JPH01118716A - オプティカルエンコーダ - Google Patents
オプティカルエンコーダInfo
- Publication number
- JPH01118716A JPH01118716A JP27468587A JP27468587A JPH01118716A JP H01118716 A JPH01118716 A JP H01118716A JP 27468587 A JP27468587 A JP 27468587A JP 27468587 A JP27468587 A JP 27468587A JP H01118716 A JPH01118716 A JP H01118716A
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- slit
- slits
- channel
- light
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は回転ディスクのスリットを通過させた光を固定
スリットの各チャネル用スリット部と基準用光透過部と
を通過させ、光電変換し、光電変換した各チャネル用ス
リット部による各チャネル出力と基準透過部による基準
出力とを比較することにより各チャネルパルス出力を得
るオプティカルエンコーダに関する。
スリットの各チャネル用スリット部と基準用光透過部と
を通過させ、光電変換し、光電変換した各チャネル用ス
リット部による各チャネル出力と基準透過部による基準
出力とを比較することにより各チャネルパルス出力を得
るオプティカルエンコーダに関する。
[従来の技術]
第5図は従来のオプティカルエンコーダを示す構成図、
第6図(a) 、 (b)はそれぞれ第5図の回転デ
ィスク22と固定スリット12とを詳細に示す説明図、
第7図(a) 、(b) 、〜、(f)は第5図の受光
素子40からの信号を示す波形図、第8図は第5図の従
来例の回路基板50の比較回路のパルス出力波形図であ
る。
第6図(a) 、 (b)はそれぞれ第5図の回転デ
ィスク22と固定スリット12とを詳細に示す説明図、
第7図(a) 、(b) 、〜、(f)は第5図の受光
素子40からの信号を示す波形図、第8図は第5図の従
来例の回路基板50の比較回路のパルス出力波形図であ
る。
発光素子30が組付けられた回路基板50は、支柱60
によりモータ80に固定されている。受光素子40は発
光素子30に対向してモータ80に固定され、受光素子
40の前方には固定スリット12が設けられている。回
転ディスク22は、回路基板50と固定スリット12と
の間に位置するように、モータシャフト70に取付けら
九、モータシャフト70がモータ80により回転される
のに伴い回転させられる。
によりモータ80に固定されている。受光素子40は発
光素子30に対向してモータ80に固定され、受光素子
40の前方には固定スリット12が設けられている。回
転ディスク22は、回路基板50と固定スリット12と
の間に位置するように、モータシャフト70に取付けら
九、モータシャフト70がモータ80により回転される
のに伴い回転させられる。
次に本従来例の動作について第7図(a)、(b)、〜
、(f)を参照して説明する。
、(f)を参照して説明する。
回転ディスク22は、円形をしており、その外周に沿っ
て連続する細いスリットからなるスリットAB、と一周
に一個所だけ設けられたスリットZoとを有する。固定
スリット12は、スリットABO,Z、を通した発光素
子30の光を通過させるスリットA、B、RW% Zを
存する。またスリットA、B、RW、Zの後方にはスリ
ットA、B、RW、Zのそれぞれに対応して受光素子4
0が設けられている。スリットAとスリットBとは、イ
ンクリメンタル用スリットであって、通過光量の変化が
相互に90°位相をずらすように設定されている。基準
出力用のスリットRWはスリットA、Bとは異なり大き
な窓となっているので、回転ディスク22の回転角には
あまり影りされず、はぼ一定の光景を通過させる。基準
位置検出用のスリットZはスリットZ。に対向したとき
光を通過させる。したがって通常は、回転ディスク22
を通過した光はスリットA、B、RW、Zを通過し、そ
れぞれ対向する受光素子40に、それぞれ第7図(a)
、 (b) 、 (c)に示すような出力を生起
させる。回路基板50の比較回路は、スリットA、B、
Zによる出力をスリットRWによる出力と比較し、スリ
ットA、B%Zによる出力がスリットRWによる出力で
ある基準電圧を超えるのを検出してそれぞれパルス幅T
1゜、”r2.、’r、。のパルス出力を第8図のよう
に出力する。
て連続する細いスリットからなるスリットAB、と一周
に一個所だけ設けられたスリットZoとを有する。固定
スリット12は、スリットABO,Z、を通した発光素
子30の光を通過させるスリットA、B、RW% Zを
存する。またスリットA、B、RW、Zの後方にはスリ
ットA、B、RW、Zのそれぞれに対応して受光素子4
0が設けられている。スリットAとスリットBとは、イ
ンクリメンタル用スリットであって、通過光量の変化が
相互に90°位相をずらすように設定されている。基準
出力用のスリットRWはスリットA、Bとは異なり大き
な窓となっているので、回転ディスク22の回転角には
あまり影りされず、はぼ一定の光景を通過させる。基準
位置検出用のスリットZはスリットZ。に対向したとき
光を通過させる。したがって通常は、回転ディスク22
を通過した光はスリットA、B、RW、Zを通過し、そ
れぞれ対向する受光素子40に、それぞれ第7図(a)
、 (b) 、 (c)に示すような出力を生起
させる。回路基板50の比較回路は、スリットA、B、
Zによる出力をスリットRWによる出力と比較し、スリ
ットA、B%Zによる出力がスリットRWによる出力で
ある基準電圧を超えるのを検出してそれぞれパルス幅T
1゜、”r2.、’r、。のパルス出力を第8図のよう
に出力する。
しかし、第1図から分るように、固定スリット12と回
転ディスク22との間のギャップ増大が、温度上昇によ
るモータシャフト70の伸びやモータシャフト70の負
荷側のスラスト荷重により、発生する。ギャップ増大が
発生すると、スリットA、B、Zによる出力は低下する
がスリットRWによる基準電圧はほとんど低下しないの
でスリットA、B、Zによる出力がスリットRWによる
出力を超える範囲は第7図(d) 、 (e) 、 (
f)のように狭くなり、比較器の出力もパルス幅TI1
%TI2、TI3のように狭くなり、最悪の場合出力が
出なくなってしまう。また、発子素子30の劣化によっ
ても同様なことが発生する。
転ディスク22との間のギャップ増大が、温度上昇によ
るモータシャフト70の伸びやモータシャフト70の負
荷側のスラスト荷重により、発生する。ギャップ増大が
発生すると、スリットA、B、Zによる出力は低下する
がスリットRWによる基準電圧はほとんど低下しないの
でスリットA、B、Zによる出力がスリットRWによる
出力を超える範囲は第7図(d) 、 (e) 、 (
f)のように狭くなり、比較器の出力もパルス幅TI1
%TI2、TI3のように狭くなり、最悪の場合出力が
出なくなってしまう。また、発子素子30の劣化によっ
ても同様なことが発生する。
この問題を解決するために考えられたのが第9図(a)
、 (b)で示された固定スリット13と回転ディ
スク23とを使用したオプティカルエンコーダであり、
第10図(a) 、 (b) 、(c)はそれぞれその
動作を示す波形図である。
、 (b)で示された固定スリット13と回転ディ
スク23とを使用したオプティカルエンコーダであり、
第10図(a) 、 (b) 、(c)はそれぞれその
動作を示す波形図である。
回転ディスク23のスリットAB、を通過した発光素子
30の光をスリットA”、A−、B”、B−を通過させ
、スリットZo′″、Zo−を通過した光をそれぞれス
リットZゝ、2−を通過させて、スリットA”、A−1
B+、B−1Z+、Z−のそれぞれに対応して設けられ
ている受光素子40で通過させた光を受ける。この場合
、スリットA+の出力とスリットA−の出力とは180
°位相が異なるように設定されており、2つの出力から
基準出力R1が設定されている。スリットBゝの出力と
スリットB−の出力、スリットZ+の出力とスリットZ
−の出力との関係も同様である。基慴電圧R+ 、R2
、R3はそれぞれスリットA+、A−1、スリットB”
、B−、スリットz”、z−の出力の平均として求めら
れているのでそれら出力が低下すれば基準電圧R,、R
2,R,も低下するのでパルス幅の変化は起こりにくく
なる。しかし、この場合は第6図(b)の固定スリット
12に比較して複雑になっている。
30の光をスリットA”、A−、B”、B−を通過させ
、スリットZo′″、Zo−を通過した光をそれぞれス
リットZゝ、2−を通過させて、スリットA”、A−1
B+、B−1Z+、Z−のそれぞれに対応して設けられ
ている受光素子40で通過させた光を受ける。この場合
、スリットA+の出力とスリットA−の出力とは180
°位相が異なるように設定されており、2つの出力から
基準出力R1が設定されている。スリットBゝの出力と
スリットB−の出力、スリットZ+の出力とスリットZ
−の出力との関係も同様である。基慴電圧R+ 、R2
、R3はそれぞれスリットA+、A−1、スリットB”
、B−、スリットz”、z−の出力の平均として求めら
れているのでそれら出力が低下すれば基準電圧R,、R
2,R,も低下するのでパルス幅の変化は起こりにくく
なる。しかし、この場合は第6図(b)の固定スリット
12に比較して複雑になっている。
[発明が解決しようとする問題点]
L述した従来のオプティカルエンコーダは、固定スリッ
ト12と回転ディスク22間のギャップが変化すると回
路基板50の出力のパルス幅も変化してしまうか、パル
ス幅の変化を少くさせたものは固定スリットが複雑であ
り、その固定スリットに対応する受光素子40の数も多
くなり、電気回路も複雑であるという欠点がある。
ト12と回転ディスク22間のギャップが変化すると回
路基板50の出力のパルス幅も変化してしまうか、パル
ス幅の変化を少くさせたものは固定スリットが複雑であ
り、その固定スリットに対応する受光素子40の数も多
くなり、電気回路も複雑であるという欠点がある。
[問題点を解決するための手段]
本発明のオプティカルエンコーダは、基準用光透過部が
、各チャネル出力の平均値に対応する基準出力を独自で
または各チャネル出力のいずれかと協働して設定するた
めのスリットを有する。
、各チャネル出力の平均値に対応する基準出力を独自で
または各チャネル出力のいずれかと協働して設定するた
めのスリットを有する。
[作 用]
このように、基準用光通過部にスリットを設け、そのス
リットを通過した光で基準出力を設定することにより、
基準出力が各チャネルの出力に比例して変化する。つま
り、インクリメント用チャネルのスリットと同相および
逆相のスリットを基準用光透過部に設け、その通過光を
1個の受光素子で受ければそれら各チャネル出力の平均
値が求められるし、いずれかのインクリメント用チャネ
ルのスリットと逆相のスリットを設ければ、インクリメ
ント用チャネルのスリットによる出力と逆相のスリット
による出力とから平均値が求められる。そしてこれら平
均値は固定スリットの各チャネルの出力と比例して変化
するので、基準出力と各チャネル出力との比較結果によ
るパルス出力のパルス幅の変化は小さくなる゛。
リットを通過した光で基準出力を設定することにより、
基準出力が各チャネルの出力に比例して変化する。つま
り、インクリメント用チャネルのスリットと同相および
逆相のスリットを基準用光透過部に設け、その通過光を
1個の受光素子で受ければそれら各チャネル出力の平均
値が求められるし、いずれかのインクリメント用チャネ
ルのスリットと逆相のスリットを設ければ、インクリメ
ント用チャネルのスリットによる出力と逆相のスリット
による出力とから平均値が求められる。そしてこれら平
均値は固定スリットの各チャネルの出力と比例して変化
するので、基準出力と各チャネル出力との比較結果によ
るパルス出力のパルス幅の変化は小さくなる゛。
[実施例コ
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図(a) 、(b)はそれぞれ本発明のオプティカ
ルエンコーダの第1の実施例に用いられる回転ディスク
20と固定スリットlOとを示す説明図、第2図(a)
、(b) 、 (c)は第1の実施例の動作を示す波
形図である。
ルエンコーダの第1の実施例に用いられる回転ディスク
20と固定スリットlOとを示す説明図、第2図(a)
、(b) 、 (c)は第1の実施例の動作を示す波
形図である。
本実施例は第6図(b)の固定スリット12の代りに固
定スリットIOを用いたものである。
定スリットIOを用いたものである。
回転ディスク20は第6図の従来例のものと同じである
が、固定ディスクlOはスリットRWの代りにスリット
Rを有し、このスリットRはスリットAと逆相の出力を
発生させる。したがって、スリットA、Rによる出力の
平均をとれば、基準電圧RVが得られこの基準電圧RV
とスリットA、B、Zによる出力を比較すれば各チャネ
ルのパルス出力が得られる。スリットAによる出力の変
化に比例して基準電圧RVも変化するので、パルス出力
のパルス幅変化が低減される。そして、用いられる受光
素子40の数は第6図の従来例と変わらないことがわか
る。
が、固定ディスクlOはスリットRWの代りにスリット
Rを有し、このスリットRはスリットAと逆相の出力を
発生させる。したがって、スリットA、Rによる出力の
平均をとれば、基準電圧RVが得られこの基準電圧RV
とスリットA、B、Zによる出力を比較すれば各チャネ
ルのパルス出力が得られる。スリットAによる出力の変
化に比例して基準電圧RVも変化するので、パルス出力
のパルス幅変化が低減される。そして、用いられる受光
素子40の数は第6図の従来例と変わらないことがわか
る。
第3図は本発明の第2の実施例に用いられる固定スリッ
ト11に形成されているスリットRの詳細を示す説明図
、第4図(a) 、 (b) 、(c) 、 (d)は
それぞれ第2の実施例の動作を示す波形である。
ト11に形成されているスリットRの詳細を示す説明図
、第4図(a) 、 (b) 、(c) 、 (d)は
それぞれ第2の実施例の動作を示す波形である。
固定スリット11のスリットRには第1の実施例と異な
って4種のスリットa+、 −、b“、b−が設けられ
ている。スリットa”、a−1b”、b−はそれぞれス
リットAによる出力と同相、スリットAによる出力と逆
相、スリットBによる出力と同相、スリットBによる出
力と逆相の出力を得るように設けられている。したがっ
て、これらスリットa”、a−1b”、b−を通過した
光を1個の受光素子40で受ければ、スリットa”、a
−、b”、b−による出力の平均値に該当する基準電圧
RVを得ることができる。この基準電圧RVは第1の実
施例のものに比較してより直流に近くなり、各出力の誤
差がキャンセルされている。この基準電圧RVと、スリ
ットA、B、Zによる出力とをそれぞれ比較すれば各チ
ャネルのパルス出力が得られる。そして、基準電圧RV
はスリットA、Hによる出力の平均値に対応しているか
ら、スリットA、Bによる出力の変化に比例して変化す
るのでパルス出力のパルス幅の変化も減少する。この場
合も受光素子40の数は第6図の従来例のものと同じで
ある。
って4種のスリットa+、 −、b“、b−が設けられ
ている。スリットa”、a−1b”、b−はそれぞれス
リットAによる出力と同相、スリットAによる出力と逆
相、スリットBによる出力と同相、スリットBによる出
力と逆相の出力を得るように設けられている。したがっ
て、これらスリットa”、a−1b”、b−を通過した
光を1個の受光素子40で受ければ、スリットa”、a
−、b”、b−による出力の平均値に該当する基準電圧
RVを得ることができる。この基準電圧RVは第1の実
施例のものに比較してより直流に近くなり、各出力の誤
差がキャンセルされている。この基準電圧RVと、スリ
ットA、B、Zによる出力とをそれぞれ比較すれば各チ
ャネルのパルス出力が得られる。そして、基準電圧RV
はスリットA、Hによる出力の平均値に対応しているか
ら、スリットA、Bによる出力の変化に比例して変化す
るのでパルス出力のパルス幅の変化も減少する。この場
合も受光素子40の数は第6図の従来例のものと同じで
ある。
第2の実施例ではスリットRにスリットa+、a”’、
b”、b−を設けたが、スリットa+、a−のみまたは
スリットb+、b−のみでもよいことは明らかである。
b”、b−を設けたが、スリットa+、a−のみまたは
スリットb+、b−のみでもよいことは明らかである。
−また、本発明を光フアイバエンコーダ(反射型、透過
型)に適用すれば、発受光素子、光ファイバの数、部品
数を削減でき、安価に製作でき、かつ小型の光フアイバ
エンコーダができ、反射型オプティカルエンコーダ、リ
ニアエンコーダ(反射型、透過型、光フアイバ型)にも
利用できる。
型)に適用すれば、発受光素子、光ファイバの数、部品
数を削減でき、安価に製作でき、かつ小型の光フアイバ
エンコーダができ、反射型オプティカルエンコーダ、リ
ニアエンコーダ(反射型、透過型、光フアイバ型)にも
利用できる。
[発明の効果コ
以上説明したように本発明は、基準用光透過部にスリッ
トを設け、そのスリットを通過した光を1個の受光素子
で受け、基準出力を設定することにより、基準出力が各
チャネルの出力と比例して変化するので、基準出力と各
チャネル出力との比較結果によるパルス出力のパルス幅
の変化は、受光素子の数を増加することなく、低減され
る効果がある。
トを設け、そのスリットを通過した光を1個の受光素子
で受け、基準出力を設定することにより、基準出力が各
チャネルの出力と比例して変化するので、基準出力と各
チャネル出力との比較結果によるパルス出力のパルス幅
の変化は、受光素子の数を増加することなく、低減され
る効果がある。
第1図は本発明のオプティカルエンコーダの第1の実施
例に用いられる回転ディスクと固定スリットとを示す説
明図、第2図(a) 、 (b) 、 (c)は第1の
実施例の動作を示す波形図、第3図は本発明の第2の実
施例に用いられる固定スリットを詳細に示す説明図、第
4図(a) 、 (b) 、(c)、(d)は第2の実
施例の動作を示す波形図、第5図は従来のオプティカル
エンコーダを示す構成図、第6図(a) 、 (b)は
従来例に用いられた回転ディスクと固定スリットとを示
す説明図、第7図(a) 、 (b) 、 (c) 、
(d) 、 (e) 、 (f)は従来例の動作を示
す波形図、第8図は従来例の回路基板50の正常なパル
ス出力を示す波形図、第9図は改善された従来例に用い
られた回転ディスクと固定スリットとを示す説明図、第
10図は第9図(a)、(b)の回転ディスク23、固
定スリットI3を用いた従来例の動作を示す波形図であ
る。 10.11・・・固定スリット、 20・・・回転ディスク。
例に用いられる回転ディスクと固定スリットとを示す説
明図、第2図(a) 、 (b) 、 (c)は第1の
実施例の動作を示す波形図、第3図は本発明の第2の実
施例に用いられる固定スリットを詳細に示す説明図、第
4図(a) 、 (b) 、(c)、(d)は第2の実
施例の動作を示す波形図、第5図は従来のオプティカル
エンコーダを示す構成図、第6図(a) 、 (b)は
従来例に用いられた回転ディスクと固定スリットとを示
す説明図、第7図(a) 、 (b) 、 (c) 、
(d) 、 (e) 、 (f)は従来例の動作を示
す波形図、第8図は従来例の回路基板50の正常なパル
ス出力を示す波形図、第9図は改善された従来例に用い
られた回転ディスクと固定スリットとを示す説明図、第
10図は第9図(a)、(b)の回転ディスク23、固
定スリットI3を用いた従来例の動作を示す波形図であ
る。 10.11・・・固定スリット、 20・・・回転ディスク。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 回転ディスクのスリットを通過させた光を固定スリット
の各チャネル用スリット部と基準用光透過部とを通過さ
せ、光電変換し、光電変換した各チャネル用スリット部
による各チャネル出力と基準透過部による基準出力とを
比較することにより各チャネルパルス出力を得るオプテ
ィカルエンコーダにおいて、 基準用光透過部が、各チャネル出力の平均値に対応する
基準出力を独自でまたは各チャネル出力のいずれかと協
働して設定するためのスリットを有することを特徴とす
るオプティカルエンコーダ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27468587A JPH01118716A (ja) | 1987-10-31 | 1987-10-31 | オプティカルエンコーダ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27468587A JPH01118716A (ja) | 1987-10-31 | 1987-10-31 | オプティカルエンコーダ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01118716A true JPH01118716A (ja) | 1989-05-11 |
Family
ID=17545133
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27468587A Pending JPH01118716A (ja) | 1987-10-31 | 1987-10-31 | オプティカルエンコーダ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01118716A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS593214A (ja) * | 1982-06-29 | 1984-01-09 | Yaskawa Electric Mfg Co Ltd | ロ−タリ−エンコ−ダ |
-
1987
- 1987-10-31 JP JP27468587A patent/JPH01118716A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS593214A (ja) * | 1982-06-29 | 1984-01-09 | Yaskawa Electric Mfg Co Ltd | ロ−タリ−エンコ−ダ |
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