JPH01136036A - Ｈｉｄランプ光出力安定化装置 - Google Patents
Ｈｉｄランプ光出力安定化装置Info
- Publication number
- JPH01136036A JPH01136036A JP29407887A JP29407887A JPH01136036A JP H01136036 A JPH01136036 A JP H01136036A JP 29407887 A JP29407887 A JP 29407887A JP 29407887 A JP29407887 A JP 29407887A JP H01136036 A JPH01136036 A JP H01136036A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- arc
- light output
- lamp
- hid lamp
- magnetic field
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Arrangement Of Elements, Cooling, Sealing, Or The Like Of Lighting Devices (AREA)
- Circuit Arrangements For Discharge Lamps (AREA)
- Vessels And Coating Films For Discharge Lamps (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はメタルハライドランプのようなＨＩＤランプに
関し、特に光出力の安定な光源に関する。
関し、特に光出力の安定な光源に関する。
分光分析の分野においては、紫外領域から可視領域にわ
たる広い波長領域の光が用いられている。
たる広い波長領域の光が用いられている。
分光分析装置の中でも、物質の吸収により定性。
定量分析を行う装置の光源には、特に光出力のゆらぎが
少ないことが重要になっている。上記目的のために、特
別に開発されたメタルハライドランプにおいても、光出
力のゆらぎを０．０５％以下にすることは困難であり、
一般照明用に用いられているＨ Ｉ Ｉ）ランプ（高圧
水銀ランプ、高圧ナトリウムランプ、メタルハライドラ
ンプ等、動作時の蒸気圧が１気圧程度、あるいはそれ以
上の高圧蒸気放電灯をいう）にあっては、通常０．５％
程度のゆらぎがあり、アークがスネークする場合には数
％程度のゆらぎになる。
少ないことが重要になっている。上記目的のために、特
別に開発されたメタルハライドランプにおいても、光出
力のゆらぎを０．０５％以下にすることは困難であり、
一般照明用に用いられているＨ Ｉ Ｉ）ランプ（高圧
水銀ランプ、高圧ナトリウムランプ、メタルハライドラ
ンプ等、動作時の蒸気圧が１気圧程度、あるいはそれ以
上の高圧蒸気放電灯をいう）にあっては、通常０．５％
程度のゆらぎがあり、アークがスネークする場合には数
％程度のゆらぎになる。
なお、実公昭４８−５１１２号あるいは米国特許３５６
２５８３号に記されているように、アークに磁場を作用
させて上記アークのスネークを防止する方法も既に発明
されているが、上記の各方法では、一般照明用としての
光のちらつき、あるいはアークの曲りによるランプの劣
化を防止する上では、十分な効果が得られるものの、光
出力のゆらぎを０．０５％、以下にするという要請の高
度な安定化のだめには不十分であった。
２５８３号に記されているように、アークに磁場を作用
させて上記アークのスネークを防止する方法も既に発明
されているが、上記の各方法では、一般照明用としての
光のちらつき、あるいはアークの曲りによるランプの劣
化を防止する上では、十分な効果が得られるものの、光
出力のゆらぎを０．０５％、以下にするという要請の高
度な安定化のだめには不十分であった。
上記のように、従来技術ではＨＩＤランプの安定性が十
分でなく、特に、吸光光度計等のように高度な安定性が
要求される分野で用いるには不都合であった。
分でなく、特に、吸光光度計等のように高度な安定性が
要求される分野で用いるには不都合であった。
本発明の目的は、ＨＩＤランプの光出力のゆらぎを０．
０５％以下にした。高度に安定なＨＩ Ｉ）ランプ光出
力安定化装置を得ることにあり、さらに、アークを制御
するための磁場発生用コイルを一次元的に配して、なお
かっ、アーク位置を二次元的に制御することにある。
０５％以下にした。高度に安定なＨＩ Ｉ）ランプ光出
力安定化装置を得ることにあり、さらに、アークを制御
するための磁場発生用コイルを一次元的に配して、なお
かっ、アーク位置を二次元的に制御することにある。
（問題点を解決するための手段〕
上記目的は、）（ＩＤランプにおけるアークの変位を検
出し、上記変化に対応してアークに磁場を作用させ、上
記アークの位置を矯正する上で、上記ＨＴ Ｄランプで
発光管の断面形状を偏平とし、この偏平な面と平行に磁
場発生用コイルを設けることにより、達成される。
出し、上記変化に対応してアークに磁場を作用させ、上
記アークの位置を矯正する上で、上記ＨＴ Ｄランプで
発光管の断面形状を偏平とし、この偏平な面と平行に磁
場発生用コイルを設けることにより、達成される。
本発明によるＩＩ Ｉ Ｄランプ光出力安定化装置は、
ＨＩ Ｄランプの近傍に設けたコイルに電流を流すこと
により発生する磁場が、ローレンス力によりアークを変
位させると共に、上Ｊｄアークの位置を監視する手段か
らの制御により、所望の位置に上記アークを固定するも
のである。特に、上記ＨＩＤランプ発光管の断面形状を
偏平とし、この偏ＳＩＬな長軸方向と平行に磁場発生用
コイルを設けた、発光管の断面形状を偏平とすることに
より、アーク位置のゆらぎを偏平な断面の長軸方向に限
定し。
ＨＩ Ｄランプの近傍に設けたコイルに電流を流すこと
により発生する磁場が、ローレンス力によりアークを変
位させると共に、上Ｊｄアークの位置を監視する手段か
らの制御により、所望の位置に上記アークを固定するも
のである。特に、上記ＨＩＤランプ発光管の断面形状を
偏平とし、この偏ＳＩＬな長軸方向と平行に磁場発生用
コイルを設けた、発光管の断面形状を偏平とすることに
より、アーク位置のゆらぎを偏平な断面の長軸方向に限
定し。
さらに、この長袖方向のゆらぎを上記コイルに電流を流
すことにより発光する制御された磁場をアークに作用さ
せることで防止できる。
すことにより発光する制御された磁場をアークに作用さ
せることで防止できる。
以下、本発明の一実施例を図面と共に説明する。
第１図は本発明によるＨ Ｉ Ｄランプ光出力安定化装
置の一実施例を示すブロック図、第２図は第１図のＨＩ
Ｄランプの断面図である。第１図において、１はＨＩＤ
ランプ、２はアーク位置検出器、３は磁場制御回路、４
は磁場発生用コイル、５はレンズ、６は分光光度計であ
る。第２図において１−１は発光器、１−２は外管であ
る。ＨＩＤランプ１の光出力は集光されて分光光度計６
の入口スリット（図示省略）上に結像される。このとき
、分光光度計に入る入射光の強さは、Ｔ−Ｔ Ｉ Ｄラ
ンプ１の光出力の時間的ゆらぎと、ＨＴＤランプ１のア
ーク位置の変化に基づくゆらぎとに影響される。
置の一実施例を示すブロック図、第２図は第１図のＨＩ
Ｄランプの断面図である。第１図において、１はＨＩＤ
ランプ、２はアーク位置検出器、３は磁場制御回路、４
は磁場発生用コイル、５はレンズ、６は分光光度計であ
る。第２図において１−１は発光器、１−２は外管であ
る。ＨＩＤランプ１の光出力は集光されて分光光度計６
の入口スリット（図示省略）上に結像される。このとき
、分光光度計に入る入射光の強さは、Ｔ−Ｔ Ｉ Ｄラ
ンプ１の光出力の時間的ゆらぎと、ＨＴＤランプ１のア
ーク位置の変化に基づくゆらぎとに影響される。
上記各ゆらぎのうち、前者はＨＩ Ｄランプ】を定電流
回路で点灯する方法、または、分光光度計内で入射光を
２経路の光束に分割し、分割光の一方を参照先に澄るこ
とで補正できる。しかし、後者のゆらぎは上記の方法で
は充分に補正できないために、ｌｌＩＤランプ１自身で
アーク位置の変位を補正しなければならない。
回路で点灯する方法、または、分光光度計内で入射光を
２経路の光束に分割し、分割光の一方を参照先に澄るこ
とで補正できる。しかし、後者のゆらぎは上記の方法で
は充分に補正できないために、ｌｌＩＤランプ１自身で
アーク位置の変位を補正しなければならない。
ところで、Ｈｒ Ｄランプ１のアーク位置の変化に基づ
くゆらぎは、ＨＩＤランプ１の発光管断面形状を偏平と
したことにより、二次元的なゆらぎとはならず、偏平な
断面の長軸方向での一次元的なゆらぎとなる。したがっ
て、上記補正のために設けたコイル４は、上記長軸方向
でのアーク化「ｔを矯正するために、磁場制御回路３に
より制御された磁場を発生する。アークの長さ１ｃｎ＋
、アーク電流０．７Ａ のとき、上記コイル４はコイル
半径１．５ｃｍ、ターン数１２の空欄コイルとし、アー
クから１．５ｃｍ離し、アークの軸とコイル４の軸とが
直交し、さらに、発光管の長軸方向とコイル４の軸とが
直交するように設け、上記コイル４に０．１Ａ程度の電
流を流して発生する磁場のローレンス力により、アーク
位置の変位を充分に抑えることができた。
くゆらぎは、ＨＩＤランプ１の発光管断面形状を偏平と
したことにより、二次元的なゆらぎとはならず、偏平な
断面の長軸方向での一次元的なゆらぎとなる。したがっ
て、上記補正のために設けたコイル４は、上記長軸方向
でのアーク化「ｔを矯正するために、磁場制御回路３に
より制御された磁場を発生する。アークの長さ１ｃｎ＋
、アーク電流０．７Ａ のとき、上記コイル４はコイル
半径１．５ｃｍ、ターン数１２の空欄コイルとし、アー
クから１．５ｃｍ離し、アークの軸とコイル４の軸とが
直交し、さらに、発光管の長軸方向とコイル４の軸とが
直交するように設け、上記コイル４に０．１Ａ程度の電
流を流して発生する磁場のローレンス力により、アーク
位置の変位を充分に抑えることができた。
アーク位置検出器２は直径０．５ｍｍの針穴によりアー
クの像を結像させ、結像面にホトダイオード２個からな
る受光器を設け、両ホトダイオードに入射する光量の差
の増減をアーク位置の変位域としたものであり、上記変
位量に応じた信号は磁場制御回路３により上記コイル４
に流れる電流に変換される。
クの像を結像させ、結像面にホトダイオード２個からな
る受光器を設け、両ホトダイオードに入射する光量の差
の増減をアーク位置の変位域としたものであり、上記変
位量に応じた信号は磁場制御回路３により上記コイル４
に流れる電流に変換される。
なお、上記ホトダイオードの代りに、ホトダイオードア
レイを用いることも可能であり、この場合には位置検出
用として用いるホトダイオードの間隔を小さくすること
ができ、アーク位置検出器２の大きさを小さくすること
ができる。さらに、上記検出器２の針穴の代りにレンズ
等を用いてもよく、いずれの場合も、上記分光ソロ度肝
６の入射スリットに入る光束のゆらぎヲ、一般に発光が
極めて安定な重水素ランプの発７６光束のゆらぎと同程
度である０、０５％以ドに容易にすることが可能である
。
レイを用いることも可能であり、この場合には位置検出
用として用いるホトダイオードの間隔を小さくすること
ができ、アーク位置検出器２の大きさを小さくすること
ができる。さらに、上記検出器２の針穴の代りにレンズ
等を用いてもよく、いずれの場合も、上記分光ソロ度肝
６の入射スリットに入る光束のゆらぎヲ、一般に発光が
極めて安定な重水素ランプの発７６光束のゆらぎと同程
度である０、０５％以ドに容易にすることが可能である
。
上記のように本発明によるＨ Ｔ Ｄランプ光出力安定
化装置は、Ｈ［Ｄランプと、該ＨＩ Ｄランプのアーク
に作用する磁場を発生する手段と、上記アークの位置変
化を検出する手段と、上記検出手段の出力信号により上
記磁場発生手段を作用させ。
化装置は、Ｈ［Ｄランプと、該ＨＩ Ｄランプのアーク
に作用する磁場を発生する手段と、上記アークの位置変
化を検出する手段と、上記検出手段の出力信号により上
記磁場発生手段を作用させ。
上記アーク位Ｉ晟を矯正する手段とを備えた装置におい
°Ｃ１上記ＨＩ Ｄラン１発光管と偏平とし、偏平な断
面の短軸方向を光出力取出し方向とすることにより、ア
ークを制御するための磁場発光用コイルを一次元的に配
することで、アーク位置を二次元的に制御できる効果が
ある。
°Ｃ１上記ＨＩ Ｄラン１発光管と偏平とし、偏平な断
面の短軸方向を光出力取出し方向とすることにより、ア
ークを制御するための磁場発光用コイルを一次元的に配
することで、アーク位置を二次元的に制御できる効果が
ある。
第１図は本発明によるＨＩＤランプ光出力安定化装置の
一実施例を示すブロック図、第２図はＨＩ−Ｄランプの
横断面図である。 １・・・ＨＩＤランプ、２・・・アーク位置検出器、３
・・・磁場制御回路、４・・・磁場発生用コイル、６・
・・分光光度計、１−１・・・発光管。
一実施例を示すブロック図、第２図はＨＩ−Ｄランプの
横断面図である。 １・・・ＨＩＤランプ、２・・・アーク位置検出器、３
・・・磁場制御回路、４・・・磁場発生用コイル、６・
・・分光光度計、１−１・・・発光管。
Claims (1)
- １、ＨＩＤランプと、該ＨＩＤランプのアークに作用す
る磁場を発生する手段と、上記アークの位置を検出する
手段と、上記検出手段の出力信号により上記磁場発生手
段を作用させ、上記アーク位置を矯正する手段とを備え
たＨＩＤランプ光出力安定化装置において、上記ＨＩＤ
ランプの発光管を偏平とし、偏平な断面の短軸方向を光
出力取出し方向としたことを特徴とするＨＩＤランプ光
出力安定化装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29407887A JPH01136036A (ja) | 1987-11-24 | 1987-11-24 | Ｈｉｄランプ光出力安定化装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29407887A JPH01136036A (ja) | 1987-11-24 | 1987-11-24 | Ｈｉｄランプ光出力安定化装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01136036A true JPH01136036A (ja) | 1989-05-29 |
Family
ID=17803002
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29407887A Pending JPH01136036A (ja) | 1987-11-24 | 1987-11-24 | Ｈｉｄランプ光出力安定化装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01136036A (ja) |
-
1987
- 1987-11-24 JP JP29407887A patent/JPH01136036A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| WO1995021393A3 (de) | Vorrichtung und verfahren zum optischen messen eines probenpunktes einer probe mit hoher ortsauflösung | |
| JP2005527833A5 (ja) | ||
| CN104597011A (zh) | 激发光源漂移校正装置及荧光光谱仪 | |
| EP0833373B1 (en) | Emission device comprising a mercury lamp of the short ARC type | |
| JPS5542185A (en) | Detecting device for arc welding or the like | |
| JPS61160027A (ja) | 分析用スペクトロホトメ−タ | |
| JPS63309827A (ja) | Ｈｉｄランプ光出力安定化装置 | |
| JP2001118281A5 (ja) | ||
| JPH01136037A (ja) | Ｈｉｄランプ光出力安定化装置 | |
| US4871947A (en) | Apparatus for automatically correcting arc position of high pressure discharge lamp | |
| JP2002357866A (ja) | 光源ユニットの製造方法 | |
| JPH01296126A (ja) | 高圧蒸気放電ランプ光出力安定化装置 | |
| JP3307368B2 (ja) | 光源ユニットの製造方法 | |
| JPH0210283A (ja) | レーザレーダ装置 | |
| JP2003110188A (ja) | レーザ光量制御装置 | |
| JPH0961358A (ja) | 炎光光度検出器 | |
| JPS6066155A (ja) | 光吸収イオン化検出器 | |
| JPH04147557A (ja) | 重水素放電管 | |
| JPS62130340A (ja) | 放射性雰囲気下物質の分光分析方法および装置 | |
| SU1472812A1 (ru) | Многоканальный рентгеновский спектрометр | |
| JPH05215673A (ja) | 低圧放電管及びそれを用いた原子吸光分光光度計 | |
| JPS62186219A (ja) | 半導体レ−ザ−装置 | |
| JPS6338139A (ja) | 原子吸光分析装置 | |
| JPH01136038A (ja) | Ｈｉｄランプ光出力安定化装置 | |
| KR950006943A (ko) | 음극선관의 초점조정방법 및 이에 적합한 초점조정장치 |