JPH01112132A - 試料低温装置 - Google Patents
試料低温装置Info
- Publication number
- JPH01112132A JPH01112132A JP62269327A JP26932787A JPH01112132A JP H01112132 A JPH01112132 A JP H01112132A JP 62269327 A JP62269327 A JP 62269327A JP 26932787 A JP26932787 A JP 26932787A JP H01112132 A JPH01112132 A JP H01112132A
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- Japan
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- plate
- peltier effect
- liquid nitrogen
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- Pending
Links
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- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 16
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 30
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、例えば粉体の成型によって板状に形成された
試料等任意の板状試料にＸ線あるいは光線等を入射させ
て、その反射線を検出するか、あるいは電気抵抗を測定
する等の場合において、」−足板状試料を液化気体で極
めて低い温度まで冷却した状態で測定を行うための装置
に関する。
試料等任意の板状試料にＸ線あるいは光線等を入射させ
て、その反射線を検出するか、あるいは電気抵抗を測定
する等の場合において、」−足板状試料を液化気体で極
めて低い温度まで冷却した状態で測定を行うための装置
に関する。
このような装置において、従来は板状の試料を液化気体
槽に直接密着させることにより、これを冷却していた。
槽に直接密着させることにより、これを冷却していた。
しかし上記液化気体として例えば窒素を用いるものとす
ると、試料をその気化温度の一１９６度以下に冷却する
ことが出来ないと共にこれより高い温度においても、そ
の温度制御を精密でかつ容易迅速に行い得ない等の欠点
があった。従って本発明はこのような欠点を除去しよう
とするものである。
ると、試料をその気化温度の一１９６度以下に冷却する
ことが出来ないと共にこれより高い温度においても、そ
の温度制御を精密でかつ容易迅速に行い得ない等の欠点
があった。従って本発明はこのような欠点を除去しよう
とするものである。
本発明は液化気体容器に板状の冷却槽を導管等で連結し
て、その冷却槽の一方の面に板状の電熱器を添着し、他
方の面に板状のペルチェ効果素子を介して板状の試料を
添着すると共に」二足電熱器およびペルチェ効果素子を
それぞれ可変電源に接続するようにしたものである。従
って電熱器に適当な電力を加えて冷却槽を加熱すると、
その中の液化気体が蒸発して、槽内の液化気体量が制御
されるから、これによって試料温度の粗調整を行うこと
ができる。かつその状態でペルチエ効果素子に加える電
圧を調整することにより、発熱または吸熱の量を制御し
て試料温度の精密調整が行われる。しかも電熱器を遮断
して、上記素子に吸熱を生ずるような極性の電圧を加え
ることにより、試料を冷媒の液化気体より低い温度まで
冷却することができる。
て、その冷却槽の一方の面に板状の電熱器を添着し、他
方の面に板状のペルチェ効果素子を介して板状の試料を
添着すると共に」二足電熱器およびペルチェ効果素子を
それぞれ可変電源に接続するようにしたものである。従
って電熱器に適当な電力を加えて冷却槽を加熱すると、
その中の液化気体が蒸発して、槽内の液化気体量が制御
されるから、これによって試料温度の粗調整を行うこと
ができる。かつその状態でペルチエ効果素子に加える電
圧を調整することにより、発熱または吸熱の量を制御し
て試料温度の精密調整が行われる。しかも電熱器を遮断
して、上記素子に吸熱を生ずるような極性の電圧を加え
ることにより、試料を冷媒の液化気体より低い温度まで
冷却することができる。
図面は本発明の実施例で、第１図は装置の縦断面図、第
２図は第１図における一部の拡大縦断面図、また第３図
は第２図の部分を分解した斜視図である。このようえに
例えば液体窒素１の容器２に矩形板状の冷却槽３を導管
４で連結し、かつ上記導管の」二端には容器２内に配置
された漏斗状部分５を形成して、その下部に孔６を設け
ると共に容器２の開口部７に栓８を嵌合しである。上記
冷却槽３の一方の面に板状の電熱器９を密着させて、他
方の面にペルチェ効果接点１０．１０・・・を矩形板状
に配列して直列に接続したペルチエ効果素子１１を添着
し、更にこの素子に板状をなした試料１２を添着したも
ので、−上記ペルヂエ効果素子１１および電熱器９はコ
ード１３．１４によって外部へ引き出されている。なお
試１！４１２は例えば図のように板状の試料板１５の凹
部に粉末試料Ｉ２を充填して、この試料板を素子１１に
添着し、その試料板１５とペルチエ効果素子ＩＩ、冷却
槽３および電熱器９の四隅をねじ１６、Ｉ６・・・で固
定すると共に図示してないが試料１２には熱電対接点を
添着しである。上述のような液化気体容器２と導管４、
冷却槽３、電熱器９、ペルチエ効果素子１１．および試
料１２を一体として第１図の気密容器１７内に収容し、
その容器を排気口１８から真空に排気することにより前
記液体窒素１のような液化気体の蒸発を防止するように
しである。なお試料１２に、例えばＸ線を投射してその
回折Ｘ線を検出する場合等は」−配気密容器Ｉ７におけ
る試料Ｉ２と対向する部分にＸ線窓Ｉ９を形成する。ま
た前記コード１３．１４は図示してないが、それぞれ独
立の可変電源に接続されている。
２図は第１図における一部の拡大縦断面図、また第３図
は第２図の部分を分解した斜視図である。このようえに
例えば液体窒素１の容器２に矩形板状の冷却槽３を導管
４で連結し、かつ上記導管の」二端には容器２内に配置
された漏斗状部分５を形成して、その下部に孔６を設け
ると共に容器２の開口部７に栓８を嵌合しである。上記
冷却槽３の一方の面に板状の電熱器９を密着させて、他
方の面にペルチェ効果接点１０．１０・・・を矩形板状
に配列して直列に接続したペルチエ効果素子１１を添着
し、更にこの素子に板状をなした試料１２を添着したも
ので、−上記ペルヂエ効果素子１１および電熱器９はコ
ード１３．１４によって外部へ引き出されている。なお
試１！４１２は例えば図のように板状の試料板１５の凹
部に粉末試料Ｉ２を充填して、この試料板を素子１１に
添着し、その試料板１５とペルチエ効果素子ＩＩ、冷却
槽３および電熱器９の四隅をねじ１６、Ｉ６・・・で固
定すると共に図示してないが試料１２には熱電対接点を
添着しである。上述のような液化気体容器２と導管４、
冷却槽３、電熱器９、ペルチエ効果素子１１．および試
料１２を一体として第１図の気密容器１７内に収容し、
その容器を排気口１８から真空に排気することにより前
記液体窒素１のような液化気体の蒸発を防止するように
しである。なお試料１２に、例えばＸ線を投射してその
回折Ｘ線を検出する場合等は」−配気密容器Ｉ７におけ
る試料Ｉ２と対向する部分にＸ線窓Ｉ９を形成する。ま
た前記コード１３．１４は図示してないが、それぞれ独
立の可変電源に接続されている。
このような装置において、電熱器９およびペルチエ効果
素子１１に電圧を加えない状態では、試料１２が上記素
子を介して冷却槽３の液体窒素で冷却されるが、電熱器
９に任意の電力を加えると、この液体窒素が気化して蒸
発し、漏斗状部分５を通って外部に逸出するが、同時に
その基部の孔６＝３− から液体窒素の補給が行われる。このため上記電力の大
きさに応じて冷却槽３内における液体窒素１の量が制御
され、このたぬ試料１２からペルチェ効果素子１１を介
して冷却槽３に奪われる熱量が変化する。従って試料Ｉ
２の温度を上記電熱器の電力によって制御することがで
きる。かつこの制御は槽３内における液体窒素の量によ
るもので、精密な制御は困難である。しかし同時にペル
チェ効果素子１１に加える電圧およびその極性によって
、この素子で任意の熱量を吸収あるいは放出することが
できるから、その電圧調整によって試料１２の温度が精
密に制御される。また電熱器９を電源から遮断してペル
チェ効果素子１１に吸熱量か最大となるような極性の電
圧を加えると、試料は液体窒素の温度、すなわち−１９
６８Ｃ以下の例えば−２０６°Ｃ程度まで冷却される。
素子１１に電圧を加えない状態では、試料１２が上記素
子を介して冷却槽３の液体窒素で冷却されるが、電熱器
９に任意の電力を加えると、この液体窒素が気化して蒸
発し、漏斗状部分５を通って外部に逸出するが、同時に
その基部の孔６＝３− から液体窒素の補給が行われる。このため上記電力の大
きさに応じて冷却槽３内における液体窒素１の量が制御
され、このたぬ試料１２からペルチェ効果素子１１を介
して冷却槽３に奪われる熱量が変化する。従って試料Ｉ
２の温度を上記電熱器の電力によって制御することがで
きる。かつこの制御は槽３内における液体窒素の量によ
るもので、精密な制御は困難である。しかし同時にペル
チェ効果素子１１に加える電圧およびその極性によって
、この素子で任意の熱量を吸収あるいは放出することが
できるから、その電圧調整によって試料１２の温度が精
密に制御される。また電熱器９を電源から遮断してペル
チェ効果素子１１に吸熱量か最大となるような極性の電
圧を加えると、試料は液体窒素の温度、すなわち−１９
６８Ｃ以下の例えば−２０６°Ｃ程度まで冷却される。
このように、本発明の装置は試料の温度を精密に制御し
得ると共に冷媒の温度以下まで冷却することが可能であ
る。
得ると共に冷媒の温度以下まで冷却することが可能であ
る。
一４＝
第１図は本発明実施例の縦断面図、第２図は第１図の一
部の縦断面図、第３図は第２図の部分の分解斜視図であ
る。 なお図において、■は液体窒素、２は液化気体容器、３
は冷却槽、９は電熱器、１１はペルチエ効果素子、１２
は試料、である。 −二′
部の縦断面図、第３図は第２図の部分の分解斜視図であ
る。 なお図において、■は液体窒素、２は液化気体容器、３
は冷却槽、９は電熱器、１１はペルチエ効果素子、１２
は試料、である。 −二′
Claims (1)
- 液化気体容器に連結された板状冷却槽の一方の面に板状
の電熱器を密着させると共にペルチエ効果接点を板状に
配列したペルチエ効果素子を介して上記板状冷却槽の他
方の面に板状の試料を添着し、上記電熱器およびペルチ
エ効果素子をそれぞれ可変電源に接続した試料低温装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62269327A JPH01112132A (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 試料低温装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62269327A JPH01112132A (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 試料低温装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01112132A true JPH01112132A (ja) | 1989-04-28 |
Family
ID=17470813
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62269327A Pending JPH01112132A (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 試料低温装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01112132A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102033307A (zh) * | 2010-10-15 | 2011-04-27 | 上海理工大学 | 一种用于低温显微镜载物台的防结露装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57136149A (en) * | 1981-02-18 | 1982-08-23 | Rigaku Denki Kk | Device for supporting low temperature sample in x ray diffraction device |
-
1987
- 1987-10-27 JP JP62269327A patent/JPH01112132A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57136149A (en) * | 1981-02-18 | 1982-08-23 | Rigaku Denki Kk | Device for supporting low temperature sample in x ray diffraction device |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102033307A (zh) * | 2010-10-15 | 2011-04-27 | 上海理工大学 | 一种用于低温显微镜载物台的防结露装置 |
| CN102033307B (zh) | 2010-10-15 | 2012-07-04 | 上海理工大学 | 一种用于低温显微镜载物台的防结露装置 |
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