JPH0113561B2 - - Google Patents

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JPH0113561B2
JPH0113561B2 JP55155738A JP15573880A JPH0113561B2 JP H0113561 B2 JPH0113561 B2 JP H0113561B2 JP 55155738 A JP55155738 A JP 55155738A JP 15573880 A JP15573880 A JP 15573880A JP H0113561 B2 JPH0113561 B2 JP H0113561B2
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JP
Japan
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circuit
heating
heating element
flop
flip
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JP55155738A
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English (en)
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JPS5685116A (en
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Geedetsuke Rudogaa
Fuon Haieku Hansu
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Siemens Corp
Original Assignee
Siemens Corp
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Publication date
Application filed by Siemens Corp filed Critical Siemens Corp
Publication of JPS5685116A publication Critical patent/JPS5685116A/ja
Publication of JPH0113561B2 publication Critical patent/JPH0113561B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05DSYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
    • G05D23/00Control of temperature
    • G05D23/19Control of temperature characterised by the use of electric means

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Fixing For Electrophotography (AREA)
  • Control Of Temperature (AREA)
  • Control Of Resistance Heating (AREA)
  • Power Conversion In General (AREA)
  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
  • Time Recorders, Dirve Recorders, Access Control (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は一つの開閉素子と少くとも一つの加
熱要素との直列接続を含む加熱装置の機能を監視
する装置に関するものである。この加熱装置は例
えば静電電子写真又は静電複写の定着部に使用さ
れるものでその加熱要素には開閉素子が導通状態
にあるとき特定周波数(第一周波数)の交流が流
れる。
放熱板を備えた加熱装置の監視は例えば非機械
的の印刷機又は複写機等において必要である。静
電複写機の場合紙帯上に作られたトナー像を溶着
する定着槽に放熱板が使用され、この放熱板は例
えば定着ドラム内に置かれる。完全な定着を実施
するためには加熱装置に故障が生じたとき定着処
理を中止させることが必要である。そのために加
熱装置の監視が必要となる。
この発明の目的は、加熱装置の機能を確実に監
視することができる装置を提供することにある。
この目的はこの発明によれば、開閉素子と少な
くとも一つの加熱要素との直列接続を含み、加熱
要素には開閉素子が導通状態にあるとき第一周波
数の交流が流れるようになつており、さらに測定
素子と、測定素子に並列に置かれ測定素子にかか
る電圧を定めるための増幅回路と、第一周波数よ
り低い周波数で振動する発振器とを備えた加熱装
置の機能を監視するための装置において、増幅回
路は測定素子にかかる電圧がしきい値を越えたと
きパルス状のクロツク電圧を送り出し、フリツプ
フロツプが設けられ、フリツプフロツプのリセツ
ト入力端は増幅回路の出力端および加熱要素の温
度を検出するためのセンサに接続され、このセン
サは加熱要素が所定の温度より下にあるときはフ
リツプフロツプをリセツトさせず前記所定の温度
を越えたときはフリツプフロツプをリセツトさせ
るようなセンサ信号を送り出すものであり、発振
器はフリツプフロツプのクロツクパルス制御され
る入力端と接続され、フリツプフロツプの出力端
にはスイツチング状態を取り出す評価回路が配置
されることにより達成される。
さらに上述の目的はこの発明によれば、開閉素
子と少なくとも一つの加熱要素との直列接続を含
み、加熱要素には測定素子が導通状態にあるとき
第一周波数の交流が流れるようになつており、さ
らに測定素子と、測定素子に並列に置かれ測定素
子にかかる電圧を定めるための増幅回路とを備え
た加熱装置の機能を監視するための装置におい
て、増幅回路は測定素子にかかる電圧がしきい値
を越えたときパルス状のクロツク電圧を送り出
し、カウンタが設けられ、カウンタのカウント入
力端は増幅回路の出力端と接続され、カウンタの
リセツト入力端は加熱要素の温度を検出するため
のセンサと接続され、センサは加熱要素が所望の
温度より下にあるときセンサ信号を送り出すもの
であり、カウンタの出力端にはカウント状態を取
り出す評価回路が配置されていることにより達成
される。
フリツプフロツプと発振器を使用することによ
り加熱要素が完全に機能しているか否かを決定す
ることができる。加熱要素の動作を必要とするに
も拘らず加熱要素に電流が流れていないときはク
ロツク信号が発生せず、フリツプフロツプはリセ
ツトしない。即ちフリツプフロツプは発振器の信
号に基いてセツト状態にとどまる。フリツプフロ
ツプの出力信号を取り出すためにはそれをAND
回路と結びこのAND回路の第二入力端はインバ
ータ回路を通して発振器に接続するのが有利であ
る。これによつて簡単に発振器信号の立下りに際
してフリツプフロツプの出力信号を確認すること
ができる。
加熱要素の監視はこの加熱要素に電流が流れる
必要があるときだけ行えばよいから、加熱要素が
動作しないときはフリツプフロツプを遮断する方
がよい。そのためには加熱要素の温度を測定する
センサを使用し、加熱要素の温度が所定の値に達
しないときセンサ信号を送り出させる。このセン
サの出力端はフリツプフロツプのリセツト入力端
と結ぶ。従つてセンサ信号が送り出されないとき
はリセツト信号がフリツプフロツプに導かれ、フ
リツプフロツプは阻止される。
例えばトライアツクから成る開閉素子の監視に
はカウンタを使用することができる。開閉素子の
機能が障害を受けると加熱要素に電流がいつまで
も流れる危険がある。この場合増幅回路もクロツ
ク信号を続けて発生しカウンタの入力端にこの信
号が導かれる。センサが信号を送り出さなくなつ
たときは加熱要素は動作する必要がないからカウ
ンタはリセツトされず計数を続行する。カウンタ
が特定の計数状態に達することは開閉素子が最早
正常な動作を行なつていないことを表わす。カウ
ンタの状態を評価し故障の場合を判定するために
は、第二のフリツプフロツプを設けてこれを
AND回路を通してカウンタの二つの出力端に結
ぶと有効である。このAND回路はカウンタが例
えば3個のクロツク信号を数えて第二フリツプフ
ロツプを動作させたとき信号を送り出すようにす
ることができる。
測定素子としては開閉素子と加熱要素との間の
導線部分を使用することができる。この場合増幅
回路は簡単にこの導線部分に並列の変成器とこの
変成器の二次巻線に接続された演算増幅器とこの
増幅器の出力側に設けられたシユミツトトリガ回
路から構成することができる。このトリガ回路は
パルス状のクロツク信号を送り出す。
二つの加熱要素を直列接続する必要がある場合
には測定素子として加熱要素自体を使用すること
ができる。各加熱要素の電圧をそれぞれの加熱要
素に並列に設けられたオプトカプラとその後に置
かれたクロツク信号発生用のシユミツトトリガ回
路から成る増幅回路を使用して決定する。
加熱装置の完全な機能を表示するためには、簡
単にシユミツトトリガ回路の出力側に発光ダイオ
ードを設け加熱要素に電流が流れている間発光す
るようにすればよい。
図面に示した実施例についてこの発明を更に詳
細に説明する。第1図に示した実施例の加熱装置
は開閉素子10例えばトライアツクと加熱要素1
2例えば放熱板から成る。これらは例えば50Hzの
交流電圧を発生する駆動電源の端子U1とU2の
間に直列に置かれる。開閉素子10の制御端子1
5に信号電圧が導かれると開閉素子10は導通状
態となり、開閉素子10と加熱要素12を通して
交流が流れ、加熱要素12は動作状態となる。
加熱要素12の機能を監視するため開閉素子1
0と加熱要素12との直列接続に測定素子14が
挿入されている。この測定素子14は第1図では
導線の一部である。電流が流れると測定素子14
内に例えば約50mVの電圧降下が生ずる。この電
圧降下は増幅回路16を通して測定される。
増幅回路16は変成器18を含み、その一次巻
線は測定素子14に並列であり、二次巻線は演算
増幅器20の入力端に接続されている。演算増幅
器20の出力側にはシユミツトトリガ回路22が
接続され、増幅回路16の出力端となつているそ
の出力端からは測定素子14の電圧降下が規定の
しきい値を越えたときパルス状のクロツク信号が
送り出される。このクロツク信号は交流の負半波
と正半波のいずれからもとり出すことができる。
増幅回路16の出力端には開閉素子10と加熱
要素12との直列接続に交流が流れているときに
限りクロツク信号が現われる。このクロツク信号
はフリツプフロツプ24特にそのリセツト入力端
Rに導かれる。フリツプフロツプ24のダイナミ
ツク入力端には発振器26が接続される。この発
振器26の周波数は加熱要素12を流れる交流の
周波数より低い。フリツプフロツプ24は発振器
26の出力端から信号が送り出されるとき常にセ
ツトされる。しかしながら増幅回路16の出力端
からクロツク信号が出り出されると常にリセツト
される。クロツク信号の周波数が発振器信号の周
波数より高いため、フリツプフロツプ24は開閉
素子10と加熱要素12に交流が流れている間は
増幅回路16から送り出されるクロツク信号によ
りリセツト状態に置かれるが、それらに交流が流
れていないと発振器26の出力信号によりセツト
状態に置かれる。
フリツプフロツプ24の出力端は評価回路とし
てのAND回路28によつて走査される。そのた
めAND回路28の第二入力端はインバータ回路
30を通して発振器26の出力端に結ばれてい
る。従つて発振器信号の立下りに続いてフリツプ
フロツプ24がセツトされたか否かがAND回路
28によつて確かめられる。フリツプフロツプ2
4がセツトされていれば、加熱要素12が動作し
ていなければならないとき、すなわち開閉素子1
0と加熱要素12とからなる直列回路に交流電流
が流れなければならないとき、加熱要素12に障
害があることになる。
加熱要素12に対する監視回路は加熱要素12
に電流が流れる必要がある間だけ接続されていな
ければならないから、フリツプフロツプ24のリ
セツト入力端Rにはインバータ回路36とOR回
路32を通してセンサ34からセンサ信号が導か
れる。センサ34にはNTC抵抗を含ませること
ができる。この抵抗は加熱要素12の近くに置
き、その抵抗値を加熱要素の温度に関係させる。
加熱要素の温度が特定の値を超過しない間はセン
サ34は信号を送り出し、それによつて加熱要素
に電流が流れる必要があることを示す。この場合
のセンサ信号は二進法の“1”とすることができ
る。センサ信号はインバータ36において反転さ
れOR回路32を介してフリツプフロツプ24の
リセツト入力端に加えられる。この反転によつて
“1”は“0”となり、フリツプフロツプ24は
センサ34の影響を受けない。これに反して加熱
要素が加熱される必要がなく、従つて加熱要素1
2に電流が流れる必要がない場合には、センサ信
号は“0”となる。この信号はインバータ36に
より“1”に変えられ、フリツプフロツプ24を
リセツトさせる。従つてセンサ信号が“0”であ
る限りフリツプフロツプ24は発振器26により
セツトされることはない。これによつて加熱要素
12に対する監視回路は、加熱要素12に電流が
流れる必要がないときは遮断される。
これまでは加熱要素12の監視に必要な部分に
ついて説明して来たが、加熱装置には開閉素子1
0も含まれているからその機態も監視する必要が
ある。開閉素子10が正常な動作を行わず遮断状
態になければならないときに導通状態にあれば、
加熱要素12には加熱する必要がないときにも電
流が流れる。この故障を確認するためカウンタ3
8が設けられ、増幅回路16の出力端がこのカウ
ンタ38の入力端Zに結ばれる。カウンタ38の
リセツト入力端Rはセンサ34に結ばれている。
加熱要素12に交流が流れている限り増幅回路
16の出力端からクロツク信号が送り出されカウ
ンタ38に導かれる。ここでセンサ34がセンサ
信号“1”を送り出し、加熱要素12が加熱され
る必要があることを指示すれば、この信号はカウ
ンタ38のリセツト入力端に加えられ常にカウン
タをリセツトさせる。この正常な状態においては
カウンタ38はどこまでも計数を続けることはな
い。これに反して加熱要素12が所定温度を越え
ても電流が流れ続ける場合にはセンサ34は信号
“0”を送り出し、この信号もカウンタ38のリ
セツト入力端Rに導かれ、したがつてカウンタ3
8はリセツトしない。同時にクロツク信号が増幅
回路16から与えられるからカウンタ38はいつ
までもカウントを続ける。これによつて開閉素子
の機能の誤りが指示される。
誤動作状態の走査のためにはカウンタ段の出力
端に評価回路としてAND回路44を接続する。
このAND回路に対応するカウンタ段を接続する
ことにより、カウンタ38が所定のカウント状態
に達したときAND回路44が信号を送り出すよ
うにすることができる。AND回路44の信号は
別のフリツプフロツプ46のセツト入力端に導く
ことができる。このフリツプフロツプ46がセツ
ト状態にあるときは常に開閉素子10は誤動作し
ている。
第1図の回路では測定素子14として導線部分
が使用されているが、第2図に示した実施例では
加熱要素自体が測定素子として使用される。これ
は二つの加熱要素を直列接続する必要がある場合
に有利である。第2図において直列に接続された
加熱要素50,51は開閉素子10が導通状態に
あるとき交流電圧の両極U1,U2の間に接続さ
れる。これらの加熱要素50,51が正常に動作
しているときは各要素に加えられる電圧は交流電
圧源電圧の2分の1であるが、一方の加熱要素が
故障すると交流電圧の大部分がこの加熱要素に加
えられ他方の要素の電圧は低くなる。
加熱要素50,51の電圧はそれぞれオプトカ
プラ52又は53に導かれ、この電圧が低い値を
とらないとき対応するオプトカプラが応動する。
オプトカプラ52,53の出力端はそれぞれ一つ
のシユミツトトリガ回路54又は55に結ばれ、
これらのシユミツトトリガ回路のクロツク信号は
NAND回路56を通して第1図に示したフリツ
プフロツプ24又はカウンタ38に導かれる。従
つて第2図の実施例では増幅回路はオプトカプラ
52又は53、シユミツトトリガ回路54又は5
5およびNAND回路56から構成される。その
他の点では第1図と同様である。
シユミツトトリガ回路22,54,55の出力
側には抵抗58と発光ダイオード60から成る表
示回路を設けることができる。この発光ダイオー
ド60はクロツクパルスが送り出され、すなわち
加熱電流が流れている間発光する。
【図面の簡単な説明】
第1図と第2図はそれぞれこの発明の互に異る
実施例の接続図を示す。 10……開閉素子、12……加熱要素、14…
…測定素子、16……増幅回路、24……フリツ
プフロツプ、26……発振器、28……AND回
路(評価回路)、34……センサ、38……カウ
ンタ、44……AND回路(評価回路)、46……
フリツプフロツプ、50,51……加熱要素。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 開閉素子10と少なくとも一つの加熱要素1
    2との直列接続を含み、加熱要素12には開閉素
    子10が導通状態にあるとき第一周波数の交流が
    流れるようになつており、さらに測定素子14
    と、測定素子14に並列に置かれ測定素子14に
    かかる電圧を定めるための増幅回路16と、第一
    周波数より低い周波数で振動する発振器26とを
    備えた加熱装置の機能を監視するための装置にお
    いて、増幅回路16は測定素子14にかかる電圧
    がしきい値を越えたときパルス状のクロツク電圧
    を送り出し、フリツプフロツプ24が設けられ、
    フリツプフロツプ24のリセツト入力端Rは増幅
    回路16の出力端および加熱要素12の温度を検
    出するためのセンサ34に接続され、センサ34
    は加熱要素12が所定の温度より下にあるときは
    フリツプフロツプ24をリセツトさせず前記所定
    の温度を越えたときはフリツプフロツプ24をリ
    セツトさせるようなセンサ信号を送り出すもので
    あり、発振器26はフリツプフロツプ24のクロ
    ツクパルス制御される入力端と接続され、フリツ
    プフロツプ24の出力端にはスイツチング状態を
    取り出す評価回路28が配置されていることを特
    徴とする加熱装置の機能監視装置。 2 フリツプフロツプ24の評価回路はアンド回
    路28を含み、アンド回路28の第二入力端はイ
    ンバータ回路30を介して発振器26と接続され
    ていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の装置。 3 測定素子14が開閉素子10と加熱要素12
    との間の導線部分によつて構成されていることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項記
    載の装置。 4 増幅回路16が、測定素子14に並列に置か
    れた変成器18、変成器18の二次巻線に接続さ
    れた演算増幅器20および演算増幅器20の出力
    端に接続されたシユミツトトリガ回路22から構
    成されていることを特徴とする特許請求の範囲第
    3項記載の装置。 5 測定素子が加熱要素50から構成されている
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項または第
    2項記載の装置。 6 増幅回路が加熱要素50に並列に置かれたオ
    プトカプラ52とオプトカプラ52の後に置かれ
    たシユミツトトリガ回路54とから構成されてい
    ることを特徴とする特許請求の範囲第5項記載の
    装置。 7 シユミツトトリガ回路の出力端に発光ダイオ
    ード60が接続されていることを特徴とする特許
    請求の範囲第4項〜第6項のいずれか1項に記載
    の装置。 8 開閉素子10と少なくとも一つの加熱要素1
    2との直列接続を含み、加熱要素12には開閉素
    子10が導通状態にあるとき第一周波数の交流が
    流れるようになつており、さらに測定素子14
    と、測定素子14に並列に置かれ測定素子14に
    かかる電圧を定めるための増幅回路16とを備え
    た加熱装置の機能を監視するための装置におい
    て、増幅回路16は測定素子14にかかる電圧が
    しきい値を越えたときパルス状のクロツク電圧を
    送り出し、カウンタ38が設けられ、カウンタ3
    8のカウント入力端Zは増幅回路16の出力端と
    接続され、カウンタ38のリセツト入力端Rは加
    熱要素12の温度を検出するためのセンサ34と
    接続され、センサ34は加熱要素12が所望の温
    度より下にあるときセンサ信号を送り出すもので
    あり、カウンタ38の出力端にはカウント状態を
    取り出す評価回路44,46が配置されているこ
    とを特徴とする加熱装置の機能監視装置。 9 評価回路としてフリツプフロツプ46が設け
    られ、アンド回路44を介してカウンタ38の2
    つのカウンタ段出力端に接続されていることを特
    徴とする特許請求の範囲第8項記載の装置。 10 測定素子14が開閉素子10と加熱要素1
    2との間の導線部分によつて構成されていること
    を特徴とする特許請求の範囲第8項または第9項
    記載の装置。 11 増幅回路16が、測定素子14に並列に置
    かれた変成器18、変成器18の二次巻線に接続
    された演算増幅器20および演算増幅器20の出
    力端に接続されたシユミツトトリガ回路22から
    構成されていることを特徴とする特許請求の範囲
    第10項記載の装置。 12 測定素子が加熱要素50から構成されてい
    ることを特徴とする特許請求の範囲第8項または
    第9項記載の装置。 13 増幅回路が加熱要素50に並列に置かれた
    オプトカプラ52とオプトカプラ52の後に置か
    れたシユミツトトリガ回路54とから構成されて
    いることを特徴とする特許請求の範囲第12項記
    載の装置。 14 シユミツトトリガ回路の出力端に発光ダイ
    オード60が接続されていることを特徴とする特
    許請求の範囲第11項〜第13項のいずれか1項
    に記載の装置。
JP15573880A 1979-11-06 1980-11-05 Heater function monitor unit Granted JPS5685116A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2944796A DE2944796C2 (de) 1979-11-06 1979-11-06 Anordnung zur Überwachung und Regelung einer Heizanordnung

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Publication Number Publication Date
JPS5685116A JPS5685116A (en) 1981-07-11
JPH0113561B2 true JPH0113561B2 (ja) 1989-03-07

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ID=6085279

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JP15573880A Granted JPS5685116A (en) 1979-11-06 1980-11-05 Heater function monitor unit

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US (1) US4369354A (ja)
EP (1) EP0028794B1 (ja)
JP (1) JPS5685116A (ja)
AT (1) ATE12146T1 (ja)
DE (1) DE2944796C2 (ja)

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