JPH01144231A - 光学ヘッド - Google Patents
光学ヘッドInfo
- Publication number
- JPH01144231A JPH01144231A JP30276387A JP30276387A JPH01144231A JP H01144231 A JPH01144231 A JP H01144231A JP 30276387 A JP30276387 A JP 30276387A JP 30276387 A JP30276387 A JP 30276387A JP H01144231 A JPH01144231 A JP H01144231A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- signal
- circuit
- light emitting
- objective lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、集束性の光ビームを用いて情f¥i記録媒
体である光ディスクに情報を記録し、或いは、光ディス
クから情報を再生する光デイスク装置等に適用される光
学ヘッドに関する。
体である光ディスクに情報を記録し、或いは、光ディス
クから情報を再生する光デイスク装置等に適用される光
学ヘッドに関する。
(従来技術)
近年、文書などの画像情報を記録し、必要に応じて画像
情報を検索再生してハードコピー或いは、ソフトコピー
として再生し得る画像情報ファイル装置の画像記録装置
として光デイスク装置が開発されている。
情報を検索再生してハードコピー或いは、ソフトコピー
として再生し得る画像情報ファイル装置の画像記録装置
として光デイスク装置が開発されている。
従来、このような光デイスク装置にあっては、集束性の
光ビームが円盤状の光ディスクの記録領域としてのトラ
ックに向けて照射される。記録時には、光ビームによっ
て光ディスクの記録面に状態変化が生じさせられて例え
ば、ピットが形成されて情報が光ディスクに記録され、
再生時には、光ディスクに生じた状態変化領域に集束性
光ビームが照射されて光ビームが変調例えば、強度変調
されて情報が再生される。この記録再生時には、光ディ
スクが回転され、光ビームを光ディスクを向ける光学ヘ
ッドが光ディスクの半径方向に直線移動されている。
光ビームが円盤状の光ディスクの記録領域としてのトラ
ックに向けて照射される。記録時には、光ビームによっ
て光ディスクの記録面に状態変化が生じさせられて例え
ば、ピットが形成されて情報が光ディスクに記録され、
再生時には、光ディスクに生じた状態変化領域に集束性
光ビームが照射されて光ビームが変調例えば、強度変調
されて情報が再生される。この記録再生時には、光ディ
スクが回転され、光ビームを光ディスクを向ける光学ヘ
ッドが光ディスクの半径方向に直線移動されている。
光学ヘッドは、光学ディスク上にレーザ光を集束させる
対物レンズを備え、対物レンズは、その光軸方向或いは
、光軸と直交する方向に移動可能に支持されている。焦
点制御系の可動機構によって対物レンズが光軸方向に移
動されて対物レンズが合焦状態に維持され、対物レンズ
からの光ビームが光ディスクに集中され、且つトラック
制御系の可動機構によって対物レンズが光軸と直交する
方向に移動されて対物レンズが常に合トラック状態に維
持され、光ビームでトラックが追跡される。
対物レンズを備え、対物レンズは、その光軸方向或いは
、光軸と直交する方向に移動可能に支持されている。焦
点制御系の可動機構によって対物レンズが光軸方向に移
動されて対物レンズが合焦状態に維持され、対物レンズ
からの光ビームが光ディスクに集中され、且つトラック
制御系の可動機構によって対物レンズが光軸と直交する
方向に移動されて対物レンズが常に合トラック状態に維
持され、光ビームでトラックが追跡される。
焦点制御系及びトラック制御系において、対物レンズを
合焦状態及び合トラック状態に維持させるためには、情
報記録媒体上における焦点ずれ状態、トラックずれ状態
を検出し、対物レンズの移動機構にフィードバックさせ
る必要がある。このトラックずれ、焦点ずれの検出方法
としては、非点収差光学レンズを利用して対物レンズの
フォーカス状態及びトラッキング状態に応じて検出器上
で生じる1つのビームスポットの形状及び明暗の変化を
検出する非点収差法(特公昭53−39123号公報参
照)が従来知られている。この方法では、検出信号の差
がフォーカス信号及びトラック信号として発生され、こ
の信号差に応じた電流が対物レンズ駆動用のコイルに供
給され、対物レンズが合焦点位置、合トラック位置に駆
動される。
合焦状態及び合トラック状態に維持させるためには、情
報記録媒体上における焦点ずれ状態、トラックずれ状態
を検出し、対物レンズの移動機構にフィードバックさせ
る必要がある。このトラックずれ、焦点ずれの検出方法
としては、非点収差光学レンズを利用して対物レンズの
フォーカス状態及びトラッキング状態に応じて検出器上
で生じる1つのビームスポットの形状及び明暗の変化を
検出する非点収差法(特公昭53−39123号公報参
照)が従来知られている。この方法では、検出信号の差
がフォーカス信号及びトラック信号として発生され、こ
の信号差に応じた電流が対物レンズ駆動用のコイルに供
給され、対物レンズが合焦点位置、合トラック位置に駆
動される。
(発明が解決しようとする問題点)
光ディスクの検索アクセス時には、トラッキング制御系
のフィードバック回路は開かれ、光学ヘッドを支持する
キャリッジが高速で移動される。
のフィードバック回路は開かれ、光学ヘッドを支持する
キャリッジが高速で移動される。
そのため高速でキャリッジが加減速される際、キャリッ
ジ上に配置された対物レンズが振動し、移動の後のトラ
ッキング制御が不能となったり、検索アクセス時間が係
る問題がある。従って、この発明の目的は、光学ヘッド
の対物レンズの振動を制御することのできる光学ヘッド
装置を提供するにある。
ジ上に配置された対物レンズが振動し、移動の後のトラ
ッキング制御が不能となったり、検索アクセス時間が係
る問題がある。従って、この発明の目的は、光学ヘッド
の対物レンズの振動を制御することのできる光学ヘッド
装置を提供するにある。
[発明の構成コ
(問題点を解決するための手段)
この発明の光学ヘッドは、情報記録媒体上に光ビームを
集束する為の集束手段と、前記集束手段を少なくとも一
方向に移動可能に支持する支持手段と、前記支持手段を
固定部に対して移動可能な方向に駆動する駆動手段と、
前記駆動手段によって移動される支持手段の位置を検出
する為に設けられた発光手段と、前記発光手段から発せ
られた光ビームを検出する受光手段を備える光学ヘッド
において、 前記発光手段及び受光手段は、前記集光手段を移動可能
に支持する支持手段もしくは固定部のいずれか一方に互
いに対向して配置され、及びその他方には、前記発光手
段から受光手段に照射される光ビームの少なくとも一部
を遮蔽するための延出部が設けられている。
集束する為の集束手段と、前記集束手段を少なくとも一
方向に移動可能に支持する支持手段と、前記支持手段を
固定部に対して移動可能な方向に駆動する駆動手段と、
前記駆動手段によって移動される支持手段の位置を検出
する為に設けられた発光手段と、前記発光手段から発せ
られた光ビームを検出する受光手段を備える光学ヘッド
において、 前記発光手段及び受光手段は、前記集光手段を移動可能
に支持する支持手段もしくは固定部のいずれか一方に互
いに対向して配置され、及びその他方には、前記発光手
段から受光手段に照射される光ビームの少なくとも一部
を遮蔽するための延出部が設けられている。
(作用)
この発明の光学ヘッド装置においては、検索アクセス時
には、トラックずれ制御とは異なり、集束手段を支持す
る支持手段の位置が光学的に検出される。従って支持手
段の振動を防止することが可能となり、検索アクセス後
のトラッキング制御を敏速且つ安定に行なうことが出来
る。
には、トラックずれ制御とは異なり、集束手段を支持す
る支持手段の位置が光学的に検出される。従って支持手
段の振動を防止することが可能となり、検索アクセス後
のトラッキング制御を敏速且つ安定に行なうことが出来
る。
(実施例)
第1図は光学ヘッドを示す斜視図である。この光学ヘッ
ドでは、対物レンズ10は、固定部としてのベース24
に対して移動可能に支持された保持体12に固定され、
その保持体12にはフォーカシング用コイル14が巻装
され、更に保持体12の両側面には2対のトラッキング
用コイル16が巻装されている。上記保持体12の上部
及び下部には、側面と直交する向きにそれぞれ2つずつ
貫通孔(図示しない)が穿設され、その貫通孔と対応す
る貫通孔(図示しない)がブロック18に設けられてい
る。ブロック18は固定部としてのベース24にねじ止
めにより固定されている。このブロック18に設けられ
た貫通孔に4本の支持材20が嵌入されて、対物レンズ
10を有する可動部22が支持されている。さらに4つ
のマグネット17が四隅に対向してフォーカシング用コ
イル14とトラッキング用コイル16の近傍のベース2
4に配設されている。この発明では更にフォーカシング
用コイル14上には、発光素子26からの発射光が受光
素子28で受光されるように、所定の間隔を有して互い
に対向して配置され、その対向して配置される発光素子
26及び受光素子28の間には、ベース24に設けられ
ている延出部25が配置される。
ドでは、対物レンズ10は、固定部としてのベース24
に対して移動可能に支持された保持体12に固定され、
その保持体12にはフォーカシング用コイル14が巻装
され、更に保持体12の両側面には2対のトラッキング
用コイル16が巻装されている。上記保持体12の上部
及び下部には、側面と直交する向きにそれぞれ2つずつ
貫通孔(図示しない)が穿設され、その貫通孔と対応す
る貫通孔(図示しない)がブロック18に設けられてい
る。ブロック18は固定部としてのベース24にねじ止
めにより固定されている。このブロック18に設けられ
た貫通孔に4本の支持材20が嵌入されて、対物レンズ
10を有する可動部22が支持されている。さらに4つ
のマグネット17が四隅に対向してフォーカシング用コ
イル14とトラッキング用コイル16の近傍のベース2
4に配設されている。この発明では更にフォーカシング
用コイル14上には、発光素子26からの発射光が受光
素子28で受光されるように、所定の間隔を有して互い
に対向して配置され、その対向して配置される発光素子
26及び受光素子28の間には、ベース24に設けられ
ている延出部25が配置される。
第2図は、この発明の一実施例である光学ヘッドの光学
系の概略構成を示している。光ディスク(情報記録媒体
)30は、ガラス或いは、プラスチックス等の円盤状の
基板上に情報記録膜としてテルル或いは、ビスマス等の
金属被膜がコーティングされて形成される。光ディスク
30に対向して光学ヘッド1が設けられ、記録、再生成
いは、検索時には、光ディスク30は、光学ヘッド1に
対して線速一定で回転駆動される。この回転方向即ち、
第2図に示す2軸方向にトラッキングガイドが例えばグ
ループとして形成されている。
系の概略構成を示している。光ディスク(情報記録媒体
)30は、ガラス或いは、プラスチックス等の円盤状の
基板上に情報記録膜としてテルル或いは、ビスマス等の
金属被膜がコーティングされて形成される。光ディスク
30に対向して光学ヘッド1が設けられ、記録、再生成
いは、検索時には、光ディスク30は、光学ヘッド1に
対して線速一定で回転駆動される。この回転方向即ち、
第2図に示す2軸方向にトラッキングガイドが例えばグ
ループとして形成されている。
この光学ヘッド1は、光源としての半導体レーザ32を
備え、この半導体レーザ32からは、発散性のレーザ光
りが発生される。このレーザ光りは、情報を光ディスク
30の記録膜に書込む記録時には、書込むべき情報に応
じてその光強度が変調されて発生され、又、情報を光デ
ィスク30の記録膜から読み出す再生時には、レーザ光
りは記録時よりは低い一定の強度で発生される。半導体
レーザ32から発生された発散性のレーザ光りは、コリ
メータレンズ34によって平行光束に変換され、ハーフ
プリズム36に導かれる。このハーフプリズム36に導
かれたレーザ光りは、ハーフプリズム36を通過して対
物レンズ10に入射される。この対物レンズ10によっ
てレーザ光りは、光ディスク30の記録膜に向けて集束
される。
備え、この半導体レーザ32からは、発散性のレーザ光
りが発生される。このレーザ光りは、情報を光ディスク
30の記録膜に書込む記録時には、書込むべき情報に応
じてその光強度が変調されて発生され、又、情報を光デ
ィスク30の記録膜から読み出す再生時には、レーザ光
りは記録時よりは低い一定の強度で発生される。半導体
レーザ32から発生された発散性のレーザ光りは、コリ
メータレンズ34によって平行光束に変換され、ハーフ
プリズム36に導かれる。このハーフプリズム36に導
かれたレーザ光りは、ハーフプリズム36を通過して対
物レンズ10に入射される。この対物レンズ10によっ
てレーザ光りは、光ディスク30の記録膜に向けて集束
される。
ここで、対物レンズ10は、その光軸方向と光軸に直交
する方向とに移動可能に支持され、対物レンズ10が光
軸上の最適位置即ち、合焦位置に配置されると、この対
物レンズ10から発せられた発散性のレーザ光りのビー
ムウェストが光ディスク30の記録膜の表面上に照射さ
れ、最少ビームスポットが光ディスク30の記録膜の表
面上に形成される。また、対物レンズ10が光軸と直交
する方向(記録膜面に平行な方向)で最適位置即ち、合
トラック位置に配置されると、レーザ光りによって光デ
イスク30上に形成されるビームスポットが記録領域と
して定められたトラック上に正しく形成され、トラック
がレーザ光で追跡される。この2つの状態(合焦状態・
合トラック状態)が保たれることによって情報の書込み
及び読み出しが可能となる。即ち、記録時には、強度変
調されたレーザ光で記録膜に状態変化例えば、ビットが
形成され、再生時には、一定強度のレーザ光がトラック
内の記録領域例えば、ピットによって強度変調されて反
射される。
する方向とに移動可能に支持され、対物レンズ10が光
軸上の最適位置即ち、合焦位置に配置されると、この対
物レンズ10から発せられた発散性のレーザ光りのビー
ムウェストが光ディスク30の記録膜の表面上に照射さ
れ、最少ビームスポットが光ディスク30の記録膜の表
面上に形成される。また、対物レンズ10が光軸と直交
する方向(記録膜面に平行な方向)で最適位置即ち、合
トラック位置に配置されると、レーザ光りによって光デ
イスク30上に形成されるビームスポットが記録領域と
して定められたトラック上に正しく形成され、トラック
がレーザ光で追跡される。この2つの状態(合焦状態・
合トラック状態)が保たれることによって情報の書込み
及び読み出しが可能となる。即ち、記録時には、強度変
調されたレーザ光で記録膜に状態変化例えば、ビットが
形成され、再生時には、一定強度のレーザ光がトラック
内の記録領域例えば、ピットによって強度変調されて反
射される。
光ディスク30に照射されたレーザ光りは、光ディスク
30の記録膜で反射される。反射された発散性のレーザ
光りは、合焦時には、対物レンズ10によって平行光束
に変換され、再びハーフプリズム36に戻される。ハー
フプリズム36で反射されたレーザ光りは、集束用の凸
レンズ40に導かれ、この凸レンズ40によって集束さ
れる。
30の記録膜で反射される。反射された発散性のレーザ
光りは、合焦時には、対物レンズ10によって平行光束
に変換され、再びハーフプリズム36に戻される。ハー
フプリズム36で反射されたレーザ光りは、集束用の凸
レンズ40に導かれ、この凸レンズ40によって集束さ
れる。
第3図に示すように、凸レンズ40によって集束された
レーザ光りは母線が光軸に直角に交わり、且つ母線の向
きがy軸方向であるシリンドリカル凸レンズ42を通過
することにより、凸レンズ40の焦点F2よりもシリン
ドリカル凸レンズ42寄りのFlでy軸方向に長さを有
する焦線を結ぶ。シリンドリカル凸レンズ42からのレ
ーザ光りは上記焦線F1と2軸方向に長さを有する焦線
となったF2の間に配置された光軸に垂直な受光面を持
つ光検出器44に照射される。第5図に示されるように
光検出器44はyz平面上で光軸と直交するy軸に対し
て光軸を中心として45度傾けた分割線D−D−と、y
z平面上で光軸に直交する2軸に対して光軸を中心とし
て45度傾けた分割線とによって4分割された光検出セ
ル44a〜44dを有している。第4図で光検出器44
に入射されるシリンドリカル凸レンズ42からのレーザ
光りは焦線F1を通過しているので、光検出器44上で
の位置が焦線F1の前の像と比べて光軸と直交するy軸
を境にしてz軸方向の位置が逆転している。
レーザ光りは母線が光軸に直角に交わり、且つ母線の向
きがy軸方向であるシリンドリカル凸レンズ42を通過
することにより、凸レンズ40の焦点F2よりもシリン
ドリカル凸レンズ42寄りのFlでy軸方向に長さを有
する焦線を結ぶ。シリンドリカル凸レンズ42からのレ
ーザ光りは上記焦線F1と2軸方向に長さを有する焦線
となったF2の間に配置された光軸に垂直な受光面を持
つ光検出器44に照射される。第5図に示されるように
光検出器44はyz平面上で光軸と直交するy軸に対し
て光軸を中心として45度傾けた分割線D−D−と、y
z平面上で光軸に直交する2軸に対して光軸を中心とし
て45度傾けた分割線とによって4分割された光検出セ
ル44a〜44dを有している。第4図で光検出器44
に入射されるシリンドリカル凸レンズ42からのレーザ
光りは焦線F1を通過しているので、光検出器44上で
の位置が焦線F1の前の像と比べて光軸と直交するy軸
を境にしてz軸方向の位置が逆転している。
第4図は光検出器44の光検出セル44a〜44dに照
射される光ビームの光路を示す図である。対物レンズ1
0の合焦位置に光ディスク30がある場合、凸レンズ4
0には平行光束が入射され、第4図(b)に孝子ように
集束するので、第5図(b)に示すように光検出器44
の4分割された光検出領域44a〜44dに略円形状の
像を作る。対物レンズ10の合焦位置より光ディスク3
0が遠くなったとき、凸レンズ40に入射されるレーザ
光りは集束光であるので第4図(a)のようになり、焦
線の位置がFl、F2より凸レンズ40寄りのそれぞれ
El、E2となる。よって光検出器44上の像は第5図
の(a)に示すようにレーザ光りの像は光検出セル44
bと44dの方向に長い楕円状となる。対物レンズ10
の合焦位置より光ディスク30が対物レンズ10に近づ
いたとき、凸レンズ40に入射するレーザ光りは発散光
であるから、光路は第4図(C)のようになり、焦線の
位置がFl、F2より凸レンズ40からの距離が遠いG
l、G2となる。よって光検出器上の像は第5図(C)
に示すように、レーザ光りの像は光検出セル44aと4
4Cの方向に長い楕円状となる。
射される光ビームの光路を示す図である。対物レンズ1
0の合焦位置に光ディスク30がある場合、凸レンズ4
0には平行光束が入射され、第4図(b)に孝子ように
集束するので、第5図(b)に示すように光検出器44
の4分割された光検出領域44a〜44dに略円形状の
像を作る。対物レンズ10の合焦位置より光ディスク3
0が遠くなったとき、凸レンズ40に入射されるレーザ
光りは集束光であるので第4図(a)のようになり、焦
線の位置がFl、F2より凸レンズ40寄りのそれぞれ
El、E2となる。よって光検出器44上の像は第5図
の(a)に示すようにレーザ光りの像は光検出セル44
bと44dの方向に長い楕円状となる。対物レンズ10
の合焦位置より光ディスク30が対物レンズ10に近づ
いたとき、凸レンズ40に入射するレーザ光りは発散光
であるから、光路は第4図(C)のようになり、焦線の
位置がFl、F2より凸レンズ40からの距離が遠いG
l、G2となる。よって光検出器上の像は第5図(C)
に示すように、レーザ光りの像は光検出セル44aと4
4Cの方向に長い楕円状となる。
第5図(a)〜(C)において光検出セル19a〜19
dの検出出力を各々La−Ldとする。焦点ぼけを検出
するための信号は、光検出セルに入射するレーザ光りの
像の関係から考えるとr (La+Lc) −(Lb+
Ld)Jで求められ、(a)の場合はレーザ光りの像が
光検出セル44b、44dの方向に長い楕円形をしてい
るためr (La+Lc)−(Lb+Ld)<OJとな
り、(b)の場合はレーザ光りの像が略円形であるため
「(La+Lc) −(Lb+Ld)−DJとなり、(
C)の場合はレーザ光りの像が光検出セル44a、44
cの方向に長い楕円形であるためr (La+Lc)−
(Lb+Ld)>OJとなる。合焦状態を示す第5図(
b)以外は焦点ぼけ検出信号は零信号ではない。
dの検出出力を各々La−Ldとする。焦点ぼけを検出
するための信号は、光検出セルに入射するレーザ光りの
像の関係から考えるとr (La+Lc) −(Lb+
Ld)Jで求められ、(a)の場合はレーザ光りの像が
光検出セル44b、44dの方向に長い楕円形をしてい
るためr (La+Lc)−(Lb+Ld)<OJとな
り、(b)の場合はレーザ光りの像が略円形であるため
「(La+Lc) −(Lb+Ld)−DJとなり、(
C)の場合はレーザ光りの像が光検出セル44a、44
cの方向に長い楕円形であるためr (La+Lc)−
(Lb+Ld)>OJとなる。合焦状態を示す第5図(
b)以外は焦点ぼけ検出信号は零信号ではない。
また、トラッキング制御についてはいわゆるプッシュプ
ル法を用い、第5図に示す光検出器44の左右の信号の
差、つまり光検出セル44a144bからの信号の和(
La+Lb)と、光検出セル44c、44dからの信号
の和(Lc+Ld)との差r (La+Lb)−(Lc
+Ld)Jからトラックずれ検出信号が得られる。つま
りトラックの像が中心からずれることにより光検出セル
に入射するレーザ光の強度が部分的に変化するため、L
a十LbとLc+Ldが変化しトラックずれ補正信号が
生成される。
ル法を用い、第5図に示す光検出器44の左右の信号の
差、つまり光検出セル44a144bからの信号の和(
La+Lb)と、光検出セル44c、44dからの信号
の和(Lc+Ld)との差r (La+Lb)−(Lc
+Ld)Jからトラックずれ検出信号が得られる。つま
りトラックの像が中心からずれることにより光検出セル
に入射するレーザ光の強度が部分的に変化するため、L
a十LbとLc+Ldが変化しトラックずれ補正信号が
生成される。
上記光デイスク30上の情報を再生する読取信号(RF
倍信号は、光検出器44の6光検出セル44a乃至44
dからの検出信号を加算した合計値rLa+Lb+Lc
+LdJを用いて再生される。
倍信号は、光検出器44の6光検出セル44a乃至44
dからの検出信号を加算した合計値rLa+Lb+Lc
+LdJを用いて再生される。
次に、第6図を用いてこの制御系の電気回路について説
明する。光検出セル44a〜44dの出力は、夫々増幅
回路50a〜50dで増幅されて加算回路52に供給さ
れる。また増幅回路50aからの信号は、加算回路54
.58に供給され、増幅回路50bからの信号は、加算
回路54.60に供給され、増幅回路50cからの信号
は、加算回路56.58に供給され、増幅回路50dか
らの信号は、加算回路56.60に供給される。
明する。光検出セル44a〜44dの出力は、夫々増幅
回路50a〜50dで増幅されて加算回路52に供給さ
れる。また増幅回路50aからの信号は、加算回路54
.58に供給され、増幅回路50bからの信号は、加算
回路54.60に供給され、増幅回路50cからの信号
は、加算回路56.58に供給され、増幅回路50dか
らの信号は、加算回路56.60に供給される。
上記加算回路60の出力は、比較回路64の反転入力端
に供給され、この比較回路64の非反転入力端には、上
記加算回路58の出力が供給されている。上記比較回路
64は、上記光検出セル44b、44dの検出信号の加
算結果と上記光検出セル44as 44cの検出信号の
加算結果とを比較して、その差に応じた出力即ち、フォ
ーカスずれ検出信号を発生し、この差信号は、駆動回路
70にフィードバックされる。従ってフォーカスずれ検
出信号に応じて、前記対物レンズ10を光ディスク30
の記録面に対して垂直方向に駆動するコイル(図示しな
い)に電流が供給され、対物レンズ10が駆動されて焦
点ぼけが補正され対物レンズが合焦位置に維持される。
に供給され、この比較回路64の非反転入力端には、上
記加算回路58の出力が供給されている。上記比較回路
64は、上記光検出セル44b、44dの検出信号の加
算結果と上記光検出セル44as 44cの検出信号の
加算結果とを比較して、その差に応じた出力即ち、フォ
ーカスずれ検出信号を発生し、この差信号は、駆動回路
70にフィードバックされる。従ってフォーカスずれ検
出信号に応じて、前記対物レンズ10を光ディスク30
の記録面に対して垂直方向に駆動するコイル(図示しな
い)に電流が供給され、対物レンズ10が駆動されて焦
点ぼけが補正され対物レンズが合焦位置に維持される。
上記加算回路56の出力は、比較回路62の反転入力端
に供給され、この比較回路62の非反転入力端には、上
記加算回路54の出力が供給されている。上記比較回路
62は、上記光検出セル44 c、44 dの検出出力
の加算結果と上記光検出セル44 a、44bの検出出
力の加算結果とを比較し、その差に応じた出力即ち、ト
ラッキングずれ検出信号が切換回路78を介して駆動回
路68にフィードバツクされる。この駆動回路68は、
トラッキングずれ検出信号に応じて、前記対物レンズ1
0を光ディスク30の記録面に対して水平方向に駆動す
るコイル(図示しない)に対応する電流を供給する。こ
れにより対物レンズ10が駆動されてトラッキングずれ
が補正され、対物レンズ10は、合トラック状態に維持
される。
に供給され、この比較回路62の非反転入力端には、上
記加算回路54の出力が供給されている。上記比較回路
62は、上記光検出セル44 c、44 dの検出出力
の加算結果と上記光検出セル44 a、44bの検出出
力の加算結果とを比較し、その差に応じた出力即ち、ト
ラッキングずれ検出信号が切換回路78を介して駆動回
路68にフィードバツクされる。この駆動回路68は、
トラッキングずれ検出信号に応じて、前記対物レンズ1
0を光ディスク30の記録面に対して水平方向に駆動す
るコイル(図示しない)に対応する電流を供給する。こ
れにより対物レンズ10が駆動されてトラッキングずれ
が補正され、対物レンズ10は、合トラック状態に維持
される。
上記加算回路52の出力は、2値化回路66に供給され
る。この2値化回路66で2値化された信号は読取り信
号として図示しない制御回路へ供給される。
る。この2値化回路66で2値化された信号は読取り信
号として図示しない制御回路へ供給される。
次に検索アクセス時に固定部としてのベース24に対化
で移動される可動部22の移動位置を制御するための検
出手段について説明する。第7図に示すように可動部2
2に設けられたフォー力ッシング用コイル14には、発
光素子26及び受光素子28が所定の間隔を有して対向
して配置され、また固定部としてのベース24には、延
出部25が設けられ、この延出部25が発光素子26及
び受光索子28の間の隙間に挿入されるように配置され
る。更に詳しく述べると、可動部22に配置された発光
素子26は、例えば半導体レーザ等で構成され、その発
光素子26からの発散光ビームを受光する少なくとも一
つの検出領域を有する受光素子28が同様に可動部22
に配置され、発光素子26及び受光素子28は互いにY
方向に所定の間隔を有し、その間隙には、ベース24に
設けられた延出部25が挿入されて配置されろ。
で移動される可動部22の移動位置を制御するための検
出手段について説明する。第7図に示すように可動部2
2に設けられたフォー力ッシング用コイル14には、発
光素子26及び受光素子28が所定の間隔を有して対向
して配置され、また固定部としてのベース24には、延
出部25が設けられ、この延出部25が発光素子26及
び受光索子28の間の隙間に挿入されるように配置され
る。更に詳しく述べると、可動部22に配置された発光
素子26は、例えば半導体レーザ等で構成され、その発
光素子26からの発散光ビームを受光する少なくとも一
つの検出領域を有する受光素子28が同様に可動部22
に配置され、発光素子26及び受光素子28は互いにY
方向に所定の間隔を有し、その間隙には、ベース24に
設けられた延出部25が挿入されて配置されろ。
延出部25は、発光部26から照射される光ビームの一
部を遮蔽するための遮蔽部として利用され、動作されな
い状態において、好ましくは、その遮蔽する光量が発光
素子26からの光ビームの照射量の半分となるように、
その基準位置Xoが定められ、その基準位置Xoに対応
して受光素子28で検出される基準電圧信号voが決定
される。これによって、可動部22が基準位置Xoに対
してX方向に移動された場合、その移動量に応じて延出
部25で遮蔽される光量が変化するため受光素子28で
検出される信号(電圧信号)も変化され、その検出信号
Vと基準電圧信号voの差信号を利用して固定部として
のベース24に対する可動部22の位置が検出される。
部を遮蔽するための遮蔽部として利用され、動作されな
い状態において、好ましくは、その遮蔽する光量が発光
素子26からの光ビームの照射量の半分となるように、
その基準位置Xoが定められ、その基準位置Xoに対応
して受光素子28で検出される基準電圧信号voが決定
される。これによって、可動部22が基準位置Xoに対
してX方向に移動された場合、その移動量に応じて延出
部25で遮蔽される光量が変化するため受光素子28で
検出される信号(電圧信号)も変化され、その検出信号
Vと基準電圧信号voの差信号を利用して固定部として
のベース24に対する可動部22の位置が検出される。
受光素子28の検出信号Vと発射光ビームに対する遮蔽
部としての延出部25位置との相互関係は第8図に示さ
れている。
部としての延出部25位置との相互関係は第8図に示さ
れている。
第8図に示すように遮蔽部としての延出部25の位置は
、動作されない状態において、好ましくは、受光素子で
検出される信号が零信号と最大値信号の中間値であるv
o倍信号なる位置Xoに配置されている。この位置を基
準位置X。とじて示し、その基鵡位置に対応する基準電
圧信号Voとして示す、この延出部25の位置がその基
準位置X。
、動作されない状態において、好ましくは、受光素子で
検出される信号が零信号と最大値信号の中間値であるv
o倍信号なる位置Xoに配置されている。この位置を基
準位置X。とじて示し、その基鵡位置に対応する基準電
圧信号Voとして示す、この延出部25の位置がその基
準位置X。
からずれたときには、その移動された位置に対応する電
圧信号が発生され、その電圧信号Vと基準電圧信号Vと
の差信号に応じて正または負の信号(電圧信号)が発生
される。
圧信号が発生され、その電圧信号Vと基準電圧信号Vと
の差信号に応じて正または負の信号(電圧信号)が発生
される。
検索アクセス時の可動部22の位置を制御するための検
出信号の処理方法は、前に述べた第6図に示されている
。
出信号の処理方法は、前に述べた第6図に示されている
。
第6図において、受光素子26の出力は増幅回路72に
供給され、供給された信号は、増幅されて比較回路76
の非反転入力端に供給される。比較回路76の他方の反
転入力端には、定電圧発生発生回路74から前に述べた
基準位置Xoで検出される電圧信号voに等しい定電圧
信号が供給される。比較回路76では、発光素子28か
らの出力と定電圧発生回路74で発生される基準電圧信
号V。を比較し、その差信号が検索アクセス時に切換え
られて接続されるトラックずれ検出回路の切換え回路7
8を介して駆動回路68に供給される。供給された差信
号に応じて駆動回路68から可動部に設けられたトラッ
キング用コイル(図示しない)に電流が供給され、それ
によって発生された 磁界と固定部としてのベース24上に設けられたマグネ
ット17から発生される磁界との磁気的な相互作用によ
って可動部22が固定部としてのベース24に対して移
動され、所定の位置に保持される。
供給され、供給された信号は、増幅されて比較回路76
の非反転入力端に供給される。比較回路76の他方の反
転入力端には、定電圧発生発生回路74から前に述べた
基準位置Xoで検出される電圧信号voに等しい定電圧
信号が供給される。比較回路76では、発光素子28か
らの出力と定電圧発生回路74で発生される基準電圧信
号V。を比較し、その差信号が検索アクセス時に切換え
られて接続されるトラックずれ検出回路の切換え回路7
8を介して駆動回路68に供給される。供給された差信
号に応じて駆動回路68から可動部に設けられたトラッ
キング用コイル(図示しない)に電流が供給され、それ
によって発生された 磁界と固定部としてのベース24上に設けられたマグネ
ット17から発生される磁界との磁気的な相互作用によ
って可動部22が固定部としてのベース24に対して移
動され、所定の位置に保持される。
次に上に述べた装置の情報記録、再生、焦点制御、トラ
ッキング制御、及び検索アクセス時の制御における動作
を記述する。
ッキング制御、及び検索アクセス時の制御における動作
を記述する。
前に述べた光検出器44の検出信号を利用する制御装置
において、情報の記録を行う場合には、光デイスク1上
に強光度で変調された光ビーム(記録ビーム)が照射さ
れることにより光デイスク1上のトラックにピットが形
成され、情報の再生時には、弱光度で一定のレーザ光(
再生ビーム光)が光デイスク30上に照射され、ピット
によって強度変調して反射されは、上述した光路を再び
通過して、光検出器44の光検出セル44a〜44d上
に照射される。照射された光ビームの光量に応じた信号
が光検出セル44a〜44dから出力され、それらの信
号がそれぞれ増幅回路50a〜50dに供給される。
において、情報の記録を行う場合には、光デイスク1上
に強光度で変調された光ビーム(記録ビーム)が照射さ
れることにより光デイスク1上のトラックにピットが形
成され、情報の再生時には、弱光度で一定のレーザ光(
再生ビーム光)が光デイスク30上に照射され、ピット
によって強度変調して反射されは、上述した光路を再び
通過して、光検出器44の光検出セル44a〜44d上
に照射される。照射された光ビームの光量に応じた信号
が光検出セル44a〜44dから出力され、それらの信
号がそれぞれ増幅回路50a〜50dに供給される。
この電気回路におけるフォーカシング制御について説明
する。上記増幅回路50 a s 50 cからの信号
は、加算回路58に供給され、上記増幅回路50b、5
0dからの信号は、加算回路60に供給される。加算回
路58は、光検出セル44a及び44cからの検出信号
を加算し、比較回路64に出力する。また、加算回路6
0は、光検出セル44b及び44dからの検出信号を加
算し、比較回路64に出力する。これにより、比較回路
64は、上記光検出セル44 a s 44 cの検出
信号の加算結果と上記光検出セル44b、44dの検出
信号の加算結果とを比較し、その差に応じた出力つまり
焦点ぼけ検出信号を駆動回路70にフィードバックさせ
る。駆動回路70は、焦点ぼけ検出信号に応じてコイル
(図示しない)に所定の電流を供給し、対物レンズ10
を光軸方向に駆動して、対物レンズ10をフォーカス制
御する。
する。上記増幅回路50 a s 50 cからの信号
は、加算回路58に供給され、上記増幅回路50b、5
0dからの信号は、加算回路60に供給される。加算回
路58は、光検出セル44a及び44cからの検出信号
を加算し、比較回路64に出力する。また、加算回路6
0は、光検出セル44b及び44dからの検出信号を加
算し、比較回路64に出力する。これにより、比較回路
64は、上記光検出セル44 a s 44 cの検出
信号の加算結果と上記光検出セル44b、44dの検出
信号の加算結果とを比較し、その差に応じた出力つまり
焦点ぼけ検出信号を駆動回路70にフィードバックさせ
る。駆動回路70は、焦点ぼけ検出信号に応じてコイル
(図示しない)に所定の電流を供給し、対物レンズ10
を光軸方向に駆動して、対物レンズ10をフォーカス制
御する。
また、トラッキング制御について説明する。すなわち、
上記増幅回路50a及び50bからの信号は、加算回路
54に供給され、上記増幅回路50c及び50dからの
信号は、加算回路56に供給される。加算回路54は、
光検出セル44a及び44bからの信号を加算し、比較
回路62に出力する。また、加算回路56は、光検出セ
ル44c及び44dからの検出信号を加算し、比較回路
62に出力する。これにより、比較回路62は、上記光
検出セル44a及び44bの検出信号の加算結果と上記
検出セル44c及び44dの検出信号の加算結果とを比
較し、その差に応じた出力つまりトラックずれ検出信号
を駆動回路68にフィードバックする。駆動回路68は
、トラックずれ検出信号に応じてコイル(図示しない)
に所定の電流を供給し、対物レンズ10を光ディスク3
0の記録膜面に沿って駆動して対物レンズ10をトラッ
キング制御する。
上記増幅回路50a及び50bからの信号は、加算回路
54に供給され、上記増幅回路50c及び50dからの
信号は、加算回路56に供給される。加算回路54は、
光検出セル44a及び44bからの信号を加算し、比較
回路62に出力する。また、加算回路56は、光検出セ
ル44c及び44dからの検出信号を加算し、比較回路
62に出力する。これにより、比較回路62は、上記光
検出セル44a及び44bの検出信号の加算結果と上記
検出セル44c及び44dの検出信号の加算結果とを比
較し、その差に応じた出力つまりトラックずれ検出信号
を駆動回路68にフィードバックする。駆動回路68は
、トラックずれ検出信号に応じてコイル(図示しない)
に所定の電流を供給し、対物レンズ10を光ディスク3
0の記録膜面に沿って駆動して対物レンズ10をトラッ
キング制御する。
次に、情報の再生について説明する。上に述べたように
増幅回路50a、50bs 50c%50dからの出力
は、すべて加算回路52で加算され、この加算結果を2
値化回路66で2値化することにより、データが再生さ
れる。
増幅回路50a、50bs 50c%50dからの出力
は、すべて加算回路52で加算され、この加算結果を2
値化回路66で2値化することにより、データが再生さ
れる。
また検索アクセス時の可動部22の制御について説明す
る。受光索子28の光検出領域の検出出力は、増幅回路
72に供給され、増幅された信号が比較回路76にそれ
ぞれ供給され、一方比較回路76の非反転入力端には、
定電圧発生回路74から基準電圧vOが供給され、その
2つの信号が比較されてその差信号が駆動回路68に供
給される。そのため、検索アクセス時のキャリッジの加
減速により可動部22が基準位置Xoから移動されたと
しても、その移動量に応じて出力が切換回路を介して駆
動回路68にフィードバックされ、駆動回路68はその
信号に応じてコイル(図示しない)に所定の電流を供給
し、可動部22をトラッキング方向(X方向)に移動さ
せて所定位置、即ち基準位置Xo上に位置させる。切換
回路78は通常トラッキング制御側に接続されているが
、検索アクセス時には位置制御の為の比較回路76側に
接続されるように構成されている。
る。受光索子28の光検出領域の検出出力は、増幅回路
72に供給され、増幅された信号が比較回路76にそれ
ぞれ供給され、一方比較回路76の非反転入力端には、
定電圧発生回路74から基準電圧vOが供給され、その
2つの信号が比較されてその差信号が駆動回路68に供
給される。そのため、検索アクセス時のキャリッジの加
減速により可動部22が基準位置Xoから移動されたと
しても、その移動量に応じて出力が切換回路を介して駆
動回路68にフィードバックされ、駆動回路68はその
信号に応じてコイル(図示しない)に所定の電流を供給
し、可動部22をトラッキング方向(X方向)に移動さ
せて所定位置、即ち基準位置Xo上に位置させる。切換
回路78は通常トラッキング制御側に接続されているが
、検索アクセス時には位置制御の為の比較回路76側に
接続されるように構成されている。
第9図には、この発明の更に他の実施例が示されている
。
。
第9図において、発光素子26及び受光素子28は、固
定部としてのベース24上に配置され、発光素子26か
ら発射された光ビームを受光素子28で受光できるよう
にY方向に互いに向合う面上に所定の間隔で対向して配
置される。互いに対向される発光索子26及び受光素子
28の隙間には、可動部22から延出された延出部25
が挿入される。第10図に示すように、延出部25は、
発光素子26から受光素子28に照射された光ビームの
一部を遮蔽するために利用され、動作されない状態にお
いて、好ましくは、その遮蔽する光量が発光素子26か
らの光ビームの照射量の略半分となるように、その基準
位置Xoが定められ、その基準位置Xoに対応して受光
素子28で検出される基準電圧信号Voが決定される。
定部としてのベース24上に配置され、発光素子26か
ら発射された光ビームを受光素子28で受光できるよう
にY方向に互いに向合う面上に所定の間隔で対向して配
置される。互いに対向される発光索子26及び受光素子
28の隙間には、可動部22から延出された延出部25
が挿入される。第10図に示すように、延出部25は、
発光素子26から受光素子28に照射された光ビームの
一部を遮蔽するために利用され、動作されない状態にお
いて、好ましくは、その遮蔽する光量が発光素子26か
らの光ビームの照射量の略半分となるように、その基準
位置Xoが定められ、その基準位置Xoに対応して受光
素子28で検出される基準電圧信号Voが決定される。
これによって、可動部22が基準位置XOに対してX方
向に移動された場合、その移動量に応じて延出部25で
遮蔽される光量が変化するため受光素子28で検出され
る信号(電圧信号)も変化され、その検出信号Vと基準
電圧信号Voの差信号を利用して固定部としてのベース
24に対する可動部22の位置が検出される。受光素子
28の検出信号と発射光ビームに対する遮蔽部としての
延出部25位置との相互関係は前に述べたように第8図
に示されている。第8図に示すように遮蔽部としての延
出部25の位置は、動作されない状態において、好まし
くは、受光素子で検出される信号が零信号と最大値信号
の中間値であるVo倍信号なる位置Xoに配置されてい
る。この位置を基準位置Xoとして示し、その基準位置
に対応する基準電圧信号Voとして示す、この延出部2
5の位置がその基準位置Xoからずれたときには、その
移動位置に対応する電圧信号Vと基準電圧信号V。
向に移動された場合、その移動量に応じて延出部25で
遮蔽される光量が変化するため受光素子28で検出され
る信号(電圧信号)も変化され、その検出信号Vと基準
電圧信号Voの差信号を利用して固定部としてのベース
24に対する可動部22の位置が検出される。受光素子
28の検出信号と発射光ビームに対する遮蔽部としての
延出部25位置との相互関係は前に述べたように第8図
に示されている。第8図に示すように遮蔽部としての延
出部25の位置は、動作されない状態において、好まし
くは、受光素子で検出される信号が零信号と最大値信号
の中間値であるVo倍信号なる位置Xoに配置されてい
る。この位置を基準位置Xoとして示し、その基準位置
に対応する基準電圧信号Voとして示す、この延出部2
5の位置がその基準位置Xoからずれたときには、その
移動位置に対応する電圧信号Vと基準電圧信号V。
との差信号に応じて正または負の信号(電圧信号)が発
生される。
生される。
検索アクセス時の可動部22の位置を制御するための検
出信号の処理方法及びその動作は、前に述べた実施例と
同様に処理される。
出信号の処理方法及びその動作は、前に述べた実施例と
同様に処理される。
上に述べた一実施例において使用された光源及び検出器
は、記載されたものに限らず、他のものが使用されても
よく、その配置される位置も目的を達成できる範囲内で
移動可能である。
は、記載されたものに限らず、他のものが使用されても
よく、その配置される位置も目的を達成できる範囲内で
移動可能である。
[発明の効果コ
この発明によれば、検索アクセス時にトラッキング制御
不能となることなく、素早く検索アクセスを行える光学
ヘッドが提供される。
不能となることなく、素早く検索アクセスを行える光学
ヘッドが提供される。
図面は、この発明の一実施例を示し、第1図はこの発明
の一実施例に係る光学ヘッドの斜視図、第2図は、光学
ヘッド内の光学系を概略的に示す図、第3図は、光学ヘ
ッド内の光学系の要部の構成を説明するための図、第4
図は光学ヘッド内の′ン 弁図は光学ヘッド内の可動部の位置制御nのための光学
素子の配置を説明するための図、第半図は、第二図の延
出部の位置と検出信号の関係を示す図−二 奪噛4鴫1j第9図は、この発明の他の実施例を示す図
、第10図は、第9図に示した光学ヘッドト・・光学ヘ
ッド、10・・・対物レンズ、12・・・保持体、14
・・・フォーカス用コイル、16・・・トラッキング用
コイル、17・・・マグネット、18・・・ブロック、
20・・・支持材、22・・・可動部、24・・・ベー
ス、25・・・延出部、26・・・発光素子、28・・
・受光素子、30・・・光ディスク、32・・・光源、
・34・・・コリメータレンズ、36・・・ハーフプリ
ズム、40・・・凸レンズ、42・・・シリンドリ力ル
レとズ、34・・・コリメータレンズ、36・・・バー
フチリズム、40・・・凸レンズ、42・・・シリンド
リカルレンズ、44・・・光検出器、44a〜44d・
・・光検出領域、50a 〜50d、72=−増幅回路
、52.54、56.58.60・・・加算回路、62
.64.76・・・比較回路、66・・・2値化回路、
74・・・定電圧発生回路、78・・・切換回路、68
.70・・・駆動回路。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 コイルへ コイルへ 第6図 第7図 第8図 第9図 第10図
の一実施例に係る光学ヘッドの斜視図、第2図は、光学
ヘッド内の光学系を概略的に示す図、第3図は、光学ヘ
ッド内の光学系の要部の構成を説明するための図、第4
図は光学ヘッド内の′ン 弁図は光学ヘッド内の可動部の位置制御nのための光学
素子の配置を説明するための図、第半図は、第二図の延
出部の位置と検出信号の関係を示す図−二 奪噛4鴫1j第9図は、この発明の他の実施例を示す図
、第10図は、第9図に示した光学ヘッドト・・光学ヘ
ッド、10・・・対物レンズ、12・・・保持体、14
・・・フォーカス用コイル、16・・・トラッキング用
コイル、17・・・マグネット、18・・・ブロック、
20・・・支持材、22・・・可動部、24・・・ベー
ス、25・・・延出部、26・・・発光素子、28・・
・受光素子、30・・・光ディスク、32・・・光源、
・34・・・コリメータレンズ、36・・・ハーフプリ
ズム、40・・・凸レンズ、42・・・シリンドリ力ル
レとズ、34・・・コリメータレンズ、36・・・バー
フチリズム、40・・・凸レンズ、42・・・シリンド
リカルレンズ、44・・・光検出器、44a〜44d・
・・光検出領域、50a 〜50d、72=−増幅回路
、52.54、56.58.60・・・加算回路、62
.64.76・・・比較回路、66・・・2値化回路、
74・・・定電圧発生回路、78・・・切換回路、68
.70・・・駆動回路。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 コイルへ コイルへ 第6図 第7図 第8図 第9図 第10図
Claims (2)
- (1)情報記録媒体上に光ビームを集束する為の集束手
段と、前記集束手段を所定方向に移動可能に支持する支
持手段と、前記支持手段を固定部に対して移動可能な方
向に駆動する駆動手段と、前記駆動手段によって移動さ
れる支持手段の位置を検出する為に設けられた発光手段
と、前記発光手段から発せられた光ビームを検出する受
光手段を備える光学ヘッドにおいて、 前記発光手段及び受光手段は、前記集光手段を移動可能
に支持する支持手段もしくは固定部のいずれか一方に互
いに対向して配置され、及びその他方には、前記発光手
段から受光手段に照射される光ビームの少なくとも一部
を遮蔽するための延出部が設けられていることを特徴と
する光学ヘッド。 - (2)前記受光手段で検出される信号と比較するために
基準電圧信号が設定されていることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の光学ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30276387A JPH01144231A (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 光学ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30276387A JPH01144231A (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 光学ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01144231A true JPH01144231A (ja) | 1989-06-06 |
Family
ID=17912850
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30276387A Pending JPH01144231A (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 光学ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01144231A (ja) |
-
1987
- 1987-11-30 JP JP30276387A patent/JPH01144231A/ja active Pending
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