JPH01116455A - 接地抵抗の影響を補償した絶縁抵抗測定方法 - Google Patents
接地抵抗の影響を補償した絶縁抵抗測定方法Info
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- JPH01116455A JPH01116455A JP27532087A JP27532087A JPH01116455A JP H01116455 A JPH01116455 A JP H01116455A JP 27532087 A JP27532087 A JP 27532087A JP 27532087 A JP27532087 A JP 27532087A JP H01116455 A JPH01116455 A JP H01116455A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は活線状態にて電路等の絶縁抵抗を測定する方法
、殊忙対地浮遊容量が大きい場合無視しえなくなる接地
抵抗の影響を補償した簡易絶縁抵抗惧（１定方法に関す
る。
、殊忙対地浮遊容量が大きい場合無視しえなくなる接地
抵抗の影響を補償した簡易絶縁抵抗惧（１定方法に関す
る。
（従来技術）
従来、漏電等の早期発見の為には第３図に示す装置を用
い、以下説明するような方法によって電路の絶縁抵抗を
測定するのが一般的であった。
い、以下説明するような方法によって電路の絶縁抵抗を
測定するのが一般的であった。
即ち、受電変圧器Ｔの第２種接地線ＬＨを。
商用電源周波数とは異なる周波数ｆｌなる測定用低周波
信号を発振する発振器Ｏ８Ｃに接続されたトランスＯＴ
に貫通させるか、或は接地線を切断しこれに直列に前記
発振器を接続する等して電路Ｌ！及びＬ２に測定用低周
波電圧を印加し、前記接地線Ｌｖｙ貫通せしめた零相変
流器ＺＣＴによって電路と大地間に存在する絶縁抵抗Ｒ
Ｏ及び対地浮遊容量ＣＯを介して前記接地線に帰還する
漏洩電流を検出したのちこれを増Ｉａ器ＡＭＰで増幅し
、フィルタＦ’ＩＬにて商用周波成分を除去した周波数
ｆ１の成分のみを選択し、かつこれを整流器ＤＥＴに加
えて得られる電圧を用いて電路の絶縁抵抗を測定するも
のであって、この回路は第４図に示す等価回路で表示す
ることができる。
信号を発振する発振器Ｏ８Ｃに接続されたトランスＯＴ
に貫通させるか、或は接地線を切断しこれに直列に前記
発振器を接続する等して電路Ｌ！及びＬ２に測定用低周
波電圧を印加し、前記接地線Ｌｖｙ貫通せしめた零相変
流器ＺＣＴによって電路と大地間に存在する絶縁抵抗Ｒ
Ｏ及び対地浮遊容量ＣＯを介して前記接地線に帰還する
漏洩電流を検出したのちこれを増Ｉａ器ＡＭＰで増幅し
、フィルタＦ’ＩＬにて商用周波成分を除去した周波数
ｆ１の成分のみを選択し、かつこれを整流器ＤＥＴに加
えて得られる電圧を用いて電路の絶縁抵抗を測定するも
のであって、この回路は第４図に示す等価回路で表示す
ることができる。
同第４図に於いて、ＲＯは被測定電路の絶縁抵抗、Ｃｏ
は同じく対地浮遊容量であって、接地線ＬＩＫ誘起して
被測定電路に流れる測定用低周波発振器Ｏ８Ｃの出力信
号が前記Ｒｏ及びＣｏを介し接地線へ再び帰還する場合
を示している。伺ｒは接地点Ｅと大地との間の接地抵抗
である。
は同じく対地浮遊容量であって、接地線ＬＩＫ誘起して
被測定電路に流れる測定用低周波発振器Ｏ８Ｃの出力信
号が前記Ｒｏ及びＣｏを介し接地線へ再び帰還する場合
を示している。伺ｒは接地点Ｅと大地との間の接地抵抗
である。
従来、このような等価回路に基づいて以下の計算から絶
縁抵抗を求めていた。
縁抵抗を求めていた。
即ち、同図に於いて接地点Ｅを介して周波数ｆ１の発振
器Ｏ８ＣＫ流れろ電流をＩｔとし。
器Ｏ８ＣＫ流れろ電流をＩｔとし。
これを
とする。このとき
（但し、 ωｓ＝２ｗｆｌである）
である。
一般Ｙ Ｒｏ＞ｒ でめ夛。
（ω５ｃｏｒ）”＜１ ・・・・・・・・・・・・
（４）となるようにω１を選べば前記（２）式は又前
記（３）式は ＢミωｌＣｏ ・・・・・・・・・・・・（６）と
表わすことができるから、前記帰還電流工１を実沖１す
ることによって上述のＡ及びＢを、更にはこれらから絶
縁抵抗ＲＯ′ｆｔ求めることができる。
（４）となるようにω１を選べば前記（２）式は又前
記（３）式は ＢミωｌＣｏ ・・・・・・・・・・・・（６）と
表わすことができるから、前記帰還電流工１を実沖１す
ることによって上述のＡ及びＢを、更にはこれらから絶
縁抵抗ＲＯ′ｆｔ求めることができる。
しかしながら、上述の如き従来の絶縁抵抗測定方法では
前記式（５）及び（６）から明らかな如く対地浮遊容ｆ
ｉＣｏが大きい時、又印加電圧の周波数ω１／２Ｋが高
い時は浮遊容量ＣＯが関与する成分が大きくなるため正
確な絶縁抵抗ＲＯの値が求められないばかりでたく、さ
ら罠これが大きくなると接地抵抗ｒの影響が無視できな
くなシ測定そのものが不可能になろと云う欠点があった
。
前記式（５）及び（６）から明らかな如く対地浮遊容ｆ
ｉＣｏが大きい時、又印加電圧の周波数ω１／２Ｋが高
い時は浮遊容量ＣＯが関与する成分が大きくなるため正
確な絶縁抵抗ＲＯの値が求められないばかりでたく、さ
ら罠これが大きくなると接地抵抗ｒの影響が無視できな
くなシ測定そのものが不可能になろと云う欠点があった
。
（発明の目的）
本発明はこのような従来の電路の絶縁抵抗の測定方法に
於ける欠陥を除去すべくなされたものであって、接地抵
抗の影響を補償した絶縁抵抗測定方法を提供するもので
ある。
於ける欠陥を除去すべくなされたものであって、接地抵
抗の影響を補償した絶縁抵抗測定方法を提供するもので
ある。
（発明の概ｇＩ）
変圧器の接地線もしくは電路忙低周波電圧を印加したト
ランスのコアと漏洩電流を検出する変流器とを結合させ
、このトランスのコアト変流器とに電路とは逆相罠貫通
する接続線な設け、これを第１の可変コンデンサで終端
する。
ランスのコアと漏洩電流を検出する変流器とを結合させ
、このトランスのコアト変流器とに電路とは逆相罠貫通
する接続線な設け、これを第１の可変コンデンサで終端
する。
先ずこの状態において変流器出力に含まれる上記低周波
の漏洩電流成分が最小となるように第１の可変コンデン
サを調整するととＫよシ対地静電容量ＣＯを検出し、！
ｉＩ！整後に得られる上記低周波成分の大きさ工１を求
める。次に電路と大地間に所定値Ｃのコンデンサを強制
的に挿入し、この時変流器出力中に含まれる上記低周波
の漏洩電流成分が最小となるように前記第一のコンデン
サを調整して得られる上記低周波成分の大きさ工２を求
め、これら２つの成分工１絶縁抵抗を徂１１定するもの
である。
の漏洩電流成分が最小となるように第１の可変コンデン
サを調整するととＫよシ対地静電容量ＣＯを検出し、！
ｉＩ！整後に得られる上記低周波成分の大きさ工１を求
める。次に電路と大地間に所定値Ｃのコンデンサを強制
的に挿入し、この時変流器出力中に含まれる上記低周波
の漏洩電流成分が最小となるように前記第一のコンデン
サを調整して得られる上記低周波成分の大きさ工２を求
め、これら２つの成分工１絶縁抵抗を徂１１定するもの
である。
（実施例）
以下１本発明を図示した実施例に基づいて詳細に説明す
る。
る。
本発明の一実施例な第１図に示す。第３図と同一の記号
は同一の意味をもつものとする。
は同一の意味をもつものとする。
伺、第１図においてはトランスＯＴと変流器ＺＣＴと忙
電路Ｌ１．Ｌｇを貫通しているが、電路への低周波電圧
の印加ならびに漏渉電流の検出という動作については第
３図と全く等価である。この実施例が前記第３図と異な
る部分は。
電路Ｌ１．Ｌｇを貫通しているが、電路への低周波電圧
の印加ならびに漏渉電流の検出という動作については第
３図と全く等価である。この実施例が前記第３図と異な
る部分は。
電路Ｌｌ 、Ｌ！を貫通したトランスＯＴと変流器ＺＣ
Ｔ Ｋ更に接続線Ｌｐを前記電路とは逆相となるように
貫通させ可変コンデンサＣｖＫて終端したこと及び、接
地電路Ｌ！と大地との間圧スイッチＳＷを介して第２の
コンデンサＣを接続した点である。
Ｔ Ｋ更に接続線Ｌｐを前記電路とは逆相となるように
貫通させ可変コンデンサＣｖＫて終端したこと及び、接
地電路Ｌ！と大地との間圧スイッチＳＷを介して第２の
コンデンサＣを接続した点である。
この装置の動作は次の通シである。
周波数ｆ１＝ω１／２πの低周波を発振する発振器の出
力をトランスＯＴＫ加えることＫよシミ路と大地間にＶ
ｓｉｎω１１ の電圧が印加される。まず、接続線Ｌｐ
が無い場合を考えると変流器ＺＣＴの出力を増幅器ＡＭ
Ｐで増幅し９周波数ｆ＝の″成分を検出するフィルタＦ
ＩＬに印加すれば。
力をトランスＯＴＫ加えることＫよシミ路と大地間にＶ
ｓｉｎω１１ の電圧が印加される。まず、接続線Ｌｐ
が無い場合を考えると変流器ＺＣＴの出力を増幅器ＡＭ
Ｐで増幅し９周波数ｆ＝の″成分を検出するフィルタＦ
ＩＬに印加すれば。
で表わされる。
次に、変流器ＺＣＴ 、）ランスＯＴを電路とは逆相と
なる如く貫通する接続線Ｌｐ？：：コンデンサＣｖで終
端すれば、接続線Ｌｐに流れる電流は一３ωｌＣＶ÷で
あるからこのときのフィルタＦＩＬの出力Ｉｔ ｌは ・・・・・・・・・（８） となる。したがってフィルタ出力１１′を整流器ＤＥＴ
に印加すれば、そのときの整流器出力は・・・・・・・
・・（９） となる。
なる如く貫通する接続線Ｌｐ？：：コンデンサＣｖで終
端すれば、接続線Ｌｐに流れる電流は一３ωｌＣＶ÷で
あるからこのときのフィルタＦＩＬの出力Ｉｔ ｌは ・・・・・・・・・（８） となる。したがってフィルタ出力１１′を整流器ＤＥＴ
に印加すれば、そのときの整流器出力は・・・・・・・
・・（９） となる。
そこで、上記整流器出力が最小となるように可変コンデ
ンサＣｖを調整すれば、Ｃｏ＝Ｃｖのとき最小となシミ
路の対地静電容量をコンデンサＣｖの値から測定するこ
とができ、Ｃｏ＝Ｃｖのときの整流器出力をＩｔとすれ
ば となる。
ンサＣｖを調整すれば、Ｃｏ＝Ｃｖのとき最小となシミ
路の対地静電容量をコンデンサＣｖの値から測定するこ
とができ、Ｃｏ＝Ｃｖのときの整流器出力をＩｔとすれ
ば となる。
次に１両定電路と大地間に所定値のコンデンサＣを挿入
する。これは例えば同図に示したように電路の接地相（
ここではＬりをスイッチＳＷを介してコンデンサＣを大
地に接続すればよく、コンデンサＣを挿入したとき（ス
イッチＳＷ′オン”のとｔりのフィルタＦＩＬ出力Ｉｇ
’は ｉ！″＝（±＋ω１ｍ （Ｃｏ −）Ｃ）” ｒ ＋
ｊωｔ （Ｃｏ＋Ｃ−Ｃｖ ））Ｒ。
する。これは例えば同図に示したように電路の接地相（
ここではＬりをスイッチＳＷを介してコンデンサＣを大
地に接続すればよく、コンデンサＣを挿入したとき（ス
イッチＳＷ′オン”のとｔりのフィルタＦＩＬ出力Ｉｇ
’は ｉ！″＝（±＋ω１ｍ （Ｃｏ −）Ｃ）” ｒ ＋
ｊωｔ （Ｃｏ＋Ｃ−Ｃｖ ））Ｒ。
Ｖ ＋＋・・・・・・・（社）
となるから、フィルタ出力を整流器ＤＥＴに印加し、整
流器出力が最小となるように可変コンデンサＣｖを調整
すればＣｏ＋Ｃ＝Ｃｖ のとき最小となシ、このとき
の整流器出力な工２とすれば卸式から となる。又、このとき（Ｃｏ＋Ｃ＝Ｃｖ）（９）式は （財）式は となるから（至）、（２）式の比をとれば＝が ・・
・・・・・・・（２） （２）式を更に変形すれば となる。
流器出力が最小となるように可変コンデンサＣｖを調整
すればＣｏ＋Ｃ＝Ｃｖ のとき最小となシ、このとき
の整流器出力な工２とすれば卸式から となる。又、このとき（Ｃｏ＋Ｃ＝Ｃｖ）（９）式は （財）式は となるから（至）、（２）式の比をとれば＝が ・・
・・・・・・・（２） （２）式を更に変形すれば となる。
即ち、前記測定された対地静電容量Ｃｏ 、ならびにコ
ンデンサＣの値から（ト）式に示し九ｋを算出すると共
に、測定値Ｉｔ、Ｉ冨を（転）式に代入することによシ
ミ路の絶縁抵抗を測定することができる。
ンデンサＣの値から（ト）式に示し九ｋを算出すると共
に、測定値Ｉｔ、Ｉ冨を（転）式に代入することによシ
ミ路の絶縁抵抗を測定することができる。
同、上記例では単相２線の電路の例で示したが、他の単
相３線、３相３線等の電路でも同様に測定が可能である
。
相３線、３相３線等の電路でも同様に測定が可能である
。
又上記例では接続線を単にトランスＯＴ 、変流器ＺＣ
Ｔを貫通するようにしたが９例えば接続線をトランスＯ
ＴのみにＮ回巻線すれば、接続線を流れる電流は−ｊω
１ｃｖＮＶとなシ、これはコンデンサＣｖの値を１／Ｎ
にしてもよいことと等価となる。又変流器ＺＣＴにのみ
Ｎ回巻線しても同様である。更に両者に所定回数巻線す
れば、それぞれの積だけコンデンサＣｖの値を小さくす
ることも可能である。
Ｔを貫通するようにしたが９例えば接続線をトランスＯ
ＴのみにＮ回巻線すれば、接続線を流れる電流は−ｊω
１ｃｖＮＶとなシ、これはコンデンサＣｖの値を１／Ｎ
にしてもよいことと等価となる。又変流器ＺＣＴにのみ
Ｎ回巻線しても同様である。更に両者に所定回数巻線す
れば、それぞれの積だけコンデンサＣｖの値を小さくす
ることも可能である。
又上記説明では接続線Ｌｐに印加低周波電圧よシタ０度
移相した電流を流すためコンデンサＣｖを用いたが、こ
のような電流を流すために第２図に示すよう忙トランス
ＯＴに貫通もしくは巻線した導線Ｌｑを９０度移相器ｐ
ｓＫ印加することＫよシ印加電圧よシタ０度移相した電
圧を発生させ、その出力を電力増幅器ＰＡＭＰに印加し
、その出力を変流器に貫通もしくは巻線した導線Ｌｒを
抵抗器Ｒｖで終端し、導線Ｉ、ｑに流れる電流が電路に
流れる対地静電容量によυ流れる電流と逆相となるごと
くすれば、抵抗器Ｒｖの値を調整することＫよυ、第１
図のコンデンサＣｖを調整することと等価な機能を実現
しうろことは明らかである。
移相した電流を流すためコンデンサＣｖを用いたが、こ
のような電流を流すために第２図に示すよう忙トランス
ＯＴに貫通もしくは巻線した導線Ｌｑを９０度移相器ｐ
ｓＫ印加することＫよシ印加電圧よシタ０度移相した電
圧を発生させ、その出力を電力増幅器ＰＡＭＰに印加し
、その出力を変流器に貫通もしくは巻線した導線Ｌｒを
抵抗器Ｒｖで終端し、導線Ｉ、ｑに流れる電流が電路に
流れる対地静電容量によυ流れる電流と逆相となるごと
くすれば、抵抗器Ｒｖの値を調整することＫよυ、第１
図のコンデンサＣｖを調整することと等価な機能を実現
しうろことは明らかである。
また、抵抗器ＲＶの値を固定にしておいて電力増幅器の
出力電圧を可変にして調整してもよい。
出力電圧を可変にして調整してもよい。
（発明の効果）
上記説明の如く９本発明の方法は接地抵抗の影響を補償
できるから、従来にくらべ印加電圧の周波数を高くする
ことが可、能であ夛トランスＯＴの小型化が可能となシ
、小型の測定器を実現するのに効果的である。
できるから、従来にくらべ印加電圧の周波数を高くする
ことが可、能であ夛トランスＯＴの小型化が可能となシ
、小型の測定器を実現するのに効果的である。
第１図は本発明の実施例を示す図、第２図は本発明の他
の実施例を示す図、第３図は従来の方法を説明する図、
第４図は電路の絶縁抵抗測定系の等両回路を示す図であ
る。 Ｔ・・・・・・・・・受電トランス、 ＺＣＴ・
・・・・・・・・変流器、 ＯＴ・・・・・・・
・・トランス。 ＡＭＰ・・・・・・・・・増幅器、 ＦＩＬ・・
・・・・・・・フィルタ、 ＤＢＴ・・・・−・
・・・整流器、 ＯＳＣ・・・・・・・・・発振
器、 ＳＷ・・・・・・・・・スイッチ。 特許出願人 東洋通信機株式会社 ｂ ・ １１ＪＺ コ
の実施例を示す図、第３図は従来の方法を説明する図、
第４図は電路の絶縁抵抗測定系の等両回路を示す図であ
る。 Ｔ・・・・・・・・・受電トランス、 ＺＣＴ・
・・・・・・・・変流器、 ＯＴ・・・・・・・
・・トランス。 ＡＭＰ・・・・・・・・・増幅器、 ＦＩＬ・・
・・・・・・・フィルタ、 ＤＢＴ・・・・−・
・・・整流器、 ＯＳＣ・・・・・・・・・発振
器、 ＳＷ・・・・・・・・・スイッチ。 特許出願人 東洋通信機株式会社 ｂ ・ １１ＪＺ コ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、変圧器の接地線又は電路に直接低周波電圧を印加す
るトランスのコアと漏洩電流を検出する変流器を貫通さ
せ、該トランスのコアと該変流器を前記接地線又は電路
とは逆相となるように貫通する新たな接続線を設け、か
つ上記接続線には第１のコンデンサを挿入し、上記変流
器出力中に含まれる上記低周波の成分が最小になるよう
に上記第１のコンデンサの値を調整しこの状態にて得ら
れる上記低周波成分の大きさならびに上記第１のコンデ
ンサの値を調整しこの状態にて得られる上記低周波成分
の大きさならびに上記第１のコンデンサの値と、該電路
と大地間に所定値の第２のコンデンサを挿入した状態に
て得られる上記変流器出力中に含まれる上記低周波成分
が最小となるように上記第１のコンデンサの値を調整し
て得られる上記低周波成分の大きさならびに上記第２の
コンデンサの値とを用いて電路の絶縁抵抗を算出するこ
とを特徴とする接地抵抗の影響を補償した絶縁抵抗測定
方法。 ２、上記接続線が上記トランスのコアもしくは上記変流
器のいずれか一方又は両者に巻線してなることを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載の接地抵抗を補償した絶
縁抵抗測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27532087A JP2665912B2 (ja) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | 接地抵抗の影響を補償した絶縁抵抗測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27532087A JP2665912B2 (ja) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | 接地抵抗の影響を補償した絶縁抵抗測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01116455A true JPH01116455A (ja) | 1989-05-09 |
| JP2665912B2 JP2665912B2 (ja) | 1997-10-22 |
Family
ID=17553803
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27532087A Expired - Lifetime JP2665912B2 (ja) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | 接地抵抗の影響を補償した絶縁抵抗測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2665912B2 (ja) |
-
1987
- 1987-10-30 JP JP27532087A patent/JP2665912B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2665912B2 (ja) | 1997-10-22 |
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