JP7765894B2 - 接着ペースト、接着ペーストの使用方法及び半導体装置の製造方法 - Google Patents
接着ペースト、接着ペーストの使用方法及び半導体装置の製造方法Info
- Publication number
- JP7765894B2 JP7765894B2 JP2021054377A JP2021054377A JP7765894B2 JP 7765894 B2 JP7765894 B2 JP 7765894B2 JP 2021054377 A JP2021054377 A JP 2021054377A JP 2021054377 A JP2021054377 A JP 2021054377A JP 7765894 B2 JP7765894 B2 JP 7765894B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- adhesive paste
- adhesive
- group
- mass
- solvent
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J183/00—Adhesives based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Adhesives based on derivatives of such polymers
- C09J183/04—Polysiloxanes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J11/00—Features of adhesives not provided for in group C09J9/00, e.g. additives
- C09J11/02—Non-macromolecular additives
- C09J11/04—Non-macromolecular additives inorganic
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J11/00—Features of adhesives not provided for in group C09J9/00, e.g. additives
- C09J11/08—Macromolecular additives
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W95/00—Packaging processes not covered by the other groups of this subclass
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J2203/00—Applications of adhesives in processes or use of adhesives in the form of films or foils
- C09J2203/326—Applications of adhesives in processes or use of adhesives in the form of films or foils for bonding electronic components such as wafers, chips or semiconductors
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J2301/00—Additional features of adhesives in the form of films or foils
- C09J2301/30—Additional features of adhesives in the form of films or foils characterized by the chemical, physicochemical or physical properties of the adhesive or the carrier
- C09J2301/312—Additional features of adhesives in the form of films or foils characterized by the chemical, physicochemical or physical properties of the adhesive or the carrier parameters being the characterizing feature
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Die Bonding (AREA)
- Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
- Silicon Polymers (AREA)
Description
また、接着ペーストは、半導体素子固定材用接着剤等の半導体素子固定材用ペーストとしても注目を浴びてきている。
このような吐出管を有する塗布装置においては、例えば、吐出管が垂直に下降して被塗布物に近づき、その先端部から所定量の接着ペーストを吐出した後、吐出管が上昇して被塗布物から離れるとともに、被塗布物が横に移動する。そして、この操作を繰り返すことで、連続的に半導体素子用接着ペーストが被塗布物に塗布される。その後、塗布された接着ペースト上に、半導体素子がマウント(搭載)され、被塗布物に接着される。
しかしながら、生産ライン等においては、何らかの理由により、半導体素子がマウントされることなく、塗布された接着ペーストがそのまま長時間放置される場合がある。
このような場合、塗布された接着ペーストが長時間放置されると、接着ペースト中の粘度が変化し、半導体素子が好ましい状態でマウントされないことがあった。
この問題を解決するべく、特許文献1には、特定のポリシルセスキオキサン化合物を、沸点が254℃以上300℃以下である高沸点の有機溶媒を含む溶媒に溶解して得られる接着剤が提案され、該接着剤は、基板上に塗布された後20分以上経過後においても、塗布直後と同様に、光素子を良好にマウントすることが可能であり、接着性にも優れることが記載されている。
しかしながら、特許文献1に記載の接着剤は、170℃で2時間という高温長時間の加熱処理が必要なものであり、低温(例えば、100℃で2時間)での加熱処理では、溶媒が多量に残存して、十分な接着強度を得られないという懸念があった。加えて、低温で加熱時に、接着剤における溶媒を除いた成分(有効成分)の濃度が上昇する速度が遅いため、接着剤を十分に熱硬化させにくく、十分な接着強度を有する硬化物が得られないという懸念があった。
また、溶媒として、沸点が非常に低いアセトン等を用いた場合には、接着剤を吐出後、接着剤が直ぐに乾いてしまい、半導体素子を良好にマウントすることができないという懸念がある。
なお、本発明において、低温とは、80℃~120℃をいう。
また、「接着性に優れる」とは、「接着強度が高い」を意味する。
〔3〕前記有機溶媒(SL)が、沸点が100℃以上200℃未満のものである、〔1〕又は〔2〕に記載の接着ペースト。
〔4〕前記有機溶媒(SL)の含有量が、接着ペーストの総質量に対して、10質量%以上50質量%以下である、〔1〕~〔3〕のいずれかに記載の接着ペースト。
〔5〕前記溶媒(S)が、沸点が254℃以上300℃以下の有機溶媒(SH)を含むものである、〔1〕~〔4〕のいずれかに記載の接着ペースト。
(B)成分:シランカップリング剤
〔7〕さらに、下記(C)成分を含有する、〔1〕~〔6〕のいずれかに記載の接着ペースト。
(C)成分:微粒子
〔8〕固形分濃度が、50質量%以上90質量%以下である、〔1〕~〔7〕のいずれかに記載の接着ペースト。
〔9〕貴金属触媒を実質的に含有しない、〔1〕~〔8〕のいずれかに記載の接着ペースト。
〔10〕半導体素子固定材用接着剤である、〔1〕~〔9〕のいずれかに記載の接着ペースト。
〔12〕〔1〕~〔10〕のいずれかに記載の接着ペーストを、半導体素子固定材用接着剤として使用する半導体装置の製造方法であって、下記工程(BI)及び工程(BII)を有する半導体装置の製造方法。
工程(BI):半導体素子と支持基板の一方又は両方の接着面に前記接着ペーストを塗布し、圧着する工程
工程(BII):工程(BI)で得られた圧着物の前記接着ペーストを加熱硬化させ、前記半導体素子を前記支持基板に固定する工程
また、本発明によれば、この接着ペーストを半導体素子固定材用接着剤として使用する方法、及びこの接着ペーストを半導体素子固定材用接着剤として使用する半導体装置の製造方法が提供される。
本発明の接着ペーストは、熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A)及び溶媒(S)を含有し、前記熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A)が、前記溶媒(S)に溶解してなる接着ペーストであって、前記溶媒(S)が、沸点が100℃以上254℃未満である有機溶媒(SL)を含むものであり、接着ペーストを100℃で2時間加熱した後の、加熱前後における前記接着ペーストの質量減少率100℃2hが、10%以上であり、かつ、接着ペーストを170℃で2時間加熱した後の、加熱前後における前記接着ペーストの質量減少率を質量減少率170℃2hとしたときに、質量減少率170℃2h-質量減少率100℃2hが、14%未満である。
本発明の接着ペーストは、前記状態の性質を有しているため、塗布工程における作業性に優れる。
ここで、塗布工程における作業性に優れるとは、塗布工程において、接着ペーストを吐出管から吐出し、次いで吐出管を引き上げる際、糸引き量が少ないか、又はすぐに途切れて、樹脂飛びしたり、塗布後に液滴が広がることにより、周囲を汚染したりすることがないことをいう。
質量減少率100℃2hが上記下限値以上であることにより、低温で加熱して得られる硬化物は接着性により優れるものとなる。
また、質量減少率100℃2hが上記上限値以上になると、低温で加熱して得られる硬化物の接着機能を発現する有効成分が少なくなるため、高い接着強度を発現しないおそれがあるが、上記上限値未満であることで、そのおそれを低減することができる。
なお、ここで、「有効成分」とは、接着ペースト中に含まれる溶媒(S)を除いた成分をいう。
質量減少率170℃2h-質量減少率100℃2hが上記上限値未満であることにより、低温で加熱した際に、高温で加熱する場合と同じように溶媒が効率よく揮発することで、低温で加熱して得られる硬化物は接着性により優れるものとなる。
質量減少率100℃2h及び質量減少率170℃2hは、実施例に記載の方法により測定することができる。
本発明の接着ペーストは、熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A)(以下、「(A)成分」ということがある。)を含有する。
本発明の接着ペーストは、(A)成分を含有することにより、低温で加熱することにより接着性に優れる硬化物が得られ易くなる。
また、(A)成分は、熱硬化性の化合物であるため、加熱により、縮合反応が可能な官能基、及び加水分解を経て縮合反応が可能な官能基からなる群から選ばれる少なくとも一種の官能基を有することが好ましい。
このような官能基としては、水酸基及びアルコキシ基からなる群から選ばれる少なくとも一種が好ましく、水酸基、炭素数1~10のアルコキシ基がより好ましい。
熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A)の主鎖構造に制限はなく、直鎖状、ラダー状、籠状のいずれであってもよい。
例えば、直鎖状の主鎖構造としては下記式(a-1)で表される構造が、ラダー状の主鎖構造としては下記式(a-2)で表される構造が、籠状の主鎖構造としては下記式(a-3)で表される構造が、それぞれ挙げられる。
メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン、n-プロピルトリメトキシシラン、n-ブチルトリエトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、フェニルジエトキシメトキシシラン等の3官能シラン化合物;
テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラn-プロポキシシラン、テトライソプロポキシシラン、テトラn-ブトキシシラン、テトラt-ブトキシシラン、テトラs-ブトキシシラン、メトキシトリエトキシシラン、ジメトキシジエトキシシラン、トリメトキシエトキシシラン等の4官能シラン化合物;等が挙げられる。
質量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)は、例えば、テトラヒドロフラン(THF)を溶媒とするゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー(GPC)による標準ポリスチレン換算値として求めることができる。
本発明の接着ペーストは、(A)成分として、ポリシルセスキオキサン化合物を含有することにより、低温で加熱して接着性に優れる硬化物が得られ易くなる。
本発明の接着ペーストは、(A)成分として、下記式(a-4)で示される繰り返し単位を有するポリシルセスキオキサン化合物を含有することにより、低温で加熱して接着性により優れる硬化物が得られ易くなる。
R1で表される「無置換の炭素数1~10のアルキル基」の炭素数は、1~6が好ましく、1~3がより好ましい。
「置換基を有する炭素数1~10のアルキル基」のアルキル基としては、「無置換の炭素数1~10のアルキル基」として示したものと同様のものが挙げられる。
「置換基を有する炭素数1~10のアルキル基」の置換基の原子の数(ただし水素原子の数を除く)は、通常1~30、好ましくは1~20である。
ここで、Gは水酸基の保護基を表す。水酸基の保護基としては、特に制約はなく、水酸基の保護基として知られている公知の保護基が挙げられる。例えば、アシル系;トリメチルシリル基、トリエチルシリル基、t-ブチルジメチルシリル基、t-ブチルジフェニルシリル基等のシリル系;メトキシメチル基、メトキシエトキシメチル基、1-エトキシエチル基、テトラヒドロピラン-2-イル基、テトラヒドロフラン-2-イル基等のアセタール系;t-ブトキシカルボニル基等のアルコキシカルボニル系;メチル基、エチル基、t-ブチル基、オクチル基、アリル基、トリフェニルメチル基、ベンジル基、p-メトキシベンジル基、フルオレニル基、トリチル基、ベンズヒドリル基等のエーテル系;等が挙げられる。
R1で表される「無置換の炭素数6~12のアリール基」の炭素数は6が好ましい。
「置換基を有する炭素数6~12のアリール基」のアリール基としては、「無置換の炭素数6~12のアリール基」として示したものと同様のものが挙げられる。
「置換基を有する炭素数6~12のアリール基」の置換基の原子の数(ただし水素原子の数を除く)は、通常1~30、好ましくは1~20である。
R1が、無置換の炭素数1~10のアルキル基であるポリシルセスキオキサン化合物を用いることにより、耐熱性及び接着性により優れる硬化物を与える接着ペーストが得られ易くなる。
R1が、フッ素原子を有する炭素数1~10のアルキル基であるポリシルセスキオキサン化合物を用いることにより、屈折率が低い接着ペーストや硬化物が得られ易くなり、屈折率が低いことが要望される光半導体素子に好適に用いられ易くなる。
フッ素原子を有する炭素数1~10のアルキル基としては、組成式:CmH(2m-n+1)Fnで表される基(mは1~10の整数、nは1以上、(2m+1)以下の整数である。)が挙げられる。これらの中でも、3,3,3-トリフルオロプロピル基が好ましい。
R1が無置換の炭素数6~12のアリール基であるポリシルセスキオキサン化合物を用いることにより、屈折率が高い接着ペーストや硬化物が得られ易くなり、屈折率が高いことが要望される光半導体素子に好適に用いられ易くなる。
前記式(a-4)で示される繰り返し単位(Tサイト)の含有割合が、上記割合であるポリシルセスキオキサン化合物を用いることで、耐熱性、接着性及び屈折率の性能を発現し易い接着ペーストを得ることができる。
ポリシルセスキオキサン化合物中の前記式(a-4)で示される繰り返し単位(Tサイト)の含有割合は、例えば、NMRピークの帰属及び面積の積分が可能である場合には、29Si-NMR及び1H-NMRを測定することにより求めることができる。
なお、ポリシルセスキオキサン化合物が測定用の溶媒に可溶である場合には、29Si-NMRを測定することにより、前記式(a-5)中の*における水素原子又は炭素数1~10のアルキル基の存在や、前記式(a-5)中の3つの*が全てSi原子である繰り返し単位であるかを確認することができる。
さらに、29Si-NMRのピークの帰属及び面積の積分が可能である場合には、ポリシルセスキオキサン化合物中の前記式(a-4)で示される繰り返し単位(Tサイト)の総数に対する、前記式(a-5)中の3つの*が全てSi原子である繰り返し単位の総数を概算することができる。
このポリシルセスキオキサン化合物中の前記式(a-4)で示される繰り返し単位(Tサイト)の総数に対する、前記式(a-5)中の3つの*が全てSi原子である繰り返し単位の総数は、耐熱性により優れる硬化物を与える接着ペーストが得られ易くなる観点から、30~95mol%であることが好ましく、40~90mol%であることがより好ましい。
また、ポリシルセスキオキサン化合物の構造は、ラダー型構造、ダブルデッカー型構造、籠型構造、部分開裂籠型構造、環状型構造、ランダム型構造のいずれの構造であってもよい。
で示されるシラン化合物(1)の少なくとも一種を重縮合させることにより、ポリシルセスキオキサン化合物を製造することができる。
R2の炭素数1~10のアルキル基としては、前記式(a-5)中の*の炭素数1~10のアルキル基として示したものと同様のものが挙げられる。
X1のハロゲン原子としては、塩素原子、及び臭素原子等が挙げられる。
メチルクロロジメトキシシラン、メチルクロロジエトキシシラン、メチルジクロロメトキシシラン、メチルブロモジメトキシシラン、エチルクロロジメトキシシラン、エチルクロロジエトキシシラン、エチルジクロロメトキシシラン、エチルブロモジメトキシシラン等のアルキルハロゲノアルコキシシラン化合物類;
メチルトリクロロシラン、メチルトリブロモシラン、エチルトリクロロシラン、エチルトリブロモシラン等のアルキルトリハロゲノシラン化合物類;
3,3,3-トリフルオロプロピルクロロジメトキシシラン、3,3,3-トリフルオロプロピルクロロジエトキシシラン、3,3,3-トリフルオロプロピルジクロロメトキシシラン、3,3,3-トリフルオロプロピルジクロロエトキシシラン、2-シアノエチルクロロジメトキシシラン、2-シアノエチルクロロジエトキシシラン、2-シアノエチルジクロロメトキシシラン、2-シアノエチルジクロロエトキシシラン等の置換アルキルハロゲノアルコキシシラン化合物類;
3,3,3-トリフルオロプロピルトリクロロシラン、2-シアノエチルトリクロロシラン等の置換アルキルトリハロゲノシラン化合物類;
フェニルクロロジメトキシシラン、フェニルジクロロメトキシシラン、4-メトキシフェニルクロロジメトキシシラン、4-メトキシフェニルジクロロメトキシシラン等の、置換基を有する、又は置換基を有さないフェニルハロゲノアルコキシシラン化合物類;
フェニルトリクロロシラン、4-メトキシフェニルトリクロロシラン等の、置換基を有する、又は置換基を有さないフェニルトリハロゲノシラン化合物類;等が挙げられる。
これらのシラン化合物(1)は、一種単独で、あるいは二種以上を組み合わせて用いることができる。
酸触媒としては、リン酸、塩酸、ホウ酸、硫酸、硝酸等の無機酸;クエン酸、酢酸、メタンスルホン酸、トリフルオロメタンスルホン酸、ベンゼンスルホン酸、p-トルエンスルホン酸等の有機酸;等が挙げられる。これらの中でも、リン酸、塩酸、ホウ酸、硫酸、クエン酸、酢酸、及びメタンスルホン酸から選ばれる少なくとも一種が好ましい。
したがって、本発明のポリシルセスキオキサン化合物を含有する接着ペーストは、貴金属触媒を実質的に含有しない、又は貴金属触媒の含有量が少ないものである。
ここで、「貴金属触媒を実質的に含有しない、又は貴金属触媒の含有量が少ない」とは、「貴金属触媒と解釈され得る成分が意図的に添加されていないことのほか、接着ペースト中の有効成分の量に対して、貴金属触媒の含有量が触媒金属元素の質量換算で、例えば、1質量ppm未満であること」を意味する。
接着ペーストは、調合ばらつき等を考慮した安定的な製造の観点、貯蔵安定性の観点、貴金属触媒が高価なものである観点等から、貴金属触媒を実質的に含有しない、又は貴金属触媒の含有量が少ないものであることが好ましい。
本発明の接着ペーストは、前記熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A)を、沸点が100℃以上254℃未満である有機溶媒(SL)を含む溶媒(S)に溶解してなる。
ここで、沸点は、1013hPaにおける沸点をいう(本明細書において同じ。)
有機溶媒(SL)としては、沸点が100℃以上254℃未満であり、かつ、本発明の接着ペーストの成分を溶解又は分散し得るものであれば特に限定されない。
有機溶媒(SL)の沸点は、100℃以上254℃未満であり、100℃以上200℃未満であることが好ましく、105℃以上185℃未満であることがより好ましく、110℃以上170℃未満であることが特に好ましい。
したがって、有機溶媒(SL)を含有する接着ペーストは、低温で加熱した際に、多量溶媒が残存することなく効率よく揮発することで、十分な接着強度を得られ易く、加えて、低温で加熱しても接着ペーストにおける有効成分の濃度が上昇する速度が速いので硬化し易いものとなる。そのため、得られる硬化物の接着性に優れ、かつ、被塗布物に塗布された後長時間経過後であっても、半導体素子を良好にマウントすることが可能なものとなる。
トリプロピレングリコールメチルエーテル(沸点242℃)、プロピレングリコールフェニルエーテル(沸点243℃)、トリエチレングリコールモノメチルエーテル(沸点249℃)、ベンジルアルコール(沸点204.9℃)、フェネチルアルコール(沸点219~221℃)、エチレングリコールモノブチルエーテルアセテート(沸点192℃)、エチレングリコールモノエチルエーテル(沸点134.8℃)、エチレングリコールモノメチルエーテル(沸点124.5℃)、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(沸点146℃)、シクロペンタノン(沸点130℃)、シクロヘキサノン(沸点157℃)、シクロヘプタノン(沸点180℃)、シクロオクタノン(沸点195~197℃)、シクロヘキサノール(沸点161℃)、シクロヘキサジエノン(沸点104~104.5℃)等が挙げられる。
これらの中でも、有機溶媒(SL)としては、有機溶媒(SL)を用いる効果をより発現することができる観点、及び、有効成分を良好に混合し易い観点から、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、シクロヘキサノンが好ましく、エチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、シクロヘキサノンがより好ましい。
有機溶媒(SL)は一種単独で、あるいは二種以上を組み合わせて用いてもよい。
接着ペーストの総質量に対する有機溶媒(SL)の含有量を上記範囲とすることにより、接着ペーストをシリンジに充填する工程や塗布工程における作業性に優れるとともに、有機溶媒(SL)を用いる効果をより発現することができる。
ここで、接着ペーストをシリンジに充填する工程における作業性に優れるとは、適量を気泡なくシリンジ内に充填できることをいう。
有機溶媒(SL)以外の溶媒としては、沸点が254℃以上300℃以下の有機溶媒(以下、「有機溶媒(SH)」と記載することがある。)が好ましい。
有機溶媒(SH)としては、沸点が254℃以上300℃以下であり、かつ、本発明の接着ペーストの成分を溶解又は分散し得るものであれば特に制限されない。
有機溶媒(SL)と有機溶媒(SL)以外の溶媒を併用することにより、接着ペーストを加熱して硬化物を得る温度範囲をより精密に調節することができるため、熱による影響を受けやすい光学部品やセンサチップに対する加熱の影響を小さくすることができる。
これらの中でも、有機溶媒(SH)としては、有機溶媒(SL)と有機溶媒(SH)を併用した効果がより得られやすい観点から、トリプロピレングリコール-n-ブチルエーテル、1,6-ヘキサンジオールジアクリレートが好ましい。
溶媒(S)全体の有機溶媒(SL)を上記範囲で用いることにより、有機溶媒(SL)を用いる効果をより発現することができる。
固形分濃度がこの範囲内であることで、有効成分を良好に混合し易く、接着ペーストをシリンジに充填する工程や塗布工程における作業性に優れるとともに、有機溶媒(SL)を用いる効果をより発現することができる。
また、ダイボンディングを行なう際、接着ペーストとその接着対象である基板等との間に生じる空隙部(ボイド)の発生を抑制することができ、パッケージの信頼性が高くなる。
本発明の接着ペーストは、熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A)及び溶媒(S)を含有するものであるが、以下に示す成分を含有していてもよい。
本発明の接着ペーストは、(B)成分として、シランカップリング剤を含有していてもよい。
シランカップリング剤としては、分子内に窒素原子を有するシランカップリング剤(B1)(以下、「(B1)成分」ということがある。)や分子内に酸無水物構造を有するシランカップリング剤(B2)(以下、「(B2)成分」ということがある。)が挙げられる。
ここで、硬化物の割れ抑制性により優れるとは、接着ペーストを加熱して硬化物を得る際に、温度変化に伴う硬化物の割れが発生しないことをいう。
Rbは、メチル基、エチル基、n-プロピル基、イソプロピル基、n-ブチル基、t-ブチル基等の炭素数1~6のアルキル基;又は、フェニル基、4-クロロフェニル基、4-メチルフェニル基、1-ナフチル基等の、置換基を有する、又は置換基を有さないアリール基;を表す。
Rcの炭素数1~10の有機基の具体例としては、N-2-(アミノエチル)-3-アミノプロピル基、3-アミノプロピル基、N-(1,3-ジメチル-ブチリデン)アミノプロピル基、3-ウレイドプロピル基、N-フェニル-アミノプロピル基等が挙げられる。
ケイ素原子に結合したアルコキシ基を4以上有するとは、同一のケイ素原子に結合したアルコキシ基と、異なるケイ素原子に結合したアルコキシ基との総合計数が4以上という意味である。
1,3,5-N-トリス(3-ジメトキシメチルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジメトキシエチルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジメトキシi-プロピルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジメトキシn-プロピルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジメトキシフェニルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジエトキシメチルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジエトキシエチルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジエトキシi-プロピルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジエトキシn-プロピルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジエトキシフェニルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジi-プロポキシメチルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジi-プロポキシエチルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジi-プロポキシi-プロピルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジi-プロポキシn-プロピルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジi-プロポキシフェニルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジブトキシメチルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジブトキシエチルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジブトキシi-プロピルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジブトキシn-プロピルシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5-N-トリス(3-ジブトキシフェニルシリルプロピル)イソシアヌレート等の1,3,5-N-トリス〔(ジ(炭素数1~6)アルコキシ)シリル(炭素数1~10)アルキル〕イソシアヌレート;等が挙げられる。
N,N’-ビス(3-ジメトキシメチルシリルプロピル)ウレア、N,N’-ビス(3-ジメトキシエチルシリルプロピル)ウレア、N,N’-ビス(3-ジエトキシメチルシリルプロピル)ウレア等のN,N’-ビス〔(ジ(炭素数1~6)アルコキシ(炭素数1~6)アルキルシリル(炭素数1~10)アルキル)ウレア;
N,N’-ビス(3-ジメトキシフェニルシリルプロピル)ウレア、N,N’-ビス(3-ジエトキシフェニルシリルプロピル)ウレア等のN,N’-ビス〔(ジ(炭素数1~6)アルコキシ(炭素数6~20)アリールシリル(炭素数1~10)アルキル)ウレア;等が挙げられる。
シランカップリング剤(B1)は、一種単独で、あるいは二種以上を組み合わせて用いることができる。
(B1)成分を上記範囲で用いることにより、(B1)成分を加える効果をより発現することができる。
2-(ジメトキシメチルシリル)エチル無水コハク酸等の、ジ(炭素数1~6)アルコキシメチルシリル(炭素数2~8)アルキル無水コハク酸;
2-(メトキシジメチルシリル)エチル無水コハク酸等の、(炭素数1~6)アルコキシジメチルシリル(炭素数2~8)アルキル無水コハク酸;
2-(ジクロロメチルシリル)エチル無水コハク酸等の、ジハロゲノメチルシリル(炭素数2~8)アルキル無水コハク酸;
2-(クロロジメチルシリル)エチル無水コハク酸等の、ハロゲノジメチルシリル(炭素数2~8)アルキル無水コハク酸;等が挙げられる。
シランカップリング剤(B2)は、一種単独で、あるいは二種以上を組み合わせて用いることができる。
(B2)成分を上記範囲で用いることにより、(B2)成分を加える効果をより発現することができる。
本発明の接着ペーストは、(C)成分として、微粒子を含有していてもよい。
微粒子としては、平均一次粒子径が5nm以上40nm以下の微粒子(C1)(以下、「(C1)成分」ということがある。)や平均一次粒子径が0.04μm超8μm以下の微粒子(C2)(以下、「(C2)成分」ということがある。)が挙げられる。
この効果がより得られ易いことから、微粒子(C1)の平均一次粒子径は、好ましくは5nm以上30nm以下、より好ましくは5nm以上20nm以下である。
微粒子(C1)の平均一次粒子径は、透過型電子顕微鏡を用いて微粒子の形状を観察することにより求められる。
比表面積は、BET多点法により求めることができる。
また、用いる微粒子(C1)は表面が修飾されたものであってもよい。
スメクタイトとしては、例えば、モンモリロナイト、バイデライト、ヘクトライト、サポナイト、スチブンサイト、ノントロナイト、ソーコナイト等が挙げられる。
また、無機成分としては、シリカ等が挙げられる。シリカとしては、乾式シリカ、湿式シリカ、表面修飾シリカ(表面が修飾されたシリカ)等が挙げられる。
有機成分としては、アクリル系重合体等が挙げられる。
これらの中でも、本発明においては、透明性に優れる接着ペーストが得られ易いことから、シリカ、金属酸化物、鉱物が好ましく、シリカがより好ましい。
疎水性の表面修飾シリカとしては、表面に、トリメチルシリル基等のトリ炭素数1~20のトリアルキルシリル基;ジメチルシリル基等のジ炭素数1~20のアルキルシリル基;オクチルシリル基等の炭素数1~20のアルキルシリル基;を結合させたシリカ;シリコーンオイルで表面を処理したシリカ;等が挙げられる。
疎水性の表面修飾シリカは、例えば、シリカ粒子に、トリ炭素数1~20のトリアルキルシリル基、ジ炭素数1~20のアルキルシリル基、炭素数1~20のアルキルシリル基等を有するシランカップリング剤を用いて表面修飾することにより、あるいは、シリカ粒子をシリコーンオイルで処理することにより得ることができる。
(C1)成分を上記範囲で用いることにより、(C1)成分を加える効果をより発現することができる。
この効果がより得られ易いことから、微粒子(C2)の平均一次粒子径は、好ましくは0.06μm超7μm以下、より好ましくは0.3μm超6μm以下、さらに好ましくは1μm超4μm以下である。
また、微粒子(C2)の構成成分としては、微粒子(C1)の構成成分として例示したものと同様のものが挙げられる。
微粒子(C2)は、一種単独で、あるいは二種以上を組み合わせて用いることができる。
これらの中でも、接着ペーストとして混合が比較的容易である観点、並びに、接着性及び耐熱性に優れる硬化物が得られ易いことから、シリコーンで表面が被覆された金属酸化物、シリカ及びシリコーンからなる群から選ばれる少なくとも一種の微粒子が好ましく、シリカ、シリコーンがより好ましい。
(C2)成分を上記範囲で用いることにより、(C2)成分を加える効果をより発現することができる。
本発明の接着ペーストは、本発明の目的を阻害しない範囲で、上記(A)~(C)成分以外の他の成分〔(D)成分〕を含有してもよい。
(D)成分としては、酸化防止剤、紫外線吸収剤、光安定剤等が挙げられる。
フェノール系酸化防止剤としては、モノフェノール類、ビスフェノール類、高分子型フェノール類等が挙げられる。
硫黄系酸化防止剤としては、ジラウリル-3,3’-チオジプロピオネート、ジミリスチル-3,3’-チオジプロピオネート、ジステアリル-3,3’-チオジプロピオネート等が挙げられる。
紫外線吸収剤としては、サリチル酸類、ベンゾフェノン類、ベンゾトリアゾール類、ヒンダードアミン類等が挙げられる。
これらの紫外線吸収剤は、一種単独で、あるいは二種以上を組み合わせて用いることができる。
紫外線吸収剤の使用量は、(A)成分に対して、通常、10質量%以下である。
光安定剤としては、例えば、ポリ[{6-(1,1,3,3,-テトラメチルブチル)アミノ-1,3,5-トリアジン-2,4-ジイル}{(2,2,6,6-テトラメチル-4-ピペリジン)イミノ}ヘキサメチレン{(2,2,6,6-テトラメチル-4-ピペリジン)イミノ}]等のヒンダードアミン類等が挙げられる。
これらの光安定剤は、一種単独で、あるいは二種以上を組み合わせて用いることができる。
(D)成分の総使用量は、(A)成分に対して、通常、20質量%以下である。
工程(AI):上記式(a-6)で示される化合物の少なくとも一種を、重縮合触媒の存在下に重縮合させて、ポリシルセスキオキサン化合物を得る工程
工程(AII):工程(AI)で得られたポリシルセスキオキサン化合物を、沸点が100℃以上254℃未満である有機溶媒(SL)を含む溶媒(S)に溶解させ、ポリシルセスキオキサン化合物を含有する溶液を得る工程
混合方法、脱泡方法は特に限定されず、公知の方法を利用することができる。
混合する順番は特に限定されない。
上記工程(AI)及び工程(AII)を有する製造方法によれば、本発明の接着ペーストを、効率よく簡便に製造することができる。
硬化させるときの加熱温度は、通常80℃~180℃であり、好ましくは80℃~120℃である。また、硬化させるときの加熱時間は、通常30分~10時間、好ましくは30分~5時間、より好ましくは30分~3時間である。
本発明の接着ペーストを硬化して得られる硬化物が、接着性に優れることは、例えば、次のようにして確認することができる。すなわち、一辺の長さが1mmの正方形(面積が1mm2)のシリコンチップのミラー面に、本発明の接着ペーストを塗布し、塗布面を銀メッキ銅板の上に載せ圧着(圧着後の接着ペーストの厚さ:約2μm)し、100℃で2時間加熱処理して硬化させる。これを、23℃のボンドテスターの測定ステージ上に30秒間放置し、被着体から100μmの高さの位置より、スピード200μm/sで接着面に対し水平方向(せん断方向)に応力をかけ、試験片と被着体との接着強度(N/mm□)を測定する。
本明細書において、「1mm□」とは、「1mm square」、すなわち、1mm×1mm(1辺が1mmの正方形)を意味する。
本発明の接着ペーストを光素子固定材用接着剤として使用する半導体装置を製造する方法は、下記工程(BI)及び工程(BII)を有する方法である。
工程(BI):半導体素子と支持基板の一方又は両方の接着面に接着ペーストを塗布し、圧着する工程
工程(BII):工程(BI)で得られた圧着物の前記接着ペーストを加熱硬化させ、前記半導体素子を前記支持基板に固定する工程
接着ペーストがシリンジに充填されていることにより、塗布工程における作業性に優れる。
シリンジの材料は、合成樹脂、金属、ガラスのいずれであってもよいが、合成樹脂であるのが好ましい。
シリンジの容量としては、特に制限はなく、充填する又は塗布する接着ペーストの量に合わせ、適宜決定すればよい。
また、シリンジとしては、市販品を用いることもできる。市販品としては、例えば、SS-01Tシリーズ(TERUMO社製)、PSYシリーズ(武蔵エンジニアリング社製)等が挙げられる。
加熱温度及び加熱時間は、1)接着ペーストの項で説明した通りである。
各例中の部及び%は、特に断りのない限り、質量基準である。
製造例で得た熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A)の質量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)は、標準ポリスチレン換算値とし、以下の装置及び条件にて測定した。
装置名:HLC-8220GPC、東ソー株式会社製
カラム:TSKgelGMHXL、TSKgelGMHXL、及び、TSKgel2000HXLを順次連結したもの
溶媒:テトラヒドロフラン
注入量:80μl
測定温度:40℃
流速:1ml/分
検出器:示差屈折計
製造例で得た熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A)のIRスペクトルは、フーリエ変換赤外分光光度計(パーキンエルマー社製、Spectrum100)を使用して測定した。
300mlのナス型フラスコに、メチルトリエトキシシラン(信越化学工業社製)71.37g(400mmol)を仕込んだ後、蒸留水21.6mlに35%塩酸0.10g(シラン化合物の合計量に対して0.25mol%)を溶解した水溶液を撹拌しながら加え、全容を30℃にて2時間、次いで70℃に昇温して5時間撹拌したのち、反応液を室温(23℃)まで戻し、酢酸プロピルを140g加えた。
ここに、28%アンモニア水0.12g(シラン化合物の合計量に対して0.5mol%)を、全容を撹拌しながら加え、70℃に昇温して3時間さらに撹拌した。
反応液に精製水を加え、分液し、水層のpHが7.0になるまでこの操作を繰り返した。
有機層をエバポレーターで濃縮し、濃縮物を真空乾燥することにより、熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A1)を55.7g得た。
熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A1)の質量平均分子量(Mw)は7,800、分子量分布(Mw/Mn)は4.52であった。
また、熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A1)のIRスペクトルデータを以下に示す。
Si-CH3:1272cm-1,1409cm-1,Si-O:1132cm-1
300mLのナス型フラスコに、3,3,3-トリフルオロプロピルトリメトキシシラン(信越化学工業社製)17.0g(77.7mmol)、及び、メチルトリエトキシシラン32.33g(181.3mmol)を仕込んだ後、蒸留水14.0mlに35%塩酸0.0675g(HClの量が0.65mmol,シラン化合物の合計量に対して0.25mol%)を溶解した水溶液を撹拌しながら加え、全容を30℃にて2時間、次いで70℃に昇温して20時間撹拌した。
内容物の撹拌を継続しながら、そこに、28%アンモニア水0.0394g(NH3の量が0.65mmol)と酢酸プロピル46.1gの混合溶液を加えて反応液のpHを6.9にし、そのまま70℃で40分間撹拌した。
反応液を室温まで放冷した後、そこに、酢酸プロピル50g及び水100gを加えて分液処理を行い、反応生成物を含む有機層を得た。この有機層に硫酸マグネシウムを加えて乾燥処理を行った。
硫酸マグネシウムを濾別除去した後、有機層をエバポレーターで濃縮し、濃縮物を真空乾燥することにより、熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A2)を22.3g得た。
熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A2)の質量平均分子量(Mw)は5,500、分子量分布(Mw/Mn)は3.40であった。
また、熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A2)のIRスペクトルデータを以下に示す。
Si-CH3:1272cm-1,1409cm-1,Si-O:1132cm-1,C-F:1213cm-1
300mlのナス型フラスコに、フェニルトリメトキシシラン(信越化学工業社製)28.91g(145.8mmol)を仕込んだ後、蒸留水7.874mlに35%塩酸0.0376g(シラン化合物の合計量に対して0.25mol%)を溶解した水溶液を撹拌しながら加え、全容を30℃にて2時間、次いで70℃に昇温して5時間撹拌したのち、反応液を室温(23℃)まで戻し、酢酸プロピル50g及び水100gを加えて分液処理を行い、反応生成物を含む有機層を得た。この有機層に硫酸マグネシウムを加えて乾燥処理を行った。
硫酸マグネシウムを濾別除去した後、有機層をエバポレーターで濃縮し、濃縮物を真空乾燥することにより、熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A3)を17.0g得た。
熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A3)の質量平均分子量(Mw)は1,100、分子量分布(Mw/Mn)は1.2であった。
また、熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A3)のIRスペクトルデータを以下に示す。
Si-C6H5:698cm-1,Si-O:1132cm-1
〔(A)成分〕
熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A1):製造例1で得られたオルガノポリシロキサン化合物
熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A2):製造例2で得られたオルガノポリシロキサン化合物
熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A3):製造例3で得られたオルガノポリシロキサン化合物
(1)有機溶媒(SL)
ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート(EDGAC):東京化成工業社製(沸点218℃)
エチレングリコールモノブチルエーテルアセテート(BMGAC):東京化成工業社製(沸点192℃)
シクロヘキサノン:東京化成工業社製(沸点157℃)
(2)有機溶媒(SH)
トリプロピレングリコール-n-ブチルエーテル(TPnB):ダウ・ケミカル社製(沸点274℃)
(3)その他
アセトン:東京化成工業社製(沸点56℃)
シランカップリング剤(B1):1,3,5-N-トリス〔3-(トリメトキシシリル)プロピル〕イソシアヌレート(信越化学工業社製、製品名「KBM-9659」)
シランカップリング剤(B2):3-(トリメトキシシリル)プロピルコハク酸無水物(信越化学工業社製、製品名「X-12-967C」)
〔(C)成分〕
微粒子(C1):シリカ微粒子(日本アエロジル社製、製品名「AEROSIL RX300」、平均一次粒子径:7nm、比表面積:210m2/g)
微粒子(C2):シリコーン微粒子(日興リカ社製、製品名「MSP-SN08」、平均一次粒子径:0.8μm、形状:球状)
熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A1)100部に、EDGAC(SL)28部、シランカップリング剤(B1)10部、シランカップリング剤(B2)3部を加えて、全容を十分に混合、脱泡することにより、固形分濃度80%の接着ペースト1を得た。
化合物(各成分)の種類及び配合割合を、下記表1に示すものに変更した以外は、実施例1と同様にして接着ペースト2~13及び1r~4rを得た。
なお、実施例9及び10において、微粒子(C1)及び微粒子(C2)は、シクロヘキサノン(SL)、シランカップリング剤(B1)及びシランカップリング剤(B2)を添加する前に加えた。
実施例及び比較例で得た接着ペースト15mgを示差熱・熱重量同時測定装置(島津製作所社製、製品名「DTG-60」)に投入し、測定開始温度40℃、昇温速度10℃/分にて100℃で2時間加熱し、加熱前後における前記接着ペーストの質量を測定し、加熱前後における質量減少率100℃2h(%)[{〔(加熱前の接着ペーストの質量)-(100℃で2時間加熱した後の接着ペーストの質量)〕/(加熱前の接着ペーストの質量)}×100]を算出した。
また、加熱条件を170℃で2時間に変更した以外は、質量減少率100℃2h(%)の測定方法と同様にして、加熱前後における接着ペーストの質量減少率170℃2h(%)[{〔(加熱前の接着ペーストの質量)-(170℃で2時間加熱した後の接着ペーストの質量)〕/(加熱前の接着ペーストの質量)}×100]を算出した。
さらに、測定した質量減少率より、質量減少率170℃2h-質量減少率100℃2h(%)を算出した。
実施例及び比較例で得た接着ペーストを、無電解銀メッキ銅板(銀メッキ表面の平均粗さRa:0.025μm)上に直径が0.5mmになるように吐出し、標準環境下(温度:23℃±1℃、相対湿度:50±5%)に静置した。5分後、一辺の長さが1mmの正方形(面積が1mm2)のシリコンチップをマウントし、チップの傾きを観察し、傾きなくチップをマウントできる場合を「良」、チップが傾く等の不具合が生じた場合を「不良」と評価した。
一辺の長さが1mmの正方形(面積が1mm2)のシリコンチップのミラー面に、実施例及び比較例で得た接着ペーストを塗布し、標準環境下(温度:23℃±1℃、相対湿度:50±5%)に静置した。5分後、塗布面を被着体〔無電解銀メッキ銅板(銀メッキ表面の平均粗さRa:0.025μm)〕の上に載せ、圧着後の接着ペーストの厚さが約2μmになるように圧着した。その後、100℃で2時間加熱処理して硬化させて試験片付被着体を得た。この試験片付被着体を、23℃のボンドテスター(デイジ社製、シリーズ4000)の測定ステージ上に30秒間放置し、被着体から100μmの高さの位置より、スピード200μm/sで接着面に対し水平方向(せん断方向)に応力をかけ、23℃における、試験片と被着体との接着強度(N/mm□)を測定した。
実施例1~13の接着ペースト1~13は、接着ペーストを硬化して得られる硬化物の接着強度に優れ、かつチップマウント性にも優れる。
特に、有機溶媒(SL)として、より沸点の低い溶媒を含有させた方が、接着ペーストを硬化して得られる硬化物の接着強度により優れる(実施例1~3)。
溶媒(S)として、有機溶媒(SL)と有機溶媒(SH)の混合溶媒を用いた場合であっても、硬化物の接着強度に優れ、かつチップマウント性にも優れる接着ペーストを得ることができる(実施例4~6)。
固形分濃度が高い接着ペーストの方が、接着ペーストを硬化して得られる硬化物の接着強度に優れる(実施例4と7、実施例3と8)。
微粒子(C)を添加した接着ペーストは、微粒子(C)を添加しない接着ペーストと比較して、(A)成分及び(B)成分の含有割合が相対的に少ないにもかかわらず、良好な接着強度を有する硬化物を与える(実施例9及び10)。
熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A)の種類(ポリシルセスキオキサン化合物側鎖の種類)を変更した場合であっても、接着ペーストを硬化して得られる硬化物の接着強度に優れる(実施例11~13)。
比較例2の接着ペースト2rは、溶媒(S)として、沸点が非常に低い有機溶媒のみを含有するものであるため、接着ペースト塗布後直ぐに乾いてしまい、チップマウント性に劣る。
比較例3の接着ペースト3rは、有機溶媒(SL)の含有量が、接着ペーストの総質量及び溶媒(S)全体に対して少ないため、質量減少率100℃2hが小さく、接着ペーストを十分に硬化させることができず、十分な接着強度を発現しない。
比較例4の接着ペースト4rは、質量減少率100℃2hを満たしているにもかかわらず、溶媒(S)中の有機溶媒(SH)の含有割合が大きいため、100℃の加熱では、硬化物中に有機溶媒(SH)が比較的多量に残存し、接着ペーストを十分に硬化させることができず、十分な接着強度を発現しない。
Claims (10)
- 半導体素子を支持基板に圧着することに用いる、半導体素子固定材用接着剤である接着ペーストであって、
前記接着ペーストが、熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A)及び溶媒(S)を含有し、前記熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A)が、溶媒(S)に溶解してなり、
前記溶媒(S)が、沸点が100℃以上254℃未満である有機溶媒(SL)を含むものであり、
接着ペーストの固形分濃度が、50質量%以上90質量%以下であり、
接着ペーストを100℃で2時間加熱した後の、加熱前後における前記接着ペーストの質量減少率100℃2hが、21%以上であり、かつ、
接着ペーストを170℃で2時間加熱した後の、加熱前後における前記接着ペーストの質量減少率を質量減少率170℃2hとしたときに、質量減少率170℃2h-質量減少率100℃2hが、14%未満である、接着ペースト。 - 半導体素子を支持基板に圧着することに用いる、半導体素子固定材用接着剤である接着ペーストであって、
前記接着ペーストが、熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A)及び溶媒(S)を含有し、前記熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A)が、溶媒(S)に溶解してなり、
前記溶媒(S)が、沸点が100℃以上200℃未満である有機溶媒を含むものであり、
接着ペーストの固形分濃度が、50質量%以上90質量%以下であり、
接着ペーストを100℃で2時間加熱した後の、加熱前後における前記接着ペーストの質量減少率100℃2hが、10%以上であり、かつ、
接着ペーストを170℃で2時間加熱した後の、加熱前後における前記接着ペーストの質量減少率を質量減少率170℃2hとしたときに、質量減少率170℃2h-質量減少率100℃2hが、14%未満である、接着ペースト。 - 前記有機溶媒(SL)の含有量が、接着ペーストの総質量に対して、10質量%以上50質量%以下である、請求項1に記載の接着ペースト。
- 前記沸点が100℃以上200℃未満である有機溶媒の含有量が、接着ペーストの総質量に対して、10質量%以上50質量%以下である、請求項2に記載の接着ペースト。
- 前記溶媒(S)が、沸点が254℃以上300℃以下の有機溶媒(SH)を含むものである、請求項1~4のいずれかに記載の接着ペースト。
- 前記熱硬化性オルガノポリシロキサン化合物(A)が、ポリシルセスキオキサン化合物である、請求項1~5のいずれかに記載の接着ペースト。
- さらに、下記(B)成分を含有する、請求項1~6のいずれかに記載の接着ペースト。
(B)成分:シランカップリング剤 - さらに、下記(C)成分を含有する、請求項1~7のいずれかに記載の接着ペースト。
(C)成分:微粒子 - 貴金属触媒を実質的に含有しない、請求項1~8のいずれかに記載の接着ペースト。
- 請求項1~9のいずれかに記載の接着ペーストを、半導体素子固定材用接着剤として使用する半導体装置の製造方法であって、下記工程(BI)及び工程(BII)を有する半導体装置の製造方法。
工程(BI):半導体素子と支持基板の一方又は両方の接着面に前記接着ペーストを塗布し、圧着する工程
工程(BII):工程(BI)で得られた圧着物の前記接着ペーストを加熱硬化させ、前記半導体素子を前記支持基板に固定する工程
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021054377A JP7765894B2 (ja) | 2021-03-26 | 2021-03-26 | 接着ペースト、接着ペーストの使用方法及び半導体装置の製造方法 |
| TW111101084A TW202300622A (zh) | 2021-03-26 | 2022-01-11 | 接著膏、接著膏的使用方法及半導體裝置的製造方法 |
| KR1020220027322A KR20220134436A (ko) | 2021-03-26 | 2022-03-03 | 접착 페이스트, 접착 페이스트의 사용 방법 및 반도체 장치의 제조 방법 |
| CN202210298900.3A CN115124973A (zh) | 2021-03-26 | 2022-03-25 | 粘接糊、粘接糊的使用方法及半导体装置的制备方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021054377A JP7765894B2 (ja) | 2021-03-26 | 2021-03-26 | 接着ペースト、接着ペーストの使用方法及び半導体装置の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2022151346A JP2022151346A (ja) | 2022-10-07 |
| JP7765894B2 true JP7765894B2 (ja) | 2025-11-07 |
Family
ID=83377011
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2021054377A Active JP7765894B2 (ja) | 2021-03-26 | 2021-03-26 | 接着ペースト、接着ペーストの使用方法及び半導体装置の製造方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7765894B2 (ja) |
| KR (1) | KR20220134436A (ja) |
| CN (1) | CN115124973A (ja) |
| TW (1) | TW202300622A (ja) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015143292A (ja) | 2014-01-31 | 2015-08-06 | 住友化学株式会社 | Uv−led用ポリシルセスキオキサン系封止材組成物及びそのための溶媒の使用 |
| WO2015170709A1 (ja) | 2014-05-07 | 2015-11-12 | リンテック株式会社 | 硬化性ポリシルセスキオキサン化合物、その製造方法、硬化性組成物、硬化物、及び、硬化性組成物等の使用方法 |
| JP2018168286A (ja) | 2017-03-30 | 2018-11-01 | リンテック株式会社 | 光素子用接着剤及びその製造方法 |
| JP2018195614A (ja) | 2017-05-12 | 2018-12-06 | 株式会社ダイセル | 接着剤層形成装置、半導体チップ製造ライン、及び積層体の製造方法 |
| JP2020176212A (ja) | 2019-04-18 | 2020-10-29 | リンテック株式会社 | ダイボンド材、発光装置、及び、発光装置の製造方法 |
-
2021
- 2021-03-26 JP JP2021054377A patent/JP7765894B2/ja active Active
-
2022
- 2022-01-11 TW TW111101084A patent/TW202300622A/zh unknown
- 2022-03-03 KR KR1020220027322A patent/KR20220134436A/ko active Pending
- 2022-03-25 CN CN202210298900.3A patent/CN115124973A/zh active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015143292A (ja) | 2014-01-31 | 2015-08-06 | 住友化学株式会社 | Uv−led用ポリシルセスキオキサン系封止材組成物及びそのための溶媒の使用 |
| WO2015170709A1 (ja) | 2014-05-07 | 2015-11-12 | リンテック株式会社 | 硬化性ポリシルセスキオキサン化合物、その製造方法、硬化性組成物、硬化物、及び、硬化性組成物等の使用方法 |
| JP2018168286A (ja) | 2017-03-30 | 2018-11-01 | リンテック株式会社 | 光素子用接着剤及びその製造方法 |
| JP2018195614A (ja) | 2017-05-12 | 2018-12-06 | 株式会社ダイセル | 接着剤層形成装置、半導体チップ製造ライン、及び積層体の製造方法 |
| JP2020176212A (ja) | 2019-04-18 | 2020-10-29 | リンテック株式会社 | ダイボンド材、発光装置、及び、発光装置の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN115124973A (zh) | 2022-09-30 |
| JP2022151346A (ja) | 2022-10-07 |
| TW202300622A (zh) | 2023-01-01 |
| KR20220134436A (ko) | 2022-10-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN106574115B (zh) | 固化性组合物、固化性组合物的制造方法、固化物、固化性组合物的使用方法及光器件 | |
| JP2025078860A (ja) | 接着ペースト、接着ペーストの使用方法及び半導体装置の製造方法 | |
| JP2024092134A (ja) | 接着ペースト、および半導体装置の製造方法 | |
| WO2016031730A1 (ja) | 硬化性組成物、硬化性組成物の製造方法、硬化物、硬化性組成物の使用方法、及び光デバイス | |
| CN106574117A (zh) | 固化性组合物、固化性组合物的制备方法、固化物、固化性组合物的使用方法和光器件 | |
| JP6821600B2 (ja) | 硬化性組成物、硬化性組成物の製造方法、硬化物、及び硬化性組成物の使用方法 | |
| JP6840901B2 (ja) | 硬化性組成物、硬化物、及び、硬化性組成物の使用方法 | |
| JP7765894B2 (ja) | 接着ペースト、接着ペーストの使用方法及び半導体装置の製造方法 | |
| JP2023139659A (ja) | 接着ペースト、接着ペーストの使用方法及び半導体装置の製造方法 | |
| JP6830563B2 (ja) | 硬化性ポリシルセスキオキサン化合物、硬化性組成物、硬化物、及び、硬化性組成物の使用方法 | |
| TWI921495B (zh) | 接著膏、接著膏的使用方法及半導體裝置的製造方法 | |
| WO2022202846A1 (ja) | 接着ペースト、接着ペーストの使用方法及び半導体装置の製造方法 | |
| JP2024004932A (ja) | 接着ペースト、接着ペーストの使用方法、および発光装置の製造方法 | |
| JP2024101872A (ja) | 接着ペースト、および半導体装置の製造方法 | |
| WO2022202844A1 (ja) | 接着ペースト、接着ペーストの使用方法及び半導体装置の製造方法 | |
| JP2024101873A (ja) | 接着ペースト、および半導体装置の製造方法 | |
| JP2024142048A (ja) | 液状の硬化性組成物、硬化性組成物の層、硬化性組成物の層の形成方法、および、半導体素子の固定方法 | |
| JP6840900B2 (ja) | 硬化性組成物、硬化物、及び、硬化性組成物の使用方法 | |
| JP2025141171A (ja) | 液状の硬化性組成物、硬化物、および、個片の硬化物の製造方法 | |
| JP2026059357A (ja) | 液状の硬化性組成物、硬化物、および、個片の硬化物の製造方法 | |
| JP2026059355A (ja) | 液状の硬化性組成物、硬化物、および、個片の硬化物の製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20231228 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20241029 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20241030 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20250304 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20250425 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20250715 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20250730 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20250930 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20251027 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7765894 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |