JP7726706B2 - 加工装置 - Google Patents

加工装置

Info

Publication number
JP7726706B2
JP7726706B2 JP2021147647A JP2021147647A JP7726706B2 JP 7726706 B2 JP7726706 B2 JP 7726706B2 JP 2021147647 A JP2021147647 A JP 2021147647A JP 2021147647 A JP2021147647 A JP 2021147647A JP 7726706 B2 JP7726706 B2 JP 7726706B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing
range
setting unit
division number
holding surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2021147647A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2023040571A (ja
Inventor
有希子 木川
大輔 平野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Corp filed Critical Disco Corp
Priority to JP2021147647A priority Critical patent/JP7726706B2/ja
Publication of JP2023040571A publication Critical patent/JP2023040571A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7726706B2 publication Critical patent/JP7726706B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Feeding Of Workpieces (AREA)
  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

本発明は、半導体ウェーハ等の被加工物を加工する加工装置に関する。
ウェーハを研削する研削装置は、例えば特許文献1に開示されているように、装置全体を制御する制御手段に加工要素(加工条件)を設定して、ウェーハを複数枚収納したカセットをカセットステージに載置し、カセットから取り出したウェーハをチャックテーブルに搬入し、チャックテーブルが保持したウェーハを研削砥石で次々に研削している。
特開2021-091035号公報
加工要素の設定を変更してウェーハを研削する際は、研削加工が終わった後、作業者によって変更したい加工要素を選択して、選択した加工要素の設定を制御手段にタッチパネル等を用いて入力し変更して、研削加工を行っている。そのため、研削加工と加工要素の設定変更とを繰り返して行う必要が有り、例えば、研削後のウェーハの抗折強度が最も強くなる加工要素を見つける際は、複数の加工要素を実施する必要が有り、作業者の負担が大きくなっている。
したがって、研削装置のような加工装置においては、作業者がいなくても複数の加工要素に設定を自動的に変更しウェーハを加工することができるようにするという課題がある。
上記課題を解決するための本発明は、ウェーハを保持面で保持するチャックテーブルと、スピンドルの先端に加工具を装着し該スピンドルを回転させ該保持面で保持したウェーハを加工する加工機構と、該加工機構を該保持面に垂直な方向に移動させる移動機構と、ウェーハ加工における複数の加工条件が記憶される加工要素設定部と、複数のウェーハを収納したカセットを載置するカセットステージと、該カセットと該保持面との間でウェーハを搬送する搬送機構と、を備える加工装置であって、該加工要素設定部に設定した複数の加工条件から任意の加工条件を選択する加工要素選択部を備え、該加工要素設定部は、該加工要素選択部が選択した一つの加工条件に対して、下限値と上限値とによって範囲を設定する範囲設定部と、該範囲を分割する分割数を設定する分割数設定部と、を備え、該範囲を該分割数で分割した該下限値と該上限値とを含む区切りごとの値とで、該選択した一つの加工条件の設定を変更してウェーハごとに加工する加工装置である。
例えば、本発明に係る加工装置は、作業者によって入力された、前記カセットに収納されているウェーハの枚数を設定する枚数設定部、または、該カセットに収納されているウェーハの枚数を認識する枚数認識部を備え、前記加工要素設定部は、該枚数設定部に設定した枚数、または、該枚数認識部が認識した枚数を前記分割数に1を足した数で割った数が1以上のときは、該割った数の小数点以下を切り捨てた整数枚ごとに前記選択した加工条件の設定を変更してウェーハを加工する。
例えば、本発明に係る加工装置は、前記加工要素設定部によって算出された前記割った数が1未満のときは、ウェーハの要求を通知する通知部を備える。
例えば、本発明に係る加工装置は、前記移動機構によって前記加工機構を前記保持面に接近させる速度の第1の範囲を前記範囲設定部に設定し、第1の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第1の範囲を該第1の分割数で分割した区切りごとの値で該加工機構を該保持面に接近させる速度についての第1の設定を変更する。
例えば、本発明に係る加工装置は、前記移動機構によって前記加工機構を前記保持面に接近させ、該保持面に保持されたウェーハを加工した後、該移動機構によって該保持面に保持されたウェーハから前記加工具を遠ざける速度の第2の範囲を前記範囲設定部に設定し、第2の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第2の範囲を該第2の分割数で分割した区切りごとの値で該保持面に保持されたウェーハから該加工具を遠ざける速度についての第2の設定を変更する。
例えば、本発明に係る加工装置は、前記移動機構によって前記加工機構を前記保持面に接近させ、該保持面に保持されたウェーハを加工した後、該移動機構によって該保持面に保持されたウェーハから前記加工具を遠ざける距離の第3の範囲を前記範囲設定部に設定し、第3の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第3の範囲を該第3の分割数で分割した区切りごとの値で該保持面に保持されたウェーハから前記加工具を遠ざける距離についての第3の設定を変更する。
例えば、本発明に係る加工装置は、前記移動機構によって前記加工機構を前記保持面に接近させ、該保持面に保持されたウェーハを所定量加工したら該加工機構の該接近を停止させ、該接近を停止させた後の前記加工具でウェーハを加工する時間の第4の範囲を前記範囲設定部に設定し、第4の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第4の範囲を該第4の分割数で分割した区切りごとの値で該接近を停止させた後の該加工具でウェーハを加工する時間についての第4の設定を変更する。
例えば、本発明に係る加工装置は、前記チャックテーブルを回転させるテーブル回転機構を備え、該チャックテーブルの回転速度の第5の範囲を前記範囲設定部に設定し、第5の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第5の範囲を該第5の分割数で分割した区切りごとの値で該チャックテーブルの回転速度についての第5の設定を変更する。
例えば、本発明に係る加工装置は、前記スピンドルの回転速度の第6の範囲を前記範囲設定部に設定し、第6の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第6の範囲を該第6の分割数で分割した区切りごとの値で該スピンドルの回転速度についての第6の設定を変更する。
例えば、本発明に係る加工装置は、前記第1の設定と、前記第2の設定と、前記第3の設定と、前記第4の設定と、前記第5の設定と、前記第6の設定と、を組み合わせた加工要素でウェーハを加工する。
本発明に係る加工装置は、カセットに複数枚のウェーハを収納し、範囲設定部によって加工要素の範囲を設定したら、設定した該範囲の加工要素を分割数設定部によって所定の分割数で等分割して、加工要素設定部によって加工要素を切り換えてウェーハごとに加工するので、無人でも複数の加工要素でそれぞれ分割単位ごとのウェーハに加工することが可能となり、例えば加工要素の条件出し(適切な加工要素の発見)をする際に、作業者が加工要素を変更する必要が無く、作業者の負担を軽減できる。
加工装置の一例である研削装置の斜視図である。 加工要素の種類を示し、加工要素として、研削機構のZ軸送り速度、研削機構のエスケープカット移動速度、研削機構のエスケープカット移動距離、研削機構によるスパークアウト実施時間、研削機構におけるスピンドル回転数、及びチャックテーブルの回転数を示す説明図である。 ウェーハの研削における研削時間と研削機構の高さとの関係を示す3つのグラフであり、選択した加工要素の一つであるZ軸送り速度をそれぞれ0.3μm/sec、0.4μm/sec、及び0.5μm/secとした場合の3つのグラフである。
図1に示すウェーハ90は、例えば、シリコン母材等からなる円形の半導体ウェーハであり、図1においては下方を向いているウェーハ90の表面900は、複数のデバイスが形成されており、図示しない保護テープが貼着されて保護されている。ウェーハ90の上側を向いている裏面903は、研削加工が施される被加工面となる。なお、ウェーハ90は、シリコンウェーハに限定されず、ガリウムヒ素、サファイア、セラミックス、樹脂、窒化ガリウム又はシリコンカーバイド等で構成されていてもよいし、デバイスが形成されてないウェーハであってもよい。
図1に示す加工装置1は、チャックテーブル30上に保持されたウェーハ90を加工機構61によって研削する装置である。加工装置1(以下、研削装置1とする)のベース10上の前方(-Y方向側)は、チャックテーブル30に対してウェーハ90の搬入出が行われる搬入出領域となっており、また、ベース10上の後方(+Y方向側)は、加工機構61(以下、研削機構61とする)によってチャックテーブル30上に保持されたウェーハ90の研削加工が行われる加工領域となっている。加工装置1は、所謂、フルオートのグラインダーである。
なお、本発明に係る加工装置は、研削装置1のような加工機構61が1軸のタイプに限定されるものではなく、粗研削機構と仕上げ研削機構とを備え、回転するターンテーブルでチャックテーブル30に吸引保持されたウェーハ90を粗研削機構又は仕上げ研削機構の下方に位置づけ可能な2軸以上の研削装置等であってもよい。また、加工装置1は、研磨パッドでウェーハ90を研磨する研磨装置、旋回する切削バイトでウェーハ90を切削するバイト切削装置、又は切削ブレードでウェーハ90をダイシングする切削装置であってもよい。
ベース10の正面側(-Y方向側)には、第1のカセットステージ150及び第2のカセットステージ151が設けられており、第1のカセットステージ150には複数の加工前のウェーハ90が棚状に収納される第1のカセット157が載置され、第2のカセットステージ151には複数の加工後のウェーハ90が棚状に収納される第2のカセット158が載置される。例えば、第1のカセット157には、25枚のウェーハ90が一枚ずつ、内部の各棚に収納されている。
第1のカセット157の+Y方向側の開口の後方には、第1のカセット157から加工前のウェーハ90を搬出するとともに加工後のウェーハ90を第2のカセット158に搬入するロボット40が配設されている。ロボット40は、ウェーハ90を吸引保持可能なロボットハンド400を備え、ロボットハンド400をZ軸方向に上下動可能かつ水平面内(X軸Y軸平面内)を旋回移動及び直動可能な多関節アーム401を備える。
ロボット40の多関節アーム401には、例えば第1のカセット157内部に収納されているウェーハ90の枚数を認識する枚数認識部49が配設されている。枚数認識部49は、ロボットハンド400の先端側に向かって検査光を水平照射する発光部490と、受光部491とを備える反射型の光センサである。第1のカセット157から搬出される加工前のウェーハ90は、例えば、第1のカセット157の棚の最上段(または最下段)から最下段(または最上段)に向かって順に搬出される。そのため、枚数認識部49は、ウェーハ90が搬出されて空になった棚において、ウェーハ90からの反射光が無くなり受光部491の受光量が減少したことを検知して、その棚の段数から第1のカセット157に収納されているウェーハ90の枚数を認識できる。枚数認識部49は、認識した第1のカセット157内のウェーハ90の枚数についての情報を、図1に示す加工要素設定部80に送信する。
第1のカセット157に複数枚収納されているウェーハ90の使用順序が最上段から最下段となっていない場合であっても、枚数認識部49は、例えば、第1のカセット157の最上段から最下段までをZ軸方向に棚と棚との間隔ずつ下降しながら、検知光の照射/受光を繰り返して、受光部491の受光量が減った棚の数から、第1のカセット157内のウェーハ90の枚数を認識することができる。
なお、枚数認識部49は、カメラ等によって撮像した第1のカセット157内部の撮像画像から、第1のカセット157内部に収納されているウェーハ90の枚数を認識する構成となっていてもよい。
ロボット40に隣接する位置には、仮置き領域152が設けられており、仮置き領域152には位置合わせユニット153が配設されている。位置合わせユニット153は、第1のカセット157から搬出され仮置き領域152に載置された加工前のウェーハ90を、縮径する位置合わせピンで所定の位置に位置合わせ(センタリング)する。
仮置き領域152の上方には、カメラ等で構成される光学式のウェーハID読み取り部159が配設されている。ウェーハID読み取り部159は、ウェーハ90に形成されている個体識別番号であるウェーハID(認識マーク)を読み取り、該情報を装置全体の制御を行う制御部8に送信する。
なお、ウェーハ90に形成されるウェーハIDは、研削後も読み取り可能なようにウェーハ90の表面900のデバイスが形成されていない外周部分に印字されていることもあるため、仮置き領域152においてウェーハ90の裏面903が上側を向いている場合には、ウェーハID読み取り部159は、赤外線カメラ等によってウェーハ90を上側から透過してウェーハ90のウェーハIDを読み取ってもよい。
例えば、第1のカセット157に複数枚収納されているウェーハ90が全て同一種類である場合には、第1のカセット157から搬出され加工されるウェーハ90は、そのウェーハ90が収納されていた第1のカセット157の棚の段数を制御部8が認識しているため、そのウェーハ90に施された研削加工における加工要素を、段数と紐づけして最終的に認識することが可能となる。この場合等においては、ウェーハID読み取り部159は、研削装置1に配設されていなくてもよい。
一方、第1のカセット157に複数枚収納されているウェーハ90に異なる種類のものが混在している場合には、第1のカセット157から搬出され加工されるウェーハ90は、例えば、研削加工が施される前にウェーハID読み取り部159によってウェーハIDが読み取られ、そのウェーハ90に施された研削加工おける加工要素を、ウェーハIDと紐づけして最終的に制御部8が認識することが可能となる。また、第1のカセット157に複数枚収納されているウェーハ90が全て同一種類である場合においても、研削加工前にウェーハID読み取り部159によってウェーハIDが読み取られ、そのウェーハ90に施された研削加工おける加工要素をウェーハIDと紐づけして最終的に制御部8が認識していることで、作業者が、第2のカセット158から加工後のウェーハ90を取り出してチェックする時に、チェックしているウェーハ90のウェーハIDを参照して、研削装置1の図示しないモニター等に表示されるそのウェーハ90の加工条件を認識しつつ、ウェーハ90の研削加工が上手くいっているか否か等をチェックすることが可能となる。
図1に示すように、仮置き領域152の近傍には、吸引パッド等で構成されウェーハ90をチャックテーブル30に搬入する搬入アーム41が配置されている。そして、搬入アーム41の隣には、チャックテーブル30からウェーハ90を搬出する搬出アーム42が配設されている。そして、本実施形態においては、ロボット40、搬入アーム41、及び搬出アーム42によって、第1のカセット157(第2のカセット158)とチャックテーブル30の保持面300との間でウェーハ90を搬送する搬送機構4が構成される。
図1に示すように搬出アーム42と近接する位置には、搬出アーム42により搬送された加工後のウェーハ90を洗浄する枚葉式のスピンナー洗浄機構156が配置されている。スピンナー洗浄機構156は、スピンナーテーブルでウェーハ90を保持し、保持されたウェーハ90の上方を旋回移動可能な旋回ノズルから、洗浄水をウェーハ90の上面(裏面903)に噴射して洗浄を行う。次いで、例えば、旋回ノズルからエアを噴出させてウェーハ90を乾燥する。スピンナー洗浄機構156により洗浄・乾燥されたウェーハ90は、ロボット40により第2のカセット158に搬入される。
図1に示す搬入アーム41によって搬送されてきた加工前のウェーハ90を吸引保持するチャックテーブル30は、例えば、外形が円形状であり、ポーラス部材からなる上面を保持面300としている。保持面300には、図示しない真空発生装置等の吸引源が連通している。
図1に示すように、チャックテーブル30は、カバーによって周囲を囲まれており、カバー及びカバーに連結されY軸方向に伸縮する蛇腹カバーの下に配設されたテーブル送り機構37によって、ベース10上をY軸方向に往復移動可能である。具体的には、テーブル送り機構37は、モータ372がボールネジ370を回動させると、これに伴い可動板373がガイドレール371にガイドされてY軸方向に直動し、可動板373上にテーブル回転機構35を介して配設されたチャックテーブル30をY軸方向に直動させることができる。
テーブル回転機構35は、軸方向が保持面300に直交するZ軸方向であるスピンドル350と、スピンドル350を回転駆動するモータ351と、モータ351の回転速度を検出するエンコーダ353とを備えている。
図1に示すように、ベース10上の後方側には、コラム100が立設されており、コラム100の前面には、研削機構61をチャックテーブル30の保持面300に垂直な方向であるZ軸方向に移動させる移動機構60が配設されている。移動機構60は、軸方向がZ軸方向であるボールネジ600と、ボールネジ600と平行に延在する一対のガイドレール601と、ボールネジ600に連結しボールネジ600を回動させるモータ602と、内部のナットがボールネジ600に螺合し側部が一対のガイドレール601に摺接する昇降板603と、モータ602の回転数(回転速度)を検出するエンコーダ604と、から構成され、モータ602がボールネジ600を回動させると、これに伴い昇降板603がガイドレール601にガイドされてZ軸方向に往復移動し、昇降板603に取り付けられた研削機構61もZ軸方向に往復移動する。
チャックテーブル30に吸引保持されたウェーハ90を研削する研削機構61(加工機構61)は、軸方向が保持面300に直交するZ軸方向であるスピンドル610と、スピンドル610を回転可能に支持するハウジング611と、スピンドル610を回転駆動するモータ612と、スピンドル610の下端に取り付けられたマウント613と、マウント613に着脱可能に接続された加工具である研削ホイール614と、モータ612の回転速度を検出するエンコーダ615と、を備える。
研削ホイール614は、円環状のホイール基台と、略直方体形状の外形を備えホイール基台の下面に複数環状にセグメント配列された研削砥石616とを備えている。なお、研削砥石616は、研削砥石チップ間に間隔を空けないコンテニュアス配列であってもよい。
例えば、スピンドル610の内部には、Z軸方向に延びる研削水流路が形成されており、図示しない研削水供給手段からスピンドル610に対して供給される研削水は、研削水流路の下端の開口から研削ホイール614に向かって斜め外側下方に噴出し、研削砥石616とウェーハ90との接触部位に到達し、接触部位の冷却及び洗浄を行う。
図1に示すように、ウェーハ90を研削する際の高さ位置まで下降した研削機構61の近傍となる位置には、例えば、研削中においてウェーハ90の厚さを接触式にて測定する厚さ測定ゲージ38が配設されている。
本発明に係る研削装置1は、装置全体の制御を行う制御部8を備えている。制御部8は、制御プログラムに従って演算処理するCPU及びメモリ等の記憶媒体等から構成されている。制御部8は、例えば有線又は無線の通信経路を介して、移動機構60のモータ602(例えば、サーボモータ602)に電気的に接続されている。即ち、サーボアンプとしての機能も有する制御部8の出力インターフェイスからサーボモータ602に対して動作信号が供給され、エンコーダ604が検知したサーボモータ602の回転数をエンコーダ信号として制御部8の入力インターフェイスに対して出力する。そして、サーボモータ602の回転数をエンコーダ信号として受け取った制御部8は、移動機構60による研削機構61のZ軸送り速度や研削機構61の移動距離をフィードバック制御し、また、研削機構61を所望の高さ位置に位置付ける制御を行う。
制御部8は、上記と略同様な技術によって、チャックテーブル30を回転させるテーブル回転機構35のフィードバック制御を行い、チャックテーブル30の回転速度を制御でき、また、研削機構61におけるスピンドル610の回転速度のフィードバック制御を行うことができる。
図1に示すように、研削装置1は、ウェーハ90を加工する複数の加工要素を設定する加工要素設定部80と、加工要素設定部80に設定した複数の加工要素から任意の加工要素(1つまたは複数)を選択する加工要素選択部81と、を備えている。そして、加工要素設定部80は、加工要素選択部81が選択した一つの加工要素に対して、下限値と上限値とによって範囲を設定する範囲設定部802と、範囲を等分割する分割数を設定する分割数設定部804と、を備えている。本実施形態においては、加工要素設定部80及び加工要素選択部81は、制御部8に組み込まれており所定のプログラムを実行する。
加工要素設定部80の記憶領域には、研削装置1に配設された図示しないタッチパネル等から作業者が予め複数の加工要素(ウェーハ90を加工する際の加工条件)が入力設定されて、記憶されている。本実施形態における加工要素は、例えば、以下に説明する6つである。ウェーハ90の研削を実施するにあたって、加工要素選択部81は、該6つの加工要素の中から、加工要素設定部80に設定され変更可能な1つ、又は2つ以上の加工要素を選択する。
例えば、研削装置1は、加工要素選択部81で選択した加工要素が、移動機構60によって研削機構61をチャックテーブル30の保持面300に接近させる速度(図2に示すZ軸送り速度)である場合に、加工要素であるZ軸送り速度の第1の範囲(下限値及び上限値)を範囲設定部802に設定し、第1の分割数を分割数設定部804に設定し、第1の範囲を第1の分割数で分割した下限値と上限値とを含む区切りごとの値で研削機構61をチャックテーブル30の保持面300に接近させる速度についての加工要素設定部80の第1の設定を変更する。第1の設定を変更すると、サーボアンプとしての機能も有する制御部8の出力インターフェイスから移動機構60のサーボモータ602に対し供給される動作信号が増加、又は減少される。
なお、範囲設定部802に対する第1の範囲の設定は、範囲設定部802自らが設定してもよいし、研削装置1に配設された図示しないタッチパネル等の入力手段から、作業者が入力設定してもよい。また、分割数設定部804に対する第1の分割数の設定は、分割数設定部804自らが設定してもよいし、研削装置1に配設された図示しないタッチパネル等の入力手段から、作業者が入力設定してもよい。
例えば、研削装置1は、加工要素選択部81が選択した加工要素が、移動機構60によって研削機構61を下降させてチャックテーブル30の保持面300に接近させ、保持面300に保持されたウェーハ90を加工した後、移動機構60によって保持面300に保持されたウェーハ90から研削ホイール614を上昇させて遠ざける速度(所謂、図2に示すエスケープカット移動速度とする)である場合に、加工要素であるエスケープカット移動速度の第2の範囲(下限値及び上限値)を範囲設定部802に設定し、第2の分割数を分割数設定部804に設定し、第2の範囲を第2の分割数で分割した下限値と上限値とを含む区切りごとの値でエスケープカット移動速度についての加工要素設定部80の第2の設定を変更する。第2の設定を変更すると、エスケープカット実施時において、サーボアンプとしての機能も有する制御部8から移動機構60のサーボモータ602に対し供給される動作信号が増加、又は減少される。
なお、エスケープカットとは、後述するスパークアウト後に、研削ホイール614がゆっくりと上方にウェーハ90から退避するプロセスである。
例えば、研削装置1は、加工要素選択部81が選択した加工要素が、移動機構60によって研削機構61を下降させてチャックテーブル30の保持面300に接近させ、保持面300に保持されたウェーハ90を加工した後、移動機構60によって保持面300に保持されたウェーハ90から研削ホイール614を上昇させて遠ざける距離(所謂、図2に示すエスケープカット移動距離とする)である場合に、加工要素であるエスケープカット移動距離の第3の範囲(下限値及び上限値)を範囲設定部802に設定し、第3の分割数を分割数設定部804に設定し、第3の範囲を第3の分割数で分割した下限値と上限値とを含む区切りごとの値でエスケープカット移動距離についての加工要素設定部80の第3の設定を変更する。第3の設定を変更すると、エスケープカット開始後における制御部8から移動機構60のサーボモータ602に対し供給される動作信号の増加のタイミングが変更される。
例えば、研削装置1は、加工要素選択部81が選択した加工要素が、移動機構60によって研削機構61をチャックテーブル30の保持面300に接近させ、保持面300に保持されたウェーハ90を所定量加工したら(本実施形態においては、ウェーハ90が薄化されて指定の厚さである仕上げ厚さに達したら)研削機構61の下降接近を停止させ、接近を停止させた後の研削ホイール614でウェーハ90を加工する時間(所謂、図2に示すスパークアウト実施時間)である場合には、加工要素であるスパークアウト実施時間の第4の範囲(下限値及び上限値)を範囲設定部802に設定し、第4の分割数を分割数設定部804に設定し、第4の範囲を第4の分割数で分割した下限値と上限値とを含む区切りごとの値で研削ホイール614によってウェーハ90を加工するスパークアウト実施時間についての加工要素設定部80の第4の設定を変更する。第4の設定を変更すると、スパークアウト開始後における研削機構61の上昇のタイミングが変更される。
なお、スパークアウトとは、ウェーハ90が指定の厚さまで薄化された後に、研削ホイール614のZ軸方向高さを固定して、Z軸方向における新たな切り込みを行わず、弾性撓みを利用してウェーハ90の被研削面である裏面903の削り残しを除去して整えるプロセスである。
例えば、研削装置1は、加工要素選択部81が選択した加工要素が、テーブル回転機構35がチャックテーブル30を回転させる回転速度である場合には、加工要素であるチャックテーブル30の回転速度の第5の範囲(下限値及び上限値)を範囲設定部802に設定し、第5の分割数を分割数設定部804に設定し、第5の範囲を第5の分割数で分割した下限値と上限値とを含む区切りごとの値でチャックテーブル30の回転速度についての加工要素設定部80の第5の設定を変更する。即ち、制御部8からテーブル回転機構35のモータ351に供給される動作信号の量が増加又は減少する。
例えば、研削装置1は、加工要素選択部81が選択した加工要素が、研削機構61におけるスピンドル610の回転速度である場合には、加工要素であるスピンドル610の回転速度の第6の範囲(下限値及び上限値)を範囲設定部802に設定し、第6の分割数を分割数設定部804に設定し、第6の範囲を第6の分割数で分割した下限値と上限値とを含む区切りごとの値でスピンドル610の回転速度についての加工要素設定部80の第6の設定を変更する。即ち、制御部8から研削機構61のモータ602に供給される動作信号の量が増加又は減少する。
研削装置1は、例えば第1のカセット157に収納されているウェーハ90の枚数を設定する枚数設定部83、または、第1のカセット157に収納されているウェーハ90の枚数を認識する先に説明した枚数認識部49を備えている。本実施形態における枚数設定部83は、制御部8に組み込まれている。メモリ等の記録媒体で構成される枚数設定部83に対して、例えば、研削装置1に配設された図示しないタッチパネルから作業者が第1のカセット157に収納されているウェーハ90の枚数を入力できるようになっている。
以下に、図1に示す研削装置1において、チャックテーブル30に保持されたウェーハ90を研削する場合の研削装置1の動作について説明する。
例えば、図1に示す第1のカセット157内には、その棚全てにウェーハ90がそれぞれ1枚ずつ収納されており、計25枚のウェーハ90が第1のカセット157に収納されている。即ち、枚数設定部83に設定されているウェーハ90の枚数は、25枚である。
本実施形態においては、加工要素設定部80に設定されている6つの加工要素の中から、例えば、加工要素の1つであるZ軸送り速度(第1の設定)を加工要素選択部81が選択する。なお、加工要素選択部81が選択する加工要素は、図2に示すエスケープカット移動速度であってもよいし、Z軸送り速度、エスケープカット移動速度、及びエスケープカット移動距離の3つを選択してもよいし、6つの加工要素の全てを選択してもよい。
範囲設定部802は、加工要素選択部81が選択した一つの加工要素であるZ軸送り速度に対して、下限値と上限値とによって範囲(第1の範囲)を設定する。第1の範囲は、例えば、図2に示すように、0.3μm/sec~0.5μm/secであるが、この数値範囲に限定されるものではない。
さらに、図1に示す分割数設定部804が、第1の範囲である0.3μm/sec~0.5μm/secを等分割する分割数(第1の分割数)を例えば2と設定する。なお、分割数は、2に限定されるものではない。そして、加工要素設定部80によって、第1の範囲である0.3μm/sec~0.5μm/secを、第1の分割数2で等分割した区切りごとの値が設定される。即ち、0.3μm/secと0.4μm/secとの間で1分割され、0.4μm/secと0.5μm/secとの間でもう1分割され、該区切りごとの値は、となる。
また、加工要素設定部80は、枚数設定部83に設定した枚数を分割数=2に1を足した3で割った数が、25枚÷3=8.3(即ち、1以上)となるので、割った数である8.3の小数点以下を切り捨てた整数枚ごと、即ち、後に説明するウェーハ90の8枚ごとに、加工要素選択部81が選択した加工要素、即ち、本実施形態においてはZ軸送り速度の設定を、0.3μm/sec、0.4μm/sec、0.5μm/secで変更する。
まず、ロボット40が第1のカセット157から一枚目のウェーハ90を引き出し、該ウェーハ90を仮置き領域152に移動させる。次いで、位置合わせユニット153によりウェーハ90が仮置き領域152上でセンタリングされる。また、ウェーハ90のウェーハIDがウェーハID読み取り部159によって読み取られ、読み取られたデータが制御部8に送られて、1枚目のウェーハ90の研削加工における加工要素との紐づけのために記憶される。
搬入アーム41がウェーハ90の裏面903を吸引保持しチャックテーブル30上に搬送して、チャックテーブル30の保持面300とウェーハ90の中心とが略合致するように位置合わせを行う。チャックテーブル30に一枚目のウェーハ90が載置された後、図示しない吸引源が作動することで生み出された吸引力が保持面300に伝達され、チャックテーブル30は保持面300上でウェーハ90を吸引保持する。その後、ウェーハ90を保持したチャックテーブル30が、研削機構61の下まで+Y方向へ移動する。そして、研削砥石616の回転軌跡がウェーハ90の回転中心を通るように位置づけされる。
次いで、ウェーハ90の研削加工を開始するために、モータ612がスピンドル610を所定の回転速度で回転駆動し、これに伴って研削ホイール614も回転する。なお、本実施形態においては、加工要素選択部81は、第1のカセット157内の25枚のウェーハ90を順次研削加工する際に、加工要素設定部80に設定されウェーハ90の8枚単位で変更する加工要素として、スピンドル610の回転数(第6の設定)は選択していないため、第1のカセット157に最初に収納されていた25枚のウェーハ90ごとの研削において、研削時におけるスピンドル610の回転速度は変更されない。
次いで、移動機構60によって、研削ホイール614が保持面300に接近する-Z方向に所定のZ軸送り速度で研削機構61が下降していく。具体的には、図3の破線のグラフG1に示すように、例えば原点高さ位置Z0に位置している研削機構61が高速で下降していく。また、原点高さ位置Z0から下降し始めた研削機構61の高さ位置は、図1に示す制御部8によって常に把握されている。
そして、グラフG1に示すように、研削機構61がエアカット開始位置Z1に到達する。なお、グラフG1において、横軸は研削時間Tを示し、縦軸は研削機構61の高さ位置Hを示している。
研削機構61がエアカット開始位置Z1に到達すると、移動機構60が、エアカット開始位置Z1から研削砥石616の研削面(下面)がウェーハ90の裏面903に接触するまでのエアカット(図3のグラフG1に示す時間T1から時間T2までのエアカット)におけるエアカット送り速度を、エアカット開始位置Z1に到達する前の下降速度よりも低速で、研削加工時のZ軸送り速度(例えば、0.3μm/sec)と同速度とする制御が制御部8の下で行われる。エアカットを行うことで、ウェーハ90に対して研削ホイール614がウェーハ90を破損させる下降速度で突っ込むことが無いようになる。
その後、研削機構61が高さ位置Z2まで下降すると、回転される図1に示す研削ホイール614の研削面がウェーハ90の裏面903に接触して、裏面903の研削が開始される。また、チャックテーブル30が所定の回転速度で回転するのに伴い保持面300上に保持されたウェーハ90も回転するので、研削ホイール614がウェーハ90の裏面903全面の研削加工を行う。研削加工中には、研削水が研削砥石616とウェーハ90の裏面903との接触部位に供給されて、接触部位が冷却・洗浄される。
なお、本実施形態においては、加工要素選択部81は、研削機構61を下降させる速度という加工要素のみを選択しているので、第1のカセット157内の25枚のウェーハ90を研削加工する際に、ウェーハ90の8枚単位で加工要素設定部80の第1の設定を変更する。加工要素として、テーブル回転機構35によるチャックテーブル30の回転速度(第5の設定)は選択していないため、第1のカセット157に最初に収納されていた25枚のウェーハ90ごとの研削において、加工要素設定部80によって研削時におけるチャックテーブル30の回転速度は変更されない。また、加工要素として、スピンドル610の回転速度を選択していないため、スピンドル610の回転速度は変更されない。
厚さ測定ゲージ38によってウェーハ90の厚さが逐次測定されつつ、制御部8に予め設定された仕上げ厚さまでウェーハ90が研削(グラフG1に示す時間T2から時間T3までの間の研削)され、研削機構61がグラフG1に示す高さ位置Z3まで降下した状態になる。その後、所謂スパークアウトと呼ばれる加工が実施される。
グラフG1に示す時間T3から時間T4までのスパークアウトでは、移動機構60による研削機構61の保持面300上のウェーハ90に対する接近(下降)が停止され、研削機構61の高さ位置が、所定時間例えば高さ位置Z3で保持された状態で、回転する研削ホイール614により、回転するウェーハ90の裏面903の削り残しが除去されて、裏面903が整えられる。
なお、本実施形態においては、加工要素選択部81は、第1のカセット157内の25枚のウェーハ90を研削加工する際に、加工要素設定部80に設定されウェーハ90の8枚ごとに変更する加工要素として、先に説明したスパークアウト実施時間(第4の設定)は選択していないため、第1のカセット157に最初に収納されていた25枚のウェーハ90ごとの研削において、スパークアウト実施時間は変更されない。
スパークアウト実施後に、移動機構60により研削機構61がエスケープカット(グラフG1に示す時間T4から時間T5までのエスケープカット)される。エスケープカットにおいては、研削機構61がウェーハ90の裏面903への悪影響を抑えるために所定の上昇速度(図2に示すエスケープカット移動速度)でゆっくりと上昇する。そして、研削機構61が所定の高さ位置Z4までエスケープカットした後、原点高さ位置Z0まで高速で上昇する。なお、高さ位置Z3から高さ位置Z4までの距離が、エスケープカット移動距離となる。ここで、本実施形態においては、加工要素選択部81は、第1のカセット157内の25枚のウェーハ90を研削加工する際に、加工要素設定部80に設定されウェーハ90の8枚単位で変更する加工要素として、エスケープカット移動速度及びエスケープカット移動距離は選択していないため、第1のカセット157に最初に収納されていた25枚のウェーハ90ごとの研削において、エスケープカット移動速度及びエスケープカット移動距離は変更されない。
次いで、研削加工が終了したウェーハ90を吸引保持するチャックテーブル30を-Y方向に移動させて搬出アーム42の近傍に位置づける。そして、搬出アーム42によって吸引保持されたウェーハ90が、スピンナー洗浄機構156に搬送され、ウェーハ90の裏面903がスピンナー洗浄された後、ウェーハ90はエア乾燥又はスピン乾燥される。その後、ウェーハ90は、ロボット40により第2のカセット158に搬入される。
上記のように、第1のカセット157内の1枚目から8枚目のウェーハ90が連続して、加工要素であるZ軸送り速度が0.3μm/secに設定されて研削される。次いで、第1のカセット157内の9枚目のウェーハ90に対する研削が開始されると、加工要素設定部80によって、Z軸送り速度が0.3μm/secから0.4μm/secに変更される。そして、9枚目のウェーハ90から16枚目のウェーハ90までが、加工要素であるZ軸送り速度=0.4μm/secで研削される。
Z軸送り速度を0.3μm/secから0.4μm/secに変更したため、9枚目のウェーハ90から16枚目のウェーハ90についての研削を表す図3の一点鎖線のグラフG2に示すように、エアカット開始からウェーハ90を仕上げ厚さまで研削する時間T61が、1枚目のウェーハ90から8枚目のウェーハ90についての研削を表すグラフG1に示すエアカット開始からウェーハ90を仕上げ厚さまで研削する時間よりも短くなっている。
第1のカセット157内の9枚目から16枚目のウェーハ90が連続して、加工要素であるZ軸送り速度が0.4μm/secに設定されて研削される。そして、第1のカセット157内の17枚目のウェーハ90に対する研削が開始されると、加工要素設定部80によって、Z軸送り速度が0.4μm/secから0.5μm/secに変更される。そして、17枚目のウェーハ90から24枚目のウェーハ90までが、加工要素であるZ軸送り速度=0.5μm/secで研削される。
17枚目のウェーハ90から24枚目のウェーハ90についての研削を表す実線のグラフG3に示すように、エアカット開始からウェーハ90を仕上げ厚さまで研削する時間T62が、9枚目のウェーハ90から16枚目のウェーハ90についての研削を表すグラフG2に示すエアカット開始からウェーハ90を仕上げ厚さまで研削する時間よりも短くなっている。
例えば、第1のカセット157内に収納されていた複数枚のウェーハ90に対して上記のような研削加工が1枚ずつ連続的に、かつ、ウェーハ90が8枚研削されるごとに加工要素設定部80により加工要素であるZ軸送り速度が3段階で変更されて実施される。そして、第1のカセット157内に収納されているウェーハ90の枚数が減っていき、ウェーハ90を第1のカセット157から搬出するロボット40と共に動作可能な枚数認識部49が認識した第1のカセット157内のウェーハ90の枚数が、例えば残り2枚になった場合を考える。
本実施形態における研削装置1は、例えば、第1のカセット157に収納されているウェーハ90が2枚で、枚数認識部49が認識したウェーハ90の枚数(2)を所定の分割数(2)に1を足した数(3)で割った数が1未満のときは、ウェーハ90の要求を例えば作業者に通知する通知部19を備える。例えば、枚数認識部49が認識した第1のカセット157内のウェーハ90の枚数が2枚となっており、本実施形態のように分割数設定部804が設定した分割数が2である場合には、加工要素設定部80によって算出される割った数は2/3となり、1未満となる。つまり、第1のカセット157には、加工前のウェーハ90が少なくとも3枚必要となる。
なお、第1のカセット157に、例えば25枚のウェーハ90が収納されていたとしても、ウェーハ90を1枚研削加工するごとに加工要素の設定を変更するという設定も可能である。なお、ウェーハ90を2枚研削加工するごとに加工要素の設定を変更するという設定でもよい。つまり、加工要素の設定を変更するウェーハ90の研削枚数を設定するようになっていてもよい。
通知部19は、例えば、図示しないモニターに第1のカセットステージ150に加工前のウェーハ90が複数枚収納された新たな第1のカセット157を載置するように表示したり、図示しないスピーカから第1のカセットステージ150に加工前のウェーハ90が複数枚収納された新たな第1のカセット157を載置するように発報したりする。
なお、ウェーハ90が第1のカセット157に収納された状態で、例えば複数台並べて配設された研削装置1の上方に配設されているOHT(Overhead Hoist Transport:天井吊下式搬送機構)、AGV(Automated Guided Vehicle:自動搬送装置)、又は各研削装置1間に配設されたRGV(Rail Guided Vehicle:有軌道式無人搬送車)を用いて、複数の研削装置1にそれぞれ運搬されている場合には、通知部19は該OHT等に加工前のウェーハ90が複数枚収納された第1のカセット157の搬送を要求する旨の情報を送ってもよい。
上記のように、本発明に係る加工装置1(研削装置1)は、第1のカセット157に複数枚(例えば、25枚)のウェーハ90を収納し、範囲設定部802によって加工要素選択部81によって選択された任意の加工要素(上記実施形態においては、Z軸送り速度)の範囲(第1の範囲)を設定したら、設定した範囲の加工要素であるZ軸送り速度を分割数設定部804によって所定の分割数(例えば、2)で等分割して、加工要素設定部80に設定された加工要素であるZ軸送り速度を、ウェーハ8枚ごとに切り換えて加工するので、無人でも3段階のZ軸送り速度でウェーハ90を例えば8枚ごとに加工することが可能となり、例えばZ軸送り速度の条件出し(適切なZ軸送り速度の発見)をする際に、作業者がZ軸送り速度を変更する必要が無く、作業者の負担を軽減できる。
本発明に係る加工装置1(研削装置1)は上記実施形態に限定されず、その技術的思想の範囲内において種々異なる形態にて実施されてよいことは言うまでもない。また、研削装置1を用いたウェーハ90の研削を行う工程についても、本発明の効果を発揮できる範囲内で適宜変更可能である。
例えば、加工要素設定部80に設定されている図2に示す6つの加工要素の中から、先に説明したZ軸送り速度(第1の設定)に加えて、加工要素であるスパークアウト実施時間(第4の設定)、エスケープカット移動速度(第2の設定)、エスケープカット移動距離(第3の設定)を加工要素選択部81が選択する場合について説明する。
範囲設定部802は、加工要素選択部81が選択した加工要素であるZ軸送り速度に対して、第1の範囲として、先に説明したように図2に示すように、0.3μm/sec~0.5μm/secを設定し、分割数設定部804が第1の範囲を分割数2で等分割した区切りごとの値を下限値0.3μm/sec、0.4μm/sec、上限値0.5μm/secと定める。同様に、範囲設定部802は、選択した加工要素であるスパークアウト実施時間に対して、第4の範囲として、図2に示すように、0.5sec~3secを設定し、分割数設定部804が第4の範囲を分割数2で等分割した区切りごとの値を下限値0.5sec、1.75sec、上限値3secと定める。なお、範囲設定部802が行うスパークアウトの実施時間の範囲設定は、図1に示すチャックテーブル30の回転回数で設定してもよい。即ち、例えば、第4の範囲として、1回転~5回転を設定して、分割数設定部804が第4の範囲を分割数2で等分割した区切りごとの値を、1回転、3回転、5回転と定めてもよい。この場合、例えば、1枚目のウェーハ90から8枚目のウェーハ90までの研削において、スパークアウト実施時間は、チャックテーブル30が1回転する時間となる。
同様に、範囲設定部802は、選択した加工要素であるエスケープカット移動速度に対して、第2の範囲として、図2に示すように、0.05μm/sec~1.0μm/secを設定し、分割数設定部804が第2の範囲を分割数2で等分割した区切りごとの値を0.05μm/sec、0.525μm/sec、1.0μm/secと定める。また、範囲設定部802は、選択した加工要素であるエスケープカット移動距離に対して、第3の範囲として、図2に示すように、1.0μm~3.0μmを設定し、分割数設定部804が第3の範囲を分割数2で等分割した区切りごとの値を1.0μm、2.0μm、3.0μmと定める。
このように、加工要素設定部80に設定された加工要素の中から選択した4つの加工要素であるZ軸送り速度、スパークアウト実施時間、エスケープカット移動速度、及びエスケープカット移動距離を組み合わせて、ウェーハ90の8枚研削終了ごとに4つの加工要素をそれぞれの区切りごとの値に切り換えて研削加工を行ってもよい。例えば、Z軸送り速度、スパークアウト実施時間、エスケープカット移動速度、及びエスケープカット移動距離を、それぞれ、1枚目のウェーハ90から8枚目のウェーハ90までの研削において例えば0.3μm/sec、0.5sec、0.05μm/sec、1.0μmにし、9枚目のウェーハ90から16枚目のウェーハ90までの研削において例えば0.4μm/sec、1.75sec、0.525μm/sec、2.0μmにし、17枚目のウェーハ90から24枚目のウェーハ90までの研削において例えば0.5μm/sec、3sec、1.0μm/sec、3.0μm等のように変更して研削が行われる。
つまり、上記の実施例は、4つの加工要素と、各加工要素に各々3つの異なる設定(区切りごとの値)をしているので、組み合わせによって81種類のウェーハ90の研削実験が可能になる。
1:研削装置(加工装置) 10:ベース 100:コラム
150:第1のカセットステージ 151:第2のカセットステージ
152:仮置き領域 153:位置合わせユニット 156:スピンナー洗浄機構
157:第1のカセット 158:第2のカセット
19:通知部
30:チャックテーブル 300:保持面
35:テーブル回転機構 350:スピンドル 351:モータ 353:エンコーダ
37:テーブル送り機構 38:厚さ測定ゲージ
4:搬送機構 40:ロボット 400:ロボットハンド 401:多関節アーム
41:搬入アーム 42:搬出アーム
49:枚数認識部 490:発光部 491:受光部
60:移動機構 600:ボールネジ 602:モータ 604:エンコーダ
61:研削機構 610:スピンドル 612:モータ 614:研削ホイール
8:制御部
80:加工要素設定部 802:範囲設定部 804:分割数設定部
81:加工要素選択部 83:枚数設定部
90:ウェーハ 900:ウェーハの表面 903:ウェーハの裏面

Claims (10)

  1. ウェーハを保持面で保持するチャックテーブルと、スピンドルの先端に加工具を装着し該スピンドルを回転させ該保持面で保持したウェーハを加工する加工機構と、該加工機構を該保持面に垂直な方向に移動させる移動機構と、ウェーハ加工における複数の加工条件が記憶される加工要素設定部と、複数のウェーハを収納したカセットを載置するカセットステージと、該カセットと該保持面との間でウェーハを搬送する搬送機構と、装置全体の制御を行う制御部と、を備える加工装置であって、
    該加工要素設定部に記憶された複数の加工条件から、作業者による入力によって選択された任意の加工条件を選択する加工要素選択部を備え、
    該加工要素設定部は、該加工要素選択部が選択した一つの加工条件に対して、作業者によって入力された、下限値と上限値とによって範囲を設定する範囲設定部と、作業者によって入力された、該範囲を分割する分割数を設定する分割数設定部と、を備え、
    該制御部は、該範囲を該分割数で分割した該下限値と該上限値とを含む区切りごとの値に変更して、該選択した一つの加工条件の設定を変更してウェーハごとに加工する加工装置。
  2. 作業者によって入力された、前記カセットに収納されているウェーハの枚数を設定する枚数設定部、または、該カセットに収納されているウェーハの枚数を認識する枚数認識部を備え、
    前記加工要素設定部は、該枚数設定部に設定した枚数、または、該枚数認識部が認識した枚数を前記分割数に1を足した数で割った数が1以上のときは、該割った数の小数点以下を切り捨てた整数枚ごとに前記選択した加工条件の設定を変更してウェーハを加工する請求項1記載の加工装置。
  3. 前記加工要素設定部によって算出された前記割った数が1未満のときは、ウェーハの要求を通知する通知部を備える請求項2記載の加工装置。
  4. 前記移動機構によって前記加工機構を前記保持面に接近させる速度の第1の範囲を前記範囲設定部に設定し、第1の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第1の範囲を該第1の分割数で分割した区切りごとの値で該加工機構を該保持面に接近させる速度についての第1の設定を変更する請求項1、請求項2、又は請求項3記載の加工装置。
  5. 前記移動機構によって前記加工機構を前記保持面に接近させ、該保持面に保持されたウェーハを加工した後、該移動機構によって該保持面に保持されたウェーハから前記加工具を遠ざける速度の第2の範囲を前記範囲設定部に設定し、第2の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第2の範囲を該第2の分割数で分割した区切りごとの値で該保持面に保持されたウェーハから該加工具を遠ざける速度についての第2の設定を変更する請求項1、請求項2、請求項3、又は請求項4記載の加工装置。
  6. 前記移動機構によって前記加工機構を前記保持面に接近させ、該保持面に保持されたウェーハを加工した後、該移動機構によって該保持面に保持されたウェーハから前記加工具を遠ざける距離の第3の範囲を前記範囲設定部に設定し、第3の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第3の範囲を該第3の分割数で分割した区切りごとの値で該保持面に保持されたウェーハから前記加工具を遠ざける距離についての第3の設定を変更する請求項1、請求項2、請求項3、請求項4、又は請求項5記載の加工装置。
  7. 前記移動機構によって前記加工機構を前記保持面に接近させ、該保持面に保持されたウェーハを所定量加工したら該加工機構の該接近を停止させ、該接近を停止させた後の前記加工具でウェーハを加工する時間の第4の範囲を前記範囲設定部に設定し、第4の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第4の範囲を該第4の分割数で分割した区切りごとの値で該接近を停止させた後の該加工具でウェーハを加工する時間についての第4の設定を変更する、請求項1、請求項2、請求項3、請求項4、請求項5、又は請求項6記載の加工装置。
  8. 前記チャックテーブルを回転させるテーブル回転機構を備え、該チャックテーブルの回転速度の第5の範囲を前記範囲設定部に設定し、第5の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第5の範囲を該第5の分割数で分割した区切りごとの値で該チャックテーブルの回転速度についての第5の設定を変更する請求項1、請求項2、請求項3、請求項4、請求項5、請求項6、又は請求項7記載の加工装置。
  9. 前記スピンドルの回転速度の第6の範囲を前記範囲設定部に設定し、第6の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第6の範囲を該第6の分割数で分割した区切りごとの値で該スピンドルの回転速度についての第6の設定を変更する請求項1、請求項2、請求項3、請求項4、請求項5、請求項6、請求項7、又は請求項8記載の加工装置。
  10. 前記移動機構によって前記加工機構を前記保持面に接近させる速度の第1の範囲を前記範囲設定部に設定し、第1の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第1の範囲を該第1の分割数で分割した区切りごとの値で該加工機構を該保持面に接近させる速度についての第1の設定を変更し、
    前記移動機構によって前記加工機構を前記保持面に接近させ、該保持面に保持されたウェーハを加工した後、該移動機構によって該保持面に保持されたウェーハから前記加工具を遠ざける速度の第2の範囲を前記範囲設定部に設定し、第2の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第2の範囲を該第2の分割数で分割した区切りごとの値で該保持面に保持されたウェーハから該加工具を遠ざける速度についての第2の設定を変更し、
    前記移動機構によって前記加工機構を前記保持面に接近させ、該保持面に保持されたウェーハを加工した後、該移動機構によって該保持面に保持されたウェーハから前記加工具を遠ざける距離の第3の範囲を前記範囲設定部に設定し、第3の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第3の範囲を該第3の分割数で分割した区切りごとの値で該保持面に保持されたウェーハから前記加工具を遠ざける距離についての第3の設定を変更し、
    前記移動機構によって前記加工機構を前記保持面に接近させ、該保持面に保持されたウェーハを所定量加工したら該加工機構の該接近を停止させ、該接近を停止させた後の前記加工具でウェーハを加工する時間の第4の範囲を前記範囲設定部に設定し、第4の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第4の範囲を該第4の分割数で分割した区切りごとの値で該接近を停止させた後の該加工具でウェーハを加工する時間についての第4の設定を変更し、
    前記チャックテーブルを回転させるテーブル回転機構を備え、該チャックテーブルの回転速度の第5の範囲を前記範囲設定部に設定し、第5の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第5の範囲を該第5の分割数で分割した区切りごとの値で該チャックテーブルの回転速度についての第5の設定を変更し、
    前記スピンドルの回転速度の第6の範囲を前記範囲設定部に設定し、第6の分割数を前記分割数設定部に設定し、該第6の範囲を該第6の分割数で分割した区切りごとの値で該スピンドルの回転速度についての第6の設定を変更する
    請求項1、請求項2、または請求項3記載の加工装置。
JP2021147647A 2021-09-10 2021-09-10 加工装置 Active JP7726706B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021147647A JP7726706B2 (ja) 2021-09-10 2021-09-10 加工装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021147647A JP7726706B2 (ja) 2021-09-10 2021-09-10 加工装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2023040571A JP2023040571A (ja) 2023-03-23
JP7726706B2 true JP7726706B2 (ja) 2025-08-20

Family

ID=85632554

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021147647A Active JP7726706B2 (ja) 2021-09-10 2021-09-10 加工装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7726706B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN120901846B (zh) * 2025-09-30 2025-12-30 江苏华青流体科技有限公司 一种用于机械密封零部件切割的智能控制方法及系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003078104A1 (fr) 2002-03-20 2003-09-25 Nikon Corporation Procede decisionnel pour un etat de traitement, systeme decisionnel pour un etat de traitement, systeme de traitement, programme de calcul correspondant, support d'enregistrement de programme et procede de fabrication de semi-conducteurs
WO2013133101A1 (ja) 2012-03-07 2013-09-12 株式会社日立国際電気 基板処理装置、半導体装置の製造方法及び基板処理方法
JP2021091035A (ja) 2019-12-10 2021-06-17 株式会社ディスコ 研削装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003078104A1 (fr) 2002-03-20 2003-09-25 Nikon Corporation Procede decisionnel pour un etat de traitement, systeme decisionnel pour un etat de traitement, systeme de traitement, programme de calcul correspondant, support d'enregistrement de programme et procede de fabrication de semi-conducteurs
WO2013133101A1 (ja) 2012-03-07 2013-09-12 株式会社日立国際電気 基板処理装置、半導体装置の製造方法及び基板処理方法
JP2021091035A (ja) 2019-12-10 2021-06-17 株式会社ディスコ 研削装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2023040571A (ja) 2023-03-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7127994B2 (ja) ドレッシングボード及びドレッシング方法
KR20200101836A (ko) 연삭 장치
CN113043156B (zh) 磨削装置
JP7451043B2 (ja) 被加工物の研削方法及び研削装置
US11534886B2 (en) Polishing device, polishing head, polishing method, and method of manufacturing semiconductor device
JP7726706B2 (ja) 加工装置
JP2022040720A (ja) 加工装置
JP2009160705A (ja) ウェーハの研削方法および研削加工装置
JP4966069B2 (ja) 加工装置
JP6811951B2 (ja) 搬送機構
JP7303709B2 (ja) 加工装置
JP2007301690A (ja) 研磨装置
JP6301728B2 (ja) 搬送装置
JP7335097B2 (ja) ドレッシングボード及び研削砥石のドレッシング方法
JP2022187203A (ja) 研削装置、及び研削砥石のドレス方法
KR20230127150A (ko) 반송 장치
JP2012076198A (ja) 加工装置
KR20220040375A (ko) 연마 장치
JP5973284B2 (ja) 研削装置
JP5735260B2 (ja) サファイア基板の加工方法
JPH11309666A (ja) ウェーハの平面加工装置
JP7772562B2 (ja) 研削装置、及び加工装置
JP2022072047A (ja) ウェーハの研削方法
JP7840216B2 (ja) 切削装置及びドレス方法
KR102524072B1 (ko) 회로기판의 연삭 시스템 및 그 연삭 가공 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20240724

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20250307

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20250318

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20250519

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20250529

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20250715

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20250807

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7726706

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150