリールスルホニウム;
フェニルメチルベンジルスルホニウム、4-ヒドロキシフェニルメチルベンジルスルホニウム、4-メトキシフェニルメチルベンジルスルホニウム、4-アセトカルボニルオキシフェニルメチルベンジルスルホニウム、2-ナフチルメチルベンジルスルホニウム、2-ナフチルメチル(1-エトキシカルボニル)エチルスルホニウム、フェニルメチルフェナシルスルホニウム、4-ヒドロキシフェニルメチルフェナシルスルホニウム、4-メトキシフェニルメチルフェナシルスルホニウム、4-アセトカルボニルオキシフェニルメチルフェナシルスルホニウム、2-ナフチルメチルフェナシルスルホニウム、2-ナフチルオクタデシルフェナシルスルホニウム、9-アントラセニルメチルフェナシルスルホニウム等のモノアリールスルホニウム;
ジメチルフェナシルスルホニウム、フェナシルテトラヒドロチオフェニウム、ジメチルベンジルスルホニウム、ベンジルテトラヒドロチオフェニウム、オクタデシルメチルフェナシルスルホニウム等のトリアルキルスルホニウム;等が挙げられる。
[(Rf)bPF6-b]- (B-1-3)
ベンゾフェノン及びその誘導体;
ベンジル及びその誘導体;
アントラキノン及びその誘導体;
ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインプロピルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテル、ベンジルジメチルケタール等のベンゾイン型光重合開始剤;
ジエトキシアセトフェノン、4-tert-ブチルトリクロロアセトフェノン等のアセトフェノン型光重合開始剤;
2-ジメチルアミノエチルベンゾエート;
p-ジメチルアミノエチルベンゾエート;
ジフェニルジスルフィド;
チオキサントン及びその誘導体;
カンファーキノン、7,7-ジメチル-2,3-ジオキソビシクロ[2.2.1]ヘプタン-1-カルボン酸、7,7-ジメチル-2,3-ジオキソビシクロ[2.2.1]ヘプタン-1-カルボキシ-2-ブロモエチルエステル、7,7-ジメチル-2,3-ジオキソビシクロ[2.2.1]ヘプタン-1-カルボキシ-2-メチルエステル、7,7-ジメチル-2,3-ジオキソビシクロ[2.2.1]ヘプタン-1-カルボン酸クロライド等のカンファーキノン型光重合開始剤;
2-メチル-1-[4-(メチルチオ)フェニル]-2-モルフォリノプロパン-1-オン、2-ベンジル-2-ジメチルアミノ-1-(4-モルフォリノフェニル)-ブタノン-1等のα-アミノアルキルフェノン型光重合開始剤;
ベンゾイルジフェニルホスフィンオキサイド、2,4,6-トリメチルベンゾイル-ジフェニル-ホスフィンオキサイド、ベンゾイルジエトキシホスフィンオキサイド、2,4,6-トリメチルベンゾイルジメトキシフェニルホスフィンオキサイド、2,4,6-トリメチルベンゾイルジエトキシフェニルホスフィンオキサイド、ビス(2,4,6―トリメチルベンゾイル)-フェニルホスフィンオキサイド等のアシルホスフィンオキサイド型光重合開始剤;
フェニル-グリオキシリックアシッド-メチルエステル;
オキシ-フェニル-アセチックアシッド2-[2-オキソ-2-フェニル-アセトキシ-エトキシ]-エチルエステル;
オキシ-フェニル-アセチックアシッド2-[2-ヒドロキシ-エトキシ]-エチルエステル;等が挙げられる。
架橋密度(ρ)=G’T+40/φRT
空孔率(%)=I1/(I1+I2+I3)
(A-1)ジブロモフェニルグリシジルエーテル(日本化薬社製「BR-250」、臭素元素の含有量:51質量%)(最大原子番号:35、比重:1.8、1分子中の重合性官能基数:1、分子量308、臭素元素の含有量:50質量%)
(A-2)臭素化クレジルグリシジルエーテル(日本化薬社製「BROC」)(最大原子番号:35、比重:1.8、1分子中の重合性官能基数:1、臭素元素の含有量:50質量%)
(A-3)TBBPAエポキシ樹脂(DIC社「エピクロン152」)(最大原子番号:35、比重:1.7、1分子中の重合性官能基数:2、分子量972、臭素元素の含有量:48質量%)
(A-4)臭素化ビスフェノールA型エポキシ樹脂(阪本薬品社「SR-T1000」、平均分子量2000)(最大原子番号:35、比重:1.7、1分子中の重合性官能基数:2)
(A-5)2,2,3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,7-トリデカフルオロヘプチルオキシラン(ダイキン工業社「C6エポキシ」)(最大原子番号:8、比重:1.5、1分子中の重合性官能基数:1、分子量376)
(A-6)ペンタフルオロフェニルアクリレート(東京化成工業社製「ペンタフルオロフェニルアクリレート」)(最大原子番号:9、比重:1.5、1分子中の重合性官能基数:1)
(A-7)アクリル酸2,4,6-トリブロモフェニル(東京化成工業社製「トリブロモフェニルアクリレート」)(最大原子番号:35、比重:2.1、1分子中の重合性官能基数:1)
(B-1)3’,4’-エポキシシクロヘキシルメチル-3,4-エポキシシクロヘキサンカルボキシレート(ダイセル化学社製「セロキサイド2021P」)(最大原子番号:8、比重:1.2、1分子中の重合性官能基数:2、分子量252)
(B-2)ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学社製「jER828」、分子量360~390)(最大原子番号:8、比重:1.2、1分子中の重合性官能基数:2)
(B-3)フェノ-ルノボラック型エポキシ樹脂(DIC製「EPICLON N-775」)(最大原子番号:8、比重:1.2、1分子中の重合性官能基数:2以上、数平均分子量800)
(B-4)シクロヘキサンジメタノールジビニルエーテル(日本カーバイド社製「CHDVE」)(最大原子番号:8、比重:0.9、1分子中の重合性官能基数:1、分子量196)
(B-5)ポリプロピレングリコールジグリシジルエーテル(ナガセケムテックス社製「EX-946L」)(最大原子番号:8、比重:1.06、1分子中の重合性官能基数:2)
(B-6)ラウリルアクリレート(大阪有機社製「LA」)(最大原子番号:8、比重:1.1、1分子中の重合性官能基数:1)
(B-7)1,6-ヘキサンジオールジメタクリレート(新中村化学社製「HD-N」)(最大原子番号:8、比重:1.0、1分子中の重合性官能基数:2)
(B-8)トリシクロデカンジメタノールジメタクリレート(新中村化学社製「DCP」)(最大原子番号:8、比重:1.1、1分子中の重合性官能基数:2)
(B-9)1,2-ポリブタジエン末端ウレタン(メタ)アクリレートの水素添加物(日本曹達社製「TEAI-1000」)(最大原子番号:8、比重:1.0、1分子中の重合性官能基数:2)
(C-1)トリアリールスルホニウム塩ヘキサフルオロアンチモネート(ADEKA社製「アデカオプトマーSP-170」、アニオン種はヘキサフルオロアンチモネート)
(C-2)トリアリールスルホニウム塩(ジフェニル4-チオフェノキシフェニルスルホニウムトリス(ペンタフルオロエチル)トリフルオロホスフェート、サンアプロ社製「CPI-200K」、アニオン種はリン化合物)
(C-3)2,4,6-トリメチルベンゾイル-ジフェニル-ホスフィンオキサイド(BASFジャパン社製「TPO」)
(C-4)1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、BASFジャパン社製「I-184」)
(D-1)9,10-ジブトキシアントラセン(川崎化成工業社製「ANTHRACURE UVS-1331」)
(E-1)γ-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン(信越シリコーン社製「KBM-403」)
(F-1)微粒子タルク、粒子径(d50):4.5μm、真比重:2.7(松村産業社製「#5000PJ」)
(F-2)微粒子タルク、粒子径(d50):15μm、真比重:2.7(松村産業社製「SC」)
(F-3)微粒子マイカ、粒子径(d50):3.0μm、真比重:2.9(松尾産業社製「A-11」)
(F-4)微粒子カオリン、粒子径(d50):1.6μm、真比重:2.6(林化成社製「Kaopolite 1147」)
(F-5)微粒子シリカ、粒子径(d50):4.2μm、真比重:1.9(デンカ社製「FB-5SDX)
(F-6)微粒子酸化アルミ、粒子径(d50):4.0μm、真比重:4.0(デンカ社製「DAW-03」)
(F-7)微粒子金、粒子径(d50):4.0μm、真比重:19.5(徳力本店社製「TAU-200」)
(G-1)GS-210:球状架橋ポリスチレン粒子(ガンツ化成社製「GS-210」)(平均粒子径:20.0μm、標準偏差:0.06μm)
ハーバート形比重瓶を用い、JIS K0061に準拠して、測定を行った。
5mLゲーリュサック型比重瓶を用い、JIS-K-0061の8.2.2に準拠して測定した。
封止剤の硬化物性及び接着性の評価に際し、下記光照射条件により、封止剤を硬化させた。無電極放電メタルハライドランプ搭載UV硬化装置(フュージョン社製)により、365nmの波長の積算光量4,000mJ/cm2の条件にて、封止剤を光硬化させた後、100℃のオーブン中で、60分間の後加熱処理を実施し、硬化体を得た。
厚さ0.1mmのシート状の硬化体を前記光硬化条件にて作製し、JIS K7112 B法に準拠して測定した。浸せき液として、温度は23℃の水を使用した。
厚さ0.1mmのシート状の硬化体を前記光硬化条件にて作製し、厚み100μmの硬化体を幅5mm×長さ25mmに切り出し、試験片とした。この試験片について、温度範囲-50℃~200℃、昇温速度2℃/min、引っ張りモードの条件で、動的粘弾性測定を行った。上記動的粘弾性測定で測定されたtanδ(損失正接)のピークトップの温度を硬化物のガラス転移温度(Tg)とした。
厚さ0.1mmのシート状の硬化体を前記光硬化条件にて作製し、厚み100μmの硬化体を幅5mm×長さ25mmに切り出し、試験片とした。この試験片について、温度範囲-50℃~200℃、昇温速度2℃/min、引っ張りモードの条件で、動的粘弾性測定を行った。架橋密度は、Tg+40℃の温度をT(K)、T(K)における貯蔵弾性率(G’)(表の「弾性率」)をG’T+40、気体定数をR、フロント係数をφ(=1)として、以下の式で算出した。
架橋密度(ρ)=G’T+40/φRT
無機充填材、樹脂粒子の平均粒子径(平均粒径又は粒径という場合もある)、及び、粒径(μm)を対数で表示したときの粒径に対する粒子体積分布の標準偏差(上述の「標準偏差」)は、レーザー回折式粒度分布測定装置(島津製作所製「SALD-2200」)により測定した。
厚さ0.1mmのシート状の硬化体を前記光硬化条件にて作製し、JIS Z0208「防湿包装材料の透湿度試験方法(カップ法)」に準じ、吸湿剤として塩化カルシウム(無水)を用い、雰囲気温度85℃、相対湿度85%の条件で測定した。透湿度は50g/(m2・24hr)以下が好ましい。
厚さ0.1mmのシート状の硬化体を前記光硬化条件にて作製し、厚み0.1mmの硬化体を幅10mm×長さ10mmに切り出し、10枚重ねて固定したものを試験サンプルとした。
線源を22NaClとして、下記の条件にて陽電子消滅寿命と相対強度を測定した。
陽電子線源:22NaCl(強度0.6MBq)
ガンマ線検出器:フッ化バリウムシンチレーター及び光電子倍増管
装置分解能:250ps
測定温度:25℃
カウント数:1,000,000
試料:陽電子線源を両側から挟み込んで測定
上記測定条件に沿って測定された陽電子消滅寿命から、平均自由体積及び空孔率を算出した。
ホウ珪酸ガラス試験片(縦25mm×横25mm×厚2.0mm、テンパックス(登録商標)ガラス)を2枚用い、接着面積0.5cm2、接着厚み10μmとなるように、封止剤を介してホウ珪酸ガラス試験片を接着し、前記光硬化条件にて封止剤を硬化させた。硬化後、封止剤で接合した試験片を用い、引張剪断接着強さ(単位:MPa)を、温度23℃、相対湿度50%の環境下で、引張速度10mm/分で測定した。
ITO電極付きガラス基板(縦25mm×横25mm)をアセトン及びイソプロパノールを用いて洗浄した。その後、真空蒸着法にて以下の化合物を薄膜となるように順次蒸着し、陽極/正孔注入層/正孔輸送層/発光層/電子注入層/陰極からなる有機EL素子基板を得た。各層の構成は以下の通りである。
・陽極:ITO、陽極の膜厚250nm
・正孔注入層:銅フタロシアニン 厚さ30nm
・正孔輸送層:N,N’-ジフェニル-N,N’-ジナフチルベンジジン(α-NPD) 厚さ20nm
・発光層:トリス(8-ヒドロキシキノリナト)アルミニウム(金属錯体系材料)、発光層の膜厚1000Å
・電子注入層:フッ化リチウム 厚さ1nm
・陰極:アルミニウム、陰極の膜厚250nm
窒素雰囲気下にて塗工装置にてガラス基板に、封止剤を四角状(辺長20mm、塗布幅0.6mm、塗布高さ0.1mm)に塗布し、接着厚み10μmとなるように、封止剤を介してガラス基板と有機EL素子基板とを貼り合わせ、前記光硬化条件にて封止剤を硬化させ、有機EL素子を作製した。
〔初期〕
作製した直後の有機EL素子に6Vの電圧を印加し、有機EL素子の発光状態を目視と顕微鏡で観察し、ダークスポットの直径を測定した。
作製した直後の有機EL素子を、85℃、相対湿度85質量%の条件下に300時間暴露した後、6Vの電圧を印加し、有機EL素子の発光状態を目視と顕微鏡で観察し、ダークスポットの直径を測定した。
コーンローター式粘度計(東機産業社製、「TV-22型」)により、25℃、1rpmの条件における粘度を測定した。また、チキソ性の評価として、25℃、1rpmにおける粘度η1に対する、25℃、0.1rpmにおける粘度η2の比(η2/η1)を測定した。
30mLの遮光性シリンジ(商品名「UVブロックシリンジ」、武蔵エンジニアリング(株)製)に組成物を充填し、ディスペンサー(商品名「SHOT mini 1000」、武蔵エンジニアリング(株)製)を用いて、無アルカリガラスに塗布長さ30mm±2mm、塗布幅0.6mm±0.2mm、塗布高さ0.1mm±0.05mmになるように組成物を塗布した。組成物を365nmの波長の積算光量2,000mJ/cm2の条件にて、光照射した後に、100℃のオーブン中で60分間の後加熱処理を実施し、硬化体を得た。塗布直進性は、下記基準で評価した。
評価基準
AA:硬化体の塗布幅が0.4mm以上であり、塗布幅の平均標準偏差が0.040mm未満である。
A:硬化体の塗布幅が0.4mm以上であり、塗布幅の平均標準偏差が0.040mm~0.100mmである。
C:硬化体の塗布幅が0.4mm以上であり、塗布幅の平均標準偏差が0.100mm以上である。
ハーバート形比重瓶を用い、JIS K0061に準拠して、測定を行った。
厚さ0.1mmのシート状の硬化体を前記光硬化条件にて作製し、JIS K7112 B法に準拠して測定した。浸せき液として、温度は23℃の水を使用した。
Claims (33)
- 重合性化合物、重合開始剤及び無機充填材を含み、
前記重合性化合物の30質量%以上90質量%以下が、比重が1.3~4.0であり、且つ、臭素元素を有する重合性化合物(X)であり、
液比重が1.3~4.0である、封止剤。 - 前記封止剤を硬化して、前記重合性化合物の重合体及び前記無機充填材を含有する硬化体としたとき、
前記硬化体の比重が1.35~19.0となる、請求項1に記載の封止剤。 - 前記封止剤を硬化して、前記重合性化合物の重合体及び前記無機充填材を含有する硬化体としたとき、
前記重合体のガラス転移温度が85℃以上となる、請求項1又は2に記載の封止剤。 - 前記封止剤を硬化して、前記重合性化合物の重合体及び前記無機充填材を含有する硬化体としたとき、
前記硬化体の架橋密度が1.5×10-3mol/cm3以上となる、請求項1~3のいずれか一項に記載の封止剤。 - 前記重合性化合物(X)中のハロゲン族元素の含有量が、前記重合性化合物の総元素量に対して、10~50質量%である、請求項1~4のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記重合性化合物が、重合性官能基を2個以上有する架橋性化合物(Y)を含有する、請求項1~5のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記重合性化合物が、グリシジルエーテル化合物、脂環式エポキシ化合物、ビニルエーテル化合物及びオキセタン化合物からなる群より選択される少なくとも一種を含有する、請求項1~6のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記重合性化合物が、ラジカル重合性官能基を有する、請求項1~7のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記重合開始剤が、光重合開始剤である、請求項1~8のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記重合開始剤が、オニウム塩を含有する、請求項1~9のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記重合開始剤が、ラジカル重合開始剤である、請求項1~10のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記無機充填材の真比重が、1.5~5.0である、請求項1~11のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記無機充填材が、シリカ、マイカ、カオリン、タルク及び酸化アルミニウムからなる群より選択される少なくとも1種を含む、請求項1~12のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記無機充填材が、タルクを含む、請求項1~13のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記無機充填材が、平均粒子径が0.01~30μmの無機粒子を含む、請求項1~14のいずれか一項に記載の封止剤。
- 樹脂粒子を更に含む、請求項1~15のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記樹脂粒子が、架橋ポリ(メタ)アクリル酸メチル粒子、架橋ポリスチレン粒子、及び、架橋ポリ(メタ)アクリル酸メチルポリスチレン共重合体粒子からなる群より選択される少なくとも一種を含有する、請求項16に記載の封止剤。
- 前記樹脂粒子の平均粒子径が1μm~100μmである、請求項16又は17に記載の封止剤。
- 前記樹脂粒子の粒径(μm)を対数で表示したときの粒径に対する粒子体積分布の標準偏差が、0.25以下である、請求項16~18のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記樹脂粒子の含有量が、前記重合性化合物100質量部に対して、0.01~5質量部である、請求項16~19のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記重合開始剤の含有量が、前記重合性化合物100質量部に対して、0.01~5質量部である、請求項1~20のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記無機充填材の含有量が、前記重合性化合物100質量部に対して、5~500質量部である、請求項1~21のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記重合性化合物の全量混合物の80℃における粘度が、500~30000mPa・sである、請求項1~22のいずれか一項に記載の封止剤。
- 25℃における粘度が、50000~1000000mPa・sである、請求項1~23のいずれか一項に記載の封止剤。
- 25℃、1rpmにおける粘度η1に対する、25℃、0.1rpmにおける粘度η2の比(η2/η1)が、1.1~10.0である、請求項1~24のいずれか一項に記載の封止剤。
- 前記封止剤を硬化して、前記重合性化合物の重合体及び前記無機充填材を含有する硬化体としたとき、
前記硬化体の平均自由体積が1nm3以下となる、請求項1~25のいずれか一項に記載の封止剤。 - 前記封止剤を硬化して、前記重合性化合物の重合体及び前記無機充填材を含有する硬化体としたとき、
前記硬化体の空孔率が20%未満となる、請求項1~26のいずれか一項に記載の封止剤。 - 前記封止剤を硬化して、前記重合性化合物の重合体及び前記無機充填材を含有する硬化体としたとき、
前記硬化体の、JIS Z0208に準拠して、温度85℃、相対湿度85%の条件下で測定される透湿度が、50(g/m2・24h/100μm)以下となる、請求項1~27のいずれか一項に記載の封止剤。 - 有機エレクトロルミネッセンス表示素子用封止剤である、請求項1~28のいずれか一項に記載の封止剤。
- ダム形成用封止剤である、請求項1~29のいずれか一項に記載の封止剤。
- 請求項1~30のいずれか一項に記載の封止剤を硬化してなる、硬化体。
- 請求項1~30のいずれか一項に記載の封止剤を塗布及び硬化して、ダムを形成する工程を含む、
ダム・フィル封止構造を有する有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法。 - ダム及びフィル剤を備えるダム・フィル封止構造を有し、
前記ダムが、請求項1~30のいずれか一項に記載の封止剤の硬化体を含む、有機エレクトロルミネッセンス表示装置。
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