JPH01104248A - 顎運動の測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ、産業上の利用分野 本発明は、顎の動きを測定する装置に間し、特に、上下
の顎の動きを制動せずに高精度に測定できる装置に関す
る。

Ｂ、従来の技術 下顎に光源を装着し、光源の動きを光センサーで受光し
て、下顎の動きを測定する装置は提案されている（特開
昭５３−８９２９６号公報）。

この装置は、下顎歯茎に、前方に向けて光を発する光源
を装着し、光源の前方に、レンズを介して光センサーを
配設し、光センサーからの信号を増幅してＸＹレコーダ
とデータレコーダに記録している。

更に別の顎運動測定装置として、下顎の動きを３個のポ
テンシオメータで検出する装置も提案されている（実開
昭５４−３４２９０号公報）。

この装置は、患者の頭部にフレームを固定し、３個のポ
テンシオメータでもって下顎の前後、左右、上下の運動
を検出している。

Ｃ０従来の問題点 ところが、光センサーを使用した装置は、光の受光位置
に無数のＣＯＤやフォトトランジスタ等の受光センサー
を配設し、この受光センサーで受光位置を検出している
。従って、分解率を高くすると、原理的に、ＣＯＤ等の
受光センサーの数が著しく増加し、装置全体が高価にな
る欠点がある。

又、光を利用したものは、顎が運動すると光の照射位置
と照射方向の両方が変わる為、受光センサーの出力信号
で顎の動きを特定する演算処理が難しく、演算処理回路
も複雑になる欠点があった。

又、光りで下顎の動きを測定する従来の装置は、頭を下
顎と一緒に動かすと、頭の動きが下顎の動きとして検出
され、顎の動きと頭の動きとを判別できない。この為、
測定中に患者が頭を動かすと誤差の原因となるので、頭
を固定して顎を運動する必要がある。ところが、顎をい
っばいに下げて口を大きく開いた状態は、頭を少し上向
きに動かさなければ、最大限に顎を下げて、口をいっば
いに開くことができない。この為、測定中に、患者の頭
が動いて測定誤差を起こし易く、高精度の測定ができ難
い欠点があった。

更に、ポテンシオメータを使用する下顎運動測定装置は
、顎の上下、前後、左右の動きを、ポテンシオメータに
伝達する機構が複雑で、しかも、ポテンシオメータの駆
動機構に多少遊びができて測定誤差の原因となり、更に
、ポテンシオメータを駆動するのに力が必要で、これに
よって顎の動きが制動されて動きが重くなる欠点があっ
た。

本発明は、従来のこれ等の欠点を除去することを目的に
開発されたもので、本発明の重要な目的は、測定装置が
顎の動きを制約せず、顎の動きが高精度に測定できる顎
運動の測定装置を提供することにある。

又、本発明の他の重要な目的は、上顎と下顎に装着して
、それぞれの相対運動を測定する為、測定中に頭が動い
ても測定誤差の原因とならず簡単かつ容易に、しかも正
確に顎の動きが測定できる顎運動の測定装置を提供する
ことにある。

更に又、本発明の他の重要な目的は、測定精度を高くし
ても装置全体が高価にならず、しかもセンサーからの出
力信号で下顎の動きが正確に特定でき、測定された上顎
と下顎の軌跡が電気信号で得られる為、これをコンピュ
ータに簡単に入力でき、コンピュータで演算処理するこ
とによって、顎の動きが測定並びに分析ができる顎運動
の測定装置を提供することにある。

Ｄ、従来の問題点を解決する為の手段 顎の運動の測定装置は、上顎と下顎に別々に装着される
上顎運動部材と、下顎運動部材と、これ等の上顎運動部
材、下顎運動部材の相対的な変位を検出するセンサーと
、センサーに誘導される交流の位相を検出する位相検出
回路とからなる。

センサーはセンサーコイルと、このセンサーコイルの周
囲に交流磁界を作る界磁コイルとからなる。

界磁フィルとセンサーコイルとは非接触で、界磁コイル
は、センサーコイルを中心として相対向する位置に配設
され、更に、相対向して配設された両界磁コイルは位相
が異なる交流で励磁されて交流磁界が作られ、交流磁界
によってセンサーコイルに交流が誘導され、誘導された
交流の位相を位相検出回路で検出してセンサーコイルの
位置を測定する。

Ｅ９作用、効果 本発明の好ましい実施例を示す第１図の顎運動の測定装
置は、上顎と下顎とが相対運動すると、上顎運動部材１
と、下顎運動部材２とが相対運動する。上顎運動部材１
と下顎運動部材２との相対運動は、センサー３で検出さ
れる。

センサー３は、センサーコイル５と、界磁コイル６とか
らなる。　　　　ヘ センサーコイル５は、移動する位置に対応して位相が変
わる交流が誘導される。従って、センサーコイル５に誘
導される交流の位相を、位相検出回路で測定して、セン
サーコイル５の位置を測定する。

第１図に示すように、ひとつのセンサーコイル５でもっ
て移動した位置を測定する場合、センサーコイル５は、
第２図に於て、ｘ、　　ｙ、　　ｚ軸の位置、並びにＹ
軸まわりの回転角θを、順番に一定周期で繰り返し測定
し、各測定時間に対するセンサーコイル５の位置を検出
する。

Ｘ、Ｙ、　　Ｚ軸方向の位置、並びにＹ軸まわりの回転
角θの１回の測定時間は、顎の動きに対して充分に短く
、例えば１０μ秒〜１００ｍ秒の範囲に決定される。

下顎運動部材２両端の、Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸方向、並
びにＹ軸まわりの回転角θが測定されると、上顎運動部
材１の下顎運動部材２に対する相対位置は特定できる。

ところで、図示しないが、上顎運動部材１の両端ともう
ひとつの一点、例えば上顎運動部材１の中央部分の合計
３点の、Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸の変位を測定するなら、
回転角θの測定をすることなく、下顎運動部材２の上顎
運動部材ｌに対する相対位置は特定できる。従って、本
発明は、センサー取付位置、並びにセンサーの検出方向
を特定するものでない。

センサーコイルが、移動した位置によって誘導される交
流の位相が変わる状態を、第３図に基づいて説明する。

この図に於て、界磁コイル６ＢをＥｃｏｓωもの交流で
励磁し、前方の界磁コイル６ＡをＥｓ１ｎωｔの、交流
で励磁するとき、即ち、両界磁コイル６Ａ、６Ｂを位相
差が９０度で同一周波数の交流で励磁すると、センサー
コイル５が両界磁コイルの中央に位置するとき、センサ
ーコイル５には、両界磁コイル６Ａ、６Ｂの中間の位相
の交流、即ちＣＯＳ　（ωｔ＋π／４）の交流が誘導さ
れる。

センサーコイル５が中央から矢印Ａの方向に移動する程
、センサーコイル５に誘導される交流の位相は、ｓｉｎ
ωｔに近付き、中央から矢印Ｂの方向に移動する程、Ｃ
Ｏ９ωｔの交流に近付く。

従って、センサーコイル５に誘導される交流の位相を検
出して、センサーコイル５のＸ軸方向の位置が測定でき
る。但し、センサーコイル５に誘導される交流の位相と
、Ｘ軸方向の変位量は、両界磁コイル６Ａ、６Ｂの中間
全ての領域に渡って直線的に変化するものでない。従っ
て、検出された位相から変位量を補正する。

センサーコイル５のＹ軸方向の変位測定は、第４図に示
すように、センサーコイル５の両側でＹ軸方向に離して
２Ｍの界磁コイル６Ｃ，６Ｄを配設し、図に於て右側の
界磁コイル６ＣをＥｓ１ｎωｔの交流で励磁し、左側の
界磁コイル６ＤをＥＣ０Ｓωｔの交流で励磁する。この
とき、センサーコイル５が両磁界コイル６Ｃ，６Ｄの中
間に位置すると、Ｘ軸方向と同様に、センサーコイル５
には両励磁コイルの中間の位相差、即ち、ｃｏｓ（ωｔ
＋π／４）の交流が誘導される。センサーコイル５が右
に移動すると、センサーコイルに誘導される交流の位相
はｓｉｎωｔに近付き、反対に左に移動すると、ＣＯＳ
ωｔに近付く。

従って、この場合も、センサーコイル５の位相を測定し
てＹ軸方向の位置が測定できる。

同様にして、第５図に示すように、センサーコイル５の
上下、即ちＺ軸方向に２組の界磁コイル６Ｅ、６Ｆを配
設し、両界磁コイル６Ｅ、６Ｆに位相差９０度の交流を
加え、センサーコイル５に誘導される交流の位相を検出
して、Ｚ軸方向の位置が検出できる。

更に、Ｙ軸まわりの回転角θの測定は、第６図に示すよ
うに、センサーコイル５の前後に同方向に巻かれたＩＭ
の界磁コイル６Ａ、６Ｂを、上下に同方向に巻かれた別
の１組の界磁コイル６Ｇ、６Ｈを配設し、前後の界磁コ
イル６Ａ、６ＢをＥｓ１ｎωｔの交流で、上下の界磁コ
イル６Ｇ、６ＨをＥｃｏｓωを交流で励磁して測定する
。

センサーコイル５の中心軸がＹ軸と平行のとき、センサ
ーコイル５には、これと同方向に巻かれた前後の界磁コ
イル６Ａ、６Ｂと同相、即ち、５ｉｎＬＪ）ｔの交流が
誘導される。センサーコイル５がＹ軸を中心に回転する
に従って、誘導される交流の位相がずれてＣＯＳωｔに
近付く。従って、位相のずれを検出し、Ｙ軸まわりの回
転角θを測定する。

センサーコイル５に誘導される交流の位相差は、位相検
出回路で測定され、必要ならば、位相検出回路の出力を
コンピューターで演算処理して、下顎運動部材と上顎運
動部材の各点、並びに上顎と下顎各点の相対運動曲線を
モニターテレビ、ＸＹプロッタ、プリンタ等に表示させ
る。

位相検出回路の出力を演算処理する技術は、現在既にこ
の分野で使用されている公知の技術が使用される。

位相検出回路には、交流の位相が測定できる全ての回路
が使用できる。第７図にその実施例を示す。

この回路は、位相差を有するふたつの交流入力信号を、
波形整形回路１１で矩形波に整形し、この矩形波をエク
スクル−シブオア回路１２に人力して、両人力信号のい
ずれか片方が１のときにのみ１のパルス信号を作り、こ
のパルス信号のパル・ス幅をカウンター１３で計測して
いる。

第８図に位相検出回路の動作波形を示す。

図の（２）に示す波形の交流がセンサーコイルに誘導さ
れると、この信号と界磁コイルの励磁電圧波形とが（３
）、（４）で示される矩形波に整形され、（３）、（４
）の矩形波がエクスクル−シブオア回路１２で比較され
て（５）のパルス信号を得る。　（５）のパルス幅ｔは
、　（１）、　（２）の人力信号の位相差に相当する。

両人力信号の位相差が大きい程、エクスクル−シブオア
回路１２の出力パルスの時間幅が広くなる。パルス幅ｔ
をカウンターで計測すると、位相差が検出できる。これ
がカウンターで測定される。

Ｅ、好ましい実施例 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。

第１図に示す顎運動装置は、上顎と下顎とに別々に装着
される上顎運動部材１と下顎運動部材２と、これ等の上
顎運動部材１と下顎運動部材２の両端に設けられて変位
を測定するセンサー３および位相検出回路７とからなる
。

上顎運動部材１と下顎運動部材２とは、全体形状がＵ字
状ないしコ字状に折曲され、両端が下顎の運動枢軸、即
ち、顎の付根部で顔の両側に位置する。

下顎運動部材２と上顎運動部材１の両端であって、セン
サー３の取り付は位置が、下顎の付根部分に位置すると
、下顎を大きく開く運動をしても、センサー変位量が少
なく、従って、非接触センサーの外径、特に界磁コイル
の外形をコンパクトにでき、全体を軽くできる。

上顎運動部材１と下顎運動部材２は、通常、歯に嵌着さ
れる取付部材４を介して上顎と下顎とに固定される為、
可能な限り軽量化するのがよい。

従って、上顎運動部材１と下顎運動部材２とは、アルミ
ニウム等の軽金属、あるいは合成樹脂や木等で作られる
。

センサー３は、センサーコイル５と、界磁コイル６とか
らなる。

センサーコイル５と界磁コイル６とが相対運動してその
変位が測定できる。センサーコイル５を上顎運動部材ｌ
と下顎運動部材２のいずれか一方に、界磁コイル６を他
の一方に固定して上顎運動部材１と下顎運動部材２の変
位を測定できる。

第１図は、下顎運動部材２の両端にセンサーコイル５を
、上顎運動部材ｌの両端に界磁コイル６を固定している
。

センサーコイル５は、下顎運動部材２の先端部分に、下
顎運動部材２の軸と同軸に巻かれている。

センサーコイル５は巻回数が多い程、誘導させる電圧が
大きくなるが、多すぎると、重くて応答性が遅くなるの
で、通常数十〜数千回程度に決定される。

界磁コイル６は、センサーコイル５の、Ｘ、　　Ｙ、Ｚ
軸方向の変位検出用、並びに回転角θ検出用からなる。

界磁コイル６は、センサーコイル５の周囲に、センサー
コイル５が移動してもこれと接触しないように離されて
配設されている。

センサーコイル５のＸ軸方向の変位を測定する界磁コイ
ル６Ａ、６Ｂは、第３図に示すように、センサーコイル
５からＸ軸方向に離されて、即ち、図に於て前後に離さ
れて２組み設けられている。

２絹の界磁コイル６Ａ、６Ｂはセンサーコイル５と同方
向に巻かれている。

センサーコイル５のＹ軸方向の変位を測定する界磁コイ
ル６Ｃ，６Ｄは、第４図に示すように、センサーコイル
５からＹ軸方向に離されて、即ち、図に於て左右に離さ
れて２組み設けられている。

２組の界磁コイル６Ｃ，６Ｄはセンサーコイル５と同方
向に巻かれている。

Ｚ軸変位測定用の界磁コオル６Ｅ、６Ｆは、第５図に示
すように、センサーコイル５からＺ軸方向に離されて、
即ち、図に於て上下に離されて２組み設けられている。

２組の界磁コイル６Ｅ、６Ｆはセンサーコイル５と同方
向に巻かれている。

Ｙ軸まわりの回転角θ測定用の界磁コイルは、第６図に
示すように、Ｘ軸変位）ｙす定用の界磁コイル６Ａ、６
Ｂを１組の界磁コイルとして使用し、センサーコイル５
の上下に配設された界磁コイル６Ｇ、６Ｈを１組の界磁
コイルとして使用する。

界磁コイル６は、センサーコイル５が挿入される１面が
開いた箱型のケース１４内に固定され、ケース１４が上
顎運動部材ｌの端に固定される。

各界磁コイル６は、位相差９０度の交流出力を出す発振
器で励磁される。

発振器の一例を第９図に示す。この発振器は、同一周波
数で位相が９０度累々る、Ｅｓ１ｎｃＪｔとＥｃｏｓω
ｔの２出力を世す発振回路８と、発振回路８の出力を切
り換えて、各界磁コイル６Ａ。

６Ｂ、６Ｃ，６Ｄ、６Ｅ、６Ｆ、６Ｇ、６Ｈを励磁する
切換回路９と、切換回路９を一定の周期で制御するタイ
マーｌＯとからなる。

タイマー１０で制御される切換回路９は、一定時間毎に
、発振回路日の出力を各界磁コイル６Ａ、６Ｂ・・・・
・・・・・６Ｈに切り換える。切り換えのタイミングチ
ャートを第１０図に示す。この図に於て、一定時間、セ
ンサーコイル５のＸ軸方向の変位を測定する時間、即ち
、第３図に於て、前後の界磁コイル６Ａ、６Ｂのみを励
磁して、Ｘ軸方向の変位を測定し、その後、Ｙ軸方向の
変位を測定する時間、即ち、第４図に於てセンサーコイ
ル５左右の界磁コイル６Ｃ，６Ｄを励磁してＹ軸方向の
変位を測定する。その後、一定の周期で、Ｚ軸方向の変
位と回転角θとを測定した後、再びＸ、　Ｙ、　　Ｚ軸
の変位と回転角θとを測定する。

Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸並びに回転角θのそれぞれの測定
時間Ｔは、顎の動きに対して充分に早く、例えば１０８
秒〜１００ｍ秒の範囲に調整される。従って、この時間
に、センサーコイル５に誘導される交流の位相が検出で
きるように、界磁コイル６を励磁する交流の周波数は、
１００Ｈｚ〜数十Ｋ　Ｈ２に調整される。

ところで、第９図および第１０図に示すように、順番に
Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸とθ角の変位を測定する場合、位
相検出回路７も、これに同期して制御される。

従って、位相検出回路のカウンター１３の出力は、タイ
マー１０で制御される。

即ち、Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸の変位を測定する状態で界
磁コイルが励磁されるとき、位相検出回路７はｘｌＹ、
Ｚ軸の変位に対応した位相差を検出する。従って、位相
検出回路は、第９図に示すように、Ｘ、Ｙ、　Ｚ軸並び
にθ角の順番で、これと同期してその変位に相当する位
相差を検出する。

ただ図示しないが、上顎運動部材と下顎運動部材とに、
ｘ、　　ｙ、　　ｚ軸並びにθ角測定用のセンサーコイ
ルと界磁コイルとを設け、各センサーコイルの位相差を
連続的に検出して、下顎運動部材の上顎運動部材に対す
るｘ、　ｙ、　　ｚ軸並びにθ角の連続測定は可能であ
る。

但し、この場合、ｘ、　　ｙ、　　ｚ軸とθ角測定用の
界磁コイルは、互いに磁力線が干渉しないように上顎運
動部材と下顎運動部材とに固定する必要がある。

位相検出回路７は、交流の位相が検出できる全ての回路
が使用できる。第７図の位相検出回路７は、ふたつの人
力サイン波を矩形波に整形する波形整形回路１１と、こ
の波形整形回路１１の出力を比較するエクスクル−シブ
オア回路Ｉ２と、このエクスクル−シブオア回Ｍ１２の
出力パルスの時間幅を測定するカウンター１３とからな
る。

一方の波形整形回路１１には、界磁コイル６を励磁する
Ｅｓ　ｉｎωを又はＥｃｏｓωｔのいずれかの交流を加
え、別の波形整形回路１１には、センサーコイル５に誘
導された交流を加える（第８図（１）、（２）の人力波
形）。

波形整形回路１１は、両人力信号を、第８図の（３）、
　（４）で示す矩形波に整形する。

エクスクル−シブオア回路１２は、両人力信号の位相差
成分を取り、第８図（５）に示すように、位相差に相当
するパルス幅ｔの信号を出力する。

出力信号のパルス幅ｔがカウンター１３で測定され、カ
ウンター１３の出力が位相差を表示する。

今仮に、波形整形回路１１の一方に、Ｅｓ１ｎωｔの交
流を入力し、この状態で、センサーコイル５がＥｓ１ｎ
ωｔの交流で励磁される片方の界磁コイルに接近すると
、センサーコイル５に誘導される交流の位相は、第８図
（２）の矢印で示す方向に位相がずれてＥｓ１ｎωｔに
近付き、波形整形回路１１の出力信号の位相差が少なく
なる。

従って、・エクスクル−シブオア回路１２の出力信号の
パルス幅ｔは短く、カウンター１３の計測値は低くなる
。反対に、センサーコイル５がＥｓ１ｎωｔの交流で励
磁される界磁コイルから離れ、Ｅｃｏ　ｓωｔの交流で
励磁される界磁コイルに近付くと、センサーコイル５に
誘導される交流は、Ｅｓ１ｎＬＪｔの交流から位相のず
れが大きくなり、エクスクル−シブオア回路１２の出力
パルス幅が広く、カウンター１３の計測値が高くなる。

前にも述べたようにカウンターの計測値は、第１１図に
示すように、ｘ、　ｙ、　　ｚ軸並びにθ角の変位量に
対して、直線的に変化しない。従って、第１１図に示す
特性曲線をコンピュータに記憶させ、これに基づいて、
検出位相差から正確に移動位置を演算することも可能で
ある。

以上の実施例は、界磁コイル６を位相差９０度の交流で
励磁したが、位相差は必ずしも９０度にする必要はなく
、両界磁コイル６に流す交流に位相差が有る限り使用で
きる。但し、界磁コイルの位相差が少ないと、測定精度
が低下する。

第１図に示す顎運動の測定装置は上顎運動部材１と下顎
運動部材２の両端にセンサー３を固定しているが、本発
明はセンサーの固定位置を特定するものでない。例えば
、図示しないが、上顎運動部材１と下顎運動部材２の両
端と中部の３点に、Ｘ、　　Ｙ、　　Ｚ軸の変位を測定
するセンサーを固定することも、又、取付部材４の前方
３点のＸ、　　Ｙ、Ｚ軸の変位を測定することも可能で
ある。センサーは、立体的に相対運動する上顎運動部材
ｌと下顎運動部材２の位置が特定できる全ての取付状態
が採用できる。

Ｆ、効果 本発明の顎運動の測定装置は、互いに非接触のセンサー
コイルと界磁コイルとで顎の動きを測定する為、センサ
ーが顎の動きを制動せず、両者が著しく軽く動いて顎の
動きを正確に測定できる。

又、センサーコイルに誘導される交流の位相差を測定し
て、下顎運動部材の相対位置を測定する為、下顎運動部
材がゆっくり動いても、その位置が正確に測定でき、・
又、センサーコイルでもって無段階に、しかも、高精度
に変位量が測定でき、光センサーのように無数の受光セ
ンサーを使用することなく、安価なセンサーで正確に測
定できる特長をそ備える。

又、上顎と下顎とに別々に上顎運動部材と下顎運動部材
とを装着して、両者の相対運動を測定する為、測定中に
頭が動いても誤差の原因とならず、簡単でしかも高精度
に顎の動きが測定出来る。

更に又、顎の動きが電気信号に変換される為、コンピュ
ータ等での後処理が簡単にできる特長も備える。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明の一実施例を示す顎運動の測定装置の概
略斜視図、第２図は頭に対するＸ、　Ｙ、Ｚ軸を示す斜
視図、第３図ないし第６図はセンサーコイルと界磁コイ
ルの配列を示す概略斜視図、第７図は位相検出回路の一
例を示すブロック線図、第８図は波形整形回路の入出力
並びにエクスクル−シブオア回路の出力波形を示すグラ
フ、第９図は発振器の一例を示すブロック線図、第１０
図はＸ、　　Ｙ、　　Ｚ軸とθ角を測定するタイミング
チャート図、第１１図は変位と位相差とを示すグラフで
ある。 ｌ・・上顎運動部材、 ２・・下顎運動部材、 ３・・センサー、 ４・・取付部材、 ５・・センサーコイル、 ６・・界磁コイル、 ７・・位相検出回路、 ８・・発振回路、 ９・・切換回路、 １０・・タイマー、 １１・・波形整形回路、 １２・・エクスクル−シブオア回路、 １３・・カウンター、 １４φ　・ケース。 Ｓｉｒｌｃ１７ｔ 第　　２　　図 第　　４　　図 第　　８　　図 時間→ 第１０図 変　Ｉｆｆ、　　量

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）上顎と下顎に別々に装着される上顎運動部材と、
   下顎運動部材と、これ等の上顎運動部材、下顎運動部材
   の相対的な変位を検出するセンサーと、このセンサーに
   誘導される交流の位相を検出する位相検出回路とからな
   り、センサーがセンサーコイルと、このセンサーコイル
   の周囲に交流磁界を作る界磁コイルとからなり、界磁コ
   イルはセンサーコイルに非接触で、センサーコイルを中
   心として相対向する位置に配設され、更に、相対向して
   配設された両界磁コイルは位相が異なる交流で励磁され
   て交流磁界が作られ、交流磁界によってセンサーコイル
   に交流が誘導され、誘導された交流の位相を位相検出回
   路で検出してセンサーコイルの位置を測定するように、
   構成された顎運動の測定装置。
2. （２）上顎運動部材に界磁コイルが装着され、下顎運動
   部材にセンサーコイルが装着されている特許請求の範囲
   第（１）項記載の顎運動の測定装置。
3. （３）センサーコイルを中心に、相対抗して配設された
   ふたつの界磁コイルが、位相差９０度の交流で励磁され
   る特許請求の範囲第（１）項記載の顎運動の測定装置。
4. （４）上顎運動部材と下顎運動部材の両端が顔の両側部
   分に延長されており、その両端にセンサーが設けられて
   いる特許請求の範囲第（１）項記載の顎運動の測定装置
   。