JPH01136636A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH01136636A JPH01136636A JP62295303A JP29530387A JPH01136636A JP H01136636 A JPH01136636 A JP H01136636A JP 62295303 A JP62295303 A JP 62295303A JP 29530387 A JP29530387 A JP 29530387A JP H01136636 A JPH01136636 A JP H01136636A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 241000283070 Equus zebra Species 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、スキャナ制御系システムの簡素化、小型化に
好適なＸ＆ＩＣＴ装置に関するものである。
好適なＸ＆ＩＣＴ装置に関するものである。
ＸｍＣＴ装置は、数種類の計測モードを有し、各計測モ
ードは計測する投影データ数が異なるもので、そのモー
ドは撮影目的に応じて適宜選択される。
ードは計測する投影データ数が異なるもので、そのモー
ドは撮影目的に応じて適宜選択される。
従来装置においては、スキャナが１回転する間に計測す
る投影データ数を変えるため、投影データの計測間隔（
時間間隔）は一定で、スキャナの回転速度を変えること
により、回転方向の計測間隔（角度間隔）を変えていた
。
る投影データ数を変えるため、投影データの計測間隔（
時間間隔）は一定で、スキャナの回転速度を変えること
により、回転方向の計測間隔（角度間隔）を変えていた
。
従来装置においては、スキャナ回転速度を変えるため、
制御用モータの速度を計測モード毎に変える必要があり
、スキャナ制御系システムが複雑で大型化し、保守性も
劣るという問題点があった。
制御用モータの速度を計測モード毎に変える必要があり
、スキャナ制御系システムが複雑で大型化し、保守性も
劣るという問題点があった。
本発明の目的は、スキャナ制御系システムを簡素化、小
型化し、保守性も向上したＸ線ＣＴ装置を提供すること
にある。
型化し、保守性も向上したＸ線ＣＴ装置を提供すること
にある。
本発明は、計測モードをスキャナ回転速度で切換えるの
ではなく、スキャナを一定角速度ωで複数回回転させ、
各回転毎のデータ取込の位相をずらせて投影データを計
測することにより切換えるものである。
ではなく、スキャナを一定角速度ωで複数回回転させ、
各回転毎のデータ取込の位相をずらせて投影データを計
測することにより切換えるものである。
例えば、Ｘ線源の初期位置をβＯ（ｒａｄ〕、データの
計測間隔をΔ直５ｅｃ）とし、２回転で投影データを計
測するものとする。この場合、まず１回転目ではＸ線源
が次式（１）に示した位置βにあるときに投影データを
計測する。
計測間隔をΔ直５ｅｃ）とし、２回転で投影データを計
測するものとする。この場合、まず１回転目ではＸ線源
が次式（１）に示した位置βにあるときに投影データを
計測する。
ｎ＝β０＋ω・ｎΔｔ ・・（１）
ただし、ｎ＝ｏ、１，２． ・・
さらに、２回転目では計測間隔Δｔの１／２だけ計測の
位相をずらして計測する。その結果、回転方向の計測間
隔Δβの］−／２だけ位相がずれ、２回転目ではＸ線源
が次式（２）に示した位置βにあるときに投影データを
計測する。
位相をずらして計測する。その結果、回転方向の計測間
隔Δβの］−／２だけ位相がずれ、２回転目ではＸ線源
が次式（２）に示した位置βにあるときに投影データを
計測する。
β＝β０＋Δβ／２＋ω・ｎΔｔ ・・・・・（２）た
だし、ｎ＝ｏ、１．２・・ Δβ＝ω・Δを 以」二の２回転分の投影データは、スキャナ回転速度ω
／２．計測間隔Δｔにより計測した場合と同様にΔβ／
２の間隔で計測サンプル軸」二に並ぶ。
だし、ｎ＝ｏ、１．２・・ Δβ＝ω・Δを 以」二の２回転分の投影データは、スキャナ回転速度ω
／２．計測間隔Δｔにより計測した場合と同様にΔβ／
２の間隔で計測サンプル軸」二に並ぶ。
これにより、計測モードの切換えは、スキャナの回転回
数を複数回にすることと、各回転毎の計測の位相をずら
すことにより可能であり、スキャナ回転速度は一定で切
換えられる。
数を複数回にすることと、各回転毎の計測の位相をずら
すことにより可能であり、スキャナ回転速度は一定で切
換えられる。
以上のように計測モードの切換えは、スキャナの回転回
数を複数回にし、かつ各回転毎の計測の位相をずらすこ
とにより可能となり、スキャナ回転速度は一定とし得、
スキャナ制御系システムの構成が簡素化、小型化され、
保守性も向」ニする。
数を複数回にし、かつ各回転毎の計測の位相をずらすこ
とにより可能となり、スキャナ回転速度は一定とし得、
スキャナ制御系システムの構成が簡素化、小型化され、
保守性も向」ニする。
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。第１図
は本発明によるＸ線ＣＴ装置の原理を説明するための図
で、投影データの計測タイミングと計測時のＸ線源Ｘの
位置との関係の一例を示したものである。第２図は本発
明によるＸ線ＣＴ装置の一実施例を示すブロック図であ
る。
は本発明によるＸ線ＣＴ装置の原理を説明するための図
で、投影データの計測タイミングと計測時のＸ線源Ｘの
位置との関係の一例を示したものである。第２図は本発
明によるＸ線ＣＴ装置の一実施例を示すブロック図であ
る。
本実施例では、最も短いスキャン時間Ｔｓ［ｓｅｃ］＝
３− の整数９倍、すなわちｎ−Ｔｓ（ｓｅｃ） （ｎ＝１＋
２＋３・・・）の計測モードが用意されており、その
うちのｎ ＝ ２の場合について説明する。
３− の整数９倍、すなわちｎ−Ｔｓ（ｓｅｃ） （ｎ＝１＋
２＋３・・・）の計測モードが用意されており、その
うちのｎ ＝ ２の場合について説明する。
まず、システム制御ブロック２１で計測モードを選択し
、スキャン・スタートを指示すると、スキャナ回転制御
ブロック２３はスキャナ２８の回転を開始させる。スキ
ャナ２８の回転速度が安定した後、Ｘ線制御ブロック２
２はＸ線管２７を作動してＸ線の曝射を開始し、データ
計測ブロック２４はデータ計測を計測間隔Δｔで開始す
る。スキャン計測中、このスキャナ回転角速度ω及びデ
ータ計測間隔Δｔは計測モードによらず一定であり、計
測の角度間隔Δβとは次式（３）の関係がある。
、スキャン・スタートを指示すると、スキャナ回転制御
ブロック２３はスキャナ２８の回転を開始させる。スキ
ャナ２８の回転速度が安定した後、Ｘ線制御ブロック２
２はＸ線管２７を作動してＸ線の曝射を開始し、データ
計測ブロック２４はデータ計測を計測間隔Δｔで開始す
る。スキャン計測中、このスキャナ回転角速度ω及びデ
ータ計測間隔Δｔは計測モードによらず一定であり、計
測の角度間隔Δβとは次式（３）の関係がある。
Δβ＝ω・Δｔ ・・（３）
スキャナ回転制御ブロック２３は、回転角検出回路を備
えている。この回転角検出回路は、例えばゼブラスケー
ル（ゼブラ模様の白黒のパターンを円周」−に等間隔に
配置したもの）とフカ１−ダイオ−１−，フオｌ〜マル
等を用いてなるもので、ある角度回転する毎に第３図上
段に示すパルスを出力す一４＝ る。第３図では、計測の角度間隔の半分（Δβ／２）の
間隔毎にパルスが１つ出力される場合、すなわち、Δｔ
／２の周期を持つパルスを出力する場合を例示する。
えている。この回転角検出回路は、例えばゼブラスケー
ル（ゼブラ模様の白黒のパターンを円周」−に等間隔に
配置したもの）とフカ１−ダイオ−１−，フオｌ〜マル
等を用いてなるもので、ある角度回転する毎に第３図上
段に示すパルスを出力す一４＝ る。第３図では、計測の角度間隔の半分（Δβ／２）の
間隔毎にパルスが１つ出力される場合、すなわち、Δｔ
／２の周期を持つパルスを出力する場合を例示する。
１回転目において、データ計測ブロック２４には前記回
転角検出回路の出力パルスが入力され、２パルスに１回
の間隔で投影データを計測する（第３図下段参照）。１
パルスはΔβ／２の周期を持つことから、投影データを
計測する角度間隔はΔβとなり、計測時のＸ線管２７（
Ｘ線源Ｘ）の角度位置β（ｎ）は次式（４）のようにな
る。
転角検出回路の出力パルスが入力され、２パルスに１回
の間隔で投影データを計測する（第３図下段参照）。１
パルスはΔβ／２の周期を持つことから、投影データを
計測する角度間隔はΔβとなり、計測時のＸ線管２７（
Ｘ線源Ｘ）の角度位置β（ｎ）は次式（４）のようにな
る。
β（ｎ）＝β。＋ｎ・Δβ ・・・・・（４）（ただ
し、ｎ＝ｏ、１，２．・・（２ｇ／八βへ−１β０ ”
Ｏｒ以下、同様） ここで、１回転目の計４Ｉす位置を第１図中、「・」印
で示す。
し、ｎ＝ｏ、１，２．・・（２ｇ／八βへ−１β０ ”
Ｏｒ以下、同様） ここで、１回転目の計４Ｉす位置を第１図中、「・」印
で示す。
投影データを２π／Δβ回計測したところからスキャナ
２８は２回転目に入る。この時点でデータｉｔ ａｔｑ
ブロック２４は４π／Δβ個のパルスが入力されている
。ここでデータ計測ブロック２４は、入力されるパルス
の１パルス分を読飛ばすことにより計測の位相をΔｔ／
２だけ遅らせ、再びΔｔの間隔で計測を開始する。その
結果、２回転目の計測時のＸ線管２７（Ｘ線源Ｘ）の角
度位置β（ｎ）はΔβ／２だけずれ、次式（５）のよう
になる。
２８は２回転目に入る。この時点でデータｉｔ ａｔｑ
ブロック２４は４π／Δβ個のパルスが入力されている
。ここでデータ計測ブロック２４は、入力されるパルス
の１パルス分を読飛ばすことにより計測の位相をΔｔ／
２だけ遅らせ、再びΔｔの間隔で計測を開始する。その
結果、２回転目の計測時のＸ線管２７（Ｘ線源Ｘ）の角
度位置β（ｎ）はΔβ／２だけずれ、次式（５）のよう
になる。
β（ｎ）＝β０＋Δβ／２＋ｎ・Δβ ・・・・・・（
５）したがって、２回転目の計測位置は第１−図中、「
×」印で示す位置になる。
５）したがって、２回転目の計測位置は第１−図中、「
×」印で示す位置になる。
２回転目では、投影データを２π／Δβ回計測したとこ
ろでスキャン計測を終了し、スキャナ２８の回転及びＸ
線の曝射を各々停止する。
ろでスキャン計測を終了し、スキャナ２８の回転及びＸ
線の曝射を各々停止する。
上記のように、２回転の計測で得た４π／Δβ個の投影
データはΔβ／２の間隔で計測した投影データと同じ精
密度を持つものとなる。計測した投影データは順次画像
処理ブロック２６に転送し、検出器特性の補正等の前処
理を施した後、画像再構成処理（例えばＦＢＰ法： Ｆ
ｉ］、ｔｅｒｅｄ ＢａｃｋＰｒｏｊｅｃｔｉ、ｏｎ
Ｍｅｔｈｏｄによる処理）を施す。再構成結果は表
示制御ブロック２５に転送され、モニタ２９で再構成画
像（断層像）として表示される。
データはΔβ／２の間隔で計測した投影データと同じ精
密度を持つものとなる。計測した投影データは順次画像
処理ブロック２６に転送し、検出器特性の補正等の前処
理を施した後、画像再構成処理（例えばＦＢＰ法： Ｆ
ｉ］、ｔｅｒｅｄ ＢａｃｋＰｒｏｊｅｃｔｉ、ｏｎ
Ｍｅｔｈｏｄによる処理）を施す。再構成結果は表
示制御ブロック２５に転送され、モニタ２９で再構成画
像（断層像）として表示される。
ｎ＝３、すなわちスキャナ２８を３回転させる場合も同
様に、２回転目でΔｔ／３だけ位相を遅らせ、３回転目
でさらにΔｔ／３だけ位相を遅らせて、各々計測すれば
よい。ただし、回転角検出回路の出力パルスはΔｔ／３
毎に出力されなければならない。ｎがその他の値をとる
場合も同様である。なお、ｎ＝１の場合は最初の１回転
で計測を終了するだけでよい。
様に、２回転目でΔｔ／３だけ位相を遅らせ、３回転目
でさらにΔｔ／３だけ位相を遅らせて、各々計測すれば
よい。ただし、回転角検出回路の出力パルスはΔｔ／３
毎に出力されなければならない。ｎがその他の値をとる
場合も同様である。なお、ｎ＝１の場合は最初の１回転
で計測を終了するだけでよい。
以上述べたように本発明は、スキャナ回転速度を変える
ことなく、異なる角度の多数の投影データを計測するこ
とができる。したがって、高精度の再構成画像を得るた
めのスキャナ制御系システムは、従来装置の場合に比べ
て簡素化、小型化でき、保守性にも優れるという効果が
ある。
ことなく、異なる角度の多数の投影データを計測するこ
とができる。したがって、高精度の再構成画像を得るた
めのスキャナ制御系システムは、従来装置の場合に比べ
て簡素化、小型化でき、保守性にも優れるという効果が
ある。
第１図は本発明装置の原理説明図、第２図は本発明装置
の一実施例を示すブロック図、第３図は同」二装置の動
作を説明するためのタイムチャートである。 ２１・・システム制御ブロック、２２・・Ｘ線制御ブロ
ック、２３・・スキャナ回転制御ブロック、２４・・・
データ計測ブロック、２６・・・画像処理ブロック、２
７・Ｘ線管、２８・・・スキャナ。 特許出願人 株式会社日立メデイコ 代理人弁理士 秋 本 正 実（外１名）
の一実施例を示すブロック図、第３図は同」二装置の動
作を説明するためのタイムチャートである。 ２１・・システム制御ブロック、２２・・Ｘ線制御ブロ
ック、２３・・スキャナ回転制御ブロック、２４・・・
データ計測ブロック、２６・・・画像処理ブロック、２
７・Ｘ線管、２８・・・スキャナ。 特許出願人 株式会社日立メデイコ 代理人弁理士 秋 本 正 実（外１名）
Claims (1)
- １、フレームと、被検体を挟む前記フレーム上の位置に
対向配置されたＸ線管装置及びＸ線検出器とを備えてな
るスキャナを回転させつつ、前記Ｘ線管装置によりＸ線
ビームを発生させて前記被検体の投影データを計測し、
Ｘ線断層像を得るＸ線ＣＴ装置において、前記スキャナ
を一定速度で複数回回転させるスキャナ定速回転手段と
、前記スキャナの各回転毎のデータ取込の位送をずらす
ことにより前記Ｘ線ビームが異なる軌跡を通り、異なる
角度の投影データを多数計測可能とするデータ計測手段
とを具備することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62295303A JPH01136636A (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62295303A JPH01136636A (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01136636A true JPH01136636A (ja) | 1989-05-29 |
Family
ID=17818860
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62295303A Pending JPH01136636A (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01136636A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011069650A (ja) * | 2009-09-24 | 2011-04-07 | Shimadzu Corp | 放射線断層像撮影装置 |
-
1987
- 1987-11-25 JP JP62295303A patent/JPH01136636A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011069650A (ja) * | 2009-09-24 | 2011-04-07 | Shimadzu Corp | 放射線断層像撮影装置 |
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