JPH01123142A - 超伝導の微視的評価方法及びその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、高温超伝導体の微視的超伝導領域”を検出す
る評価方法及びその装置に関する。

（従来の技術） 従来は、帯磁率の測寓法により試料全体が超伝導状態に
なっているが否がを測定する方法があった。しかし、試
料の一部のみに超伝導領域を有している場合があり、試
料全体の均一性の確認もしくは超伝導領域の分布の測定
が必要であったが、上記の方法では測定することができ
ず、他に適当な方法がなかった。

本発明は、上記の問題点を解消し、試料の微視的超伝導
領域を簡単に検知することのできる超伝導の微視的評価
方法及びその装置を提供しようとするものである。

（発明が解決しようとする問題点） 本発明は、（１）磁性を帯びた垂直な探針に一定の力を
加えながら試料の表面を走査させ、探針の受ける力又は
探針の変位をその位置と関係付けて測定することを特徴
とする超伝導の微視的評価方法及び（２）試料をのせる
。台と、Ｌ字型の磁性探針の垂直部を試料に対向させ、
水平部に支点を設け、水平部の端部に応力測定器又は変
位測定器を付設した上記探針と、上記試料台と上記探針
とを相対的に移動させる手段と、測定位置と関係付けて
測定値を表示する手段とを有することを特徴とする超伝
導の微視的評価装置である。

（作用） 第１図は、本発明の１具体例である超伝導の微視的評価
装置の概念図である。試料１は水平な試料台２の上にセ
ットする。試料台は必要に応じて冷却してもよい。試料
に対向するＬ字型探針３は水平部の支点４で支持される
。探針は永久磁石で作ることも出来るが、探針に電磁コ
イル５を付設することにより、試料１の超伝導臨界磁場
を破らないように探針３に磁性を付加することが好まし
い。なお、６は電磁コイル５の電源である。試料台２と
探針３を相対的に移動させると、試料１の超伝導領域で
磁性探針３に上向きの力が作用する。その力は、探針３
の水平部に付設した変位測定器７により測定され、測定
位置と関連付けて変位測定値を記録計８に表示される。

このように、極めて細い探針の先端より大半の磁束がで
てくるので、試料の微視的超伝導領域の検出も確実に行
うことができる。

（発明の効果） 本発明は、上記構成を採用することにより、試料中の超
伝導領域の２次元的分布を容易に測定することができ、
超伝導体の微視的評価を可能とした。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の１具体例である超伝導の微視的評価装
置の概念図である。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）磁性を帯びた垂直な探針に一定の力を加えながら
   試料の表面を走査させ、探針の受ける力又は探針の変位
   をその位置と関係付けて測定することを特徴とする超伝
   導の微視的評価方法。
2. （２）試料をのせる台と、Ｌ字型の磁性探針の垂直部を
   試料に対向させ、水平部に支点を設け、水平部の端部に
   応力測定器又は変位測定器を付設した上記探針と、上記
   試料台と上記探針とを相対的に移動させる手段と、測定
   位置と関係付けて測定値を表示する手段とを有すること
   を特徴とする超伝導の微視的評価装置。
3. （３）探針に磁性を付与するための電磁コイルを設けた
   ことを特徴とする特許請求の範囲第２項記載の超伝導の
   微視的評価装置。
4. （４）試料台に冷却手段を設けたことを特徴とする特許
   請求の範囲第２項または第３項記載の超伝導の微視的評
   価装置。