JPH01154653A - 光ファイバハブおよびその試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は全体として光フアイバデータ通信ネットワーク
用のハブに関するものであり、更に詳しくいえば、オフ
ライン自己診断およびケーブル試験性能を持つ光ファイ
バハブおよび光ファイバ／％ブを試験する方法に関する
ものである。

（従来の技術） 光ファイバケーブルは同軸電気ケーブル、およびローカ
ルエリアネットワークその他のデータ通信装置に使用す
ることを望ましくする他のハードウェアデータ伝送媒体
より優れたいくつかの重要な利点を有する。たとえば、
光ファイバケーブルは電磁ノイズおよび、ハードワイヤ
装置にしばしば影響するその他の種類の妨害に強い。ま
た、光ファイバケーブルは電気を伝えないから、光フア
イバ装置は信頼度が高く、ケーブルの損傷に対してはハ
ードワイヤ装置より強い。また、ハードワイヤケーブル
上の信号とは異なり、光ファイバケーブル上の信号は、
気づかれる遮断なしに信号の一部を途中から取出したり
、伝送の向きを変えることは通常できず、したがって安
全度が極めて高い光フアイバ装置が得られる。

（発明が解決しようとする課題） 種々の装置がネットワークを通じて通信できるように、
ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）は複数のパーソ
ナルコンピュータその他の電子装置を相互に接続するよ
うに機能する。典型的な光ファイバＬＡＮは、離れてい
る複数の「ノード」を１つまたは複数の光ファイバハブ
へインターフエイスする離れている複数の光インターフ
ェイスを含む。遠隔の各ノードは、たとえば、ＬＡＮ制
御器によりインターフェイスされるパーソナルコンピュ
ータ（Ｐ　Ｃ）を含み、各ハブは、適切なハブＬＡＮ処
理回路へ接続される複数のハブＬＡＮ光インターフェイ
スを含む。遠隔の各光インターフェイスと各ハブ光イン
ターフェイスは受光部と送光部を含む。また、当業者で
あれば知っているように、遠隔のノードからのデータは
、それに関連する遠隔の光インターフェイスの送光部に
より、ある長さの光ファイバケーブルを介して対応する
ハブ光インターフェイスの受光部へ送られ、ハブＬＡＮ
処理回路により処理されてから、ハブ光インターフェイ
スの送光部によりネットワークを介して再び送られる。

多くの公知の光ファイバハブの大きな欠点は、データ通
信ネットワークにまず組込み、ネットワークを介してＰ
Ｃその他の外部装置へ接続しなければ、それらの光ファ
イバハブが正しく動作しているかどうかを試験すること
を容易に行えないことである。このレベルにおけるハブ
の試験は、試験を行う技術者がコンピュータの端末装置
その他の外部装置を操作できること、および多くの場合
にハブ中の障害を識別することを一層困難にするから、
このレベルにおけるハブの試験は完全に満足できるもの
ではない。

試験機能を一体に有する光ファイバハブの試験により、
各種の試験を行えるようにする融通性を持たせる一層効
率の高い製造技術が得られる。

（課題を解決するための手段） 本発明は、光ファイバハブおよびこのハブに接続されて
いる光ファイバケーブルの効率的なオフライン試験を、
ハブをデータ通信ネットワークに組込むことなしに行え
るようにする内部自己診断性能およびケーブル試験性能
を含むローカルエリアネットワークおよびその他のデー
タ通信装置用の光ファイバハブを提供するものである。

本発明によれば、受光部と送光部をおのおの含む複数の
光インターフェイスと、受光部により受けられたデータ
信号を処理し、処理されたデータ信号を送光部で送るた
めに処理されたデータ信号を送光部へ供給するために前
記複数の光インターフェイスへ電気的に接続されるハブ
処理回路とを備えるデータ通信ネットワーク用の光ファ
イバハブにおいて、前記ハブは少くとも１つの光インタ
ーフェイスの送光部から送る試験信号を発生する試験信
号源と、光インターフェイスの受光部により受けられた
送られた試験信号を検出する試験信号検出器とを更に含
み、その試験信号検出器は、前記受けられた試験信号が
前記送られた試験信号と異なる時を検出する手段を含む
データ通信ネットワーク用の光ファイバハブが得られる
。

本発明の好適な実施例によれば、試験信号源はパルスの
連続した流れを含む試験信号を発生し、試験信号検出器
は受けた試験信号を監視し、試験されている光インター
フエイス中の障害を示す受けた信号中の失われたパルス
の発生を検出する手段を含む。試験信号発生器は、バブ
バウシング上の誤り試示発光ダイオードを照明して、障
害が検出された時に技術者に注意する手段も含む。

ハブ処理回路に通常組込まれて、データ信号が２つまた
はそれ以上のハブ光インターフェイスにより同時に受け
られた時にジャミング信号を発生するジャミング信号発
生器から試験信号を取出すことが好ましい。

本発明に従って、ハブは、各光インターフェイスの送光
部により試験信号が送られる第１の試験モードと、ただ
１つの光インターフェイスの送光部により試験信号が送
られる第２の試験モードとを含む。選択される試験モー
ドは行うべき試験の性質に依存する。ハブ光インターフ
ェイスの送光部と受光部を試験するために、たとえば、
各光インターフェイスの送光部から試験信号が送られる
ようにハブは第１の試験モードで動作させられる。

光ファイバケーブルが任意のインターフェイスの送光部
から他の任意のインターフェイスの受光部へ戻される。

インターフェイスにどのような障害が生じても誤り指示
発光ダイオードが付勢される。

本発明の別の面によれば、予め設置されているケーブル
を分類し、それらの予め設置されているケーブルのコネ
クタの極性を調べ、コネクタで接続されている光ファイ
バケーブルの損失の限界を評価するために光ファイバハ
ブを使用できる。

本発明の光ファイバハブは、２テイア（ｔｗｏ−ｔｉｅ
ｒ）ネットワーク中の下側ティアハブにより開始される
上側ティアハブの応答を試験するためにも使用できる。

（実　施　例） 以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。

第１図は、本発明の好適な実施例に従って内部試験機能
を持つ光ファイバハブを含む、１テイア光フアイバロー
カルエリアネツトワークを示す略図である。ローカルエ
リアネットワーク（ＬＡＮ）は参照符号１５で全体的に
示されており、複数の遠隔光インターフェイス２８ａ〜
２８ｐを含む。それらの光インターフェイスはｔｅ個の
遠隔のノード２０ａ〜２０ｐを遠隔のインターフェイス
を光ファイバハブ１０へ接続する光ファイバケーブル（
図示せず）を介して、光ファイバハブ１０に対してイン
ターフェイスする。遠隔の各ノードは、インテル（Ｉｎ
ｔｅｌ　）　８２５８ｇ　ＬＡＮ制御器のようなローカ
ルエリアネットワーク制御器２７ヘインターフエイスさ
れる、アイビーエム（ＩＢＭ）パーソナルコンピュータ
のような従来のパーソナルコンピュータ（ｐ　ｃ）２５
をたとえば有することができる。

ハブ１０は１６個の光インターフェイス３０ａ〜３０ｐ
を含む。それらの光インターフェイス３０ａ〜３０９は
遠隔の光インターフェイス２８ａ〜２８ｐに対応する。

ハブ１０は、各光インターフェイス３０ａ〜３０ｐへ電
気的に双方向接続される適当なＬＡＮ処理回路３２も含
む。

各ハブ光インターフェイス３０ａ〜３０ｐは受光部３６
と送光部３７を含む。同様に、各遠隔光インターフェイ
スは受光部３８と送光部３９を含む。任意のノードから
、それに関連する光インターフェイスの送光部３９を介
して送られたデータ信号は、対応するハブ光インターフ
ェイスの受光部３６により受けられ、ハブＬＡＮ処理回
路３２へ供給される。ハブＬＡＮ処理回路３２は、当業
者が知っているように、残りのハブ光インターフェイス
の送光部を介してノードから受けたデータ信号を、ネッ
トワーク内の他の全てのノードへ送り返すパルス再生器
すなわち中継回路を含む。

ハブ光インターフェイス３Ｑａ〜８０ｐの受光部と送光
部、およびハブＬＡＮ処理回路３２は全体として従来の
構造のものとすることができるから、ここではそれの詳
細についての説明は省く。基本的には、各ハブ光インタ
ーフェイスの受光部は、対応する遠隔の光インターフェ
イスの送光部から送られた光信号を受ける適当な感光性
受光器と、ハブＬＡＮ処理回路へ送る対応する電気信号
を発生する適切な回路とを含む。各ハブ光インターフェ
イスの送光部は、ハブＬＡＮ処理回路からデジタルデー
タを受け、発光ダイオードを駆動して、光ファイバケー
ブルを介してネットワーク内の他のノードの遠隔の光イ
ンターフェイスの受光部へ光ファイバケーブルを介して
送るデジタル符号化された光信号を発生するために発光
ダイオードを駆動する回路を含む。適当なハブ光インタ
ーフェイス（および適当な遠隔の光インターフェイス）
の回路が、本願出願人へ譲渡された１９８６年１１月１
７日付の「オプチカル・インターフェイス（Ｏｐｔｌｃ
ａｌＩｎｔｅｒｆａｅｅ　）　Ｊという名称の未決の米
国特許出願第９３１，５７８号明細書に詳しく記載され
ている。

第２図は２タイヤ光フアイバローカルエリアネツトワー
ク３５を示す略図である。２テイアＬＡＮ３５は第２の
タイヤ光ファイバハブ４５と、１６個の第１のティア光
ファイバハブ５０ａ〜５０ｐとを有する。

各第１のティアハブ５０ａ〜５０ｐは、第１図に示され
ているのと同一の１６個の光インターフェイス３０ａ〜
３０ｐと、第１図に示されているものと同一で、ハブ光
インターフェイス３０ａ〜３０ｐへ電気的に双方向接続
される従来のハブＬＡＮ処理回路３２とを含む。各第１
のティアハブ５０ａ〜５０ｐの１８個の光インターフェ
イスは１６個の対応する遠隔の光インターフェイス５２
ａ〜５２ｐとインターフェイスする。

各第１のティアハブ５０ａ〜５０ｐの１つの光インター
フェイスは、第２のティアハブ４５の対応する光インタ
ーフェイスを持つ専用のインターフェイスを提供する。

第２のティアハブ４５は、第１のティアハブ５０ａ〜５
０ｐにおける光インターフェイスと同一光のインターフ
ェイスを１６個、３０ａ〜３０ｐ含む。各第２のティア
ハブ光インターフェイス３０ａ〜３０ｐは１つの第１の
ティアハブ５０ａ〜５０ｐを、第１のティアハブ５０ａ
〜５０ｐの対応する専用の光インターフェイスを介して
、第２のティアハブ４５にインターフェイスする。第２
のティアハブ４５は、第１図に示さ、・れているのと同
一の従来のハブＬＡＮ処理回路３２も含む。

第２図の２テイアＬＡＮ３５により２４０個所までの遠
隔のノードを一緒に結合できることがわかるであろう。

ＬＡＮのティアの数を増すか、より多くの光インターフ
ェイスを有するハブを設けることにより一層多くのノー
ドを結合できること、および本発明は特定のＬＡＮ構成
またはハブの容量に制限されるべきでないことも理解す
べきである。

当業であれば知っているように、ハブＬＡＮ処理回路３
２は、２つ以上のハブ光インターフェイスを介して信号
が同時に受けられた時に衝突を検出する衝突検出器と、
衝突が検出された時だけ、各ノードへ送られるジャミン
グ信号を発生するジャミング信号発生器とを典型的に含
む。本発明に従って、ハブＬＡＮ回路３２に通常含まれ
るジャミング信号発生器は、試験信号を取出すために用
いられる。その試験信号は、ハブが試験モードで動作し
ている時に、データ通信ネットワークにハブを組込む必
要なしにハブ光インターフェイスの送光部と受光部を試
験し、予め敷設されている光ケーブルとケーブルのネク
タを試験する手段を提供するものである。

第３図は、ハブＬＡＮ処理回路中の衝突検出器により衝
突が検出された時に、ジャミング信号を発生するのに用
いるために、従来のハブＬＡＮ処理回路に通常組込まれ
る発振器６１を示す。この発振器６Ｉはゲート６２と、
抵抗６８と、コンデンサ６４とで形成され、線ＢＢ上に
６　Ｍ　Ｈｚの信号を発生する。

その信号はカウンタＢ７により１．５　ＭＨｚの信号に
分周されてからフリップフロップ６８へ供給される。

このフリップフロップ６８は、ゲート６９で構成されて
いる遅延線とともに、クロック信号の正の遷移ごとに１
３０ｎｓ幅のパルスを発生する。それらのパルスはパル
スの連続した流れを構成し、ゲート７１ａピン９と１０
においてハブＬＡＮ処理回路３２により通常受けられて
処理されるデータの経路中に挿入される。したがって線
７２へのゲート７１の出力はパルスの連続した流れを構
成する。それらのパルスは、前記米国特許出願第９３１
．５７８号に詳しく開示されているハブ光インターフェ
イスの送光部の発光ダイオードドライバへ送られる。

第４図に示すように、ハブはハウジング１０２の中に納
められる。そのハウジングはスイッチ１０５を有し、そ
のスイッチは複数のハブ動作位置にセットできる。それ
らのハブ動作位置は、各ハブインターフェイス２８ａ〜
２８ｐから試験信号が同時に送られる第１の試験モード
と、行う試験の性質に応じたただ１つの所定のハブイン
ターフェイスから試験信号が送られる第２の試験モード
とを含む。

ある試験モードにおいては、ハブ光インターフェイスの
送光部の出力は連続するビットの流れを構成する。その
ビットの流れは、インターフェイスに接続されている光
ファイバケーブルを介して光学的に送ることができる。

第３図は、本発明のハブＩＯに組込まれている試験信号
検出器回路８０も示す。ハブがある試験モードで動作し
ている時は、ハブ光インターフェイスの受光部から来る
全てのデータはゲート８１のピン４と５を介してカウン
タ８２へ送られ、そのカウンタをクリヤする。試験信号
を発生するために用いられる発振器６１によりカウンタ
８２はクロックされる。カウンタ８２もゲート８３は、
ハブ光インターフェイスの受光部により受けられた信号
のための消失パルス検出器を構成する。受けた信号中で
失われたパルスはカウンタ８２を５カウントだけ歩進さ
せる。その歩進はゲート８４で検出され、その結果とし
てワンショット８６のためのトリガパルスが発生される
。そのトリガパルスは、バブバウシング１０２（第４図
）の前面パネル１０１に設けられている誤り指示発光ダ
イオード８７を１Ｏｈｓ間発光させて、消失したパルス
の存在を指示させ、したがって、試験されているハブの
光インターフェイスの回路に障害が生じていることを技
術者に知らせる。

本発明により、ハブを完全なデータ通信ネットワークに
組込む必要なしに、複数の試験をオフラインで効率的に
行うことができる。たとえば、ハブ光インターフェイス
の送光部または受光部を試験するために、各ハブ光イン
ターフ手イス３０ａ〜３０ｐの送光部から試験信号が送
られるように、ハブモードスイッチ１０５は第１の試験
モード位置へ動かされる。最初に、各ハブ光インターフ
ェイスの送光部の送光発光ダイオードが動作しているか
どうかを調べられる。その後で、いずれかの光インター
フェイスからの試験信号が他の任意の光インターフェイ
スの受光部へ、既知の品質の光ファイバケーブルを用い
て戻される。その戻される時の損失は許容できる値であ
る。それから、誤り指示発光ダイオード８７が発光して
いるかどうかを調べるために、その発光ダイオードが観
察される。

その発光ダイオード８７が発光しておれば、受けた試験
信号中の失われたパルスと、試験されている光インター
フェイスにおける問題とが示される。

１つの光インターフェイスの送光部から送り返えられた
試験信号を別の光インターフェイスの受光部へ順次循環
させることにより、各光インターフェイスを容易に試験
できる。

本発明のハブにより、既に敷設されている光ファイバケ
ーブルも試験できる。たとえば、既に敷設されている光
ファイバケーブルを分類するために、モード選択スイッ
チ１０５がＭ２の試験モード位置へ動かされることによ
り、試験信号は１つの光インターフェイスだけから試験
信号は送られる。

既に敷設されている各光ファイバケーブルの一端ヲ光イ
ンターフェイスへ順次取付け、どれが照明されているか
を知るためにケーブルの他端を観察することにより、・
各ケーブルを分類することは簡単なことになる。

既設の光ファイバケーブルのコネクタの極性を調べるた
めに、全ての光インターフェイスから試験信号が送られ
る第１の試験モードへスイッチ１゜５は動かされる。そ
うすると、光フアイバコネクタの正しい取付けをユーザ
ーの居る場所で視覚的に確認できる。

本発明により、２テイア装置における試験すべき下側テ
ィアハブにより開始される上側ティアハブ応答も許され
る（第２図）。この試験を行うために、試験パターンが
１つの光インターフェイスから送られる第２の試験モー
ド位置へハブモード選択スイッチ１０５は動かされる（
その１つの光インターフェイスは、下側ティアハブを上
側ティアハブへ接続するために用いられる専用の光イン
ク−フェイスである）。ハブの送光光インターフェイス
と動作している上側ティアハブの専用の光インターフェ
イスの間にケーブル接続が存在するものとすると、上側
ティアハブの残りの光インターフェイスの全ての送光発
光ダイオードがオンであることが初めに観察される。そ
の後で、送られた光が、既知の品質の光ファイバケーブ
ルを用いて、上側ティアハブの任意の自由な光インター
フェイスの間に許容できる損失で戻され、上側ティアハ
ブの各光インターフェイスを試験する。

第４図はハブ１０のハウジング１０２の前面パネル１０
１を示す。図示のように、この前面パネルは、８個のハ
ブ光インターフェイスを遠隔のノードへ接続するための
８個のボート１１５を含む。ハウジングの裏面パネルに
は別に８個のポートが設けられる。前面パネルは、種々
のハブ動作モードラ指示するための４個の発光ダイオー
ドｉｌｌ　、１１２．１１３．８７も含む。第１の試験
モードで動作している時は、発光ダイオード１１１と１
１３は連続発光する。受けた試験信号中に失われたパル
スが検出されノ時だけ発光ダイオード８７が発光する。

第２の試験モードで動作している時は、発光ダイオード
１１１　、１１２．１１３が常時発光し、試験信号中の
消失したパルスが検出された時だけ発光ダイオード８７
が発光する。このようにして、ハブが動作しているモー
ドと、行われる試験の結果とを技術者は常に完全に知ら
される。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図は本発明の理解を助けるための１テ
イア光フアイバローカルエリアネツトワークと２テイア
光フアイバローカルエリアネツトワークをそれぞれ示す
ブロック図、第３Ａ図および第３６図は本発明の好適な
実施例による光ファイバハブの試験信号源と試験信号検
出器をそれぞれ示す電気回路図、第４図は本発明の光フ
ァイバハブのハウジングの正面図である。 １０・・・光　フ　ァ　イ　バ　ハ　ブ２５・・・パー
ソナルコンピュータ ２７・・・ローカルエリアネットワーク制御器２８ａ〜
２８ｐ・・・遠隔の光インターフェイス３０ａ〜３０ｐ
・・・光インターフェイス３２・・・ハブ処理回路 ３６・・・受　　光　　部 ３７・・・送　　光　　部 ６１・・・試験信号源 ８０・・・試験信号検出器

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）受光部（３６）と送光部（３７）をおのおの含む複
   数の光インターフェイス（３０ａ〜３０ｐ）と、受光部
   （３６）により受けられたデータ信号を処理し、処理さ
   れた該データ信号を送光部（３７）で送るために該処理
   されたデータ信号を送光部（３７）へ供給するため前記
   複数の光インターフェイス（３０ａ〜３０ｐ）へ電気的
   に接続されるハブ処理回路とを備えるデータ通信ネット
   ワーク用の光ファイバハブにおいて、 前記ハブ（１０）は少くとも１つの光インターフェイス
   光インターフェイス（３０ａ〜３０ｐ）の送光部（３７
   ）から送る試験信号を発生する試験信号源（６１）と、
   光インターフェイス（３０ａ〜３０ｐ）の受光部（３６
   ）により受けられた送られた試験信号を検出する試験信
   号検出器（８０）とを含み、その試験信号検出器（８０
   ）は、前記受けられた試験信号が前記送られた試験信号
   と異なる時を検出する手段を含むことを特徴とするデー
   タ通信ネットワーク用の光ファイバハブ。 ２）前記試験信号源（６１）はパルスの連続した流れを
   発生する手段（６１）を備え、前記試験信号検出器（８
   ０）は前記受けたパルスの連続した流れを検出し、見逃
   されたパルスが検出された時に誤り指示信号を発生する
   手段（８０）を備えることを特徴とする請求項１記載の
   光ファイバハブ。 ３）前記ハブ（１０）は、見逃されたパルスが前記試験
   信号検出器（８０）により検出された時に前記誤り指示
   信号により照明される誤り指示発光ダイオードを更に含
   むことを特徴とする請求項２記載の光ファイバハブ。 ４）前記ハブ（１０）は、２つ以上の前記複数のハブ光
   インターフェイス（３０ａ〜３０ｐ）の受光部（３６）
   によりデータ信号が同時に受けられた時にジャミング信
   号を発生するジャミング信号発生器を含み、前記試験信
   号源（６１）は前記ジャミング信号発生器へ結合されて
   、前記ジャミング信号発生器により発生された信号から
   前記試験信号を取出す手段を含むことを特徴とする請求
   項１記載の光ファイバハブ。 ５）前記ハブ（１０）は各前記複数の光インターフェイ
   ス（３０ａ〜３０ｐ）から前記試験信号を同時に送る第
   １の試験モードと、１つの光インターフェイス（３０ａ
   〜３０ｐ）から前記試験信号を送る第２の試験モードと
   を含むことを特徴とする請求項１記載の光ファイバハブ
   。 ６）受光部（３６）と送光部（３７）をおのおの含む複
   数の光インターフェイス（３０ａ〜３０ｐ）と、光イン
   ターフェイス（３０ａ〜３０ｐ）の受光部（３６）によ
   り受けられたデータ信号を処理し、処理されたデータ信
   号を送るために光インターフェイス（３０ａ〜３０ｐ）
   の送光部（３７）へ処理されたデータ信号を供給するた
   めに前記複数の光インターフェイス（３０ａ〜３０ｐ）
   へ接続されるハブ処理回路（３２）とを備え、前記ハブ
   処理回路（３２）は２つ以上の前記複数のハブ光インタ
   ーフェイス（３０ａ〜３０ｐ）の受光部（３６）により
   データ信号が同時に受けられた時にジャミング信号を発
   生するジャミング信号発生器を更に含む、（１５、３５
   ）用の光ファイバハブにおいて、 前記光インターフェイス（３０ａ〜３０ｐ）の前記送光
   部（３７）から送る試験信号を発生する試験信号源（６
   １）であって、ジャミング信号から取出す試験信号を発
   生するために前記ジャミング信号発生器へ接続される試
   験信号源（６１）各前記複数の光インターフェイス（３
   ０ａ〜３０ｐ）の受光部（３６）にへ接続され、前記受
   光部（３６）の任意の１つより受けられた送られた試験
   信号を検出し、前記受けられた試験信号が前記送られた
   試験信号と異なる時に誤り指示信号発生する試験信号検
   出器（８０）と、前記誤り指示信号に応答して、受けた
   試験信号が送られた試験信号と異なる時に指示する誤り
   指示器（８７）とを備えることを特徴とするローカルエ
   リアネットワークの光ファイバハブ。 ７）前記試験信号はパルスの連続した流れを備え、前記
   試験信号検出器（８０）は前記受けた試験信号中の失わ
   れたパルスを検出し、失われたパルスが検出された時に
   誤り指示信号を発生する手段（８０）を含むことを特徴
   とする請求項６記載の光ファイバハブ。 ８）送光部（３７）と受光部（３６）と、ハブ処理回路
   （３２）とをおのおの含む複数の光インターフェイス（
   ３０ａ〜３０ｐ）を有する光ファイバハブ（１０）を試
   験する方法において、前記光インターフェイス（３０ａ
   〜３０ｐ）の前記送光部（３７）の少くとも１つから送
   られる試験信号を供給する過程と、前記少くとも１つの
   光インターフェイス（３０ａ〜３０ｐ）の１つの走行部
   （３７）から光ファイバケーブルを前記光インターフェ
   イス（３０ａ〜３０ｐ）のうちの別の光ファイバインタ
   ーフェイスの受光部へ接続する過程と、前記受けられた
   試験信号が前記送られた試験信号と異なる時に誤り指示
   信号を発生して、前記試験された光インターフェイス（
   ３０ａ〜３０ｐ）中の障害を示すことを特徴とする光フ
   ァイバハブ（１０）を試験する方法。 ９）試験信号を供給する前記過程は、前記ハブ処理回路
   中のジャミング信号発生器により通常発生されたジャミ
   ング信号から前記試験信号を取出す過程を備えることを
   特徴とする請求項９記載の方法。 １０）試験信号を供給する前記過程は、各前記複数の光
   インターフェイス（３０ａ〜３０ｐ）の送光部（３７）
   から同時に送られる試験信号を供給する過程を備えるこ
   とを特徴とする請求項９記載の光ファイバハブ。