JP7767227B2 - 分析装置 - Google Patents
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Description
(ii)その上で、LED光源が実装されたLED実装基板の温度を一定に保ち、LED光源の温度を一定にする必要がある。
(iii)また、LED光源の結露防止のため、LED実装基板やLED光源の周辺温度が低くならないようにする必要がある。
(分析装置100)
図1Aは、実施例1の吸光分析を用いる分析装置の全体構成例を示す模式図である。本構成例に係る分析装置100は、サンプルディスク103、試薬ディスク106、及び反応ディスク109の3種類のディスクと、これらのディスク間でサンプル(試料、検体とも言う)や試薬を移動させる分注機構と、これらを制御する制御回路(制御部)201と、反応溶液の吸光度を測定する光量測定回路202と、光量測定回路202で測定されたデータを処理するデータ処理部203と、データ処理部203とのインターフェースである入力部204及び出力部205と、を備える。また、分注機構は、サンプル分注機構110及び試薬分注機構111を備える。
図1Bは、実施例1の制御回路のハードウェアブロック図である。制御回路201は、プロセッサ2011と、主記憶部2012と、補助記憶部2013と、入出力インターフェース2014と、上記した各モジュールを接続するバス2015とを有する。
図2は、実施例1の分析装置の吸光分析を行う吸光度測定部の構成例を示す図である。吸光分析の光源部301から発生した照射光は、光軸401に沿って出射され、集光レンズ403により集光されて反応セル108に照射される。このとき、光の照射面内光量分布を均一にするために光源側スリット402を配置し、光源部301からの出射光の幅を制限することがある。
図3は、実施例1の光源部の詳細構成の一例である。以下の説明では、図面に示す通り、光の出射側を「出射側」と称し、その反対側を「背面側」と称する。励起光LED501から発せられた光で蛍光体502が励起され、蛍光体502から光が出射される。励起光LED501と蛍光体502とは、LEDパッケージ503に実装され、そのLEDパッケージ503は、LED実装基板504に実装される。
図4は、実施例1のLED実装基板の温度制御方法の例を示すフローチャートである。分析装置100の吸光分析の分析性能を安定的に得るためには、LEDパッケージ503から照射される光の光量が常に一定であることが好適である。光量を一定に保つ手段として、本開示の構成によれば、温度センサ505によって測定されたLED実装基板504の温度に基づいて、ペルチェ素子506の出力制御を行う。図4のステップS403~ステップS407の各処理は、制御回路201のプロセッサ2011が温度制御プログラム2013aを実行することによって、実行される。
励起光LED501に中心波長385nmの青色LEDを用いて、その励起光で励起される蛍光体502を用いた白色LED(電流400mAにて駆動)を用いて、図3の構成一例と同じく、LEDパッケージ503をLED実装基板504に実装し、温度センサ505にはサーミスタを用いてペルチェ素子506の出力を制御した。
ランプハウス508でLED実装基板504の周囲を取り囲み、且つLED実装基板504を収容することによって、LEDパッケージ503の周辺が環境温度の影響を受けにくくなる。また、ペルチェ素子506の出力を制御することによって、LEDパッケージ503が実装されたLED実装基板504の温度を一定に保つことが可能となる。その結果、LEDパッケージ503から出射される出射光の発光スペクトル及び光量の変化を抑えることができる。
図5は、実施例2の光源部の詳細構成の一例である。実施例1と実施例2とでは、ランプハウス508とサブベース507との接触部の構造が異なる。図5に示すように、実施例2では、ランプハウス508の外壁面には、切欠部520が設けられ、サブベース507のフランジ部512の切欠部520に対応する箇所には、突起部521が設けられる。切欠部520に突起部521が当接することによって、ランプハウス508に対してサブベース507の位置が定まる。上記した接触部以外の構造は、実施例1と同様であるので、その説明を省略する。
サブベース507の突起部521とランプハウス508の切欠部520とを当接させることによって、ランプハウス508に対するサブベース507の位置を決めることができる。その結果、サブベース507に保持されるLEDパッケージ503の位置が決まり、LEDパッケージ503に保持される蛍光体502の位置が定まり、出射光の光軸を定めることが容易になる。
図6は、実施例3の光源部の詳細構成の一例である。実施例3は、実施例1と異なり、サブベース507が断熱部530を有する。断熱部530は、LED実装基板504を保持する部分とランプハウス508と接触する部分との間に設けられる。この断熱部530は、LED実装基板504及びペルチェ素子506の吸熱側に接触して熱伝導している部分と、ランプハウス508及びペルチェ素子506の放熱側に接触して熱伝導している部分と、を熱的に遮断する。断熱部530は、熱伝導性の低い樹脂などで構成されている。この構造によって、ペルチェ素子506は、LED実装基板504の熱を、サブベース507を介してランプハウス508の内壁に移動させることができる。サブベース507のフランジ部512からランプハウス508への熱移動は、断熱部530により遮断される。
ペルチェ素子506をランプハウス508の内壁及びサブベース507に接触させ、且つ上記した断熱部530を設けることによって、LED実装基板504とランプハウス508の内壁との間で効率的に熱移動を行うことができる。これにより、容易に、LEDパッケージ503の温度を一定に保ち、且つ閾値温度よりも高くすることができる。
図7は、実施例4の光源部の詳細構成の一例である。実施例4では、サブベース507の背面側は、ランプハウス508の内壁に接触しない。そして、実施例4では、サブベース507のフランジ部512を介して、LED実装基板504からランプハウス508に熱伝導させている。この構造により、サブベース507の背面側をランプハウス508の内壁に接触させて熱伝導性を高める必要がなくなり、サブベース507をフランジ部512側に引き出すだけでLEDパッケージ503やLED実装基板504の交換が可能になる。また、サブベース507に、例えば銅のような熱伝導性の高い部材で構成される熱伝導路540を設けることで、ペルチェ素子506の放熱部からランプハウス508への熱伝導性が向上し、ペルチェ素子506の温度制御性を高めることができる。その他の構成は、実施例1と同様であるので、その説明を省略する。
サブベース507をランプハウス508の内壁に接触することなくランプハウス508に装着することによって、サブベース507の着脱性が向上する。また、熱伝導路540を設けることによって、LED実装基板504の温度制御を容易に行うことができる。
図8は、実施例5のLED実装基板の温度制御方法の例を示すフローチャートである。実施例5では、励起光LED501を点灯させてから当該励起光LED501からの出射光が安定するまでの時間短縮を図るため、LED実装基板504をプレヒートする。図8のフローチャートに示すように、図1Aの分析装置100の吸光分析において、ユーザは、装置の電源をONにする(ステップS401)。これにより、制御回路201等が通電し、制御回路201等が起動する。その後、ユーザは、光源部301の電源をONにする(ステップS402)。実施例5では、ユーザが光源部301の電源をONする前に、制御回路201は、温度センサ505から取得した温度データに基づいて、ペルチェ素子506の出力を制御し、LED実装基板504をプレヒートする(ステップS800)。その後の処理は、実施例1と同様であるので、その説明を省略する。
実施例5では、LED実装基板504をプレヒートすることにより、ペルチェ素子506の出力は、プレヒートをしない場合と比べて小さくなり、温度安定までの時間も短縮される。
Claims (14)
- 光を発するLEDと前記LEDから発せられた光を励起する蛍光体とを有し、前記蛍光体で励起された光を試料に照射するLED光源と、
前記LED光源及び温度センサが実装されるLED実装基板と、
前記LED実装基板の周囲を取り囲み、前記LED実装基板を収容するランプハウスと、
前記ランプハウスの温度を一定に保つための恒温機構と、
前記LED実装基板の熱を吸収又は前記LED実装基板に熱を放出するペルチェ素子と、
前記温度センサによって測定される温度が前記ランプハウスの温度より高い閾値温度よりも高くなるように前記ペルチェ素子の出力を制御する制御部と、を備える
ことを特徴とする分析装置。 - 前記恒温機構は、サンプル及び試薬が収容される反応セルの温度を一定に保つための恒温水が通過する前記ランプハウスに設けられた流路を有する
ことを特徴とする請求項1に記載の分析装置。 - 前記ペルチェ素子を前記ランプハウスの内壁と前記LED実装基板との間に配置する
ことを特徴とする請求項1に記載の分析装置。 - 前記ランプハウスに着脱可能であって、前記LED実装基板を保持する保持部材をさらに備え、
前記保持部材は、切欠部を有し、
前記ランプハウスは、前記切欠部に当接する突起部を有する
ことを特徴とする請求項1に記載の分析装置。 - 前記ランプハウスに着脱可能であって、前記LED実装基板を保持する保持部材をさらに備え、
前記ランプハウスは、切欠部を有し、
前記保持部材は、前記切欠部に当接する突起部を有する
ことを特徴とする請求項1に記載の分析装置。 - 前記ランプハウスに着脱可能であって、前記LED実装基板を保持する保持部材をさらに備え、
前記ペルチェ素子を前記ランプハウスの内壁及び前記保持部材に接触させ、
前記保持部材は、前記LED実装基板を保持する部分と前記ランプハウスと接触する部分との間に設けられた断熱部を有する
ことを特徴とする請求項1に記載の分析装置。 - 前記ランプハウスに着脱可能であって、前記LED実装基板を保持する保持部材をさらに備え、
前記保持部材は、前記ランプハウスの内壁に接触することなく前記ランプハウスに装着される
ことを特徴とする請求項1に記載の分析装置。 - 前記ランプハウス内に前記ペルチェ素子を残した状態で前記ランプハウスに着脱可能であって、前記LED実装基板を保持する保持部材をさらに備える
ことを特徴とする請求項1に記載の分析装置。 - 前記ランプハウスには、前記LED光源から出射された光が通過する貫通孔が形成されており、
前記貫通孔には、光学系が設けられ、前記ランプハウスの内側の空気を密閉する
ことを特徴とする請求項1に記載の分析装置。 - 前記閾値温度は、前記ランプハウスの温度に基づいて決定された温度である
ことを特徴とする請求項1に記載の分析装置。 - 前記閾値温度は、前記ランプハウスの温度より高い40~60℃の間の温度である
ことを特徴とする請求項1に記載の分析装置。 - 前記制御部は、前記LED光源が発光する前に、前記LED実装基板に熱を放出するよう前記ペルチェ素子の出力を制御する
ことを特徴とする請求項1に記載の分析装置。 - 前記試料は反応容器に収容され、
前記反応容器と、前記反応容器内の前記試料を一定温度に保つための恒温循環水と、を備える
ことを特徴とする請求項1に記載の分析装置。 - 少なくとも1つの前記反応容器を円周上に載置するための反応ディスクと、
前記反応ディスクに載置された前記反応容器を前記恒温循環水に浸漬するための恒温水槽と、
前記反応ディスクを回転駆動させる制御部と、を備える
ことを特徴とする請求項13に記載の分析装置。
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