JPH01101420A - Optical sensor circuit - Google Patents
Optical sensor circuitInfo
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- JPH01101420A JPH01101420A JP25992487A JP25992487A JPH01101420A JP H01101420 A JPH01101420 A JP H01101420A JP 25992487 A JP25992487 A JP 25992487A JP 25992487 A JP25992487 A JP 25992487A JP H01101420 A JPH01101420 A JP H01101420A
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Abstract
Description
〔産業上の利用分野]
この発明は光センサ回路に関し、特に七の出力信号のへ
イ、ローのしきい値の制御をaJ能とする光センサ回路
に関するものである。[Industrial Field of Application] The present invention relates to an optical sensor circuit, and more particularly to an optical sensor circuit capable of controlling the high and low thresholds of the output signals of No.7.
第3図は従来の光センナ回路の一例を示す(ロ)略図で
ある。同図において、lは基準電圧v1が印加される基
準電圧入力端子である。この基準電圧入力1m F 1
は、NチャネA/11108トランジスタで構成される
トランスミッションゲート(以下TGと記す)2を介し
て、フォトダイオード30カソード端子に接続され、フ
ォトダイオード3のアノード端子が接地される。また、
フォトダイオード3のカッ−下端tは、NチャネA/M
O8トランジスタで構成されるTe3を介してインバー
タ回路5の入力端テと、NチャネlvMO8)フンジス
タでa成されるTe3の一方側に接続される。そして、
Te3の他方側がアースされ、インバータ回路5の出力
側が出力端子7に接続される。21,41.61は、そ
れぞれTe2.Te3.Te3のゲート端子であり、こ
のうちゲート端子21.61にはクロック信号−が与え
られ、他のゲート端t41には上記クロック信号−とオ
ーバラップしないように整定されたクロック信91が与
えられる。
これにより、Te2.Te3がクロック信ら−により亡
のオン・オフが制御される一方、Te3がクロック信9
−によりY:″のオン・オフが制御されて%TG2.T
G6とTe3とは相補的にオン・オフされることとなる
。これらTe2.Te3゜Te3とフォトダイオード3
c二よ抄、インバータ回路5への入力電圧を制御する入
力制御回路が構成される。
この光センサ回路の動作を次に説明する。いま、基準電
圧入力端子1には基準電圧v1が印加され、各TG2,
4.6のゲート端”P21,41.6IC=は上記のク
ロック信号−2−がそれぞれ与えられているものとする
。まず、クロック信9−がrHJレベ〜にある闇は、T
e2.’[’G6がオン状態となり、一方りロック信@
7arLJレベμにるるため、Te3はオフ状態となる
。これにより、フォトダイオード3に基準電圧vlによ
る逆バイアスの電圧が印加され、フォトダイオード3の
空乏層容量に電荷が′t11kされる。このとき、フォ
トダイオード3に光が照射されていなければ、空乏層容
量には基準電圧vlが七のまま印加されることになるが
、フォトダイオード3(二元が照射されていると、フォ
トダイオード3に光電流が流れて空乏層容量にかかる電
圧値は基準電圧vlよりも小さくなる。こうしてフォト
ダイオード3&二基準電圧Vlが逆バイアスされる一方
で、インバータ回路5には、七の入力電圧として、Te
3を介しアース電位であるrLJレベ〃が印加され、こ
れによりインバータ回路5の出力電圧はrHJレベ〃に
なる。
次ζ二、クロック信号−が「L」レベ〃になると、’1
1’G2,6がオフ状態でTe3がオン状態となり、フ
ォトダイオード3内の空乏層容量6二かかりていた電圧
が、Te3を介しインバータ回路50入男端子に印加さ
れる。このとき、フォトダイオード3に光が照射されて
いなければ、上記のよう(二空乏層容斌には基準電圧v
lが七のまま印加されているので、この基準電圧vlが
インバータ回路50入力端子C:与えられて、インバー
タ回路5の出力電圧はrLJレベ〃となる。これC:対
し、フォトダイオード3に光が照射されていると、上記
のよう1:空乏層容量には基準電圧v1よりも小さな電
圧が印加されているので、この電圧がインバータ回路5
の入力端子に与えられてインバータ回路5の出力電圧は
rLJレベ〃に落ちるまでには至らず、rHJレベA’
l二呆たれたままとなる。
し九がって、インバータ回路5の出力電圧、言い換えれ
ば、出力端子74二鴫われる出力電圧に基づいて光照射
の有無を険知することができる。すなわち、出力端子7
g二rHJレベ〃の信号が連続して出力されたときは光
照射有りと判断でき、逆にrHJレペ〃とrLJレベル
が交互に繰抄返して出力されたときは光照射無しと判断
できる。
〔発明が解決しようとする問題点J
ところが、上記のような従来の光センナ回路では、フォ
トダイオード3に照射される光の強度が弱いと、フォト
ダイオード3の空乏層容量にかかる電圧が基準電圧V、
に比し充分に低下せず、その電圧が七のままrHJレベ
ルの状態でインバータ回路5に与えられるため、光が照
射されているC:もかかわらず、インバータ回路5の出
力t:lr、Jレベ〃が魂れて、光照射無しと判断され
る。また、フォトダイオード3に蓄えられた電荷は、イ
ンバータ5とTe3.6に寄生する各容量の大きな合成
容量とフォトダイオード3自裔の容量とで再分配される
ため、インバータ5の入力感=生ずる電圧は小さくなる
。すなわち、従来の光センサ回路では、強度の弱い光は
検知されず、ある程度以上の強度をもつ光しか検知でき
ないという問題を有していた。
この発明は、かかる問題点を解決する九めになされ九も
ので、光の検出感度を調整できて強度の弱い光も検知し
うる光センサ回路を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段J
この発明の光センサ回路は、逆バイアス時の電気容量が
光照射ζ二応じ変化する電気容量q変:J子に第1の基
準電圧を逆バイアスすること6二より得られる第1の電
圧と、所定の第2の電圧とを交互C:インピーダンス変
換回路へ入力させるスイッチ手段を備え、上記目的を達
成するために、上記第2の電圧として第2の基準電圧を
設定し、上記インピーダンス変換回路の出力側と上記イ
ンバータ回路の入力端子間5ニキャパシタを押入して、
上記スイッチ手段から上記第2の基準電圧が出力されて
いる期間だけ導通するもう−りのスイッチ手段を上記イ
ンバータ回路の入出力端子問に接続している。
〔作用〕
この発明によれば、第2の基準電圧がインピーダンス変
換回路を介してキャパシタに与えられたときに、同時に
スイッチ手段が導通してインバータ回路にそのゲインが
高められるようなバイアスが加えられ、続いて第2の基
準電圧に代わり光照射に関連した電圧値をもつ第1の電
圧がインピーダンス変換回路を介してキャパシタに与エ
ラれると、その第1の電圧と上記第2の基準電圧との差
分が上記ゲインの高めら九九インバータ回路により増幅
される丸め、第2の基準電圧の電圧値を適宜度更するこ
とにより、光センサ回路の出力電圧o1−HJrLJレ
ベルの切りかわるしきい値を調整できる。
〔実施例]
第1図はこの発明の一実施例でめる光センサ回路を示す
回路図である。図においてTe2,4゜6とフォトダイ
オード3とで構成される部分θ出力側と、インバータ回
路5の入力端を間にカップリングキャパシタ8を出力部
に接続し九インピーダンス変換回路11が押入されると
ともに、インバータ回路50入出力端子間にNチャネl
’ViOBトランジスタで構成されるTe3が接続され
、Te3の池方側に@2の基準電圧V、が印加される第
2の基準電圧入力端子LOが接続される。91−はT2
Oのゲート端子であり、このゲート端子91にクロック
信号−が与えられてTe3のオン・オフが制御される。
七の他の構成は従来例と同一であるので同一部分4二同
−符9を付してその説明を省略する。
次にこの光センサ回路の動作6二ついて説明する。
いま基準電圧入力端子1,10には基準電圧Vl。
v2が亡れぞれ印加され、Te2,4,6.9j二はク
ロック信号−1−がそれぞれ与えられているものとする
。この先センサ回路の動作は従来の光センサ回路とほぼ
同じであるが、次の点が相達する。
すなわち、クロック信号−が「H」レペ/L/にある間
は、オン状態5二あるTe2を介しIIIの基準電圧v
1がフォトダイオード3(:逆バイアスされて、フォト
ダイオード3の空乏層容量が充電される。
このとき、Te3もオン状態となっているので、カップ
リングキャパシタ8のインピーダンス変換回路11側の
電圧は第2の基準電圧v2を入力とし九インピーダンス
変換回1%11の出力電圧となる。
また、Te3もオン状態となっているので、インバータ
回路5の入出力端が導通され、カップリングキャパシタ
8のインバータ回路5側の電圧が、インバータ回路5の
入力電圧と出力電圧を等しくする値に調整される。第2
図はインバータ回路5の入力電圧と出力電圧の関係特性
図の一例を示しており、この例では入力電圧と出力電圧
が等しくなるb点の電圧がカップリングキャパシタ8の
インバータ回路5側に与えられる。すなわちインバータ
回路5はゲインの高いb点にバイアスされることとなる
。
次に、クロック信ち−がrLJt/べfi/になると、
Te2,6.9がオフ状態でTe3のみがオン状態とな
り、カップリングキャパシタ8のインピーダンス変換@
路11側の電圧は、$2の基準電圧V2を入力としたイ
ンピーダンス変換回路11の出力電圧からフォトダイオ
ード3の空乏層容量にかかってい九電圧V、lがインピ
ーダンス変換回路11を通して出力された電圧vl′に
変化する。これζ:より第2の基準電圧v2とフォトダ
イオード3の空乏層容量にかかつてい友電圧v 11の
差の電圧がビれぞレインピーダンス変換回路を介してイ
ンバータ回路5(二作用し、この差電圧が、ゲインの高
い点ζ二バイアスされていたインバータ回路54二よっ
て増幅される。なお、電圧v lIは、従来例でも説明
したように、フォトダイオード3に光が照射されていな
ければ基準電圧VI(二等しく、光の照射が増すにつれ
て基準電圧Vlよりも低くなる。
このように、第2の基準電圧v2とフォトダイオード3
の空乏層容量にかかつていた電圧vl′との差の電圧が
インバータ回路5により増幅されて出力端子7に出力さ
れるため、第2の基準電圧v2の電圧値を適宜変更する
ことにより、第2の基準電圧v2と電圧V、lとの差電
圧を調整して光センサ回路の出力電圧を自由に調整可能
となる。言い換えれば、フォトダイオード3の端子問電
圧マlに関連して出力端F 7 gmlわれる出力電圧
を第2の基準電圧V2(二より調整でき、こうしてフォ
トダイオード3の特性に応じ光センサ回路の出力電圧の
「H」「L」レベルの切りかわるしきい値を調整できる
。
このしきい値調at二より光センサ回路の光検出感度を
制御でき、強度の弱い光ζ二対しても光検知がcvff
!、となる。
なお、上記実施例においては、TG2,4,6.9を全
てNチャネ#MO8)フンジヌタで構成しているが、T
GはPチャネlvMO8トランジスタで構成してもよく
、もちろんNチャネルとPチャネルを含む0MO8)ラ
ンジヌタで構成してもよい。その場合は、各TGが上記
実施例と同様の動作を行うように、それぞれのゲート端
子に与えられるクロック信号−1−を選定する必要があ
る。
また、上記実施例(二おいては、第1の基準電圧V。
をフォトダイオード3(:逆バイアスしているが、フォ
トダイオードC:代えて例えばフォトトランジスタを用
いてもよく、要は逆バイアス時の電気容量が光照射(二
応じ可変する電気容量可変素子を用いればよい。
【発明の効果]
以上のように、この発明の光センサ回路によれば、第2
の基準電圧と、光照射に関連して得られる電圧との差に
応じ九電圧が出力電圧として得られるため、第2の基準
電圧値を変更することにより出力電圧のrHJrLJv
ペルの切りかわるしきい値を調整でき、言い換えれば光
の噴出感度を調整できて強度の弱い光の績知もIv能と
なるという効果が得られる。
また、フォトダイオード3に蓄えられた電荷は、従来例
のよう5ニインパータのゲート容量等、大きな容量との
電荷再分配を行なわなくてすむので、噴出感度が向上す
る。FIG. 3 is a (b) schematic diagram showing an example of a conventional optical sensor circuit. In the figure, l is a reference voltage input terminal to which a reference voltage v1 is applied. This reference voltage input 1m F 1
is connected to the cathode terminal of a photodiode 30 via a transmission gate (hereinafter referred to as TG) 2 composed of an N-channel A/11108 transistor, and the anode terminal of the photodiode 3 is grounded. Also,
The lower end t of the photodiode 3 is N-channel A/M.
It is connected to the input terminal of the inverter circuit 5 via Te3 formed of an O8 transistor and to one side of Te3 formed by an N-channel lvMO8) fungistor. and,
The other side of Te3 is grounded, and the output side of the inverter circuit 5 is connected to the output terminal 7. 21 and 41.61 are respectively Te2. Te3. The gate terminal 21.61 of Te3 is supplied with a clock signal -, and the other gate terminal t41 is supplied with a clock signal 91 that is set so as not to overlap with the clock signal -. As a result, Te2. On/off of Te3 is controlled by clock signal 9, while Te3 is controlled by clock signal 9.
- controls the on/off of Y:″%TG2.T
G6 and Te3 are turned on and off in a complementary manner. These Te2. Te3゜Te3 and photodiode 3
c. An input control circuit that controls the input voltage to the inverter circuit 5 is configured. The operation of this optical sensor circuit will be explained next. Now, the reference voltage v1 is applied to the reference voltage input terminal 1, and each TG2,
It is assumed that the above clock signal -2- is applied to the gate terminals "P21 and 41.6IC= of 4.6, respectively. First, the darkness where the clock signal 9- is at the rHJ level ~ is T
e2. '['G6 turns on, and lock signal @
Since the level μ reaches 7arLJ, Te3 is turned off. As a result, a reverse bias voltage based on the reference voltage vl is applied to the photodiode 3, and a charge is added to the depletion layer capacitance of the photodiode 3 't11k. At this time, if the photodiode 3 is not irradiated with light, the reference voltage vl will remain 7 and will be applied to the depletion layer capacitance, but if the photodiode 3 (binary) is irradiated, the photodiode A photocurrent flows through the photodiodes 3 and the voltage applied to the depletion layer capacitance becomes smaller than the reference voltage vl.Thus, while the photodiode 3 & 2 reference voltage Vl is reverse biased, the inverter circuit 5 receives an input voltage of 7. ,Te
A ground potential rLJ level is applied through the inverter circuit 3, so that the output voltage of the inverter circuit 5 becomes rHJ level. Next ζ2, when the clock signal - becomes "L" level, '1
1'G2 and 6 are in the off state and Te3 is in the on state, and the voltage applied to the depletion layer capacitance 62 in the photodiode 3 is applied to the input terminal of the inverter circuit 50 via Te3. At this time, if the photodiode 3 is not irradiated with light, the reference voltage v
Since l is still applied at 7, this reference voltage vl is applied to the input terminal C of the inverter circuit 50, and the output voltage of the inverter circuit 5 becomes rLJ level. On the other hand, when the photodiode 3 is irradiated with light, as shown above, 1: Since a voltage smaller than the reference voltage v1 is applied to the depletion layer capacitance, this voltage is applied to the inverter circuit 5.
The output voltage of the inverter circuit 5 does not fall to the rLJ level, but reaches the rHJ level A'.
I was left stunned. Therefore, the presence or absence of light irradiation can be detected based on the output voltage of the inverter circuit 5, in other words, the output voltage applied to the output terminal 74. That is, output terminal 7
When the g2rHJ level signal is output continuously, it can be determined that there is light irradiation, and conversely, when the rHJ level and rLJ level are output repeatedly, it can be determined that there is no light irradiation. . [Problem to be solved by the invention J] However, in the conventional optical sensor circuit as described above, when the intensity of the light irradiated to the photodiode 3 is weak, the voltage applied to the depletion layer capacitance of the photodiode 3 becomes lower than the reference voltage. V,
Since the voltage does not decrease sufficiently compared to , and the voltage remains at 7 and is applied to the inverter circuit 5 at the rHJ level, light is irradiated. The level is broken and it is determined that there is no light irradiation. In addition, the charge stored in the photodiode 3 is redistributed between the large combined capacitance of the parasitic capacitances of the inverter 5 and Te3.6 and the capacitance of the photodiode 3's own descendants, so that the input feeling of the inverter 5 = The voltage becomes smaller. That is, conventional optical sensor circuits have a problem in that they cannot detect light with low intensity and can only detect light with an intensity above a certain level. The present invention has been made to solve these problems, and it is an object of the present invention to provide a light sensor circuit that can adjust the light detection sensitivity and detect even low-intensity light. [Means for Solving Problems J] The optical sensor circuit of the present invention has a capacitance q whose capacitance at the time of reverse bias changes depending on the light irradiation. In order to achieve the above object, the first voltage obtained from C.62 and a predetermined second voltage are alternately input to the impedance conversion circuit. Set a reference voltage, insert a 5-capacitor between the output side of the impedance conversion circuit and the input terminal of the inverter circuit,
Another switch means is connected between the input and output terminals of the inverter circuit, and is conductive only during the period when the second reference voltage is output from the switch means. [Operation] According to the present invention, when the second reference voltage is applied to the capacitor via the impedance conversion circuit, the switch means is simultaneously turned on and a bias is applied to the inverter circuit to increase its gain. Then, when a first voltage having a voltage value related to light irradiation is applied to the capacitor instead of the second reference voltage through the impedance conversion circuit, the first voltage and the second reference voltage are By rounding, the difference between the above-mentioned gain is amplified by the multiplier inverter circuit, and by appropriately changing the voltage value of the second reference voltage, the threshold value at which the output voltage o1-HJrLJ level of the optical sensor circuit changes is determined. can be adjusted. [Embodiment] FIG. 1 is a circuit diagram showing an optical sensor circuit according to an embodiment of the present invention. In the figure, a coupling capacitor 8 is connected to the output part between the θ output side of the part consisting of Te2,4°6 and the photodiode 3 and the input end of the inverter circuit 5, and a nine impedance conversion circuit 11 is inserted. In addition, an N-channel l is connected between the input and output terminals of the inverter circuit 50.
'Te3 composed of a ViOB transistor is connected, and the second reference voltage input terminal LO to which the reference voltage V of @2 is applied is connected to the side of Te3. 91- is T2
A clock signal - is applied to this gate terminal 91 to control on/off of Te3. Since the other configuration of 7 is the same as that of the conventional example, the same parts 4, 2, and 9 will be given the same reference numerals, and the explanation thereof will be omitted. Next, two operations of this optical sensor circuit will be explained. Now, the reference voltage input terminals 1 and 10 have a reference voltage Vl. It is assumed that clock signal -1- is applied to each of Te2, 4, and 6.9j, and clock signal -1- is applied to each of Te2, 4, and 6.9j. The operation of the sensor circuit is almost the same as that of the conventional optical sensor circuit, but the following points are achieved. That is, while the clock signal - is at "H" level /L/, the reference voltage V of III is maintained through Te2 which is in the on state.
1 is reverse biased and the depletion layer capacitance of the photodiode 3 is charged. At this time, since Te3 is also in the on state, the voltage on the impedance conversion circuit 11 side of the coupling capacitor 8 is When the second reference voltage v2 is input, the output voltage is 9 impedance conversion circuits 1%11. Also, since Te3 is also in the on state, the input and output terminals of the inverter circuit 5 are conductive, and the coupling capacitor 8 The voltage on the inverter circuit 5 side is adjusted to a value that makes the input voltage and output voltage of the inverter circuit 5 equal.
The figure shows an example of a relational characteristic diagram between the input voltage and the output voltage of the inverter circuit 5. In this example, the voltage at point b where the input voltage and the output voltage are equal is applied to the inverter circuit 5 side of the coupling capacitor 8. . In other words, the inverter circuit 5 is biased to point b where the gain is high. Next, when the clock signal becomes rLJt/befi/,
Te2 and 6.9 are in the off state and only Te3 is in the on state, and the impedance conversion of the coupling capacitor 8 @
The voltage on the side of path 11 is the voltage V, l applied to the depletion layer capacitance of photodiode 3 from the output voltage of impedance conversion circuit 11 with reference voltage V2 of $2 as input, which is the voltage output through impedance conversion circuit 11. It changes to vl'. This ζ: Therefore, the voltage difference between the second reference voltage v2 and the depletion layer capacitance of the photodiode 3, voltage v11, acts on the inverter circuit 5 (2) through the inverter impedance conversion circuit. The differential voltage is amplified by the inverter circuit 542, which is biased at the point ζ2 with a high gain.As explained in the conventional example, the voltage vlI is the reference voltage when the photodiode 3 is not irradiated with light. The voltage VI (equal to 2, becomes lower than the reference voltage Vl as the light irradiation increases. In this way, the second reference voltage v2 and the photodiode 3
Since the voltage difference between the voltage vl' and the voltage vl' existing in the depletion layer capacitance of The output voltage of the optical sensor circuit can be freely adjusted by adjusting the difference voltage between the reference voltage v2 and the voltages V and l. In other words, the output voltage applied to the output terminal F 7 gml in relation to the voltage across the terminals of the photodiode 3 can be adjusted by the second reference voltage V2 (2), and thus the output of the photosensor circuit can be adjusted according to the characteristics of the photodiode 3. It is possible to adjust the threshold value for switching between the "H" and "L" levels of the voltage. By adjusting this threshold value, the light detection sensitivity of the optical sensor circuit can be controlled, and light detection is possible even for weak-intensity light ζ2. cvff
! , becomes. In the above embodiment, TGs 2, 4, and 6.9 are all constructed of N channel #MO8) Funji Nuta, but T
G may be composed of a P-channel lvMO8 transistor, or of course may be composed of a 0MO8) range nut including an N-channel and a P-channel. In that case, it is necessary to select the clock signal -1- given to each gate terminal so that each TG performs the same operation as in the above embodiment. Further, in the above embodiment (2), the first reference voltage V. It is sufficient to use a variable capacitance element whose capacitance is variable according to light irradiation (2). [Effects of the Invention] As described above, according to the optical sensor circuit of the present invention, the second
Since nine voltages are obtained as the output voltage according to the difference between the reference voltage of
It is possible to adjust the threshold value at which the Pel changes, or in other words, to adjust the light ejection sensitivity, so that even low-intensity light can be detected with Iv capability. Furthermore, the charge stored in the photodiode 3 does not have to be redistributed to a large capacitor such as the gate capacitance of the 5-in-parter as in the conventional example, so that the ejection sensitivity is improved.
第1図はこの発明の一実施例である光センサ回路の回路
図、第2図はインバータ回路の入出力特性を示す図、第
3図は従来の光センナ回路の回路図である。
図(=おいて1.10は基準電圧入力端子、2゜4.6
.9はトランスミツVHングート、3はフォトダイオー
ド、5は光センサ回路、7は出力端子、8はカップリン
グキャパシタ、11はインピーダンス変換回路、21,
41,61.91はゲート端子、V、は第1の基準電圧
、v2は第2の基準電圧、−9−はクロック信号である
。
なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。FIG. 1 is a circuit diagram of an optical sensor circuit according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing input/output characteristics of an inverter circuit, and FIG. 3 is a circuit diagram of a conventional optical sensor circuit. In the figure (=, 1.10 is the reference voltage input terminal, 2゜4.6
.. 9 is a transmission VH unit, 3 is a photodiode, 5 is a photosensor circuit, 7 is an output terminal, 8 is a coupling capacitor, 11 is an impedance conversion circuit, 21,
41, 61.91 are gate terminals, V is a first reference voltage, v2 is a second reference voltage, and -9- is a clock signal. Note that the same reference numerals in each figure indicate the same or corresponding parts.
Claims (2)
電気容量可変素子のアノード端子を接地し、カソード端
子に、入力側端子に第1の基準電圧が印加される第1の
スイッチ手段の出力側端子が接続され、該第1のスイッ
チ手段の出力側端子に、出力側端子がインピーダンス変
換用バッファ回路の入力端子に接続され、かつ、前記第
1のスイッチ手段と相補的にオン・オフする第2のスイ
ッチ手段の入力端子が接続され、前記インピーダンス変
換回路の入力端子に、前記第2のスイッチ手段と相補的
にオンオフする第3のスイッチ手段を介して第2の基準
電圧が印加され、かつ該インピーダンス変換回路の出力
端子が結合容量を介して出力端子を前記第3のスイッチ
手段と同相にオンオフする第4のスイッチ手段で接続し
たインバータ回路の入力端子に接続されることを特徴と
する光センサ回路。(1) The anode terminal of the variable capacitance element whose capacitance during reverse bias changes according to light irradiation is grounded, the cathode terminal is connected to the first switching means, and the first reference voltage is applied to the input side terminal. The output side terminal is connected to the output side terminal of the first switch means, and the output side terminal is connected to the input terminal of the impedance conversion buffer circuit, and is turned on and off in a complementary manner to the first switch means. A second reference voltage is applied to the input terminal of the impedance conversion circuit via a third switch means that turns on and off complementary to the second switch means. , and the output terminal of the impedance conversion circuit is connected via a coupling capacitance to the input terminal of an inverter circuit connected by a fourth switch means that turns the output terminal on and off in the same phase as the third switch means. optical sensor circuit.
され、前記スイッチ手段がクロック信号で制御されるM
OSトランジスタで構成される特許請求の範囲第1項記
載の光センサ回路。(2) The variable capacitance element is composed of a photodiode, and the switch means is controlled by a clock signal.
The optical sensor circuit according to claim 1, comprising an OS transistor.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25992487A JPH01101420A (en) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | Optical sensor circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25992487A JPH01101420A (en) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | Optical sensor circuit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01101420A true JPH01101420A (en) | 1989-04-19 |
Family
ID=17340820
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25992487A Pending JPH01101420A (en) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | Optical sensor circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01101420A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0344311U (en) * | 1989-08-31 | 1991-04-24 | ||
| US6012863A (en) * | 1995-04-22 | 2000-01-11 | Nonogawa Shoji, Ltd. | Case of stick-type cosmetic preparation and replaceable cartridge of stick-type cosmetic preparation used therefor |
| US6293719B1 (en) | 1998-07-29 | 2001-09-25 | Suzuno Kasei Kabushiki Kaisha | Cartridge type bar-shaped cosmetic material delivery container |
| JP2003057113A (en) * | 2001-08-13 | 2003-02-26 | Canon Inc | Photoelectric conversion device, photometric sensor, and imaging device |
-
1987
- 1987-10-14 JP JP25992487A patent/JPH01101420A/en active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0344311U (en) * | 1989-08-31 | 1991-04-24 | ||
| US6012863A (en) * | 1995-04-22 | 2000-01-11 | Nonogawa Shoji, Ltd. | Case of stick-type cosmetic preparation and replaceable cartridge of stick-type cosmetic preparation used therefor |
| US6022160A (en) * | 1995-09-14 | 2000-02-08 | Nonogawa Shoji, Ltd. | Case of stick-type cosmetic preparation and replaceable cartridge of stick-type cosmetic preparation used therefor |
| US6315479B1 (en) | 1995-09-14 | 2001-11-13 | Nonogawa Shoji, Ltd. | Case of stick-type cosmetic preparation and replaceable cartridge of stick-type cosmetic preparation used therefor |
| US6293719B1 (en) | 1998-07-29 | 2001-09-25 | Suzuno Kasei Kabushiki Kaisha | Cartridge type bar-shaped cosmetic material delivery container |
| JP2003057113A (en) * | 2001-08-13 | 2003-02-26 | Canon Inc | Photoelectric conversion device, photometric sensor, and imaging device |
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