JPH01151445A - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
- Publication number
- JPH01151445A JPH01151445A JP62308613A JP30861387A JPH01151445A JP H01151445 A JPH01151445 A JP H01151445A JP 62308613 A JP62308613 A JP 62308613A JP 30861387 A JP30861387 A JP 30861387A JP H01151445 A JPH01151445 A JP H01151445A
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- Japan
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- signal
- low frequency
- tissue
- doppler
- probe
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、超音波と低周波振動との相互作用により生体
組織の硬さに関する特ｙｉ損を検出して診断情報として
利用する超音波診断装置に関する。
組織の硬さに関する特ｙｉ損を検出して診断情報として
利用する超音波診断装置に関する。
（従来の技術）
第４図に示すように人体等の被検体１の表面に低周波プ
ローブ２を接触させ、この低周波プローブ２から被検体
１内の組織Ｐに機械的に低周波撮動（ｆＬ：１００Ｈｚ
程度）を印加してこの組織Ｐに機械的振動を発生させ、
この状態で被検体１の他の表面に接触させた超音波プロ
ーブ３からその組織Ｐに超音波（ｆ＋ ： ３．７５
ＭＨｚ程度）を送受波してドプラ信号を検出することに
よりその組織の振動速度を検出して診断情報として利用
することが知られてあり、このような技術は次のような
文献に示されている。
ローブ２を接触させ、この低周波プローブ２から被検体
１内の組織Ｐに機械的に低周波撮動（ｆＬ：１００Ｈｚ
程度）を印加してこの組織Ｐに機械的振動を発生させ、
この状態で被検体１の他の表面に接触させた超音波プロ
ーブ３からその組織Ｐに超音波（ｆ＋ ： ３．７５
ＭＨｚ程度）を送受波してドプラ信号を検出することに
よりその組織の振動速度を検出して診断情報として利用
することが知られてあり、このような技術は次のような
文献に示されている。
”５ｏｎｏ−Ｅｌａｓｔｉｃｉｔｙ： Ｈｅｄｉｃａｌ
Ｅｌａｓｔｉｃｉｔｙ ＩｍａｇｅｓＤｅｒｉｖｅｄ
Ｆｒｏｍ Ｕｌｔｒａｓｏｕｎｄ Ｓｉｇｎａｌｓ ｉ
ｎ ）ｌｅｃｈａｎｉ−ｃａｌｌｙ Ｖｉｂｒａｔｅｄ
Ｔａｒｇｅｔｓ” Ｒｏｂｅｒｔ Ｈ，Ｌｅｒｎｅｒ
ｅｔａｔ、 Ｐｒｏｃ、 ｏｆ ｔｈｅ １６ｔｈ
Ａｃｏｕｓｔｉｃａｌ ＩｍａｇｉｎｇＳｙｍｐｏｓｉ
ｕｍ、 Ｊｕｎｅ １９８７゜第４図において組織Ｐか
ら見た低周波プローブ２と超音波プローブ３とのなす角
度をθ°１組織組織光生した振動の速度を■とすると、
超音波プローブ３から組ＩＭＦに向けて送波された超音
波ｆＨはその撮動によってｙ ｃｏｓθに比例したドプ
ラ偏移ｆｄを受けた後回−プローブ３によって受波され
、いわゆるドプラ信号を検出することができる。この場
合ドプラ偏移ｆｄは周知のように次式によって得られる
。
Ｅｌａｓｔｉｃｉｔｙ ＩｍａｇｅｓＤｅｒｉｖｅｄ
Ｆｒｏｍ Ｕｌｔｒａｓｏｕｎｄ Ｓｉｇｎａｌｓ ｉ
ｎ ）ｌｅｃｈａｎｉ−ｃａｌｌｙ Ｖｉｂｒａｔｅｄ
Ｔａｒｇｅｔｓ” Ｒｏｂｅｒｔ Ｈ，Ｌｅｒｎｅｒ
ｅｔａｔ、 Ｐｒｏｃ、 ｏｆ ｔｈｅ １６ｔｈ
Ａｃｏｕｓｔｉｃａｌ ＩｍａｇｉｎｇＳｙｍｐｏｓｉ
ｕｍ、 Ｊｕｎｅ １９８７゜第４図において組織Ｐか
ら見た低周波プローブ２と超音波プローブ３とのなす角
度をθ°１組織組織光生した振動の速度を■とすると、
超音波プローブ３から組ＩＭＦに向けて送波された超音
波ｆＨはその撮動によってｙ ｃｏｓθに比例したドプ
ラ偏移ｆｄを受けた後回−プローブ３によって受波され
、いわゆるドプラ信号を検出することができる。この場
合ドプラ偏移ｆｄは周知のように次式によって得られる
。
ｆｄ ＝ （２Ｖ ｃｏｓθ）ｆＨ／Ｃ但し、Ｃ：音速
このようにして得られたドプラ偏移ｆｄを基に組織Ｐの
振動速度Ｖを検出することができ、この振動速度Ｖはそ
の組織Ｐの機械的強度すなわち硬さを反映しており、こ
の硬さを把握することにより組織が正常組織か異常組織
かを識別することができる。すなわち組織の硬さを識別
パラメータとすることができる。
振動速度Ｖを検出することができ、この振動速度Ｖはそ
の組織Ｐの機械的強度すなわち硬さを反映しており、こ
の硬さを把握することにより組織が正常組織か異常組織
かを識別することができる。すなわち組織の硬さを識別
パラメータとすることができる。
第５図（ａ）は低周波プローブ２によって印加される機
械（騒動の振幅波形を示すものでｓｍは最大振幅を示し
ている。また第５図（ｂ）はその振動の速度波形を示す
ものでＶＭは最大速度を示している。第５図（ａ＞、（
ｂ）から明らかなように振幅と速度とは位相が９０°ず
れた関係にある。
械（騒動の振幅波形を示すものでｓｍは最大振幅を示し
ている。また第５図（ｂ）はその振動の速度波形を示す
ものでＶＭは最大速度を示している。第５図（ａ＞、（
ｂ）から明らかなように振幅と速度とは位相が９０°ず
れた関係にある。
第３図は従来の超音波診断装置の構成を示すブロック図
で、正弦波発振器２４で発生された低周波ｆＬはパワー
アンプ２３で増幅された後低周波プローブ２を介して被
検体の所望組織Ｐに印加される。クロックパルス発生器
６で発生されたクロックパルスによって制御されレート
パルス発生器５で発生されたレートパルスはパルサ４を
介して超音プローブ３に加えられ、超音波プローブ３は
レートパルスに同期して被検体１の所望相ＩＰに超音波
を送波し反射されたエコー信号を受波する。
で、正弦波発振器２４で発生された低周波ｆＬはパワー
アンプ２３で増幅された後低周波プローブ２を介して被
検体の所望組織Ｐに印加される。クロックパルス発生器
６で発生されたクロックパルスによって制御されレート
パルス発生器５で発生されたレートパルスはパルサ４を
介して超音プローブ３に加えられ、超音波プローブ３は
レートパルスに同期して被検体１の所望相ＩＰに超音波
を送波し反射されたエコー信号を受波する。
エコー信号は組織Ｐによってドプラ偏移を受けたドプラ
信号として超音波プローブ３により受波され電気信号に
変換された後プリアンプ８に加えられる。プリアンプ８
の出力信号はドプラ信号（偏移）を検出するために一対
のミキサ９，１０以降に分岐されて加えられる。
信号として超音波プローブ３により受波され電気信号に
変換された後プリアンプ８に加えられる。プリアンプ８
の出力信号はドプラ信号（偏移）を検出するために一対
のミキサ９，１０以降に分岐されて加えられる。
ミキサ９に加えられた一方の信号は、レートパルスに同
期して参照信号発生器７から発生されて参照信号と乗算
された後ＬＰＦ （ローパスフィルタ）１２に加えられ
る。またミキサ１０に加えられた他方の信号は、９０”
位相器１１を介して前記参照信号と９０’位相の異なっ
た参照信号と乗算された後ＬＰＦ１３に加えられる。こ
のような乗算によってドプラ偏移ｆｄを含んだ周波数成
分が得られ、一対のＬＰＦ１２．１３を通過させること
により高い周波数成分が除かれてドプラ偏移ｆｄだけの
周波数成分をもった位相検波信号が得られる。レートパ
ルスに同期して被検体１の任意の深さに相当した組織を
設定するためのレンジゲートパルスがレンジゲート回路
１４から出力され、一対のＬＰＦ１２．１３の出力と共
に各々一対のサンプルホールド回路１５．１６に加えら
れる。
期して参照信号発生器７から発生されて参照信号と乗算
された後ＬＰＦ （ローパスフィルタ）１２に加えられ
る。またミキサ１０に加えられた他方の信号は、９０”
位相器１１を介して前記参照信号と９０’位相の異なっ
た参照信号と乗算された後ＬＰＦ１３に加えられる。こ
のような乗算によってドプラ偏移ｆｄを含んだ周波数成
分が得られ、一対のＬＰＦ１２．１３を通過させること
により高い周波数成分が除かれてドプラ偏移ｆｄだけの
周波数成分をもった位相検波信号が得られる。レートパ
ルスに同期して被検体１の任意の深さに相当した組織を
設定するためのレンジゲートパルスがレンジゲート回路
１４から出力され、一対のＬＰＦ１２．１３の出力と共
に各々一対のサンプルホールド回路１５．１６に加えら
れる。
このようなサンプルホールドによって所望組織のみのド
プラ偏移が検出され、各出力をＢＰＦ （帯域フィルタ
＞１７．１８を通過させてオーディオ出力として取出す
と共に、Ａ／Ｄ変換器１９゜２０を介して高速フーリエ
変換器２１に加える。
プラ偏移が検出され、各出力をＢＰＦ （帯域フィルタ
＞１７．１８を通過させてオーディオ出力として取出す
と共に、Ａ／Ｄ変換器１９゜２０を介して高速フーリエ
変換器２１に加える。
高速フーリエ変換器２１はディジタル信号を周波数分析
してこの結果をモニタ２２上に２次元的に表示する。こ
れによって被検体１の所望組織Ｐの振動速度が２次元的
に表示されるので、これを観察することにより診断情報
として利用することができる。
してこの結果をモニタ２２上に２次元的に表示する。こ
れによって被検体１の所望組織Ｐの振動速度が２次元的
に表示されるので、これを観察することにより診断情報
として利用することができる。
第６図（ａ）乃至（Ｃ）は低周波プローブ２によって印
加される機械振動の速度波形（ａ）を基準にとった場合
の、ドプラ信号を演算出力するため（必要なデータ収集
時間十演算時間）に必要な時間幅τのきざみ幅（ｂ）及
びドプラ偏移周波数ｆｄを比較して示すものでおる。第
６図（ｂ）の時間幅τは超音波の繰返し周波数をｆｒと
するとτ＝Ｎ・（１／ｆｒ ）で表わすことができ、低
周波ｆＬの周期′＠ＴＬとするとては通常ＴＬ＞τの関
係に設定される。このためドプラ偏移周波数ｆｄは時間
幅τ内での振動速度Ｖの平均値に比例した値となり、（
Ｃ）のように（ａ）の波形と同一周波数で振動する波形
となる。
加される機械振動の速度波形（ａ）を基準にとった場合
の、ドプラ信号を演算出力するため（必要なデータ収集
時間十演算時間）に必要な時間幅τのきざみ幅（ｂ）及
びドプラ偏移周波数ｆｄを比較して示すものでおる。第
６図（ｂ）の時間幅τは超音波の繰返し周波数をｆｒと
するとτ＝Ｎ・（１／ｆｒ ）で表わすことができ、低
周波ｆＬの周期′＠ＴＬとするとては通常ＴＬ＞τの関
係に設定される。このためドプラ偏移周波数ｆｄは時間
幅τ内での振動速度Ｖの平均値に比例した値となり、（
Ｃ）のように（ａ）の波形と同一周波数で振動する波形
となる。
（発明が解決しようとする問題点）
このＪ：うに従来の超音波診断装置では低周波振動を発
生するタイミングと超音波を発生するタイミングとが非
同期に設定されているので、機械撮動のどの位相でドプ
ラ信号を検出するかを特定できないため有効な診断情報
が得られないという問題がおる。すなわち、ドプラ情報
を基に振動速度を２次元的に表示する場合、入力信号で
ある機械振動と出力信号であるドプラ信号とが同一周波
数で変化していたのでは、例えば撮動速度を輝度に対応
づけて２次元速度分布を２次元輝度分布として表示しよ
うとすると、入力変動に伴って出力される輝度が時間的
白黒に変化してしまうことになって診断情報としては不
適当となる。
生するタイミングと超音波を発生するタイミングとが非
同期に設定されているので、機械撮動のどの位相でドプ
ラ信号を検出するかを特定できないため有効な診断情報
が得られないという問題がおる。すなわち、ドプラ情報
を基に振動速度を２次元的に表示する場合、入力信号で
ある機械振動と出力信号であるドプラ信号とが同一周波
数で変化していたのでは、例えば撮動速度を輝度に対応
づけて２次元速度分布を２次元輝度分布として表示しよ
うとすると、入力変動に伴って出力される輝度が時間的
白黒に変化してしまうことになって診断情報としては不
適当となる。
本発明は以上のような事情に対処してなされたもので、
有効な診断情報を得るように構成した超音波診断装置を
提供することを目的とするものである。
有効な診断情報を得るように構成した超音波診断装置を
提供することを目的とするものである。
［発明の構成］
（問題点を解決するための手段）
上記目的を達成するために本発明は、低周波振動を超音
波の発生タイミングに同期して発生させることを特徴と
するものでおる。
波の発生タイミングに同期して発生させることを特徴と
するものでおる。
（作 用）
超音波送受波の繰返しタイミングを決定しているレート
パルスに同期して、低周波プローブから低周波ｊ騒動を
発生させる。これによって低周波振動の周期ごとに正確
にドプラ信号を検出することができるので、有効な診断
情報を得ることができる。
パルスに同期して、低周波プローブから低周波ｊ騒動を
発生させる。これによって低周波振動の周期ごとに正確
にドプラ信号を検出することができるので、有効な診断
情報を得ることができる。
（実施例）
第１図は本発明の超音波診断装置の実施例を示すブロッ
ク図で、１は被検体、２は低周波プローブ、３は超音波
プローブ、４はパルサ、５はレートパルス発生器、６は
クロックパルス発生器。
ク図で、１は被検体、２は低周波プローブ、３は超音波
プローブ、４はパルサ、５はレートパルス発生器、６は
クロックパルス発生器。
７は参照信号発生器、８はプリアンプ、９，１０はミキ
サ、１１は９０”移送器、１２．１３はＬＰＦ、１９．
２０はＡ／Ｄ変換器、２２はモニタ。
サ、１１は９０”移送器、１２．１３はＬＰＦ、１９．
２０はＡ／Ｄ変換器、２２はモニタ。
２３はパワーアンプ、２４は正弦波発振器である。
クロックパルス発生器６で発生されたクロックパルスに
よって制御されレートパルス発生器５で発生されたレー
トパルス３ｒは第２図（ａ）のように周期Ｔｒを基本周
期として、遅延線２５によって所望の遅延特性を有する
ように制御された後パルサ４を介して超音波プローブ３
に加えられる。
よって制御されレートパルス発生器５で発生されたレー
トパルス３ｒは第２図（ａ）のように周期Ｔｒを基本周
期として、遅延線２５によって所望の遅延特性を有する
ように制御された後パルサ４を介して超音波プローブ３
に加えられる。
−例として超音波プローブ３として電子セクタ用プロー
ブを用いたとすると、超音波プローブ５から送波された
超音波ビームは図のようにセクタ走査されて２次元的な
ドプラ情報が収集可能に構成されている。
ブを用いたとすると、超音波プローブ５から送波された
超音波ビームは図のようにセクタ走査されて２次元的な
ドプラ情報が収集可能に構成されている。
レートパルスＳｒによって同期がとられかつ予め値ｍが
設定されたｆＬ設定器３４は、第２図（ｂ）のようにＳ
ｒに同期した低周波パルスＳＴＬを発生して正弦波発振
器２４に加える。−例として図ではＳＴＬの一周期ＴＬ
は、ＴＬ ＝ｍ・ｌ’−ｒ（ｍは整数〉に設定した例で
示している。
設定されたｆＬ設定器３４は、第２図（ｂ）のようにＳ
ｒに同期した低周波パルスＳＴＬを発生して正弦波発振
器２４に加える。−例として図ではＳＴＬの一周期ＴＬ
は、ＴＬ ＝ｍ・ｌ’−ｒ（ｍは整数〉に設定した例で
示している。
ＳＴＬが加えられた正弦波発振器２４は第２図（Ｃ）の
ようにＴＬを一周期とする正弦波の低周波Ｓｏを発生し
、（ここでＳｏは第５図（ｂ）に示したもと同様の（騒
動の速度波形であり振動波形とは９０”位相が異なる）
パワーアンプ２３を介して低周波プローブ（プランジャ
ー）２に加える。
ようにＴＬを一周期とする正弦波の低周波Ｓｏを発生し
、（ここでＳｏは第５図（ｂ）に示したもと同様の（騒
動の速度波形であり振動波形とは９０”位相が異なる）
パワーアンプ２３を介して低周波プローブ（プランジャ
ー）２に加える。
これによって低周波プローブ２は機械振動を行うことに
より低周波（例えば１００Ｈ２）を発生して被検体１の
所望組織Ｐに印加する。
より低周波（例えば１００Ｈ２）を発生して被検体１の
所望組織Ｐに印加する。
組織Ｐでドプラ偏移ｆｄを受けて超音波プローブ３で受
波されたドプラ信号はプリアンプ８を介して遅延線２６
に加えられ、ここで遅延線２６に対応した所望特性とな
るように制御された後加算器２７に加えられる。加算器
２７は全データの時間軸を揃えた後スイッチＳＷを介し
てドプラ偏移を検出するためにミキサ９，１０に出力す
る。
波されたドプラ信号はプリアンプ８を介して遅延線２６
に加えられ、ここで遅延線２６に対応した所望特性とな
るように制御された後加算器２７に加えられる。加算器
２７は全データの時間軸を揃えた後スイッチＳＷを介し
てドプラ偏移を検出するためにミキサ９，１０に出力す
る。
超音波プローブ３によってセクタ走査する超音波ビーム
の１ラスクの情報を得るのに、第２図（Ｃ）の低周波Ｓ
ｏの位相Ｏｏ乃至３６０°のうちＯｏから時間τｄだけ
遅れた幅τＷなる時間内のデータを使うものとすると、
スイッチＳＷはこの時間τＷだけオンされる。このスイ
ッチＳＷのオン、オフはイネーブル信号発生器３３から
発生されるイネーブル信＠Ｓｅによって制御される。
の１ラスクの情報を得るのに、第２図（Ｃ）の低周波Ｓ
ｏの位相Ｏｏ乃至３６０°のうちＯｏから時間τｄだけ
遅れた幅τＷなる時間内のデータを使うものとすると、
スイッチＳＷはこの時間τＷだけオンされる。このスイ
ッチＳＷのオン、オフはイネーブル信号発生器３３から
発生されるイネーブル信＠Ｓｅによって制御される。
加算器２７の出力は、イネーブル信＠Ｓｅが“Ｈ″（Ｈ
ｉＣｌｈ）レベルとなる時間τＷだけスイッチＳＷがオ
ンされることによりミキサ９，１０以降に加えられてド
プラ信号の演算が行われる。
ｉＣｌｈ）レベルとなる時間τＷだけスイッチＳＷがオ
ンされることによりミキサ９，１０以降に加えられてド
プラ信号の演算が行われる。
一対のミキサ９，１０からの各出力はＬＰＦｌ ２，１
３．Ａ／Ｄ変換器１９．２０を介してＭＨＩ （）ｌ
ｏｖｉｎｇ Ｔａｒｇｅｔ Ｉｎｄｉｃａｔｏｒ）フィ
ルタ２８゜２９に加えられる。このＭＴＩフィルタ２８
゜２９は撮動速度以外に信号に含まれている動きの遅い
心臓の壁等のような物体からの不要な反射信＠（クラッ
タと称される）を除去するためのものである。ＭＴＩフ
ィルタ２８．２９の出力は自己相関器３０に加えられて
２次元的な周波数分析が行われ、ざらに平均速度演算部
３１によってドプラ偏移ｆｄに基づいた振動速度の平均
が求められる。この平均速度はＤＳＣ（デジタルスキャ
ンコンバータ）に入力された後、モニタ２２に表示され
る。これは例えばｆｄｋ：基づいた撮動速度■を輝度に
対応づけて表示することができる。
３．Ａ／Ｄ変換器１９．２０を介してＭＨＩ （）ｌ
ｏｖｉｎｇ Ｔａｒｇｅｔ Ｉｎｄｉｃａｔｏｒ）フィ
ルタ２８゜２９に加えられる。このＭＴＩフィルタ２８
゜２９は撮動速度以外に信号に含まれている動きの遅い
心臓の壁等のような物体からの不要な反射信＠（クラッ
タと称される）を除去するためのものである。ＭＴＩフ
ィルタ２８．２９の出力は自己相関器３０に加えられて
２次元的な周波数分析が行われ、ざらに平均速度演算部
３１によってドプラ偏移ｆｄに基づいた振動速度の平均
が求められる。この平均速度はＤＳＣ（デジタルスキャ
ンコンバータ）に入力された後、モニタ２２に表示され
る。これは例えばｆｄｋ：基づいた撮動速度■を輝度に
対応づけて表示することができる。
τｄ、τＷは任意に設定可能で必るが、τＷはＳ／Ｎ特
性の点から第２図（Ｃ）の低周波Ｓｏの最大値を含む範
囲すなわち、速度が最大となる時点を含む範囲に設定す
ることが望ましい。このように低周波Ｓｏの位相を特定
してこの部分からのみ常にドプラ信号を検出することに
より、撮動速度によって一意的に定まったドプラ信号が
検出されるので有効な診断情報を１昇ることができる。
性の点から第２図（Ｃ）の低周波Ｓｏの最大値を含む範
囲すなわち、速度が最大となる時点を含む範囲に設定す
ることが望ましい。このように低周波Ｓｏの位相を特定
してこの部分からのみ常にドプラ信号を検出することに
より、撮動速度によって一意的に定まったドプラ信号が
検出されるので有効な診断情報を１昇ることができる。
本実施例においては第２図（ｄ＞のイネーブル信号Ｓｅ
がオンしている時間τＷに６レ一ト分のデータを得る例
について示している。このようなデータ収集は低周波Ｓ
ｏの一周期ＴＬごとに同じ割合で繰り返されることにな
る。例えばセクタ走査の全ラスタ（Ｍ）について行うと
すると、Ｍ・ＴＬごとに１フレームのデータが得られる
ことになる。
がオンしている時間τＷに６レ一ト分のデータを得る例
について示している。このようなデータ収集は低周波Ｓ
ｏの一周期ＴＬごとに同じ割合で繰り返されることにな
る。例えばセクタ走査の全ラスタ（Ｍ）について行うと
すると、Ｍ・ＴＬごとに１フレームのデータが得られる
ことになる。
次に本実施例の作用を説明する。
レートパルス３ｒに同期して低周波プローブ２から発生
された低周波機械振動が被検体１の所望組織Ｐに印加さ
れた状態で、超音波プローブ３がらレートパルスＳｒに
よって制御された超音波ビームが組織Ｐに送波される。
された低周波機械振動が被検体１の所望組織Ｐに印加さ
れた状態で、超音波プローブ３がらレートパルスＳｒに
よって制御された超音波ビームが組織Ｐに送波される。
組織Ｐでドプラ偏移１“ｄを受けた超音波ビームはプロ
ーブ３によって受波されドプラ信号を含んだ信号として
プリアンプ８以降の受信回路に入力される。加粁器２７
から出力された信号はイネーブル信号Ｓｅによってオン
制御されたスイッチＳＷを介して、所定時間τＷのみミ
キサ９，１０以降に入力されることによってドプラ信号
の検出が行われる。時間τｄ及びτＷを設定することに
よりドプラ信号が検出される低周波機械振動の位相が特
定される。これによって撮動速度によって一意的に定ま
ったドプラ信号を検出することができる。
ーブ３によって受波されドプラ信号を含んだ信号として
プリアンプ８以降の受信回路に入力される。加粁器２７
から出力された信号はイネーブル信号Ｓｅによってオン
制御されたスイッチＳＷを介して、所定時間τＷのみミ
キサ９，１０以降に入力されることによってドプラ信号
の検出が行われる。時間τｄ及びτＷを設定することに
よりドプラ信号が検出される低周波機械振動の位相が特
定される。これによって撮動速度によって一意的に定ま
ったドプラ信号を検出することができる。
ドプラ偏移ｆｄに基づいて演算された組ＩＩＰにおける
撮動速度は、例えば輝度に対応づけて２次元速度分布を
２次元輝度分布としてモニタ２２に表示することができ
る。この場合ドプラ信号が検出されるタイミングは機械
振動の特定位相に設定されているため従来のように機械
撮動の変動に伴ってドプラ信号が変動することはない。
撮動速度は、例えば輝度に対応づけて２次元速度分布を
２次元輝度分布としてモニタ２２に表示することができ
る。この場合ドプラ信号が検出されるタイミングは機械
振動の特定位相に設定されているため従来のように機械
撮動の変動に伴ってドプラ信号が変動することはない。
従って正確で有効な診断情報を得ることができる。
本実施例によって得られる組織Ｐの（騒動速度Ｖはこの
組織Ｐの硬さを反映しているので、この硬さを把握する
ことにより組織の状態を識別することができる。例えば
組織が音響的に均一であれば、モニタに表示される組織
の全体は同一速度で振動するので撮動速度は一様にＩ２
察される。しかし音響的に不均一な部分がある場合には
、撮動速度は一様に観察されないので異常組織が存在し
ていると判断できることになる。
組織Ｐの硬さを反映しているので、この硬さを把握する
ことにより組織の状態を識別することができる。例えば
組織が音響的に均一であれば、モニタに表示される組織
の全体は同一速度で振動するので撮動速度は一様にＩ２
察される。しかし音響的に不均一な部分がある場合には
、撮動速度は一様に観察されないので異常組織が存在し
ていると判断できることになる。
本実施例ではイネーブル信号によってデータ収集期間τ
Ｗを制御するようにしたが、このτＷのみ超音波の送受
波を停止させるような制御方法を行うこともできる。ま
た低周波（騒動の一周期ＴＬをレートパルスの一周期Ｔ
ｒの整数倍（ＴＬ ＝ｍ・Ｔｒ）とするのに、レートパ
ルスの一周期Ｔｒを基準にとった例で示したが、逆に低
周波振動の一周期ＴＬを基準としてこれの１／整数にレ
ートパルスＴｒの一周期を設定するようにすることがで
きる。
Ｗを制御するようにしたが、このτＷのみ超音波の送受
波を停止させるような制御方法を行うこともできる。ま
た低周波（騒動の一周期ＴＬをレートパルスの一周期Ｔ
ｒの整数倍（ＴＬ ＝ｍ・Ｔｒ）とするのに、レートパ
ルスの一周期Ｔｒを基準にとった例で示したが、逆に低
周波振動の一周期ＴＬを基準としてこれの１／整数にレ
ートパルスＴｒの一周期を設定するようにすることがで
きる。
［発明の効果］
以上述べたように本発明によれば、低周波振動を超音波
の発生タイミングに同期して発生させるようにしたので
、ドプラ信号を正確に検出でき有効な診断情報を得るこ
とができる。
の発生タイミングに同期して発生させるようにしたので
、ドプラ信号を正確に検出でき有効な診断情報を得るこ
とができる。
第１図は本発明の超音波診断装置の実施例を示すブロッ
ク図、第２図（ａ）乃至（ｄ）は本実施例装置の作用を
説明するタイミングチャート、第３図は従来装置を示す
ブロック図、第４図は本発明の詳細な説明する概略図、
第５図（ａ＞及び（ｂ）は本発明の詳細な説明するタイ
ミングチャート、第６図（ａ）乃至（Ｃ）は従来装置を
説明するタイミングチャートである。 １・・・被検体、２・・・低周波プローブ、３・・・超
音波プローブ、５・・・レートパルス発生器、２４・・
・正弦波発壁器、 ３３・・・イネーブル信号発生器、 ３４・・・ｆＬ設定器、 Ｐ・・・被検体の所望組織、ＳＷ・・・スイッチ、Ｓｒ
・・・レートパルス、３ｅ・・・イネーブル信号。
ク図、第２図（ａ）乃至（ｄ）は本実施例装置の作用を
説明するタイミングチャート、第３図は従来装置を示す
ブロック図、第４図は本発明の詳細な説明する概略図、
第５図（ａ＞及び（ｂ）は本発明の詳細な説明するタイ
ミングチャート、第６図（ａ）乃至（Ｃ）は従来装置を
説明するタイミングチャートである。 １・・・被検体、２・・・低周波プローブ、３・・・超
音波プローブ、５・・・レートパルス発生器、２４・・
・正弦波発壁器、 ３３・・・イネーブル信号発生器、 ３４・・・ｆＬ設定器、 Ｐ・・・被検体の所望組織、ＳＷ・・・スイッチ、Ｓｒ
・・・レートパルス、３ｅ・・・イネーブル信号。
Claims (2)
- （１）被検体に低周波振動を印加してその所望組織を振
動させこの組織に超音波を送受波してドプラ信号を検出
することによりその振動速度を検出する超音波診断装置
において、低周波振動を超音波の発生タイミングに周期
して発生させる手段を備えたことを特徴とする超音波診
断装置。 - （２）検出されたドプラ信号に基づいたドプラ情報を２
次元的に表示する特許請求の範囲第１項記載の超音波診
断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62308613A JPH01151445A (ja) | 1987-12-08 | 1987-12-08 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62308613A JPH01151445A (ja) | 1987-12-08 | 1987-12-08 | 超音波診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01151445A true JPH01151445A (ja) | 1989-06-14 |
Family
ID=17983155
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62308613A Pending JPH01151445A (ja) | 1987-12-08 | 1987-12-08 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01151445A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02119851A (ja) * | 1988-10-29 | 1990-05-07 | Shimadzu Corp | 超音波検査装置 |
| EP0556257A4 (ja) * | 1990-11-02 | 1994-08-31 | The University Of Rochester | |
| CN104960546A (zh) * | 2015-07-16 | 2015-10-07 | 无锡市崇安区科技创业服务中心 | 一种用于巡检高铁钢轨的探伤车 |
-
1987
- 1987-12-08 JP JP62308613A patent/JPH01151445A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02119851A (ja) * | 1988-10-29 | 1990-05-07 | Shimadzu Corp | 超音波検査装置 |
| EP0556257A4 (ja) * | 1990-11-02 | 1994-08-31 | The University Of Rochester | |
| CN104960546A (zh) * | 2015-07-16 | 2015-10-07 | 无锡市崇安区科技创业服务中心 | 一种用于巡检高铁钢轨的探伤车 |
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