JP7796703B2 - 姿勢変換装置及びそれを備えた基板処理装置 - Google Patents
姿勢変換装置及びそれを備えた基板処理装置Info
- Publication number
- JP7796703B2 JP7796703B2 JP2023120893A JP2023120893A JP7796703B2 JP 7796703 B2 JP7796703 B2 JP 7796703B2 JP 2023120893 A JP2023120893 A JP 2023120893A JP 2023120893 A JP2023120893 A JP 2023120893A JP 7796703 B2 JP7796703 B2 JP 7796703B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrates
- processing
- chuck
- substrate
- drive mechanism
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/70—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping
- H10P72/76—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using mechanical means, e.g. clamps or pinches
- H10P72/7604—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using mechanical means, e.g. clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
- H10P72/7618—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using mechanical means, e.g. clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by a movable susceptor, stage or support, others than those only rotating on their own vertical axis, e.g. susceptors on a rotating carrousel
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
- H10P72/32—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H10P72/3211—Changing orientation of the substrate, e.g. from a horizontal position to a vertical position
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
- H10P72/34—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H10P72/3411—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers
- H10P72/3412—Batch transfer of wafers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/04—Apparatus for manufacture or treatment
- H10P72/0402—Apparatus for fluid treatment
- H10P72/0406—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H10P72/0411—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H10P72/0416—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing with the semiconductor substrates being dipped in baths or vessels
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/04—Apparatus for manufacture or treatment
- H10P72/0451—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
- H10P72/32—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H10P72/3202—Mechanical details, e.g. rollers or belts
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
- H10P72/32—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H10P72/3212—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrates to be conveyed not being semiconductor wafers or large planar substrates, e.g. chips or lead frames
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
- H10P72/32—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H10P72/3218—Conveying cassettes, containers or carriers
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Weting (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Description
すなわち、従来の装置は、チャックが水平軸周りの一方方向に90度だけしか回転できない。このような構成では、例えば、鉛直姿勢の状態で、複数枚の基板の処理面がロボット側に向けられている場合には、処理面を上にして水平姿勢に変換することができない。つまり、鉛直姿勢の状態で、複数枚の基板の処理面がロボット側とは反対側に向けられている場合にしか、複数枚の基板の姿勢変換を行うことができないという問題がある。
すなわち、請求項1に記載の発明は、複数枚の基板の姿勢を変換する姿勢変換装置において、複数枚の基板を保持する反転チャックと、前記反転チャックとの間で前記複数枚の基板を受け渡すための開放位置と、前記反転チャックで前記複数枚の基板を保持するための保持位置との間で、前記基板の径方向に前記反転チャックを駆動する開閉駆動機構と、前記複数枚の基板の姿勢を鉛直姿勢から水平姿勢に変換するため、前記反転チャックを水平軸周りに駆動する回転駆動機構と、前記開閉駆動機構を操作して鉛直姿勢の前記複数枚の基板を前記反転チャックに保持させた後、前記複数枚の基板の姿勢を鉛直姿勢から水平姿勢に変換する際に、鉛直姿勢での前記複数枚の基板の処理面の向きに応じて前記回転駆動機構を操作し、前記反転チャックの水平軸周りの回転角度を変位させることにより、水平姿勢での前記複数枚の基板の処理面が上方に向くようにする制御部と、を備えていることを特徴とするものである。
図3(a)に示すように、ある一つのロットLT1と、他の一つのロットLT2とを組み合わせることで、図3(b)に示す表面合わせFTFのバッチロットBL1が組み立てられる。詳細には、ロットLT1の各基板Wは、例えば、変換機構HVCで鉛直姿勢に姿勢変換された直後は、左方Yに処理面が向けられている。例えば、ロットLT1は、鉛直軸周りにプッシャーPHで180度回転される。これにより、ロットLT1は、右方Yに処理面が向けられる。ロットLT2の各基板Wは、ロットLT1の処理面とは、反対側、つまり左方Yに処理面が向けられている。ロットLT1の各基板Wの処理面には、白三角形を付してある。ロットLT2の各基板Wの処理面には、黒三角形を付してある。ここでいう、処理面とは、姿勢変換ブロック15において水平姿勢に姿勢を変換した後に処理を行う面をいう。処理面は、基板Wを載置した際に上方に向いた面である。処理面は、主面、表面、裏面と呼ばれることもある。
図4(a)に示すように、ある一つのロットLT1と、他の一つのロットLT2とを組み合わせることで、図4(b)に示す表裏面合わせFTBのバッチロットBL2が組み立てられる。詳細には、ロットLT1とロットLT2の各基板Wは、例えば、左方Yに処理面が向けられている。この表裏面合わせFTBでバッチロットを組み立てる場合には、幅方向Yへの半ピッチの直線移動だけが行われ、プッシャーPHによる回転動作は行われない。
W … 基板
3 … バッチ式処理装置
5 … 枚葉式処理装置
7 … 橋渡し部7
9 … 搬入ブロック
11 … ストッカーブロック
13 … 移載ブロック
15 … 姿勢変換ブロック
17 … 処理ブロック
19 … 投入部
C … キャリア
BPU … バッチ処理部
BB … 処理槽
LF … リフタ
TFC … 25枚チャック
31 … 待機槽
33 … 姿勢変換槽
BB0 … 処理槽
LF0 … リフタ
DB … 浸漬槽
41 … 姿勢変換部
43 … 反転チャック
WD1 … 第1の間隔
WD2 … 第2の間隔
45 … チャック部材
47 … 溝部
61 … 昇降機構
61a … ベース部材
61b … 昇降用モータ
63 … 駆動機構
63a … エアシリンダ
63b … 移動片
63c … 懸垂アーム
65 … 回転機構
65a … 回転軸
65b … モータ
AX1 … 軸芯
HP1 … 受け入れ高さ
HP2 … 挟持高さ
BR … ブリッジロボット
81 … 搬出ブロック
83 … インデクサブロック
85 … 処理ブロック
87 … 搬出部
IR … インデクサロボット
TW1~TW4 … タワー
CR … センターロボット
93 … 受渡部
101 … 制御部
103 … 操作部
105 … レシピ記憶部
Claims (7)
- 複数枚の基板の姿勢を変換する姿勢変換装置において、
複数枚の基板を保持する反転チャックと、
前記反転チャックとの間で前記複数枚の基板を受け渡すための開放位置と、前記反転チャックで前記複数枚の基板を保持するための保持位置との間で、前記基板の径方向に前記反転チャックを駆動する開閉駆動機構と、
前記複数枚の基板の姿勢を鉛直姿勢から水平姿勢に変換するため、前記反転チャックを水平軸周りに駆動する回転駆動機構と、
前記開閉駆動機構を操作して鉛直姿勢の前記複数枚の基板を前記反転チャックに保持させた後、前記複数枚の基板の姿勢を鉛直姿勢から水平姿勢に変換する際に、鉛直姿勢での前記複数枚の基板の処理面の向きに応じて前記回転駆動機構を操作し、前記反転チャックの水平軸周りの回転角度を変位させることにより、水平姿勢での前記複数枚の基板の処理面が上方に向くようにする制御部と、
を備えていることを特徴とする姿勢変換装置。 - 請求項1に記載の姿勢変換装置において、
前記制御部は、前記複数枚の基板の処理面の向きに応じて、一方方向またはその反対回りとなる他方方向のいずれか一方向に回転させるように前記回転駆動機構を操作することを特徴とする姿勢変換装置。 - 請求項1に記載の姿勢変換装置において、
前記制御部は、前記複数枚の基板の処理面の向きに応じて、一方方向にのみ回転させるように前記回転駆動機構を操作することを特徴とする姿勢変換装置。 - 請求項1に記載の姿勢変換装置において、
前記反転チャックは、前記複数枚の基板を受け渡す方向と直交する方向における前記複数枚の基板の両側面のみを保持することを特徴とする姿勢変換装置。 - 請求項1から4のいずれかに記載の姿勢変換装置において、
前記制御部は、前記複数枚の基板をどのように処理するかを規定するレシピに基づいて、前記回転駆動機構を操作することを特徴とする姿勢変換装置。 - 請求項5に記載の姿勢変換装置において、
前記制御部は、前記レシピのうち、ある複数枚の基板と他の複数枚の基板とを合わせて構成されるバッチロットにおける、処理面をいずれの方向に向けて組み合わせるかという処理面の組み合わせ方に応じて、前記回転駆動機構を操作することを特徴とする姿勢変換装置。 - 基板を処理する基板処理装置において、
複数枚の基板を鉛直姿勢の状態で一括して処理するバッチ式処理部と、
一枚の基板を水平姿勢の状態で処理する枚葉式処理部と、
前記バッチ式処理部で処理を終えた前記複数枚の基板について、鉛直姿勢から水平姿勢に変換する姿勢変換部と、
前記バッチ式処理部で処理を終えた前記複数枚の基板を前記姿勢変換部に搬送する第1の搬送部と、
前記姿勢変換部で水平姿勢にされた前記複数枚の基板を前記枚葉式処理部に搬送する第2の搬送部と、
を備え、
前記姿勢変換部は、
前記複数枚の基板を保持する反転チャックと、
前記反転チャックとの間で前記複数枚の基板を受け渡すための開放位置と、前記反転チャックで前記複数枚の基板を保持するための保持位置との間で、前記基板の径方向に前記反転チャックを駆動する開閉駆動機構と、
前記複数枚の基板の姿勢を鉛直姿勢から水平姿勢に変換するため、前記反転チャックを水平軸周りに駆動する回転駆動機構と、
を備え、
前記バッチ式処理部で複数枚の基板を処理させた後、前記枚葉式処理部に複数枚の基板を搬送する前に、前記開閉駆動機構を操作して鉛直姿勢の前記複数枚の基板を前記反転チャックに保持させた後、前記複数枚の基板の姿勢を鉛直姿勢から水平姿勢に変換する際に、鉛直姿勢での前記複数枚の基板の処理面の向きに応じて前記回転駆動機構を操作し、前記反転チャックの水平軸周りの回転角度を変位させることにより、水平姿勢での前記複数枚の基板の処理面が上方に向くようにする制御部を備えていることを特徴とする基板処理装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2023120893A JP7796703B2 (ja) | 2023-07-25 | 2023-07-25 | 姿勢変換装置及びそれを備えた基板処理装置 |
| CN202410968603.4A CN119381310A (zh) | 2023-07-25 | 2024-07-18 | 姿势转换装置及具备其的衬底处理装置 |
| KR1020240096233A KR20250016007A (ko) | 2023-07-25 | 2024-07-22 | 자세 변환 장치 및 그것을 구비한 기판 처리 장치 |
| US18/779,437 US20250038029A1 (en) | 2023-07-25 | 2024-07-22 | Posture turning apparatus and substrate processing apparatus including the same |
| TW113127424A TW202514879A (zh) | 2023-07-25 | 2024-07-23 | 姿勢變換裝置及具備其之基板處理裝置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2023120893A JP7796703B2 (ja) | 2023-07-25 | 2023-07-25 | 姿勢変換装置及びそれを備えた基板処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2025017715A JP2025017715A (ja) | 2025-02-06 |
| JP7796703B2 true JP7796703B2 (ja) | 2026-01-09 |
Family
ID=94325748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2023120893A Active JP7796703B2 (ja) | 2023-07-25 | 2023-07-25 | 姿勢変換装置及びそれを備えた基板処理装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20250038029A1 (ja) |
| JP (1) | JP7796703B2 (ja) |
| KR (1) | KR20250016007A (ja) |
| CN (1) | CN119381310A (ja) |
| TW (1) | TW202514879A (ja) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010082567A1 (ja) | 2009-01-13 | 2010-07-22 | 株式会社エクサ | ウエハ分離装置、ウエハ分離搬送装置、ウエハ分離方法、ウエハ分離搬送方法及び太陽電池用ウエハ分離搬送方法 |
| US20200203193A1 (en) | 2018-12-14 | 2020-06-25 | Xia Tai Xin Semiconductor (Qing Dao) Ltd. | Method and apparatus for cleaning semiconductor wafers |
| JP2022087065A (ja) | 2020-11-30 | 2022-06-09 | セメス カンパニー,リミテッド | 基板処理装置 |
| JP2022178486A (ja) | 2021-05-20 | 2022-12-02 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法 |
| US20230096569A1 (en) | 2021-09-29 | 2023-03-30 | Semes Co., Ltd. | Apparatus and method for treating substrate |
| JP2023046537A (ja) | 2021-09-24 | 2023-04-05 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法、および、基板処理装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20060137726A1 (en) * | 2004-12-24 | 2006-06-29 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Substrate treating apparatus |
| KR101992660B1 (ko) * | 2012-11-28 | 2019-09-30 | 에이씨엠 리서치 (상하이) 인코포레이티드 | 반도체 웨이퍼의 세정 방법 및 장치 |
| JP6700149B2 (ja) * | 2016-09-29 | 2020-05-27 | 株式会社Screenホールディングス | 姿勢変更装置 |
| JP7824186B2 (ja) * | 2022-09-22 | 2026-03-04 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
-
2023
- 2023-07-25 JP JP2023120893A patent/JP7796703B2/ja active Active
-
2024
- 2024-07-18 CN CN202410968603.4A patent/CN119381310A/zh active Pending
- 2024-07-22 US US18/779,437 patent/US20250038029A1/en active Pending
- 2024-07-22 KR KR1020240096233A patent/KR20250016007A/ko active Pending
- 2024-07-23 TW TW113127424A patent/TW202514879A/zh unknown
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010082567A1 (ja) | 2009-01-13 | 2010-07-22 | 株式会社エクサ | ウエハ分離装置、ウエハ分離搬送装置、ウエハ分離方法、ウエハ分離搬送方法及び太陽電池用ウエハ分離搬送方法 |
| US20200203193A1 (en) | 2018-12-14 | 2020-06-25 | Xia Tai Xin Semiconductor (Qing Dao) Ltd. | Method and apparatus for cleaning semiconductor wafers |
| JP2022087065A (ja) | 2020-11-30 | 2022-06-09 | セメス カンパニー,リミテッド | 基板処理装置 |
| JP2022178486A (ja) | 2021-05-20 | 2022-12-02 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法 |
| JP2023046537A (ja) | 2021-09-24 | 2023-04-05 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法、および、基板処理装置 |
| US20230096569A1 (en) | 2021-09-29 | 2023-03-30 | Semes Co., Ltd. | Apparatus and method for treating substrate |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20250016007A (ko) | 2025-02-03 |
| JP2025017715A (ja) | 2025-02-06 |
| CN119381310A (zh) | 2025-01-28 |
| TW202514879A (zh) | 2025-04-01 |
| US20250038029A1 (en) | 2025-01-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100583727B1 (ko) | 기판 제조 장치 및 이에 사용되는 기판 이송 모듈 | |
| US20190341283A1 (en) | Substrate processing apparatus | |
| US20080008569A1 (en) | Substrate transfer apparatus and substrate processing system using the same | |
| JP7803631B2 (ja) | 基板処理システム、基板処理方法及び記録媒体 | |
| US10283390B2 (en) | Apparatus for processing substrate | |
| JP7516612B2 (ja) | 連結モジュール | |
| TW202343644A (zh) | 基板處理系統及基板處理方法 | |
| JP7796703B2 (ja) | 姿勢変換装置及びそれを備えた基板処理装置 | |
| US20240258147A1 (en) | Substrate processing system | |
| JP7796697B2 (ja) | 基板処理装置 | |
| JP7733061B2 (ja) | 液中姿勢変換装置及びそれを備えた基板処理装置 | |
| KR20110016639A (ko) | 기판처리장치 | |
| KR101383248B1 (ko) | 고속 기판 처리 시스템 | |
| US20260101703A1 (en) | Substrate processing apparatus and substrate transfer apparatus | |
| US20250006535A1 (en) | Substrate processing system | |
| JP2025007099A (ja) | 基板処理システム | |
| JP2025004974A (ja) | 基板処理システム | |
| CN117276149A (zh) | 基板处理装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20240408 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20250326 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20250526 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20250807 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20251003 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20251216 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20251223 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7796703 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |