JPH01126575U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH01126575U JPH01126575U JP1988022577U JP2257788U JPH01126575U JP H01126575 U JPH01126575 U JP H01126575U JP 1988022577 U JP1988022577 U JP 1988022577U JP 2257788 U JP2257788 U JP 2257788U JP H01126575 U JPH01126575 U JP H01126575U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detection
- circuit
- conductor
- voltage
- conduction state
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
第１図はこの考案の一実施例を示す導通検査装
置の構成図、第２図は従来の導通検査装置の回路
図である。 図において１は検出端子、２は検出回路、３は
記憶回路、５は表示回路である。なお、各図中同
一符号は同一または相当部分を示す。
置の構成図、第２図は従来の導通検査装置の回路
図である。 図において１は検出端子、２は検出回路、３は
記憶回路、５は表示回路である。なお、各図中同
一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 被測定導電体と接触させる一対の検出端子と、
この検出端子間に電圧を印加し上記導電体の導通
状態を検出する検出回路と、この検出回路による
電圧印加時の導通状態検出結果を記憶保持し表示
回路に表示させる記憶回路とを備えたことを特徴
とする導通検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988022577U JPH01126575U (ja) | 1988-02-23 | 1988-02-23 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988022577U JPH01126575U (ja) | 1988-02-23 | 1988-02-23 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01126575U true JPH01126575U (ja) | 1989-08-29 |
Family
ID=31240819
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988022577U Pending JPH01126575U (ja) | 1988-02-23 | 1988-02-23 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01126575U (ja) |
-
1988
- 1988-02-23 JP JP1988022577U patent/JPH01126575U/ja active Pending
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