JPH01134276A - 陰極線管の試験方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はビデオ表示陰極線管（ＣＲＴ）を試験する方法
及び装置、特にＣＲＴのビデオスクリーン上に斯るＣＲ
Ｔの電子走査ビームのスポットサイズ及びラインフォー
カスを表示する走査テストラインを発生させるビデオパ
ルス信号を発生する装置に関するものである。この装置
によれば、ラインフォーカスを同じビデオ信号を用いて
任意所望の光出力で調整及び測定することができる。

テレビジョン受信機及びビデオモニタ端末用のＣＲＴ表
示管の多量生産において生ずる問題はビームが表示スク
リーン上に正しくフォーカスされるか否かの決定にある
。慣例の方法ではビーム電流が既定の仕様に一致する場
合にビームの集束は正しいものと仮定している。しかし
、ＣＲＴの設計及び構成の変化、或はカラーＣＲＴの場
合にはシャドウマスクの位置の変化により所定の値のビ
ーム電流でも表示スクリーン面上のスポットサイズ及び
従って走査ラインフォーカスに著しい変化が生じ得る。

ラインフォーカスを調整するためにビデオスクリーン上
にインディアンヘッドのような特定のテストパターンを
発生させるビデオ信号をＣＲＴに供給する手法が使用さ
れている。この場合オペレータがＣＲＴのフォーカシン
グ素子及びこれに供給される電流を、テストパターン内
のラインができるだけ鮮明になるまで調整する。この調
整の精度はオペレータの熟練度に大きく依存すること明
らかであり、各ＣＲＴ間でラインフォーカス及びスポッ
トサイズに大きな変化を生じ得る。ビデオスクリーン上
のビームスポットの最大輝度に対応する最大ビーム電流
においてスポットサイズの増大又は「ブルーミング」を
生じ、極端な場合にはイメージデイテールが損なわれる
ことなになる。

本発明による試験装置はＣＲＴのビデオスクリーン上に
走査電子ビームのスポットサイズ及びラインフォーカス
を明瞭に表示する走査ラインラスタを発生するＣＲＴ用
の複合ビデオ信号を発生するものである。このラスタ表
示はラスタの中間区域の低輝度又は黒部分向に高輝度又
は白の単一の走査テストラインを含むものとする。この
テストラインは数個の位置で黒の間隙により区分し、各
間隙は走査ビームスポットの幅の約３倍にする。各間隙
の中心にビームスポットの幅に略々等しい幅の高輝度又
は白の領域を位置させる。これにより可能な最小画素の
ラインフォーカスとスポットサイズをビデオスクリーン
上に精密に表示し、測定し、フォーカシング素子を最適
フォーカスに調整することができる。

テストラインは標準ＮＴＳＣ走査ラインうスクラスフレ
ームの一方のフィールドの中心近くに選択するのが好ま
しく、このテストラインの上及び下の数走査ラインの幅
に亘って黒の帯とし、これら走査ライン中ビデオ信号を
黒レベルにする。テストラインを区分する位置はその両
端に近い位置と中心位置にし、これらの各位置に単一の
小さな白スポットを表示する。黒帯部分より上及び下の
ラスタ部分は白輝度レベルで発生させる。

試験装置は表示スクリーン上に高輝度レベルと低輝度レ
ベルとの間の遷移を発生させる複数個のビデオパルス信
号波形を発生する回路手段を具える。この回路手段は走
査ラインラスタの各別の部分に対応する各別のビデオ信
号をそれぞれ発生する複数個のパルス発生器と、これら
信号を合成して複合ビデオテスト信号を導出するビデオ
多重回路とを具えるものとする。各パルス発生器は論理
回路により発生されるタイミングパルスで作動させる。

この論理回路は走査ラインラスタを同期させる慣例の同
期パルス発生器により発生される同期パルスを計数して
それぞれのパルス発生器の出力を高輝度レベルにスイッ
チすべき瞬時にタイミングパルスを発生する。当業者に
明らかなように、斯る論理回路は走査ラインの適当な計
数値の到達時にこのようなタイミングパルスを発生する
ようプログラムしたマイクロプロセッサとすることがで
きる。

図面につき本発明を説明する。

標準のＮＴＳＣ表示ラスタは１フレーム当り５２５本の
走査ラインから成り、この５２５　ライン／フレームを
６０フイ一ド／秒の速度で２フイールドで発生し、各走
査ラインは約６３．５μｓの持続時間を有する。帰線中
の水平帰線消去パルスは各走査ラインの開始前に発生し
、約１Ｏ０９μｓの持続時間を有する。

これがため１ラインの実際の走査時間は５２．６μｓで
ある。各フィールド内の２６２．５　ラインのうちの最
初の２１ラインはその前のフィールドの終了後の垂直ブ
ランキング期間中に発生し、実際の走査ラインは２４１
本である。これがため、各フレームの第１フイールドの
中心はライン１２１である。本願人は、通常のオーバス
キャンのためにテストラインはラスタの数学的中心より
僅かに下方のラインとするのが好ましく、ライン１３７
をテストラインとして選択するのが好ましいことを確か
めた。上述したようにこのラインは５２．６μｓの持続
時間を有する。

本発明に従ってＣＲＴビデオスクリーン上に表示される
、斯るテストラインを含むラスタ表示を第１図に示す。

その上部内区域１は、走査ライン１〜２１が垂直帰線消
去期間中に発生するため、水平走査ライン２２〜１２９
から成る。走査ライン２２〜１２９は１００ＩＲＢユニ
ツトのような白の高輝度レベルにある。ライン１３７の
上側の区域２は７．５ｒＲＢユニツトの最低即ち黒輝度
レベルにある７本のライン１３０〜１３６のような複数
の水平走査ラインの帯から成る。斯る輝度レベルは零Ｉ
ＲＢユニットの帰線消去パルスに対し標準の黒レベルを
設定するためのいわゆる「セットアツプ」レベルである
。

走査テストライン１３７は、各フレームのレコードフィ
ールドが黒セットアツプレベルに維持されるため、各フ
レームの第１フイールド内にのみ発生する。図に示すよ
うに、斯るテストラインは間に表示スクリーン上の走査
ビームスポットの幅の３倍の幅の間隙を有する４個の高
輝度区分３ａ〜３ｄから成る。各間隙は黒輝度レベルに
あり、その中心に走査ビームスポットの幅に等しい幅の
白輝度レベルの部分を有する。高輝度部分４ａ、　４ｂ
、　４ｃをそれぞれ有するこれらの間隙はテストライン
１３７の中心と、両端近くに位置させるのが好適である
。

第１図の表示ラスク内のテストライン１３７の下側の区
域４は上側の黒区域２と同一であり、黒即ち最低輝度レ
ベルにある７本のライン１３８〜１４４のような同数の
水平走査ラインの帯である。表示ラスタの下部白区域５
は上部白区域１と同一であり、白輝度レベルにある水平
走査ライン１４５〜２６２から成る。

第２図には第１図に示すような走査テストライン１３７
を発生する複合ビデオパルス信号の波形を示す。走査ラ
インの始端の水平消去パルスは水平同期パルス及びカラ
ーバーストを含み、１０．９ＪＬＳの持続時間を有し、
実際の（目に見える）走査ラインは５２．６μｓである
。

第１図のテストラインの始端及び終端から等距離にある
山区分３ａ及び３ｄを発生させるためには、斯る区分中
に第２図にパルス１及び２で示すような高輝度即ち「白
」レベルビデオパルスが必要とされる。各区分を６３．
６μｓの総持続時間を有するテストラインの全長の約９
分の１の長さにする必要がある場合には各パルス１及び
２は約７μｓの持続時間にする必要がある。本願人が使
用した精密な持続時間は７６０８μｓである。第１パル
スの後及び最終パルスの前の走査ビームスポット幅に対
応する期皿（代表的には０．２５μｓ）中、ビデオ信号
は黒輝度レベルに戻す必要がある。これらの期間は第２
図の期間１ｂ及び２ｂである。黒レベル期間１ｂの後及
び黒レベル期間２ｂの前の１ビ一ムスポツト幅の期間中
、ビデオ信号は白レベルに回復させる必要があり、これ
らの白輝度レベルパルス期間は第２図の３及び４である
。白パルス３の後の１スポット幅の黒レベル期間ＩＣの
後はビデオ信号を白レベルパルス５にする必要がある。

同様に、白パルス４の前の１スポット幅の無期間２Ｃの
前はビデオ信号ヲ白レベルパルス６にする必要がある。

−第１図のテストラインの区分３ｂ及び３Ｃに対応する
パルス５及び６はそれらの間の間隙を除いて連続させ、
その間隙においてその中心（テストラインの中心でもあ
る）に１スポット幅の高輝度部分を発生させる必要があ
る。これを達成するために、各パルス５及び６を１８．
１０ｕｓの持続時間とし、それらの間に３スポット幅即
ち０．７５Ａｉｓの間隙を存在させる。この間隙の中心
に、パルス５００．２５μｓ後に始まりパルス６の０，
２５μｓ前に終了する０、２５μｓの持続時間の１個の
パルス７を発生させる。

このように、パルス１及び２が第１図のテストラインの
区分３ａ及び３ｄを発生し、パルス５及び６が区分３ｂ
及び３Ｃを発生し、パルス３，７及び４がこれら区分間
の中心に位置する１スポット幅の山高輝度レベルの部分
４ａ、　４ｂ及び４Ｃを発生する。テストラインの区分
を発生するパルス１．５．６及び２はそれらの複合波形
を有する単一のパルス発生器により発生させることがで
きること明らかである。他の方法では互に３８．４５Ｊ
Ｊｓ離れた各々７．０８μｓの持続時間を有するパルス
１及び２をもって、第４図にブロック図で示す慣例のパ
ルス発生器４２により容易に発生されるビデオ信号を構
成する。

この信号は第３Ｂ図（２）に示す波形を有する。同様に
、テストラインの開始から７．８３μｓ後に開始する各
々１８、１０μｓの持続時間を有し互に０．７５ＪＬＳ
だけ離れた第２図のパルス５及び６をもって第４図にブ
ロック図で示す慣例のパルス発生器４４により容易に発
生されるビデオ信号を構成する。この信号は第３図（４
）に示す波形を有する。

更にパルス１の７．３３ＪＬｓ後に開始し、パルス２０
２．５μｓ前に終了する各々０．２５μｓの持続時間を
有し互に１８．６μｓだけ離間した第２図のパルス３，
７及び４をもって第４図にブロック図で示す慣例のバル
ス発生器４３により容易に発生されるビデオ信号を構成
する。この信号は第３Ｂ図（３）に示す波形を有する。

これらパルス発生器２．３及び４の合成出力は第１図の
テストライン１３７を発生する。

第１図に示すラスク表示の上部区域の白走査ライン２２
〜１２９用ビデオパルス信号、走査ライン１３０〜１３
６　及ヒ１３８〜１４４の消去用ビデオパルス信号及び
下部区域５の白走査ライン１４５〜２６２％用ビデオパ
ルス信号も発生させる必要があること勿論である。この
目的のために、第４図の回路は第３Ａ図（１）に示す波
形を有するビデオパルス信号を発生するパルス発生器４
１を具える。このビデオ信号は第１フイールドの走査ラ
イン１３０〜１４４を除く全走査ライン２２〜２６２ｚ
中白レベルに維持され、走査ライン１３０〜１４４の９
５３　、Ｌｉの期間中黒レベルに維持される。

第４図に示す回路は同期パルス、カラーバーストパルス
及び帰線消去パルスを発生する慣例のＮＴＳＣパルス発
生器４５も含み、同期パルスはビデオ表示ＣＲＴの走査
回路（図示せず）に供給される。帰線消去パルスは複合
ビデオ信号に含ませる。パルス発生器１〜４の出力及び
帰線消去パルス発生器４５からの帰線消去パルスを慣例
のビデオ多重回路４６において合成し、その出力をもっ
てビデオ表示ＣＲＴのビデオ入力端子に供給する複合ビ
デオ信号を構成する。パルス発生器４１〜４４の各々を
正しい瞬時に作動即ちトリガするために、第４図の回路
はこれらのパルス発生器を作動させるタイミングパルス
を発生するパルストリガが論理回路４７も具える。

パルストリガ論理回路４７は代表的には、テクトロニク
ス社（アメリカ、オレゴン州、ビーバートン）により製
造されている１９１０型のディジタル発生器に使用され
ているような慣例のマイクロプロセッサとすることかで
き、これを帰線消去パルス発生器４５に接続してパルス
発生器４５により発生された水平同期パルスを計数する
ようにする。ライン２２（表示の第１走査ライン）を開
始する同期パルスの検出時に、論理回路４７は第１トリ
ガパルスを発生してパルス発生器４１を作動させる。こ
のとき、パルス発生器４１はその出力端子に、表示すべ
きビデオフィールドの終りに対応する走査ライン２６２
の終了まで連続する第３Ａ図に示す波形（１）を有する
パルスビデオ信号を発生する。ライン２６３を開始する
同期パルスの発生の検出時に、論理回路４７はパルス発
生器４１を休止状態に戻し、論理回路４７がビデオイメ
ージの次のフレームの第１フイールドの走査ライン２２
を開始する同期パルスの発生を検出するまでこの状態に
維持する。

第３Ａ図から明らかなようにパルス発生器４１により発
生されるビデオ信号（１）は走査ライン１３０〜１４４
中黒レベルに戻る。この期間中、テストライン１３７を
開始する同期パルスの発生時に、論理回路４７は第２ト
リガパルスをパルス発生器４２に供給してこのパルス発
生器を作動させ、第３Ｂ図に示す上述のビデオパルス信
号（２）を発生させる。論理回路４７はパルス発生器４
２の出力端子にも接続され、その出力信号の最初の７．
０８ＪＩＳのパルスの終了に応答して、０．２５μｓの
遅延後に第３トリガパルスをパルス発生器４３に供給し
てこれをトリガする。このときパルス発生器４３はその
出力端子に第３Ｂ図に示すビデオパルス信号（３）を発
生する。論理回路４７はパルス発生器の出力端子にも接
続され、その出力信号の最初の０．２５μｓパルスの終
了に応答して、０．２５Ａｉｓの遅延後に第４トリガパ
ルスをパルス発生器４４に供給してこれをトリガする。

このときパルス発生器４４はその出力端子に第３図に示
すビデオパルス信号（４）を発生する。

走査テストライン１３７に続く走査ライン１３８を開始
する、帰線消去パルス発生器４５からの同期パルスの検
出時に、論理回路４７はパルス発生器４２〜４４の各々
にトリガパルスを供給してこれらを休止状態に戻す。次
に、第３Ｂ図のビデオパルス信号（１）の波形から明ら
かなように、走査ライン１４５の開始時にパルス発生器
４１がビデオ信号（１）を白輝度レベルに戻し、このフ
ィールドの終端のライン２６２の終了までこのレベルに
維持スる。

当業者であればこれらパルス発生器４１〜４４及び論理
回路の機能を第３Ａ及び３Ｂ図に示す波形（１）〜（４
）の複合波形を発生するようプログラムした単一のマイ
クロプロセッサにより発生することができること明らか
である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による試験装置によりＣＲＴのビデオス
クリーン上に発生されるスポットサイズ及びラインフォ
ーカス評価表示を示す図、第２図は第１図に示す走査テ
ストラインを発生するための複合ビデオ信号波形を示す
波形図、第３Ａ図は第１図の表示ラスタの走査テストラ
イン１３７を除く全走査ラインのためのビデオ信号を示
す波形図、 第３Ｂ図は、それぞれのパルス信号発生器により容易に
発生でき、第３Ａ図のビデオ信号と一緒に合成すると第
１図に示す表示を生ずる複合ビデオ信号を発生する３つ
の各別のビデオ信号波形を示す波形図、 第４図は、正しい瞬時に合成するとＣＲＴのビデオスク
リーン上に所望のテストラインの表示を発生する第３図
−の各別のパルス信号波形の発生を開始させるタイミン
グパルスを発生する論理回路によって制御される各別の
パルス発生器を具えた回路手段を示すブロック回路図で
ある。 １・・・上部巾区域　　　　２．４・・・中間黒区域５
・・・下部白区域　　　　１３７・・・走査テストライ
ン３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄ　−・・白部分　４ａ、　４
ｂ、　４ｃｍ・・白部分４１〜４４・・・第１〜第４パ
ルス発生器４５・・・同期及び帰線消去パルス発生器４
６・・・ビデオ多重回路 ４７・・・トリガ論理回路 特許出願人　　ノース・アメリカン・フィリップス・コ
ーポレーション

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、走査電子ビームがビデオスクリーン上に走査ライン
   ラスタを発生する陰極線管においてそのビデオスクリー
   ン上に走査ビームスポットサイズとラインフォーカスを
   表示せしめる複合ビデオテスト信号を発生させて当該陰
   極線管を試験するに当り、 前記ラスタの上部及び下部区域において一 定の白輝度レベルを有し、当該ラスタの上部及び下部区
   域間の中間区域において黒輝度レベルを有する第１のビ
   デオパルス信号を発生し、 前記ラスタの中間区域内に位置する走査テ ストラインの順次の区分において白輝度レベルを有し、
   このテストラインのこれら白区分間の部分中黒輝度レベ
   ルを有し、これらの各黒部分の幅が前記ビデオスクリー
   ン上の走査ビームスポットの幅の約３倍である第２のビ
   デオパルス信号を発生し、 前記走査テストラインの各黒部分の中心部 において白輝度レベルを有し、これらの各白部分の幅が
   前記ビデオスクリーン上の走査ビームスポットの幅に略
   々等しい第３のビデオパルス信号を発生し、 前記第１、第２及び第３のビデオパルス信 号を合成して前記複合ビデオテスト信号を発生させるこ
   とを特徴とする陰極線管の試験方法。 ２、走査電子ビームがビデオスクリーン上に走査ライン
   ラスタを発生する陰極線管においてそのビデオスクリー
   ン上に走査ビームスポットサイズとラインフォーカスを
   表示せしめる複合ビデオテスト信号を発生させて当該陰
   極線管を試験する請求項１記載の方法を実施する装置に
   おいて、 前記ラスタの上部及び下部区域において一 定の高輝度レベルを有し、当該ラスタの上部及び下部区
   域間の中間区域において最低輝度レベルを有する第１の
   ビデオパルス信号を発生する第１のパルス発生手段と、 前記ラスタの中間区域内に位置する走査テ ストラインの順次の区分において高輝度レベルを有し、
   このテストラインのこれら高輝度区分間の部分中黒輝度
   レベルを有し、これらの各黒部分の幅が前記ビデオスク
   リーン上の走査ビームスポットの幅の約３倍である第２
   のビデオパルス信号を発生する第２のパルス発生手段と
   、 前記走査テストラインの各黒部分の中心部 において高輝度レベルを有し、これらの各高輝度部分の
   幅が前記ビデオスクリーン上の走査ビームスポットの幅
   に略々等しい第３のビデオパルス信号を発生する第３の
   パルス発生手段と、 前記第１、第２及び第３パルス発生手段に 接続され、前記第１、第２及び第３のビデオパルス信号
   を合成して前記複合ビデオテスト信号を形成するビデオ
   多重回路とを具えたことを特徴とする陰極線管の試験装
   置。 ３、前記ラスタは複数の飛越し走査フィールドから成る
   ビデオフレームで反復させ、前記パルス発生手段によっ
   て発生されるビデオパルス信号は各ビデオフレームの１
   つのフィールド中のみ発生するようにしてあることを特
   徴とする請求項２記載の装置。 ４、前記ビデオ多重回路に接続され、帰線消去パルスを
   前記ビデオ多重回路に供給してこれらパルスをこの多重
   回路により発生される複合ビデオテスト信号内に含ませ
   る同期及び帰線消去パルス発生器と、前記同期及び帰線
   消去パルス発生器に接続され、これにより発生される同
   期パルスに応答して前記第１、第２及び第３のパルス発
   生手段をこれらパルス発生手段により発生されるビデオ
   パルス信号が高輝度レベルになって前記ラスタの高輝度
   部分を発生する瞬時に作動させるタイミングパルスを発
   生する論理回路手段とを具えていることを特徴とする請
   求項２記載の装置。 ５、前記論理回路手段はマイクロプロセッサであること
   を特徴とする請求項４記載の装置。 ６、前記第１、第２及び第３のパルス発生手段は前記マ
   イクロプロセッサ内に含まれていることを特徴とする請
   求項５記載の装置。 ７、走査電子ビームがビデオスクリーン上に走査ライン
   ラスタを発生する陰極線管においてそのビデオスクリー
   ン上に走査ビームスポットサイズとラインフォーカスを
   表示せしめる複合ビデオテスト信号を発生させて当該陰
   極線管を試験する請求項１記載の方法を実施する装置に
   おいて、 前記ラスタの上部及び下部区域において一 定の高輝度レベルを有し、当該ラスタの上部及び下部区
   域間の中間区域において最低輝度レベルを有する第１の
   ビデオパルス信号を発生する第１のパルス発生手段と、 前記ラスタの中間区域内に位置する走査テ ストラインの第１及び第２の区分において高輝度レベル
   を有すると共に第１及び第２の区分間に前記ビデオスク
   リーン上の走査ビームスポットの幅の３倍の幅を有する
   最低輝度レベルの間隙を有する第２のビデオパルス信号
   を発生する第２のパルス発生手段と、 前記走査テストラインの第１及び第２の区 分間の間隙の中心部において前記走査ビームスポットの
   幅に等しい持続時間中高輝度レベルを有する第３のビデ
   オパルス信号を発生する第３のパルス発生手段と、 前記第１、第２及び第３パルス発生手段に 接続され、前記第１、第２及び第３のビデオパルス信号
   を合成して前記複合ビデオテスト信号を形成するビデオ
   多重回路とを具えたことを特徴とする陰極線管の試験装
   置。 ８、走査電子ビームがビデオスクリーン上に走査ライン
   ラスタを発生する陰極線管においてそのビデオスクリー
   ン上に走査ビームスポットサイズとラインフォーカスを
   表示せしめる複合ビデオテスト信号を発生させて当該陰
   極線管を試験する請求項１記載の方法を実施する装置に
   おいて、 前記ラスタの上部及び下部区域において一 定の高輝度レベルを有し、当該ラスタの上部及び下部区
   域間の中間区域において最低輝度レベルを有する第１の
   ビデオパルス信号を発生する第１のパルス発生手段と、 前記ラスタの中間区域内に位置する走査テ ストラインの始端及び終端に隣接する第１及び第２の区
   分において高輝度レベルを有する第２のビデオパルス信
   号を発生する第２のパルス発生手段と、 前記走査テストラインの第１及び第２の区 分間にあってこのテストラインに沿って等間隔に位置す
   る走査ビームスポット幅に等しい幅の複数個の個別の領
   域において輝度レベルを有する第３のビデオパルス信号
   を発生する第３のパルス発生手段と、 前記走査テストラインの前記個別の領域間 にあって隣接する個別の領域から走査ビームスポット幅
   に等しい距離だけ離れたこのテストラインの他の区分中
   高輝度レベルを有する第４のビデオパルス信号を発生す
   る第４のパルス発生手段と、 前記ラスタの各走査ラインの前に同期パル ス及び帰線消去パルスを発生する同期及び帰線消去パル
   ス発生器と、 前記同期及び帰線消去パルス発生器及び前 記第１、第２、第３及び第４のパルス発生手段に接続さ
   れ、前記各パルス発生手段をこれにより発生されるビデ
   オパルス信号が高レベルになって前記ラスタの高輝度部
   分を発生する瞬時に作動させるタイミングパルスを発生
   する論理回路手段と、 前記第１、第２、第３及び第４のパルス発 生手段及び前記同期及び帰線消去パルス発生器に接続さ
   れ、前記第１、第２、第３及び第４のビデオパルス信号
   を合成して前記複合ビデオテスト信号を形成するビデオ
   多重回路手段とを具えたことを特徴とする陰極線管の試
   験装置。 ９、前記第３のパルス発生手段は前記走査テストライン
   の第１及び第２の区分間にあってこのテストラインに沿
   って等間隔に位置する走査ビーム幅に等しい幅の３個の
   個別の領域中高輝度レベルを有する前記第３のビデオパ
   ルス信号を発生し、前記第４のパルス発生手段は前記走
   査テストラインの前記３個の高輝度領域の第１及び第２
   領域間に位置する第３の区分とこれら３個の高輝度領域
   の第２及び第３領域間に位置する第４の区分の間中高輝
   度レベルを有し、前記第３及び第４区分は両者の間に走
   査ビームスポット幅の３倍に等しい幅の間隙を有する前
   記第４のビデオパルス信号を発生するようにしてあるこ
   とを特徴とする請求項８記載の装置。