JPH01159982A - 集積回路ソケット - Google Patents

集積回路ソケット

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JPH01159982A
JPH01159982A JP31654187A JP31654187A JPH01159982A JP H01159982 A JPH01159982 A JP H01159982A JP 31654187 A JP31654187 A JP 31654187A JP 31654187 A JP31654187 A JP 31654187A JP H01159982 A JPH01159982 A JP H01159982A
Authority
JP
Japan
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coaxial
socket
pins
integrated circuit
coaxial connectors
Prior art date
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Pending
Application number
JP31654187A
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English (en)
Inventor
Osamu Toyama
修 遠山
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、集積回路ソケットに関し、特にそのピノの形
状に関する。
[従来の技術] 従来、この種の集積回路ソケット6は、第3図に示すよ
うに基板7に実装するために、そのピン6aの形状を基
板7のスルーホール7aに対応して細長いピン状として
いた。
[発明が解決しようとする問題点コ しかしながら、従来の集積回路ソケット6は、上述した
ように基板7に実装することだけを目的として細長いピ
ン状となっているので、デバイス試験用として使用する
場合、−旦基板7へ接続して、そこから試験装置9へ配
、118を使って接続しなければならず、そのためデバ
イスの種類ごとに集積回路ソケット6の載った基板7を
作成しなければならないこととなり、その作成に時間と
手間がかかっていた。
また、近年ICのスピードは数nS〜数百nSと高速に
なり、この接続ケーブルも同軸が主流となってきており
、通常の配線8ではこれに対処できなくなってきている
[問題点を解決するための手段] 本発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので、集積回
路のソケットにおいて、そのピンの一部又は全部を、試
験装置に接続された同軸ケーブルを接続可能な同軸コネ
クタとしたことにより、試験装置からの同軸ケーブルを
同軸コネクタと簡単に接続することができ、多種のテハ
イスに対し単一のソケットて対応てきるといったもので
ある。
[実施例] 次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図(a) 、 (b) 、 (C)は本発明の一実
施例の正面図、側面図及び平面図である。
本発明集積回路ソケットは、ソケット本体1、ICの人
出力を他へ出力するための複数の同軸コネクタ2、IC
のピンを嵌入接続するビンコンタクト部3とからなる。
上記同軸コネクタ2は、ソケット本体1の下面に複数段
けられ、通常のICソケットに設けられた基板実装用の
ピンの代りに設けられるものである。そしてこれらの同
軸コネクタ2は、上記ピンコンタクト部3に対応してお
り、ピンコンタクト部3にICのピンを挿入すれば、同
軸コネクタ2からICの測定が可能となる。
第2図は本発明の集積回路ソケットを用いたICの試験
例を示す図である。
図中、9はテスタ基板であり、接続されるICの測定試
験を行うものである。このテスタ基板9には、ソケット
本体1に設けた同軸コネクタ2と同型のコネクタ5が設
けである。
10は同軸ケーブルでその一端は上記ソケット本体1の
任意の同軸コネクタ2に、もう一端はテスト基板9のコ
ネクタ5に接続され、ICと試験装置であるテスタ基板
1とを接続する。なお、同軸ケーブル10の長さは、一
定に定められ、IC測定語、その長さを考慮して測定値
の補正が行われる。
このようにして、ICのピンから特定出力の試験が行わ
れるが、ICの他のピンを他のテスタ基板9て試験する
場合には、同軸ケーブル10を同軸コネクタ2及びコネ
クタ5から外し、他の同軸コネクタ2、他のテスタ基板
9に嵌合接続すればよい。
本実施例では、ICソケットのピン全てを同軸コネクタ
2としたが、一部を同軸コネクタ2にしなくても良い。
例えば電源、GND用のピン等は同軸コネクタ2とする
必要がなく、またコンデンサを接続する場合も通常のピ
ンの方が便利である。
「発明の効果」 以上説明したように本発明は、ピンの一部又は全部を同
軸コネクタとして同軸ケーブルで試験装置等との接続を
可能としたことにより、異なる品種のICを測定する場
合、従来は品種ごとに測定治具か必要であったのに対し
、単に同軸ケーブルの接続を変更するたりの作業でIC
の測定が行え、測定治具の数を減すことかでき、テスト
する為の治具作成工数、管理等を軽減できる効果があ
【図面の簡単な説明】
第1図(a) 、 (b) 、 (c)は本発明の集積
回路ソケ・ントの実施例の正面図、側面図及び平面図、
第2図は本発明の集積回路ソケットを用いたICの試験
例を示す図、第3図は従来例を示す図である。 1:ソケット本体 2:同軸コネクタ 3:ピンコンタクト部 5:同軸コネクタ 9:テスタ基板 10:同軸ケーブル

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 集積回路のソケットにおいて、そのピンの一部又は全部
    を、試験装置に接続された同軸ケーブルを接続可能な同
    軸コネクタとしたことを特徴とする集積回路ソケット。
JP31654187A 1987-12-15 1987-12-15 集積回路ソケット Pending JPH01159982A (ja)

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