JPH01162133A - 検出器用洗浄器 - Google Patents

検出器用洗浄器

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JPH01162133A
JPH01162133A JP62320317A JP32031787A JPH01162133A JP H01162133 A JPH01162133 A JP H01162133A JP 62320317 A JP62320317 A JP 62320317A JP 32031787 A JP32031787 A JP 32031787A JP H01162133 A JPH01162133 A JP H01162133A
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JP
Japan
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cylinder
brush
sludge
karman
vortex
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JP62320317A
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English (en)
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JPH0814532B2 (ja
Inventor
Shotaro Urushibara
漆原 正太郎
Seiichi Kamata
鎌田 誠一
Akira Kumada
熊田 章
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Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 A、産業上の利用分野 本発明は、下水処理場などにおいて下水の汚濁濃度を測
定する際、その検出面の洗浄に用いる洗浄器に関するも
のである。
B0発明の概要 本発明は、流体の搬送管路に設置された検出器の検出面
をブラッシングする洗浄器において。
流体の搬送管路内にカルマン渦による変動揚力で感動す
る物体を設げ、この物体の振動力を前記検出面のブラッ
シング振動力とすることにより。
管路内部の力で検出面をブラッシングして常時良好な検
出精度を得るようにしたものである。
C1従来の技術 下水処理、特に活性汚泥法による下水処理では、汚泥の
管理は重要である。下水中の有機物はエアレーションタ
ンク内で活性汚泥中の微生物と反応するが、その有犠物
の一部は、微生物に取り込まrL、汚泥の増加を生じる
。汚泥と上澄水は次段の最終沈殿池で分離さnる。沈殿
した汚泥は余剰汚泥として引き抜き、濃縮、消化、脱水
、焼却などの処理、処分を行う。下水の汚泥処理の過程
では、返送汚泥、余剰汚泥の量を制御することは非常に
重要であり、その流量、濃度を測定する必要がある。
汚泥の処理は、各下水処理場で行う場合と、複数の下水
処理場で発生する汚泥を集中して処理する場合がある。
最近では、用地、環境、動車などの問題から後者の集中
汚泥処理システムが増加している。
従って、管路における汚泥濃度測定の必要性が増加して
いる。このような管路における汚泥濃度の測定には、超
音波方式と光散乱方式が一般に使用さnている。
超音波方式は、汚泥による超音波の減衰量が汚泥濃度と
関係のあることを利用する。超音波は気泡によって反射
、減衰されるため、気泡があると濃度測定に支障が生じ
るが、汚泥槽に貯留されている汚泥、あるいは搬送さn
ている汚泥中には気泡が混入したり、内部で発生するこ
とがあり、この気泡の影響を除く手段が講じられる。例
えば気泡の浸入した検水を加圧して気泡を液体中に溶は
込ませた後、超音波の減衰量を測定する方法が用いられ
る。この方法は、装置が大炎りになるばかりでなく、加
圧のために長時間を要するので、連続測定ができない、
などの問題がある。
このため、光散乱を利用した濃度測定方法が採用さnる
。その構成例を第7図に示す、第7図において、11は
発光素子、12及び13は受光素子で、各素子11−1
3は前面を検出ガラス窓14Aとする容器14内に配設
されている。15は前記発光素子11に電流を供給する
発光回路。
16及び17は前記受光素子12.13に接続された前
置増幅器、18は両増龜器16,17から信号を受けて
所要の演算を行う演算回路、19は出力回路である。
前記発光素子11の発光光線はガラス窓14kを通して
汚泥中に放射される。汚泥による散乱光は受光素子16
.17に入射し電気信号に変換さnる。この後、演算回
路18で演算が行わn、出力回路19から測定濃度とし
て出力さnる。20は変換器部である。
この光散乱方式では、ガラス面近くの汚泥のみを測定す
るので、全体的に気泡が混入していても、比較的その形
容が少なく、連続測定が可能であって、処理場内の返送
汚泥、余剰汚泥のインライン監視、汚泥集中処理システ
ムにおける測定に適している。
D0発明が解決しようとする問題点 しかし、第8図のように汚泥管路lに検出852を取付
けると、その検出面(ガラス)に汚nが付着し、検出誤
差を生じることがある。これは、第9図のように管路l
内の流速分布が管壁部分で流速の遅い部分があり(第9
図は層流X、及び乱流X、の場合の円管内の流速分布を
示しているJ )。
流速の小さい部分では汚泥中の粘着物が一度付着てると
、流n去ることなく汚nとして定着してしまうためであ
る。汚れ付着の初期はスライム(slime )状で、
極軽くこするだけで除去できるが、長期間そのままにし
ておくと、固着し、スケールとなることがある。このス
ケールの除去は甚だ困難となる。
E1問題点を解決するだめの手段 本発明は、流体の搬送管路に設置された検出器の検出面
をブラッシングする洗浄器において、流体の搬送管路内
にカルマン渦による変動揚力で振動てる物体を設け、こ
の物体の振動力を前記検出面のブラッシング振動力とし
たことを特徴とするものであるっ 乙作用 流体中の物体の下流側にカルマン渦が生じ、この渦によ
る変動揚力が物体に作用する。この変動揚力がブラシの
振動力となり、検出面がブラッシングされるつ即ち、検
出面への汚れの付着が防止さTL、常に良好な検出精度
で検出が行わnる。
G、実施例 以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
第1図及び第2図は本発明の一笑施例を示すもので、下
水を送る管路lに設置された検出部2の上流側にカルマ
ン渦発生用の円柱3を流ル(矢印mx)と直角となるよ
うに配設し、その片端を支持軸3aに揺動自在に支持し
ている5円柱3の他端(自由端)には前記検出部2の検
出面をブラッシングするブラシ4を支持している。また
、この円柱3の動く範囲を規制するストッパー5を前記
管路lの内面に設けている。
次に、動作について述べる。管路l内を下水が矢印m、
方向(第1図)に流速Vで流nると、円柱3の下流側に
カルマン渦が生じ1円柱3に変動揚力が生じる。この結
果、円柱3が振動し、その先端のブラシ4により検出部
2の検出面がブラッシングさnl。
ここで、カルマン渦による変動揚力について説明する。
第3図に示すように−様な流速■の流体中に直径dの円
柱Aを流れと直角に置いた場合、円柱Aは流n方向に力
り、流n及び円柱に直角な方向に力りを受けるっ 円柱の流n方向の抵抗係数をcd(=D/LρV’d 
)とすると、こnとレイノルズ数Re (= v a/
p )との関係は第4図となることが実験的に得島nで
いる。
但し、D Gi単位長さ当りの円柱の抵抗、ρは流体の
密度、νは動粘性係数である。
3<R8<70の場合は円柱の後方に一対の渦を生じる
。Ro>70〜80となると1円柱後方には互い違いに
配置された渦列(カルマン渦列)l生じるoF4の放出
周期をf (S−’ )とすると、5=f−φで表わさ
nる。Sはストロハル数で、レイノルズ数Reとは第5
図の関係にある。
このカルマン渦が生じている時には流nと直角の方向の
力(変動揚力L)を生じる。この揚力りを の形で表わした時、 CLは水理公式集によれば、50
くR8く150では 300 <R6< 2000では で表わさnる。
第1図及び第2図に示す実施例は、上述のカルマン渦に
よる変動揚力をブラシ4の振動力として利用したもので
あり、管路lの強度を弱めることなく振動力が得られる
第6図は本発明の他の実施例を示すもので1円柱3の自
由端にブラシ4の柄と係合する5al11を設ける一方
1円柱3より上流に支点6をするようにブラシ4を設け
、ブラシ4の柄を#all)に係合させてブラシ4を掘
割させるようにしているうこの場合も、カルマン渦によ
る変動揚力をブラッシングの振動力として利用している
なお、検出面をブラッシングしている時は検出信号が異
常になるが、その時の検出出力を変換器部で信号処理丁
nば、濃度計の出力としては影響を受けなくなる。また
、実施例では散乱光式濃度計としたが、汚れの付着を防
ぐ必要のある検出器に適用できるものであり、その流体
(検水)も汚泥に限らない。更に、カルマン渦による変
動揚力を得る物体は円柱に限定さnるものでなく、他の
形状でもよい。
H1発明の効果 以上のように本発明によnば、検水が流動する管路内に
流れと直交するカルマン渦発生用の物体りその一端が枢
支点となるように配設し、この物体の変動揚力による柵
動を検出面のブラッシング振動力とするようにしたので
、管路内で、振動力を得ることができるようになり、検
出面の汚れを確笑に掃除することができ、常時良好な検
出感度を維持できる。また、振動力を内部で得るので、
管路貫通などによる構造変形が不要となり、内部が高圧
であっても、その構造、組立てが簡単になろといった利
点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明に係る検出器用洗浄器の一実
施例を示す断面図、第3図〜第5図はカルマン渦による
変動揚力を説明するための断面図及び特性図、第6図は
本発明の他の実施例を示す断面図、第7図は光散乱方式
の濃度計の回路槽底を示すブロック図、第8図は同濃度
計の検出部の配置例を示す説明図、第9図は下水管路内
の流速分布図である。 l・・・管路、2・・・検出部、3・・・円柱、3b・
・・溝、4・・・ブラシ、5・・・ストッパー。 第6図 1ム 第7図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)流体の搬送管路内に設置された検出器の検出面を
    ブラッシングする洗浄器において、 流体の搬送管路内にカルマン渦による変動揚力で振動す
    る物体を設け、この物体の振動力を前記検出面のブラッ
    シング駆動としたことを特徴とする検出器用洗浄器。
JP62320317A 1987-12-18 1987-12-18 検出器用洗浄器 Expired - Lifetime JPH0814532B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62320317A JPH0814532B2 (ja) 1987-12-18 1987-12-18 検出器用洗浄器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62320317A JPH0814532B2 (ja) 1987-12-18 1987-12-18 検出器用洗浄器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01162133A true JPH01162133A (ja) 1989-06-26
JPH0814532B2 JPH0814532B2 (ja) 1996-02-14

Family

ID=18120137

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JP62320317A Expired - Lifetime JPH0814532B2 (ja) 1987-12-18 1987-12-18 検出器用洗浄器

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56107559U (ja) * 1980-01-19 1981-08-21
JPS6187348U (ja) * 1984-11-13 1986-06-07

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56107559U (ja) * 1980-01-19 1981-08-21
JPS6187348U (ja) * 1984-11-13 1986-06-07

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JPH0814532B2 (ja) 1996-02-14

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