JPH01131410A - 超音波探傷器用厚さ表示装置 - Google Patents
超音波探傷器用厚さ表示装置Info
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- JPH01131410A JPH01131410A JP62289842A JP28984287A JPH01131410A JP H01131410 A JPH01131410 A JP H01131410A JP 62289842 A JP62289842 A JP 62289842A JP 28984287 A JP28984287 A JP 28984287A JP H01131410 A JPH01131410 A JP H01131410A
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- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
音波探傷器用厚さ表示装置に関する。
観を示している。この超音波探傷器(1)は、探触子(
2)(第7図参照)を接続するための端子(3)、被測
定体に対する音速を設定するための音速調整つまみ(4
)、エコーパルスを含む探傷信号波形を表示する表示器
(5)、探傷信号の測定範囲を調整するための測定範囲
調整つまみ(6) (7)、表示器(5)の表示画面上
においてパルスの高さを調整するためのゲイン調整つま
み(8) (9) (10)、表示器(5)の表示画面
上において外部に出力する探傷信号の範囲(以下、ゲー
ト範囲という)を指定するためのゲート開始位置調整つ
まみ(11)およびゲート長さ調整つまみ(12)、探
傷信号を外部に出力するための外部出力端子(図示路)
等を備えている。表示器(5)には、横軸を時間とし、
縦軸をゲインとする目盛も表示される。ゲート範囲は、
表示器(5)の表示画面上に表示されるゲート(G)(
第8図参照)によって示される。
音波を鋼板(X)の下面に向かって串射したときの超音
波の伝搬の様子を示している。また、第8図は、この場
合に、超音波探傷器(1)の表示器(5)に表示された
探傷信号波形を示している。
)上面で反射され、この反射された超音波、(表面エコ
ー)は、探触子(2)に受波される。
)内を下方に進み、一部が鋼板(X)の下面を通過し、
残りが鋼板(X)の下面で反射される。
鋼板(X)内を上方に進み、その一部が鋼板(X)の上
面を通過して探触子(2)に受波され、残りが鋼板(X
)の上面で反射される。鋼板(X)の上面で反射された
超音波は、再び鋼板(X)内を下方に進み、一部が鋼板
(X)の下面を通過し、残りが鋼板(X)の下面で反射
される。この反射された超音波(第2回目底面エコーb
2)は、鋼板(X)内を上方に進み、その一部が鋼板(
X)の上面を通過して探触子(2)に受波され、残りが
鋼板(’X)の上面で反射される。
)内を下方に進み、一部が鋼板(X)の下面を通過し、
残りが鋼板(x)の下面で反射される。この反射された
超音波(第3回目底面エコーb3)は、鋼板(X)内を
上方に進み、その一部が鋼板(X)の上面を通過して探
触子に受波され、残りが鋼板(X)の上面で反射される
。超音波は、このように、鋼板(X)内を伝搬していき
、徐々に減衰していく。
受波されることによって発生する表面エコ−パルスS1
第1回目底面エコーb1が受波されることによって発生
する第1回目底面エコーパルスB1、第2回目底面エコ
ーb1が受波されることによって発生する第2回目底面
エコーパルスB2、第3回目底面エコーb3が受波され
ることによって発生する第3回目底面エコーパルス83
等が現れる。鋼板(X)の厚さは、第1回目底面エコー
パルスB1が発生してから第2回目底面エコーパルスB
2が発生するまでの時間(鋼板(X)両面間を超音波が
往復する時間)に、超音波が進んだ距離の1/2である
。
する場合には、被測定体の上面から下面に向かって超音
波を出射して、表示器(5)に探傷信号波形を表示し、
この表示画面上の第1回目底面エコーパルスと第2回目
底面エコーパルスとの間隔を目盛から読み取ることによ
り行われている。このため、読取り誤差が発生しやすく
、正確な厚さ測定が行えないという問題がある。
て、被測定体の厚さを正確に表示できる超音波探傷器用
厚さ表示装置を提供することを目的とする。
体に対する音速に応じた周波数のクロックパルスを発生
するパルス発生回路、パルス発生回路から出力されるク
ロックパルスが送られるゲート回路、超音波探傷器から
、発生間隔が被測定体の厚さに応じた間隔となっている
2つのエコーパルスを含む探傷信号が入力され、上記2
つのエコーパルスのうちの先のエコーパルスが入力して
から後のエコーパルスが入力するまでゲート回路を開く
ゲート制御回路、ゲート回路が開いている間にゲート回
路を通過したクロックパルスをカウントし、被測定体の
厚さに応じた信号を出力するカウンタ、およびカウンタ
の出力信号にもとづいて被測定体の厚さをデジタル表示
する表示装置を備えていることを特徴とする。
いて説明する。
示している。厚さ表示装置(20)の前面の操作面には
、分解能設定兼電源つまみ(21)、しきい値設定つま
み(22)、デジタル式音速設定器(23)、校正用つ
まみ(24)およびデジタル式表示器(25)が設けら
れている。厚さ表示装置(20)は、既存の超音波探傷
器(1)上に載置されて使用される。厚さ表示装置(2
0)の後面には、探傷信号入力端子(図示路)が設けら
れており、この入力端子は、接続コードを介して超音波
探傷器(1)の外部出力端子に接続されている。
の他、しきい値を超える雑エコーパルス等の不要なエコ
ーパルスをマスクするために用いられるものであり、被
測定体が鋼である場合にマスクできる間隔は、つまみ位
置「1」でOmm、つまみ位置「2」で3mm、つまみ
位置「3」で6mmである。しきい値設定つまみ(22
)は、測定しようとするエコーパルスの高さのしきい値
を設定するために用いられる。音速設定器(23)は、
被測定体に対する音速を設定するために用いられる。校
正用つまみ(24)は、材質または超音波特性が被測定
体と同じ試験片を用いた試験により測定値を校正するた
めに用いられる。
7図に示す鋼板(X)の厚さを測定する場合を例にとっ
て、厚さ表示装置の動作について説明する。超音波探傷
器(1)の表示器(5)に第8図に示されているような
探傷信号波形が現れているものとする。また、ゲート範
囲は、同図にゲートGで示されているように、表面エコ
ーパルスSと第1回目底面エコーパルスB1トの中間位
置から、第2回目底面エコーパルスB2と第3回目底面
エコーパルスB3との中間位置までに設定されているも
のとする。さらに、しきい値は、同図に鎖線して示すよ
うに、第2回目底面エコーパルスB2より若干低い高さ
に設定されているものとする。
期で増幅回路(31)に送られ、増幅される。増幅され
た探傷信号aは、比較回路(32)に送られ、しきい値
設定つまみ(22)によって設定されたしきい値と比較
される。探傷信号a中の第1回目底面エコーパルスB1
は、しきい値より高いので、第1回目底面エコーパルス
B1が比較回路(32)に送られてくると、比較回路(
32)からパルスbが出力され、遅延回路(33)に送
られる。遅延回路(38)は、リドリガー・ワンショッ
ト・マルチバイブレータからなり、比較回路(32)か
らのパルスbが入力されると、分解能設定兼電源つまみ
(21)によって設定されたマスク間隔に応じた幅のパ
ルスCを出力する。このパルスCは、ゲート回路(34
)の制御入力端子に送られ、このパルスCの立上がりタ
イミングでゲート回路(34)が開かれる。
2)に送られてくると、第2回目底面エコーパルスB2
はしきい値より高いので、比較回路(32)からパルス
bが出力され、遅延回路(33)からパルスCが出力さ
れる。そして、遅延回路(33)から出力されたパルス
Cの立上がりタイミングでゲート回路(34)が閉じら
れる。つまり、ゲート回路(34)は、第1回目底面エ
コーバ・ルスB1が増幅回路(31)に送られてきた時
点から、第2回目底面エコーパルスB2が増幅回路(3
1)に送られてきた時点まで開かれる。
vco)(a5)からクロックパルスdが送られている
。この電圧制御形発振回路(35)の出力パルスdの周
波数f1は、位相同期回路(PLL)(36)によって
制御される。位相同期回路(36)には、電圧制御形発
振回路(35)の出力パルスdが可変分周器(37)に
よって分周されたパルスeと、基準パルス発振器(38
)から出力される周波数fOの基準パルスgとが入力し
ている。可変分周器(37)の分周比は、音速設定器(
23)に設定された音速Vによって制御され、可変分周
器(37)からは、f 1 / 5 vの周波数f2の
パルスeが出力される。基準パルス発振器(38)から
出力される基準パルスgの周波数fOは、校正用つまみ
(32)によって調整される。位相同期回路(36)は
、可変分周器(37)から送られて(るパルスeの周波
数f2 (−f115V)と、基準パルス発振器(38
)から送られてくる基準パルスgの周波数fOとが一致
するように、電圧制御形発振回路(35)の出力パルス
dの周波数f1を制御する。
dの周波数f1は、次式で表される。
回路(34)が開いている間、ゲート回路(34)を通
過して、カウンタ(39)に入力する。カウンタ(39
)の計数値をNとし、ゲート回路(34)が開いている
時間、すなわち、第1回目底面エコーパルスBlが増幅
回路(31)に送られてきた時点から、第2回目底面エ
コーパルスB2が増幅回路(31)に送られてきた時点
までの時間をTとすると、カウンタ(39)の計数値N
は、次式で表される。
さtは、 t−v−T/2 [mm] −5噛 v Φ TxlO−’[mm]であるので、
カウンタ(39)の計数値Nは、鋼板(X)の厚さtに
応じた値となる。
、表示器(25)に送られ、鋼板(X)の厚さtが表示
器(25)にデジタル表示される。
する場合には、まず、次のようにして、前調整を行う。
〜「3」のいずれかにセットした後、超音波探傷器(1
)の電源をオンにする。すると、厚さ表示装置(20)
のデジタル式表示器(25)に、少数点が現れる。
(たとえば、鋼板(X)であれば5900m / s
)を設定する。
子(2)を当て、測定範囲調整つまみ(8) (7)に
よって、超音波探傷器(、■)の表示器(5)の表示画
面に第1回目底面エコーパルスおよび第2回目底面エコ
ーパルスが現れるように調整する。また、ゲイン調整つ
まみ(8) (9) (10)によって、第2回目底面
エコーパルス(1)の高さが50%程度となるように調
整する。
整つまみ(12)によって、ゲートGが第1回目底面エ
コーパルスの左端から第2回目底面エコーパルスの右端
にかかるようにゲート範囲を調整する。厚さ表示装置(
20)の表示器(25)に、試験片の既知の厚さに近い
数字が表示されるように、厚さ表示装置(20)のしき
い値設定つまみ(22)でしきい値を調整する。そして
、校正用つまみ(24)によって、厚さ表示装置(20
)の表示器(25)の表示が、試験片の既知の厚さに等
しくなるように調整する。
被測定体の厚さを測定する。
の表示器(5)の表示画面に第1回目底面エコーパルス
および第2回目底面エコーパルスが現れるように調整す
る。また、ゲイン調整つまみ(8) (9) (10)
によって、第2回目底面エコーパルスの高さが50%程
度となるように調整する。ゲート開始位置調整つまみ(
11)およびゲート長さ調整つまみ(12)によって、
ゲートGが第1回目底面エコーパルスの左端から第2回
目底面エコーパルスの右端にかかるようにゲート範囲を
調整する。すると、厚さ表示装置(20)の表示器(2
5)に、被測定体の厚さが、デジタル表示されるので、
これを読み取る。
は、第3図に示すように、その探傷信号波形に、比較的
大きな雑エコーパルスNPが現れる。このような場合に
は、同図に示すように、ゲートGを第1回目底面エコー
パルスB1の左端から第2回目底面エコーパルスB2の
右端にかかるように設定し、しきい値りを第2回目底面
エコーパルスB2より若干低く設定し、分解能設定兼電
源つまみ(21)によってマスク間隔を、第1回目底面
エコーパルスB1および第2回目底面エコーパルスB2
間のしきい値を超える雑エコーパルスNPをマスクしう
る間隔りに調整することにより、雑エコーパルスNPに
よる誤動作を防止できる。この場合には、第1回目エコ
ーパルスB1にもとづく遅延回路(33)の出力パルス
のパルス幅はDとなり、第1回目底面エコーパルスB1
および第2回目底面エコーパルス82間のしきい値を超
える雑エコーパルスNPにもとづいては、遅延回路(3
3)からパルスが発生しなくなる。
場合にも、以下に説明するように、被allJ定休の厚
さを測定することができる。第4図は、被測定体である
鋼板(X)の上面に合成樹脂塗膜(Y)が形成された塗
装鋼板の上面に探触子(2)を当てて超音波を出射した
場合の超音波の伝搬の様子を模式的に示している。また
、第4図は、上記の場合に、超音波探傷器の表示器に表
示された探傷信号波形を示している。探触子(2)に受
波されるエコーとしては、探触子(2)から出射されか
つ塗膜(Y)上面で反射されて探触子(2)に受波され
る表面エコー、探触子(21)から出射されかつ鋼板(
X)と塗膜(Y)との境界面(Z)で反射されて探触子
(2)に受波される第1回目境界面エコー11、探触子
(2)から出射されかつ境界面(z)下面、塗膜(Y)
上面および境界面(E)の順に反射されて探触子(2)
に受波される第2回目境界面エコー12、探触子(2)
から出射されかつ鋼板(X)の下面で反射されて探触子
(2)に受波される第1回目底面エコーb1、探触子(
2)から出射されかつ鋼板(X)下面、塗膜(Y)上面
および境界面(Z)の順に反射されて探触子(2)に受
波される底面−境界面エコーb is探触子(2)から
出射されかつ鋼板<X>下面、境界面(Z)および鋼板
(X)下面の順に反射されて探触子(2)に受波される
第2回目底面エコーb2等がある。そして、これらの各
エコーに対応するパルス、すなわち、表面エコ−パルス
81第1回目境界面エコーパルスIf、第2回目境界面
エコーパルスI2、第1回目底面エコーパルスBl。
ルス82等が、超音波探傷器(1)の表示器(5)に表
示される 超音波が、鋼板(X)を往復するのに要した時間Tは、
探触子(2)から超音波が出射されてから第1回目底面
エコーパルスBlが発生するまでの時間をT1とし、探
触子(2)から超音波が出射されてから第2回目底面エ
コーパルスB2が発生するまでの時間をT2とすると、
T−T2−T1となる。つまり、時間Tは、第1回目底
面エコーパルスBlが発生してから、第2回目底面エコ
ーパルスB2が発生するまでの時間に相当する。したが
って、第5図に示すように、ゲートGを第1回目底面エ
コーパルスB1の左端から第2回目底面エコーパルスB
2の右端にかかるように設定し、しきい値りを底面−境
界面エコーパルスB1より高くかつ第2回目底面エコー
パルスB2より低く設定することにより、厚さ表示装置
(20)の表示器(25)に、鋼板(X)の厚さをデジ
タル表示させることができる。
体に対する音速に応じた周波数のクロックパルスを発生
するパルス発生回路、パルス発生回路から出力されるク
ロックパルスが送られるゲート回路、超音波探傷器から
、発生間隔が被測定体の厚さに応じた間隔となっている
2つのエコーパルスを含む探傷信号が入力され、上記2
つのエコーパルスのうちの先のエコーパルスが入力して
から後のエコーパルスが入力するまでゲート回路を開く
ゲート制御回路、ゲート回路が開いている間にゲート回
路を通過したクロックパルスをカウントし、被測定体の
厚さに応じた信号を出力するカウンタ、およびカウンタ
の出力信号にもとづいて被測定体の厚さをデジタル表示
する表示装置を備えているので、既存の超音波探傷器に
接続して、発生間隔が被測定体の厚さに応じた間隔とな
っている2つのエコーパルスを含む探傷信号を入力させ
ることによって、被測定体の厚さをデジタル表示できる
。このため、被測定体の厚さを正確に測定できる。
存の超音波探傷器上に載置された厚さ表示装置の外観を
示す斜視図、第2図は厚さ表示装置の電気的構成を示す
電気ブロック図、第3図は被測定体を構成している結晶
粒が比較的大きな場合の超音波探傷器の表示器の表示画
面を示す図、第4図は被測定体である鋼板の上面に塗膜
が形成されている場合の超音波の伝搬の様子を示す図、
第5図は被測定体である鋼板の上面に塗膜が形成されて
いる場合の超音波探傷器の表示器の表示画面を示す図、
第6図は既存の超音波探傷器の外観を示す斜視図、第7
図は被測定体が鋼板である場合の超音波の伝搬の様子を
示す図、第8図は被測定体が鋼板である場合の超音波探
傷器の表示器の表示画面を示す図である。 (20)・
・・厚さ表示装置、(32)・・・比較器、(34)・
・・ゲート回路、(35)・・・電圧制御形発振回路、
(36)・・・位相同期回路、(37)・・・可変分周
器、(38)・・・基準パルス発振器、(39)・・・
カウンタ、(25)・・・デジタル表示器。 以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被測定体に対する音速に応じた周波数のクロックパルス
を発生するパルス発生回路、 パルス発生回路から出力されるクロックパルスが送られ
るゲート回路、 超音波探傷器から、発生間隔が被測定体の厚さに応じた
間隔となっている2つのエコーパルスを含む探傷信号が
入力され、上記2つのエコーパルスのうちの先のエコー
パルスが入力してから後のエコーパルスが入力するまで
ゲート回路を開くゲート制御回路、 ゲート回路が開いている間にゲートを通過したクロック
パルスをカウントし、被測定体の厚さに応じた信号を出
力するカウンタ、およびカウンタの出力信号にもとづい
て被測定体の厚さをデジタル表示する表示装置、 を備えている超音波探傷器用厚さ表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62289842A JPH01131410A (ja) | 1987-11-17 | 1987-11-17 | 超音波探傷器用厚さ表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62289842A JPH01131410A (ja) | 1987-11-17 | 1987-11-17 | 超音波探傷器用厚さ表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01131410A true JPH01131410A (ja) | 1989-05-24 |
Family
ID=17748472
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62289842A Pending JPH01131410A (ja) | 1987-11-17 | 1987-11-17 | 超音波探傷器用厚さ表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01131410A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04160309A (ja) * | 1990-08-10 | 1992-06-03 | Sekisui Plastics Co Ltd | 超音波厚み計 |
| JP2007064904A (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-15 | Jfe Engineering Kk | 超音波による厚さ測定方法及びその装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52132864A (en) * | 1976-04-30 | 1977-11-07 | Tokyo Keiki Kk | Method of and apparatus for measuring thickness with ultrasonic |
-
1987
- 1987-11-17 JP JP62289842A patent/JPH01131410A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52132864A (en) * | 1976-04-30 | 1977-11-07 | Tokyo Keiki Kk | Method of and apparatus for measuring thickness with ultrasonic |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04160309A (ja) * | 1990-08-10 | 1992-06-03 | Sekisui Plastics Co Ltd | 超音波厚み計 |
| JP2007064904A (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-15 | Jfe Engineering Kk | 超音波による厚さ測定方法及びその装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
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