JPH01117571A - 光学走査装置 - Google Patents
光学走査装置Info
- Publication number
- JPH01117571A JPH01117571A JP62276614A JP27661487A JPH01117571A JP H01117571 A JPH01117571 A JP H01117571A JP 62276614 A JP62276614 A JP 62276614A JP 27661487 A JP27661487 A JP 27661487A JP H01117571 A JPH01117571 A JP H01117571A
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Links
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Landscapes
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は光学走査装置に間し、特にシェーディング補正
を電気的に補正する方式に関する。
を電気的に補正する方式に関する。
[従来の技術]
従来、この種の光学系のシェーディングを補正する手段
としては光学的に行う場合と電気的に行う場合があった
。光学的に行う場合の例としては照明ランプとしてハロ
ゲンランプを使用し、両端の明るさを中心部より明るく
してシェーディングを補正することがある。また、電気
的に行う場合の例としては原稿の先端を走査してその部
分のシェーディングの値を記憶し、その値′をもってシ
ェーディングを補正することがあった。
としては光学的に行う場合と電気的に行う場合があった
。光学的に行う場合の例としては照明ランプとしてハロ
ゲンランプを使用し、両端の明るさを中心部より明るく
してシェーディングを補正することがある。また、電気
的に行う場合の例としては原稿の先端を走査してその部
分のシェーディングの値を記憶し、その値′をもってシ
ェーディングを補正することがあった。
[発明が解決しようとする問題点]
前述した従来のシェーディングの補正の手段には次に示
すような欠点がある。光学的にシェーディングを補正す
る場合は、配光特性を比較的自由に作ることのできるハ
ロゲンランプを使用することが広く利用されているが、
ハロゲンランプは光熱を発生するので適用することがで
きない場合が生じてくる。
すような欠点がある。光学的にシェーディングを補正す
る場合は、配光特性を比較的自由に作ることのできるハ
ロゲンランプを使用することが広く利用されているが、
ハロゲンランプは光熱を発生するので適用することがで
きない場合が生じてくる。
また、原稿の先端を走査してシェーディングの値を抽出
し、その値をもって補正を書ける方式においては、原稿
サイズが異なる場合には原稿毎に補正用スキャンが必要
であり処理速度の低下をきたすという欠点がある。また
、補正用スキャンをした時に原稿ξ5シワがあった場合
、それによって反射光が乱れてしまい正確なシェーディ
ングの値が得られなくなり、結果として歪んだシェーデ
ィング補正がかかり、良質の画像が得られない場合があ
る。
し、その値をもって補正を書ける方式においては、原稿
サイズが異なる場合には原稿毎に補正用スキャンが必要
であり処理速度の低下をきたすという欠点がある。また
、補正用スキャンをした時に原稿ξ5シワがあった場合
、それによって反射光が乱れてしまい正確なシェーディ
ングの値が得られなくなり、結果として歪んだシェーデ
ィング補正がかかり、良質の画像が得られない場合があ
る。
本発明はこのような問題点を解決し常に良質なイメージ
を得る方式を提出するものである。
を得る方式を提出するものである。
[問題点を解決するための手段及び作用コシニーディン
グは本来短時間では変化せず徐々に変化する特性をもつ
。従って、シェーディングの波形を記憶しておき、その
固定した値でシェーディング補正を書けた方がより効果
が大きい。そして、定期的にシェーディングの状況を確
認しずれている場合はその値に設定し直すことによりさ
らに効果を高めることができる。
グは本来短時間では変化せず徐々に変化する特性をもつ
。従って、シェーディングの波形を記憶しておき、その
固定した値でシェーディング補正を書けた方がより効果
が大きい。そして、定期的にシェーディングの状況を確
認しずれている場合はその値に設定し直すことによりさ
らに効果を高めることができる。
本発明は典型的なシェーディング波形を複数個メモリに
記憶させておき、その中からその装置のシェーディング
波形に近いパターンを選択し、その値によってシェーデ
ィング補正を書ける方式を提供するものであり、定期的
にシェーディング波形の変化を測定し、もし変化してい
れば測定パターンに近いパターンを選択することによっ
て常に安定した画像を得んとするものである。
記憶させておき、その中からその装置のシェーディング
波形に近いパターンを選択し、その値によってシェーデ
ィング補正を書ける方式を提供するものであり、定期的
にシェーディング波形の変化を測定し、もし変化してい
れば測定パターンに近いパターンを選択することによっ
て常に安定した画像を得んとするものである。
口実流側]
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。光
電変換部1は原稿からの反射光を光電変換し、第2図A
に示す出力信号を発生する。
電変換部1は原稿からの反射光を光電変換し、第2図A
に示す出力信号を発生する。
この出力信号Aはアンプ2に送られる。このアンプ2は
ゲインコントロール機能をもった増幅器であり、そのゲ
インコントロール端子にはシェーディング記憶部5の出
力がD/A変換器6によりD/A変換された後に与えら
れている。従って、アンプ2は光電変換部1の出力をシ
ェーディング記憶部5の出力によってゲインコントロー
ルするように動作する。エンベロープ検出部3はアンプ
2の出力のゆるやかに変化する部分、すなわち出力のエ
ンベロープを検出する回路である。
ゲインコントロール機能をもった増幅器であり、そのゲ
インコントロール端子にはシェーディング記憶部5の出
力がD/A変換器6によりD/A変換された後に与えら
れている。従って、アンプ2は光電変換部1の出力をシ
ェーディング記憶部5の出力によってゲインコントロー
ルするように動作する。エンベロープ検出部3はアンプ
2の出力のゆるやかに変化する部分、すなわち出力のエ
ンベロープを検出する回路である。
A/D変換器4はアンプ2のビデオ信号をエンベロープ
検出部3の出力すなわちエンベロープ信号Bをリファレ
ンス電圧としてビデオ信号をA/D変換する。
検出部3の出力すなわちエンベロープ信号Bをリファレ
ンス電圧としてビデオ信号をA/D変換する。
さて、スイッチSWがb側にあるとき、シェーディング
パターン選択部7によってシェーディング記憶部5によ
って記憶されているシェーディングのパターン(第3図
のC,D、 E)の内最も近いパターン(例えばD)
を指定しているものとするとD/A変換器9からはシェ
ーデイング量に応じた補正電圧が出力されそれによって
アンプ2のゲインがコントロールされ結果的にシェーデ
ィングがなくなった波形(第4図参照)が得られる。
パターン選択部7によってシェーディング記憶部5によ
って記憶されているシェーディングのパターン(第3図
のC,D、 E)の内最も近いパターン(例えばD)
を指定しているものとするとD/A変換器9からはシェ
ーデイング量に応じた補正電圧が出力されそれによって
アンプ2のゲインがコントロールされ結果的にシェーデ
ィングがなくなった波形(第4図参照)が得られる。
実際は完全に合致したシェーディングのパターンを選ぶ
ことは不可能であり若干のシェーディングが残った形で
出力されるためその出力からさらにシェーデイング量を
検出して微細な補正をかけてもよい。
ことは不可能であり若干のシェーディングが残った形で
出力されるためその出力からさらにシェーデイング量を
検出して微細な補正をかけてもよい。
一方、最適なシェーディングのパターンを探すときはス
イッチSWをa側にする。この場合アンプ2のゲインは
n倍に固定され、A/D変換4のリファレンス電圧も固
定、モして光電変換部の出力波形の内エンベロープ波形
がA/D変換器に与えられるのでその装置のシェーディ
ング波形を観測することができる。
イッチSWをa側にする。この場合アンプ2のゲインは
n倍に固定され、A/D変換4のリファレンス電圧も固
定、モして光電変換部の出力波形の内エンベロープ波形
がA/D変換器に与えられるのでその装置のシェーディ
ング波形を観測することができる。
[発明の効果コ
以上説明したように本発明は装置固有のシェーディング
波形をあらかじめ記憶しておき、その値によってシェー
ディング補正を行うので、常に良質な画像を得ることが
できる効果がある。さらに詳述すると、 (1)変化の大きいシェーディングを持つ場合や変形の
大きいシェーディングにも対応しやすい。
波形をあらかじめ記憶しておき、その値によってシェー
ディング補正を行うので、常に良質な画像を得ることが
できる効果がある。さらに詳述すると、 (1)変化の大きいシェーディングを持つ場合や変形の
大きいシェーディングにも対応しやすい。
(2)従来補正用のスキャンを行ってシェーディング波
形を検出している場合があるが、その基準が変化してし
まうこともあったが本発明により解決できる。
形を検出している場合があるが、その基準が変化してし
まうこともあったが本発明により解決できる。
(3)上記(2)の場合に含まれるが、従来原稿の先端
を走査してシェーディングを抽出しその値で補正をかけ
る方式があるが、その補正用スキャンの処理時間のロス
や原稿のシワなどのため反射光が乱れ正確なシェーディ
ング波形が得られない場合があったが本発明により解決
できる。
を走査してシェーディングを抽出しその値で補正をかけ
る方式があるが、その補正用スキャンの処理時間のロス
や原稿のシワなどのため反射光が乱れ正確なシェーディ
ング波形が得られない場合があったが本発明により解決
できる。
(4)光学的にシェーディング補正をかける場合もある
が、この場合出力レベルの大きい場所の光量を落とすよ
うに配光特性を工夫したり、遮光板を使用している場合
があるが、配光特性で解決するのは困難であるし、遮光
板を設けることは光源の一部をカットすることになりS
/N比の低下となる。本発明ではこのようなことはない
。
が、この場合出力レベルの大きい場所の光量を落とすよ
うに配光特性を工夫したり、遮光板を使用している場合
があるが、配光特性で解決するのは困難であるし、遮光
板を設けることは光源の一部をカットすることになりS
/N比の低下となる。本発明ではこのようなことはない
。
第1図は本発明の一実施例の回路を示すブロック図、第
2図は補正前の大きなシェーディングをもった光電変換
器1の出力信号を示すグラフ、第3図はシェーディング
記憶部5に記憶されている代表的な3種類のシェーディ
ング波形を示すグユラフ、第4図はシェーディング補正
された波形を示すグラフである。 1・・・・・・・光電変換器、 2・・・・・・・アンプ、 3・・・・・・・エンベロープ検出、 4・・・・・・・A/D変換器、 5・・・・・・・シェーディング記憶部、6・・・・・
・・D/A変換器、 7・・・・・・・シェーディングパターン選択部、SW
・・・・・・スイッチ(3極)。 特許出願人 日本電気株式会社 代理人 弁理士 桑 井 清 −
2図は補正前の大きなシェーディングをもった光電変換
器1の出力信号を示すグラフ、第3図はシェーディング
記憶部5に記憶されている代表的な3種類のシェーディ
ング波形を示すグユラフ、第4図はシェーディング補正
された波形を示すグラフである。 1・・・・・・・光電変換器、 2・・・・・・・アンプ、 3・・・・・・・エンベロープ検出、 4・・・・・・・A/D変換器、 5・・・・・・・シェーディング記憶部、6・・・・・
・・D/A変換器、 7・・・・・・・シェーディングパターン選択部、SW
・・・・・・スイッチ(3極)。 特許出願人 日本電気株式会社 代理人 弁理士 桑 井 清 −
Claims (1)
- 光学変換部と、その出力信号を増幅するためのゲインコ
ントロール機能を有した増幅器と、走査装置の主走査方
向の典型的な複数個のシェーディング波形を記憶したメ
モリ部を有し、前記記憶されている複数個のシェーディ
ング波形の一つを選択しそのシェーディング波形の値に
よって、前記増幅器の増幅率を変化させ、シェーディン
グの補正を行うことを特徴とした光学走査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62276614A JPH01117571A (ja) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | 光学走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62276614A JPH01117571A (ja) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | 光学走査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01117571A true JPH01117571A (ja) | 1989-05-10 |
Family
ID=17571897
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62276614A Pending JPH01117571A (ja) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | 光学走査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01117571A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03135273A (ja) * | 1989-10-20 | 1991-06-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | シェーディング補正装置 |
| US20170089841A1 (en) * | 2015-09-30 | 2017-03-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Inspection apparatus and article manufacturing method |
-
1987
- 1987-10-30 JP JP62276614A patent/JPH01117571A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03135273A (ja) * | 1989-10-20 | 1991-06-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | シェーディング補正装置 |
| US20170089841A1 (en) * | 2015-09-30 | 2017-03-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Inspection apparatus and article manufacturing method |
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