JPH01100772A - セクタマーク検出回路 - Google Patents

セクタマーク検出回路

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JPH01100772A
JPH01100772A JP25617887A JP25617887A JPH01100772A JP H01100772 A JPH01100772 A JP H01100772A JP 25617887 A JP25617887 A JP 25617887A JP 25617887 A JP25617887 A JP 25617887A JP H01100772 A JPH01100772 A JP H01100772A
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JP
Japan
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logic circuit
detection
threshold logic
signal
sector mark
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Application number
JP25617887A
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English (en)
Inventor
Yasuyuki Iwatani
岩谷 靖之
Minoru Ozaki
稔 尾崎
Fumio Matsuda
松田 文男
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光デイスク装置に使用されるセクタマーク
検出回路に関する。
〔従来の技術〕
従来、光デイスク装置は、その媒体面上に同心円または
螺旋状に形成されたトラックを有し、各トラックが更に
セクタと呼ばれる記録領域に分割され、トラックに沿っ
て記録を行うように構成されている。
以下、図面を参照して、光デイスク装置におけるセクタ
、および従来のセクタマーク検出回路について説明する
第7図は上述したセクタの構成を示す概略図である。図
示のように、セクタの先頭にはセクタの起点を示すセク
タマーク(8M) 11が格納されている。次に、セク
タのアドレスを復調するためのクロックを作るフェーズ
ロックループ(PLL)の引き込み区間12が設けられ
ている。以下順に、セクタのアドレスの°始点を示す同
期マーク(syNc) t s、セクタのロケーション
を示すアドレス領域14が記録されている。更に、セク
タの使用済を示すフラグを記録する領域15、データを
復調するためのクロックを生成するPLLの引き込み区
間16、データの始点を示す同期マーク(SYNC) 
17、ユーザが情報を記録するデータ領域(DATA)
 18が設けられている。通常は、セクタマーク11 
、PLLの引き込み区間12、同期マーク13、および
アドレス領域14の内容は光デイスク媒体を製作する段
階で記録されている。このように構成されたセクタから
セクタマーク検出信号21が得られ、この検出信号21
を基準にしてPLL引き込み区間信号22,23、同期
マーク検出許可区間信号24゜25および記録再生制御
信号26が生成される。
更に、第8図はセクタマークの構成例を示す図である。
図示のように、トラック29に沿って、再生信号が“げ
になる5ビツト長のビット部3a、3ビツト長区間31
.3ビツト長のビット部32.7ビツト長区間33が順
次2碌されている。
更に第9図は従来のセクタマーク検出回路として例えば
特開昭58−169337号公報に示されたものを示す
ブロック図である。図において、光ディスク(図示しな
いンからの再生信号38は増幅器39に入力され、この
増幅器39は増幅した再生信号40を2値化回路41に
与える。この2値化回路41は2値化した幅情報信号4
2を幅検出回路43に送出し、この幅検出回路43で、
幅情報信号42がセクタマークの構成要素か否かを弁別
される。この幅検出回路43からの幅検出信号44は直
並列回路46に入力され、ここでパターンで分類され、
並列化される。この直並列回路46からの並列出力47
はしきい値論理回路48に入力され、ここで5つの検出
信号のうち3つ以上があるときセクタマークと判定され
、検出信号49として送出される。
第10図(a)は第9図に示された2値化回路41の詳
しいブロック図であシ、増幅された再生信号40が微分
回路51に入力されると、この微分回路51は微分信号
52を送出する。これを受けたピーク検出回路53は微
分信号52のピークに対応した幅情報信号42を出力す
る。
第10図(b) 、 (C) 、 (d)は、それぞれ
増幅された再生信号40、微分信号52、幅情報信号4
2の波形を示す図である。
次に、第11図は第9図に示された幅検出回路43の詳
しいブロック図であり、十分速いクロック発生器55か
らのクロック信号56をカウントするカウンタ57は幅
情報信号42によりカウントが制御され、カウント値5
8を出力する。このカウント値58が入力されたデコー
ダ59はカウント値58に応じて幅検出信号44を出力
する。
第12図は第9図に示された直並列回路46の詳しいブ
ロック図であり、5ビツト長のビット部30の検出信号
60と5ビツト長のビット検出信号61がそれぞれ入力
されたシフトレジスタ62゜63は並列出力64を出力
する。これを受けたしきい値論理回路65は検出信号6
6を出力する。
次に、以上のように構成した従来のセクタマーク検出回
路の動作について説明する。
光ディスクからの再生信号38は、増幅器S9によシ増
幅されて第10図(b)の増幅された再生信号となり、
更に微分回路51で微分されて、第10図re)に示し
た微分信号44であるパルスになる。
この微分信号44のパルスはピーク検出回路55により
正負両パルスのピークが検出され、第10図(d)に示
した幅情報信号42が生成される。この幅情報信号42
が入力されたカウンタ57はクロック発生器55からの
クロックのカウントを開始し、カウント値58を出力す
る。これを受けたデコーダ59は幅情報信号42が停止
するとカウント値58に対応した幅検出信号44を出力
する。
カウント値58が5ビツト長に相当するときは5ビット
長ビット検出信号60が出力され、3ピツト長に相当す
るときは3ビット長ビット検出信号61が出力される。
これ等の信号が入力されたシフトレジスタ62.65は
並列信号64をしきい値論理回路65に送出し、しきい
値論理回路65は入力された並列信号64を処理して、
検出信号66を出力する。
ここで、しきい値論理回路65の動作原理を説明すると
、このしきい値論理回路65は入力信号n個に対してm
個(man)以−ヒの一致が得られたと無出力を発生す
るように構成されている。即ち、組合わせの和(n)+
(m♀、)+・・・+(R)に対する論理回路の組合わ
せで構成されている。今、第12図に示したように(6
4&) 、 (64b) 、 (64Q) 。
(64(1) 、 (648)からなる並列信号64に
対して検出信号を3と設定すると、()+()+(5)
=16個の組合わせで構成される。
第13図は直並列回路46としきい値論理回路48から
セクタマーク検出信号21(第7図)を得るときの動作
を説明するタイミング図である。
第13図(A)は第8図の場合と同様にトラック29に
記録されたセクタマーク(BM) 11を示す。光ディ
スクを回転させ、光学ヘッド(図示しない)でトラッキ
ングしながらセクタマーク(SM) 11を読出すと、
時間tの経過に従って幅検出回路43から5ビツト、3
ビット長の幅検出信号60.61が発生され、シフトレ
ジスタ62.65を介して並列信号64となって送出さ
れる。この並列信号64は64a、64b、64c、6
41,64eからなり、それぞれ第15図の(B) 、
 (0) I (D) 、(尊、(F)に示される。
例えば、ビット部76で発生した幅検出信号44は信号
60.64aを経て第13図(B)のパルス81となっ
て現われ、また信号60からシフトレジスタ62を通っ
て信号64eとなり、第13図(F)のパルス82とな
って現われる。同様にビット部83で発生した幅検出信
号44は信号61としてシフトレジスタ63を通り、信
号64b、64c、64dを経てJtS図(C)のパル
ス84、同図(DJのパルス85、同図(E)のパルス
86となって現われる。その他のパルスも同様に現われ
る。同図(G)は各時刻において@ビとなる信号の個数
を示したもので、図から明らかなように1=0において
全ての並列出力64a〜64θが°1”となシ、他の時
刻においてはたかだか1個の出力だけが″げになるに過
ぎない。従って、しきい値論理回路65からは1=0の
みにおいてセクタマーク検出信号66が出力される。同
図の(川はこの検出信号66の位置を示したものである
〔発明が解決しようとする問題点〕
以上に説明したセクタマーク検出回路が備えるべき条件
として、不検出確率が低いこと、セクタマークの検出信
号がアドレスの検出や、記録再生処理に関するゲートの
作成の基準となるので、誤り検出が発生し難い構成を与
えることなどがあげられる。このような誤り検出を防止
するために従来セクタマークの検出許可区間を設けるこ
ともなされていたが、この場合は、光ディスクの回転角
速度を一定に制御していても、光デイスク製作時に作ら
れたトラックの回転中心と、使用時の光ディスクの回転
中心のずれによる偏心のため再生速度が変動するという
問題があった。このような変動は通常±100 ORP
M程度に達し、もしセクタを1000バイト長とすると
、セクタマーク検出許可区間は±1バイト程度も必要に
なる。第14図から第18図まではこの状況を示したも
のである。
各図において、(a)はセクタマーク位置、(b)は検
出許可区間、(C)は検出信号を示す。第14図は変動
のない理想的な場合で、この場合検出許可区間は検出信
号の幅でよい。第15図は使用時の回転半径がトラック
の半径より小さい場合を示したもので、9Gはトラック
中心を、91は回転中心である。第16図は第15図の
検出状況を示したもので、検出信号位置は検出許可区間
の後刃にずれている。−万、第17図は光ディスクを1
80度回転させて使用時の回転半径がトラックの回転半
径より大きい場合を示したもので、第18図はその検出
状況を示したものである。検出信号の位置は検出許可区
間の前方にずパている。第19図は従来のセクタマーク
検出回路において誤検出が発生する状況を示したもので
ある。同図(A)の97.98は記録膜の欠陥やノイズ
等により5ピツト長のビット部を3ピツト長に誤った場
合を示し、99゜100は3ビット長いビット部を5ピ
ツト長に誤った場合を示している。これ等の誤りにより
、101〜106と107〜110のパルス(斜線]で
示したように誤った幅検出信号が発生する。その結果、
同図(G)に示したように、しきい値論理回路65に入
力される幅検出信号の個数は116,117の位置で3
個となり、時刻1 = 0に対して一6ビツト、+6ビ
ツト増減した時刻に対応する時刻t=−6,t=6の位
置で誤ったセクタマーク検出信号が発生することになる
。ここで、位[117での誤検出はセクタマークの再検
出を禁止する条件を加えることによシ容易に防止できる
が、位置116での誤検出は、セクタマーク検出許可区
間内にあり、正規のセクタマーク検出位f!f(t=o
)より前なので有効な防止策がないという問題点があっ
た。
ここで、位置116でセクタマークを誤検出する確率に
ついて考えてみると、誤検出確率= Pa 2=10−
8 となる、Paはビット誤り率で、通常、光ディスク
では101程度の許容値が要求される。この誤り検出確
率は、1ケ月にわたって連続使用した場合は、20(セ
クタ/トラフクンX 1800 (rpm) X452
00(min/月)=15(回/月]となり、1ケ月に
15回誤りを検出することになる。セクタマークの検出
信号が記録再生などのための基11信号である点を考え
ると大無な値である。このように従来のセクタマーク検
出回路によると誤り検出確゛率が高過ぎるという問題点
もあった。
この発明は、上述した問題点を解決するためになされた
もので、誤り検出の発生を抑制し、セクタマークを確実
に検出できるセクタマーク検出回路を提供することを目
的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係るセクタマーク検出回路は、光ディスクか
ら再生された再生信号を並列化する並列化手段と、この
並列化した再生信号を所要ビットに分割し、これ等の分
割した所要ビットのブロック毎に参照パターンと比較し
、これにより第1所定数以上の一致を検出する第1しき
い値論理回路と、この第1しきい値論理回路の出力から
前記第1所定数と異なる第2所定数以上の一致を検出す
る第2しきい値論理回路とを設けたものである。
〔作 用〕
この発明においては、第1しきい値論理回路を設けて欠
陥やノイズなどの不検出の要因を除去し、第2しきい値
論理回路を設けて各ブロックの一致数を検出するように
構成することにより、正規の位置で発生する一致ブロッ
ク数と誤りにより正規でない位置で発生する一致ブロッ
ク数の差を大きくすることができ、従って第2しきい値
を大きく設定でき、これにより誤検出を抑えることがで
きる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図面につき説明する。
第1図はこの発明に係るセクタマーク検出回路の1実施
例を示すブロック図であり、図において光ディスクから
の再生信号12Gを波形処理回路121はディジタル信
号122に変換する。この変換されたディジタル信号1
22を信号並列化手段例えばシフトレジスタ123が受
け、6ビツト遅延させる。シフトレジスタ126からの
遅延後の出力124はシフトレジスタ125に入力され
る。以下同様に、シフトレジスタ出力はシフトレジスタ
を126→127→128→129 のように伝搬して
行く。−万、これ等のシフトレジスタ123.125〜
129の出力は第1しきい値論理回路135に入力され
る。即ち、この第1しきい値論理回路165は例えば6
個の論理回路136〜141から成り、それぞれの入力
にシフトレジスタ123.125〜129の各6本づつ
の並列出力を受け、6本のうちの5本以上が一致したと
きそれぞれ一致信号148〜153を出力する。これ等
の一致信号148〜153を第2しきい値論理回路15
5が受け、6本の信号のうち4本以上が一致したとき、
セクタマーク検出信号156を出力する。
第2図は第1図に示した第1しきい値論理回路135の
具体的構成を示す回路図であり、工、から工6(第1図
のシフトレジスタの出力に対応)の6本の入力のうち5
本以上が@H”の信号が各ANDゲ−)157に入力さ
れると、ORゲート158を介して一致信号148〜1
56が出力される。ここで入力信号工、〜工、の論理は
参照パターンが1H1のビット位置では工。が入力され
 IILIIのビット位置では工。が入力されるとする
。本実施例では、以下の参照パターンが第1しきい値論
理回路135に設定される。即ち、第1しきい値論理回
路135中の論理回路156は(111110)、論理
回路137は(111000)、論理回路138は(1
11000)、論理回路139は(ooOooo)、論
理回路140は(00111G)、論理回路141は(
111110)に設定される。
第3図は第1しきい値論理回路135の参照パターンを
示す図である。第1しきい値論理回路155では第6図
(A)〜(G)の各パターンにおいて一致信号148〜
153が出力される。(a)〜(f)は論理回路136
〜141に対応している。
次に動作について説明する。
光ディスクからの再生信号120は波形処理回路121
に入力される。ここで微分演算などによりディジタル信
号122に変換処理される。このディジタル信号122
はシフトレジスタを123→125→126→127→
128→129 と伝搬し、それにつれて並列出力が第
1しきい値論理回路135の論理回路136〜141に
出力される。これら論理回路136〜141は6個の入
力信号について5個以上の一致検出を行い、一致信号1
48〜153を出力する。第2しきい値論理回路155
は一致信号148〜153に対して4つ以上一致信号が
あることを検出してセクタマーク検出信号156を出力
する。
第4図はディジタル信号122と、第1しきい値論理回
路135の一致信号148〜153と、セクタマーク検
出信号156との発生についてのタイミング図である。
第4図(A)はトラック170に記録されたセクタマー
ク、第4図(B)はそのディジタル信号122である。
更に、第4図(C) 、 (K) t (G)。
(工)、(K)、(M)は、それぞれシフトレジスタ1
23゜125〜129からの出力信号124,151〜
135を表わしているe第4図(D) I (F) 、
 @ 、 (、T) 、 (L) 、 (N)は第1し
きい値論理回路135の出力148〜156を示したも
のである。第4図(0)は各時点における第1しきい値
論理回路135の一致信号148〜156の数を示し、
第4図(P)はセクタマーク検出信号156の発生時点
を示している、図から明らかなように、第1しきい値論
理回路165の一致信号数が第゛2しきい値論理回路1
55のしきい値4以上となるのは、t=0の正規位置だ
けであり、この位賀でセクタマーク検出信号156が出
力されることがわかる。
一万、第5図は誤りが発生したときの誤検出の状況を示
したものである。即ち、1ビット誤りと2ビット誤りの
発生により、第1しきい値論理回路155から誤って一
致信号148〜153が出力される時間位置と、一致信
号数、および誤って出力されたセクタマーク検出信号1
56の時間位置を示したものである。
第5■(A)〜(P)の各信号は第4図に示したものと
同じで、斜線は誤りの存在を特に示したものである。〔
発明が解決しようとする問題点〕の項に述べたように、
正規のセクタマーク検出位置以降(t>O)では誤検出
の発生は問題ではなく、セクタマーク検出許可区間外(
t<−8)においても誤検出は問題にならない。従って
、誤検出が問題になるのは、t=−1、t=−6,t=
−7の時点で発生するものに限られることI:なる。こ
こで誤検出確率についてみると、第6因に示したように
なる。
主要項はt=−1、t=−bにおいて3ケ所の誤りによ
り誤検出するもので、50.P8’ + 40.Pe’
 = 14 XPe’ = 1.4 X 1 G−11
(Pe= 10−’ )  である。この値は従来のセ
クタマーク検出回路に比べてろ桁も小さくなっている。
なお、上記実施例においては第8図に示したセクタマー
クの検出について説明したが、第8図のパターンに限ら
ず、他のフラグ等のパターンの検出についても上記と同
様の効果が得られる。
また、論理回路の構成も第2因に示したものに限られる
ことなく、不検出と誤検出の相互関係により設定される
しきい値に応じて他の任意の構成であってもよい。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明は、光ディスクから再生
された再生信号を並列化する並列化手段と、この並列化
した再生信号を所要ビットに分割し、これ等の分割した
所要ビットのブロック毎に参照パターンと比較し、これ
により第1所定数以上の一致を検出する第1しきい値論
理回路と、この第1しきい値論理回路の出力から前記第
1所定数と異なる第2所定数以ヒの一致を検出する第2
しきい値論理回路とを設けたので、セクタマークの誤検
出が抑えられ、光デイスク装置の記録再生制御などの信
頼性が向上するという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第2図
は第1図に示した第1しきい値論理回路の一例を示す回
路図、第3図は第1しきい値論理回路の参照パターンを
示す図、第4図はセクタマークの検出動作を説明するタ
イミング図、第5図は誤検出の状況を示すタイミング図
、第6図は誤検出確率を説明する図、第7図はセクタの
構成を示す概略図、第8図はセクタマークの1例を示す
図、第9図は従来のセクタマーク検出回路を示すブロッ
ク図、第10図は第9図に示された2値化回路の詳しい
ブロック図および動作説明用波形図、第11因は第9図
に示された幅検出回路の詳しいブロック図、第12図は
第9図に示された直並列回路の詳しいブロック図、第1
3図は第9図に示された従来のセクタマーク検出回路の
検出動作を説明するタイミング図、第14図はセクタマ
ーク検出許可区間についての説明図、第15図は光デイ
スク使用時の偏心状況を説明する図、第16因は第15
図に示した状況におけるセクタマーク検出位置と検出許
可区間との関係を示す図、第17図は第15図と同じ光
デイスク使用時の偏心状況を説明する図、第18図は第
16図と同じセクタマ125.125〜129・・ンフ
トレジスタ、135・・第1しきい値論理回路、155
・・第2しきい値論理回路である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光ディスクから再生された再生信号を並列化する並列化
    手段と、この並列化した再生信号を所要ビットに分割し
    、これ等の分割した所要ビットのブロック毎に参照パタ
    ーンと比較し、これにより第1所定数以上の一致を検出
    する第1しきい値論理回路と、この第1しきい値論理回
    路の出力から前記第1所定数と異なる第2所定数以上の
    一致を検出する第2しきい値論理回路とを備え、この第
    2しきい値論理回路からの出力に基づいてセクタに分割
    された記録領域の起点を示すセクタマークを検出するこ
    とを特徴とするセクタマーク検出回路。
JP25617887A 1987-10-13 1987-10-13 セクタマーク検出回路 Pending JPH01100772A (ja)

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