JPH01114117A - Cmos出力バッファ回路 - Google Patents
Cmos出力バッファ回路Info
- Publication number
- JPH01114117A JPH01114117A JP62271414A JP27141487A JPH01114117A JP H01114117 A JPH01114117 A JP H01114117A JP 62271414 A JP62271414 A JP 62271414A JP 27141487 A JP27141487 A JP 27141487A JP H01114117 A JPH01114117 A JP H01114117A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diode
- output
- channel
- buffer circuit
- output buffer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体装置、特にCMO3半導体装置の入
出力兼用端子に設けられるCMO3出力バッファ回路に
関するものである。
出力兼用端子に設けられるCMO3出力バッファ回路に
関するものである。
CMO3半導体装置において、装置内部の信号を外部へ
出力するための回路形式としては、Nチャンネルオーブ
ンドレイン形式、Pチャンネルオーブンドレイン形式、
CMO5出力形式の3種類があり、それぞれ必要とする
ものを作り分けている。
出力するための回路形式としては、Nチャンネルオーブ
ンドレイン形式、Pチャンネルオーブンドレイン形式、
CMO5出力形式の3種類があり、それぞれ必要とする
ものを作り分けている。
従来のCMOS出力バッファ回路を第2図(a)。
(b)に示す、同図において、QlはNチャンネルトラ
ンジスタ、Q2はPチャンネルトランジスタ、DI、D
2はそれぞれトランジスタQl、Q2のドレイン部分に
形成される寄生ダイオード、1゜2はそれぞれトランジ
スタQl、Q2のゲートに入力される信号、3は本CM
OS出力バッファ回路の出力端子であり、本CMOS出
力バッファ回路が設けられているCMO3半導体装置内
の他の回路に外部からの信号を入力するための入力端子
を兼ねている。以下、この節点3を入出力兼用端子とも
出力点とも称する。
ンジスタ、Q2はPチャンネルトランジスタ、DI、D
2はそれぞれトランジスタQl、Q2のドレイン部分に
形成される寄生ダイオード、1゜2はそれぞれトランジ
スタQl、Q2のゲートに入力される信号、3は本CM
OS出力バッファ回路の出力端子であり、本CMOS出
力バッファ回路が設けられているCMO3半導体装置内
の他の回路に外部からの信号を入力するための入力端子
を兼ねている。以下、この節点3を入出力兼用端子とも
出力点とも称する。
なお、同図ではN基板Pウェル方式を用いたものを示し
ているが、逆の場合、即ち、P基板Nウェル方式の場合
も勿論ある。
ているが、逆の場合、即ち、P基板Nウェル方式の場合
も勿論ある。
このような構造の場合、Di、D2として示されている
寄生ダイオードが必ずドレイン部分に形成される0例え
ば、NチャンネルトランジスタQ1においては、ドレイ
ンを形成するN+拡散領域とP基板との間で図示したよ
うな方向でダイオードが形成される。またPチャンネル
トランジスタQ2においては、ドレインを形成するP
拡散層とNウェルとの間でダイオードが形成される。そ
のため例えば出力点3の電位がVccより大きい場合は
ダイオードD2が順方向でオンしてしまい、大きな寄生
電流が流れることになる。この端子をCMOSレベルの
みで使用する場合は、節点3の電位はVss xVcc
の範囲にしかならず特に問題はないが、この端子にVc
c以上の電圧を印加した場合は、この構造では前述した
ような問題がある。
寄生ダイオードが必ずドレイン部分に形成される0例え
ば、NチャンネルトランジスタQ1においては、ドレイ
ンを形成するN+拡散領域とP基板との間で図示したよ
うな方向でダイオードが形成される。またPチャンネル
トランジスタQ2においては、ドレインを形成するP
拡散層とNウェルとの間でダイオードが形成される。そ
のため例えば出力点3の電位がVccより大きい場合は
ダイオードD2が順方向でオンしてしまい、大きな寄生
電流が流れることになる。この端子をCMOSレベルの
みで使用する場合は、節点3の電位はVss xVcc
の範囲にしかならず特に問題はないが、この端子にVc
c以上の電圧を印加した場合は、この構造では前述した
ような問題がある。
従来のCMOS出力バッファ回路は以上のように構成さ
れているため、入出力兼用端子の電位としてはVssか
らVcCO間の電位しか許容されず、使用方法が制約さ
れるという問題点があった。
れているため、入出力兼用端子の電位としてはVssか
らVcCO間の電位しか許容されず、使用方法が制約さ
れるという問題点があった。
この発明は上記のような従来のCMO3出力バッファ回
路の問題点を解消するためになされたもので、CMO3
回路形式でありながら出力点にVcCより大きな電圧が
印加可能なCMO3出力バッファ回路を提供することを
目的としている。
路の問題点を解消するためになされたもので、CMO3
回路形式でありながら出力点にVcCより大きな電圧が
印加可能なCMO3出力バッファ回路を提供することを
目的としている。
この発明に係るCMOS出力バッファ回路は、出力用P
チャネルおよびNチャンネルトランジスタのドレイン間
に電源から見て順方向になるようにダイオードを挿入し
、かつダイオードと出力用Nチャンネルトランジスタと
の接続点から出力点を取出すようにしたものである。
チャネルおよびNチャンネルトランジスタのドレイン間
に電源から見て順方向になるようにダイオードを挿入し
、かつダイオードと出力用Nチャンネルトランジスタと
の接続点から出力点を取出すようにしたものである。
この発明においては、上述のようにダイオードを付加し
たことにより、出力点に電源電圧以上の電圧が印加され
たとしてもこのダイオードが逆方向になって出力用Pチ
ャンネルトランジスタの寄生ダイオードがオンするのを
防止するため、出力点に電源電圧以上の電圧が印加され
たときの寄生電流がカットオフされ正常な動作が可能と
なる。
たことにより、出力点に電源電圧以上の電圧が印加され
たとしてもこのダイオードが逆方向になって出力用Pチ
ャンネルトランジスタの寄生ダイオードがオンするのを
防止するため、出力点に電源電圧以上の電圧が印加され
たときの寄生電流がカットオフされ正常な動作が可能と
なる。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図は本発明の一実施例によるCMOS出力バッファ回路
を示し、図において、4はPチャンネルトランジスタQ
2のドレインに相当するP型拡散領域、5は該P型拡散
領域4内に島状に形成されたN型拡散領域、D3は前記
P型拡散領域4とN型拡散領域5とによって構成される
ダイオードである。Ql、Q2.DI、D2、信号1゜
2.3は従来装置と同一のものである。
図は本発明の一実施例によるCMOS出力バッファ回路
を示し、図において、4はPチャンネルトランジスタQ
2のドレインに相当するP型拡散領域、5は該P型拡散
領域4内に島状に形成されたN型拡散領域、D3は前記
P型拡散領域4とN型拡散領域5とによって構成される
ダイオードである。Ql、Q2.DI、D2、信号1゜
2.3は従来装置と同一のものである。
前記P型拡散領域4およ2びN型拡散領域5の不純物濃
度はダイオードD3の逆方向耐圧が電源電圧vccより
も大きくなるように選択する。以下の説明のためにこの
ダイオードD3の逆方向耐圧をV、とじておく。
度はダイオードD3の逆方向耐圧が電源電圧vccより
も大きくなるように選択する。以下の説明のためにこの
ダイオードD3の逆方向耐圧をV、とじておく。
次に動作について説明する。今、入出力兼用端子3にV
CC以上の電圧vAが印加されたとする。
CC以上の電圧vAが印加されたとする。
従来装置の場合は寄生ダイオードD2が順方向となって
オンし、大きな寄生電流が流れてしまい正常な動作をし
ないが、本発明の場合はVA<Vlであればダイオード
D3が逆方向となって寄生電流をカントオフし、正常な
動作が可能である。
オンし、大きな寄生電流が流れてしまい正常な動作をし
ないが、本発明の場合はVA<Vlであればダイオード
D3が逆方向となって寄生電流をカントオフし、正常な
動作が可能である。
なお、上記の説明ではCMO3出力形式として使用する
場合を考えたが、本実施例では同一回路を、Nチャンネ
ルオープンドレイン形式として使用することも可能であ
る。従来装置ではCMOS形式とNチャンネルオーブン
ドレイン形式とはマスク上で作り分ける必要があり、マ
スクに応じた所定の使用方法でしか使用できなかった。
場合を考えたが、本実施例では同一回路を、Nチャンネ
ルオープンドレイン形式として使用することも可能であ
る。従来装置ではCMOS形式とNチャンネルオーブン
ドレイン形式とはマスク上で作り分ける必要があり、マ
スクに応じた所定の使用方法でしか使用できなかった。
しかしながら、本発明によれば、入力信号2をvecレ
ベルに設定する等の方法により、Pチャンネルトランジ
スタQ2を常時オフするようにしておけば、出力点にV
CC以上の電圧が印加可能となり、こうすることで、N
チャンネルオープンドレイン形式と全(同一の動作をさ
せることができ、使用方法の自由度が大幅に増大する。
ベルに設定する等の方法により、Pチャンネルトランジ
スタQ2を常時オフするようにしておけば、出力点にV
CC以上の電圧が印加可能となり、こうすることで、N
チャンネルオープンドレイン形式と全(同一の動作をさ
せることができ、使用方法の自由度が大幅に増大する。
また、第1図(a)を製造するためのウェハプロセスを
考えた場合、ダイオードD3はその逆方向耐圧■3が所
望以上の電圧でありさえすればよく、従ってP型拡散7
14あるいはN型拡散層5は従来プロセスでのP“ソー
スドレイン工程あるいはN1ソースドレイン工程と共用
可能であリウェハプロセスの増加は実質的にはないもの
である。
考えた場合、ダイオードD3はその逆方向耐圧■3が所
望以上の電圧でありさえすればよく、従ってP型拡散7
14あるいはN型拡散層5は従来プロセスでのP“ソー
スドレイン工程あるいはN1ソースドレイン工程と共用
可能であリウェハプロセスの増加は実質的にはないもの
である。
以上のように、本発明に係るCMOS出力バッファ回路
によれば、出力Pチャンネルトランジスタと直列にダイ
オードを付加し、ダイオードとNチャンネルトランジス
タとの接続点を出力端子としたので、CMO5形式であ
りながら出力点にVo、以上の電圧が印加可能となり、
入出力兼用端子の使い方が柔軟に行なえるという効果が
ある。
によれば、出力Pチャンネルトランジスタと直列にダイ
オードを付加し、ダイオードとNチャンネルトランジス
タとの接続点を出力端子としたので、CMO5形式であ
りながら出力点にVo、以上の電圧が印加可能となり、
入出力兼用端子の使い方が柔軟に行なえるという効果が
ある。
第1図はこの発明の一実施例によるCMOS出力バッフ
ァ回路を示す図、第2図は従来のCMOS出力バッファ
回路を示す図である。 図において、QlはNチャンネルトランジスタ、Q2は
Pチャンネルトランジスタ、Di、D2゜D3はダイオ
ード、1.2はそれぞれトランジスタQl、Q2のゲー
ト入力、3は入出力兼用端子、4はP型拡散層、5はN
型拡散層である。
ァ回路を示す図、第2図は従来のCMOS出力バッファ
回路を示す図である。 図において、QlはNチャンネルトランジスタ、Q2は
Pチャンネルトランジスタ、Di、D2゜D3はダイオ
ード、1.2はそれぞれトランジスタQl、Q2のゲー
ト入力、3は入出力兼用端子、4はP型拡散層、5はN
型拡散層である。
Claims (3)
- (1)ソースを接地電位に接続したNチャンネルトラン
ジスタと、 ソースを電源電圧に接続したPチャンネルトランジスタ
と、 該Pチャンネルトランジスタのドレインをアノードとし
、カソードが前記Nチャンネルトランジスタのドレイン
と接続されたダイオードとを備え、該ダイオードのカソ
ードと前記Nチャンネルトランジスタのドレインとの接
続点から出力端子を取出すようにしたことを特徴とする
CMOS出力バッファ回路。 - (2)前記ダイオードを、前記Pチャンネルトランジス
タのドレインに相当するP型拡散層と該P型拡散層の中
に島状に形成されたN型拡散層との2つの拡散層により
形成するようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載のCMOS出力バッファ回路。 - (3)前記出力端子は、本回路以外の回路に外部の信号
を入力するための入力端子を兼ねていることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載のCMOS出力バッファ回
路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62271414A JPH01114117A (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | Cmos出力バッファ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62271414A JPH01114117A (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | Cmos出力バッファ回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01114117A true JPH01114117A (ja) | 1989-05-02 |
Family
ID=17499711
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62271414A Pending JPH01114117A (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | Cmos出力バッファ回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01114117A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03232269A (ja) * | 1990-02-07 | 1991-10-16 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置の入力回路 |
| WO2000022731A1 (fr) * | 1998-10-13 | 2000-04-20 | Rohm Co., Ltd. | Circuit de commutation de tension d'alimentation |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5776916A (en) * | 1980-10-30 | 1982-05-14 | Nec Corp | Output circuit |
| JPS62120063A (ja) * | 1985-11-20 | 1987-06-01 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
-
1987
- 1987-10-27 JP JP62271414A patent/JPH01114117A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5776916A (en) * | 1980-10-30 | 1982-05-14 | Nec Corp | Output circuit |
| JPS62120063A (ja) * | 1985-11-20 | 1987-06-01 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03232269A (ja) * | 1990-02-07 | 1991-10-16 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置の入力回路 |
| WO2000022731A1 (fr) * | 1998-10-13 | 2000-04-20 | Rohm Co., Ltd. | Circuit de commutation de tension d'alimentation |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3228583B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| US6605981B2 (en) | Apparatus for biasing ultra-low voltage logic circuits | |
| JP2001352077A (ja) | Soi電界効果トランジスタ | |
| JPH04349661A (ja) | 半導体装置 | |
| US20020050850A1 (en) | Voltage switching circuit | |
| US8008951B2 (en) | High voltage switch utilizing low voltage MOS transistors with high voltage breakdown isolation junctions | |
| JP3379050B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JPH01114117A (ja) | Cmos出力バッファ回路 | |
| US11929434B2 (en) | High voltage switch device | |
| US5463240A (en) | CMIS device with increased gain | |
| EP0616725A4 (en) | ELECTRICAL INSULATION FOR INTEGRATED CIRCUITS. | |
| HK59996A (en) | Integrated circuit with anti-''latch-up'' circuit obtained using complementary mos circuit technology | |
| KR100223671B1 (ko) | 다중 전원전압을 가지는 반도체 메모리 장치 | |
| JPH03248554A (ja) | Cmos半導体集積回路装置 | |
| US8134404B2 (en) | Semiconductor device that degrades leak current of a transistor | |
| JP2946547B2 (ja) | Mos型半導体集積回路 | |
| JP3060311B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH1028045A (ja) | Mosトランジスタ回路 | |
| JPH0257345B2 (ja) | ||
| KR0127269B1 (ko) | 밴드갭 차이를 이용한 상보형 모스트랜지스터 | |
| KR100244287B1 (ko) | 씨모스펫 | |
| JPS6337646A (ja) | C−mos出力回路 | |
| JPS5821857A (ja) | アナログ・デイジタル混載集積回路 | |
| KR930004718B1 (ko) | 인버터 회로 | |
| KR950003238B1 (ko) | 다중-전극을 이용한 논리소자의 구조 |