JPH01162180A - 磁界の映像化法 - Google Patents
磁界の映像化法Info
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- JPH01162180A JPH01162180A JP32107687A JP32107687A JPH01162180A JP H01162180 A JPH01162180 A JP H01162180A JP 32107687 A JP32107687 A JP 32107687A JP 32107687 A JP32107687 A JP 32107687A JP H01162180 A JPH01162180 A JP H01162180A
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- coil
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
本発明は磁界の磁束分布の映像化法に関し、簡易な構成
にて磁束の状態で映像化できる手法を提供することを目
的とし、 磁界発生源、該磁界発生源の磁界領域中に配置される線
状導体およびコイル、該線状導体およびコイルに誘起さ
れる前記磁界の磁束分布による電磁誘導電圧を検出する
電圧検出手段を具備し、映像化しようとする断面内に前
記線状導体と、該断面に垂直に前記コイルを配置し、該
線状導体とコイルを該断面に沿って移動させながら前記
電圧検出手段にて前記電磁誘導電圧を逐次検出し、該検
出値にコンピュータ断層映像手法(ComputedT
omography:以下 CT”と略す)を適用して
、前記線状導体によりZ軸方向の磁束密度分布を、前記
コイルによりX軸およびY軸方向の磁束密度分布を求め
磁界の空間分布をベクトル的に映像化する構成とする。
にて磁束の状態で映像化できる手法を提供することを目
的とし、 磁界発生源、該磁界発生源の磁界領域中に配置される線
状導体およびコイル、該線状導体およびコイルに誘起さ
れる前記磁界の磁束分布による電磁誘導電圧を検出する
電圧検出手段を具備し、映像化しようとする断面内に前
記線状導体と、該断面に垂直に前記コイルを配置し、該
線状導体とコイルを該断面に沿って移動させながら前記
電圧検出手段にて前記電磁誘導電圧を逐次検出し、該検
出値にコンピュータ断層映像手法(ComputedT
omography:以下 CT”と略す)を適用して
、前記線状導体によりZ軸方向の磁束密度分布を、前記
コイルによりX軸およびY軸方向の磁束密度分布を求め
磁界の空間分布をベクトル的に映像化する構成とする。
本発明は、磁石、磁気テープ、磁気ヘッド、磁気ディス
ク、磁気メモリ、モータ等の磁気現象を利用した磁気部
分における磁界の映像法に関し、該映像法で該磁気部分
の空間的な磁束分布を映像化することにより、該磁気部
分の磁化状態や品質の目視検査を可能とするものである
。
ク、磁気メモリ、モータ等の磁気現象を利用した磁気部
分における磁界の映像法に関し、該映像法で該磁気部分
の空間的な磁束分布を映像化することにより、該磁気部
分の磁化状態や品質の目視検査を可能とするものである
。
磁気現象は、古くは電動機や発電機、そして近年は各種
磁気記憶媒体やそれらの記録と読み取りのための磁気ヘ
ッド、また最近ではNMR−CT等、社会において非常
に幅広い応用分野を持っている。この磁界というものは
目に見えないため、それがどのようになっているのかを
把握することは、磁気を応用した機器等の設計、開発に
おいて非常に有効である。従来、その測定のためには特
殊なセンサー類を必要とした。ところが、このようなセ
ンサーは、磁界を一点でしか測定できず、本来、“場”
として空間に存在する磁界を測定するためには、非常な
手間と時間を要する。
磁気記憶媒体やそれらの記録と読み取りのための磁気ヘ
ッド、また最近ではNMR−CT等、社会において非常
に幅広い応用分野を持っている。この磁界というものは
目に見えないため、それがどのようになっているのかを
把握することは、磁気を応用した機器等の設計、開発に
おいて非常に有効である。従来、その測定のためには特
殊なセンサー類を必要とした。ところが、このようなセ
ンサーは、磁界を一点でしか測定できず、本来、“場”
として空間に存在する磁界を測定するためには、非常な
手間と時間を要する。
一方本願出願人はこれまでに、電磁誘導現象に07手法
を適用することによって磁界を映像化するための新たな
手法を提案した。(特願昭62−102856号)この
手法では、導線が磁界中を定速で移動するときに、電磁
誘導の法則に従って導線に生じる電圧が、その導線に沿
った磁束密度の線積分値に比例するということに着目し
、その電圧を07手法における投影データとして磁界を
映像化するというものである。
を適用することによって磁界を映像化するための新たな
手法を提案した。(特願昭62−102856号)この
手法では、導線が磁界中を定速で移動するときに、電磁
誘導の法則に従って導線に生じる電圧が、その導線に沿
った磁束密度の線積分値に比例するということに着目し
、その電圧を07手法における投影データとして磁界を
映像化するというものである。
しかし、前記提案の磁界の映像化法によると、測定面に
垂直な磁束密度成分のみが映像化可能であり、本来ベク
トル量である磁界を完全に把握できる方法ではなかった
。
垂直な磁束密度成分のみが映像化可能であり、本来ベク
トル量である磁界を完全に把握できる方法ではなかった
。
本発明は上記の問題点を解決し、磁界の空間分布をベク
トル的に再構成する手法を提供することを目的としてお
り、この目的は磁界発生源、該磁界発生源の磁界領域中
に配置される線状導体およびコイル、該線状導体および
コイルに誘起される前記磁界の磁束分布による電磁誘導
電圧を検出する電圧検出手段を具備し、 映像化しようとする断面内に前記線状導体と、該断面に
垂直に前記コイルを配置し、該線状導体とコイルを該断
面に沿って移動させながら前記電圧検出手段にて前記電
磁誘導電圧を逐次検出し、該検出値にコンピュータ断層
映像手法を適用して、前記線状導体によってZ軸方向の
磁束密度分布を、前記コイルによりX軸およびY軸方向
の磁束密度分布を求め磁界の空間分布をベクトル的に映
像化することを特徴とする磁界の映像化法により達成さ
れる。
トル的に再構成する手法を提供することを目的としてお
り、この目的は磁界発生源、該磁界発生源の磁界領域中
に配置される線状導体およびコイル、該線状導体および
コイルに誘起される前記磁界の磁束分布による電磁誘導
電圧を検出する電圧検出手段を具備し、 映像化しようとする断面内に前記線状導体と、該断面に
垂直に前記コイルを配置し、該線状導体とコイルを該断
面に沿って移動させながら前記電圧検出手段にて前記電
磁誘導電圧を逐次検出し、該検出値にコンピュータ断層
映像手法を適用して、前記線状導体によってZ軸方向の
磁束密度分布を、前記コイルによりX軸およびY軸方向
の磁束密度分布を求め磁界の空間分布をベクトル的に映
像化することを特徴とする磁界の映像化法により達成さ
れる。
次に本発明の方法による作用を第1図〜第5図を用いて
、その原理を説明する。
、その原理を説明する。
07手法とは、空間に分布している物理量の線積分値(
これを投影データと呼ぶ)がいろいろな方向に渡って得
られる場合、演算処理の施された投影データから、この
データを収集した平面内における物理量分布を再構成す
るというものである。
これを投影データと呼ぶ)がいろいろな方向に渡って得
られる場合、演算処理の施された投影データから、この
データを収集した平面内における物理量分布を再構成す
るというものである。
第1図のように、未知なる物理量分布A (x。
y)がxy平面内に存在している場合について考える。
このとき、x−y座標と確度θをなすS−1座標を考え
、物理量分布A (X、Y)の1軸に沿った線積分値P
(s、 θ)を投影データと呼ぶ。
、物理量分布A (X、Y)の1軸に沿った線積分値P
(s、 θ)を投影データと呼ぶ。
即ち、この投影データは次式のように表される。
P (s、 θ) =J’A (X、 )’) d
1. (2−1)この投影データを多方向から測
定(いろいろなθにおいて測定)し、これらの投影デー
タ群に演算処理(CTアルゴリズム)を施すことにより
、もとの物理量分布A (x、 y)を再構成するこ
とができる。この様に、投影データから物理量分布を再
構成する方法のことを一般に07手法と呼ぶ。
1. (2−1)この投影データを多方向から測
定(いろいろなθにおいて測定)し、これらの投影デー
タ群に演算処理(CTアルゴリズム)を施すことにより
、もとの物理量分布A (x、 y)を再構成するこ
とができる。この様に、投影データから物理量分布を再
構成する方法のことを一般に07手法と呼ぶ。
対象とする物理量分布に関する投影データを得ることが
できれば、この07手法を適用することが可能となる。
できれば、この07手法を適用することが可能となる。
そこで、本来ベクトル量である磁界分布の映像化は、磁
界(磁束密度)ベクトルの各成分の分布に関する投影デ
ータを得ることにより可能となる。対象とする磁束密度
分布をB (x。
界(磁束密度)ベクトルの各成分の分布に関する投影デ
ータを得ることにより可能となる。対象とする磁束密度
分布をB (x。
y)とすると、C7手法を用いてこれを再構成するため
に必要な投影データは次式のように表することができる
。
に必要な投影データは次式のように表することができる
。
Px (x+ θ)=fBx (x、 y)di。
P y (x + θ)−JBy (x、y)d
i。
i。
Pz(x、 θ)−JBz (x、 y)di。
従って、これら3つの成分に関する投影データを測定し
、各々にCTアルゴリズムを適用することにより、各成
分の分布に関する再構成画像を得ることができる。
、各々にCTアルゴリズムを適用することにより、各成
分の分布に関する再構成画像を得ることができる。
この各成分に関する投影データの測定法について以下に
述べる。
述べる。
a、 z成分に関する投影データの測定法第2図のよ
うに磁石2による磁束密度Bの磁界中を一本の直線状導
体1が速度Vで移動しているとき、この導線の内部には
フレミングの右手の法則に従って次式に示すような電界
Eが生じる。
うに磁石2による磁束密度Bの磁界中を一本の直線状導
体1が速度Vで移動しているとき、この導線の内部には
フレミングの右手の法則に従って次式に示すような電界
Eが生じる。
E = v x e 、(2−3)
この電界により、導線1の両端には電圧が生じるが、銅
線の方向に1軸をとるとこの電圧は次式のように表され
る。
線の方向に1軸をとるとこの電圧は次式のように表され
る。
y −−j” (vXB) 、 d 1.
(2−4)このとき、この導線がxy平面内を一定
速度V。
(2−4)このとき、この導線がxy平面内を一定
速度V。
で移動するものとすると、(2−4)式は次のように書
き直すことができる。
き直すことができる。
V −−v、 、5’B z d 1.
(2−5)以上に示すように、磁界中を定速で移動
する導線の両端に生じる電圧は、磁束密度の2成分Bz
を導線に沿って線積分した値に比例する。従って、この
電圧を導線の移動にともなって測定してゆけば、一方向
におけるB z (x+ y)の投影データを得る
ことが可能となる。そこで、導線の移動方向Sを磁界に
対してさまざまな方向に取りこの電圧を測定すれば、あ
らゆる投影角における投影データが得られ、これにCT
アルゴリズムを適用することによりBz (x+ y
)を再構成することが可能となるのである。
(2−5)以上に示すように、磁界中を定速で移動
する導線の両端に生じる電圧は、磁束密度の2成分Bz
を導線に沿って線積分した値に比例する。従って、この
電圧を導線の移動にともなって測定してゆけば、一方向
におけるB z (x+ y)の投影データを得る
ことが可能となる。そこで、導線の移動方向Sを磁界に
対してさまざまな方向に取りこの電圧を測定すれば、あ
らゆる投影角における投影データが得られ、これにCT
アルゴリズムを適用することによりBz (x+ y
)を再構成することが可能となるのである。
b、x、y成分に関する投影データの測定法投影データ
を測定する場合、x−y座標とθの角度をなすs−1座
標を基準とする。前項に示した2成分の投影データの測
定では、z軸とs、 1軸との角度が投影角θに関係
なく常に垂直であるため、あらゆる投影角θにおいて、
同じ測定を繰り返すだけでBzに関する投影データを得
ることが可能である。これに対し、x、y軸とs、1軸
との角度は投影角θによって異なってくるので、あらゆ
る投影角θにおいて同じ測定を繰り返すことによりBx
、Byに関する投影データを得ることはできない。そこ
で第3図に示すように磁束密度のS成分、1成分を考え
、これらに関する線積分値、5”Bsdl、J’Bt
dlを測定し、この値からBx、Byに関する投影デー
タを次式から求める。
を測定する場合、x−y座標とθの角度をなすs−1座
標を基準とする。前項に示した2成分の投影データの測
定では、z軸とs、 1軸との角度が投影角θに関係
なく常に垂直であるため、あらゆる投影角θにおいて、
同じ測定を繰り返すだけでBzに関する投影データを得
ることが可能である。これに対し、x、y軸とs、1軸
との角度は投影角θによって異なってくるので、あらゆ
る投影角θにおいて同じ測定を繰り返すことによりBx
、Byに関する投影データを得ることはできない。そこ
で第3図に示すように磁束密度のS成分、1成分を考え
、これらに関する線積分値、5”Bsdl、J’Bt
dlを測定し、この値からBx、Byに関する投影デー
タを次式から求める。
j”Bx (x、y)dl=
cosθJ”Bsdl+stnθ、5’BL di。
SBy (x、y)di −
5inθ、5’Bsdl+cosθ、5’BLdl。
このようにして測定すれば、各投影毎に同様な測定を繰
り返すことにより全投影データを得ることが可能となる
。
り返すことにより全投影データを得ることが可能となる
。
BsO線積分値、すなわち積分路の方向に垂直な磁束密
度成分の線積分値は、次に示すような原理に基すいて測
定することができる。
度成分の線積分値は、次に示すような原理に基すいて測
定することができる。
第4図に示すように、S軸と垂直な面を持つ長方形のコ
イル3を考える。このコイル3を測定平面内においてS
軸方向に一定速度V、で移動させると、このコイルには
、電磁誘導の法則に従って、次式に示すような電圧Vが
生じる。
イル3を考える。このコイル3を測定平面内においてS
軸方向に一定速度V、で移動させると、このコイルには
、電磁誘導の法則に従って、次式に示すような電圧Vが
生じる。
V=−dΦ/dt、 (2−7)
このときΦはコイル3に鎖交する磁束であるから、Bs
をコイルの面内で面積分した値となる。いま、コイルの
高さhが非常に小さく、コイル内で高さ方向には均一な
磁束密度となるものと考えると、磁束Φは次式のように
表すことができる。
このときΦはコイル3に鎖交する磁束であるから、Bs
をコイルの面内で面積分した値となる。いま、コイルの
高さhが非常に小さく、コイル内で高さ方向には均一な
磁束密度となるものと考えると、磁束Φは次式のように
表すことができる。
Φ=hJ″B S a 1 、
(2−8)ここで、v、wds/dt、であることに注
意して(2−7)式に(2−8)式を代入すると(2−
7)式は次のように変形することができる。
(2−8)ここで、v、wds/dt、であることに注
意して(2−7)式に(2−8)式を代入すると(2−
7)式は次のように変形することができる。
v=−hv、d/dssBsd1. (2−9)
ル3に生じる電圧は、磁束密度の3方向酸分Bsの線積
分値を微分した値に比例する。そこで、このコイルの移
動にともなってこれに生じる電圧を測定し、この電圧を
積分してゆくことにより、BSの1軸に沿った線積分値
が得られることになる。
ル3に生じる電圧は、磁束密度の3方向酸分Bsの線積
分値を微分した値に比例する。そこで、このコイルの移
動にともなってこれに生じる電圧を測定し、この電圧を
積分してゆくことにより、BSの1軸に沿った線積分値
が得られることになる。
一方、B、の線積分値、すなわち積分路の方向に平行な
磁束密度成分の線積分値については、以下に示す近似に
より、常に零と見なすことが可能となる。
磁束密度成分の線積分値については、以下に示す近似に
より、常に零と見なすことが可能となる。
Maxwe 11の方程式によると(2−10)式が成
り立つ。
り立つ。
r o tl(=i+d[)/d t、
(2−10)ここで対象としている場は、定常的な
場であり、電流は存在しない、そこで、(2−11)式
が成立する。
(2−10)ここで対象としている場は、定常的な
場であり、電流は存在しない、そこで、(2−11)式
が成立する。
r o ttH=o、 (2−
11)(2−11)式により、本論文で対象としている
磁場に関して磁位φというスカラポテンシャルを考える
ことができる。このため、いま考えているsB、diは
、次式のように表すことができる。
11)(2−11)式により、本論文で対象としている
磁場に関して磁位φというスカラポテンシャルを考える
ことができる。このため、いま考えているsB、diは
、次式のように表すことができる。
S B、dl= μ、すI (φ 、 −φ x
) 、 (2−12)ここ
で、φ1、φ2はそれぞれ第5図に示すように測定領域
の境界における磁位である。さて、このときこの境界が
無限遠方と近似できるほど、磁界分布に対して測定領域
6を充分広くとったとすると、境界における磁位φは、
零と見なすことができる。即ち次式が成立する。
) 、 (2−12)ここ
で、φ1、φ2はそれぞれ第5図に示すように測定領域
の境界における磁位である。さて、このときこの境界が
無限遠方と近似できるほど、磁界分布に対して測定領域
6を充分広くとったとすると、境界における磁位φは、
零と見なすことができる。即ち次式が成立する。
、S’B、 a 1−0. (2
−13)このように、測定境界が無限遠方と見なすこと
ができるほど領域を充分広く取ることにより、積分路と
平行な磁束密度成分の線積分値は常に零と近イ以できる
ことになる。
−13)このように、測定境界が無限遠方と見なすこと
ができるほど領域を充分広く取ることにより、積分路と
平行な磁束密度成分の線積分値は常に零と近イ以できる
ことになる。
これにより、(2−6)式は、次の様に書き換られる。
、、l″fix (x、y)dl=cosθj”Bs
dlSBY (x、 y)dl=sinθ、5’B
sdl従って、先に述べたような原理に基ずいて、BS
の1軸に沿った線積分値を測定することにより、Bx、
Byに関する投影データを得ることができる。同様にし
てさまざまな投影各θにおいて測定された投影データ群
にCTアルゴリズムを適用することにより、Bx (x
、y)、By (x・ y)の再構成が可能となる。
dlSBY (x、 y)dl=sinθ、5’B
sdl従って、先に述べたような原理に基ずいて、BS
の1軸に沿った線積分値を測定することにより、Bx、
Byに関する投影データを得ることができる。同様にし
てさまざまな投影各θにおいて測定された投影データ群
にCTアルゴリズムを適用することにより、Bx (x
、y)、By (x・ y)の再構成が可能となる。
本発明の実施例を第6図〜第8図に沿って説明する。
第6図は本発明の一実施例を示す斜視図である。
図において、lOは線状導体に発生する誘起電圧を効率
よく取出すため方形のコイルとしたものいる。20.4
0は電圧増幅用アンプ、50は磁界発生源の試料である
馬蹄型の磁石、60はZ軸を中心にした回転ステージで
あり、70のステージによりX軸方向に移動させる。
よく取出すため方形のコイルとしたものいる。20.4
0は電圧増幅用アンプ、50は磁界発生源の試料である
馬蹄型の磁石、60はZ軸を中心にした回転ステージで
あり、70のステージによりX軸方向に移動させる。
80はアンプからの信号をデジタル化するためのA/D
コンバータであり、90は信号処理用計算機、100は
画像を出力するためのCRTモニタである。
コンバータであり、90は信号処理用計算機、100は
画像を出力するためのCRTモニタである。
磁石50は、ステージ60上に置かれ、コイル10.3
0はそれぞれ、ア゛ンプ20.40に結線され、アンプ
20.40の出力は、80のA/Dコンバータを通して
、計算機90に送りだされ、C7手法によって演算回路
91で演算処理され、その結果は表示回路92によりC
RTモニタ100に映像として表示される。
0はそれぞれ、ア゛ンプ20.40に結線され、アンプ
20.40の出力は、80のA/Dコンバータを通して
、計算機90に送りだされ、C7手法によって演算回路
91で演算処理され、その結果は表示回路92によりC
RTモニタ100に映像として表示される。
この測定の実施条件は、ステージ70を7511III
/秒で定速移動させ、電圧出力はアンプ20およびA/
Dコンバータ80を介して計算機へ送出される。
/秒で定速移動させ、電圧出力はアンプ20およびA/
Dコンバータ80を介して計算機へ送出される。
次に試料台60を2°回転させた後、ステージ70を同
条件で移動させ、合計90方向の投影データを得る。
条件で移動させ、合計90方向の投影データを得る。
これに、07手法として公知のフィルタ逆投影法等を適
用することにより、約14cm四方の128×128の
マトリクスの磁束分布OCT再構成を行った。CT再構
成には解析的手法と代数的手法とがよく知られており、
いずれの手法でも同じ結果が得られる。
用することにより、約14cm四方の128×128の
マトリクスの磁束分布OCT再構成を行った。CT再構
成には解析的手法と代数的手法とがよく知られており、
いずれの手法でも同じ結果が得られる。
この手法によれば、コイル10のb部とc部がステージ
70の移動方向と同方向に向いているので磁界の影響を
全く受けず、またd部は磁石50より遠方に配されてい
るため磁界の影響をほとんど受けない。
70の移動方向と同方向に向いているので磁界の影響を
全く受けず、またd部は磁石50より遠方に配されてい
るため磁界の影響をほとんど受けない。
また、コイル30の高さhは十分小さくすることによっ
て、コイル内での高さ方向の磁束密度分布を均一と見な
すことができる。これによって、xy平面の磁束密度分
布を測定する際、十分な2軸方向の分解能を得ることが
できる。
て、コイル内での高さ方向の磁束密度分布を均一と見な
すことができる。これによって、xy平面の磁束密度分
布を測定する際、十分な2軸方向の分解能を得ることが
できる。
本実施例では磁石50を立てた場合の磁束分布を計測し
たもので、 電磁誘導電圧は、アンプ、A/Dコンバータを通して、
計算機に入力される。
たもので、 電磁誘導電圧は、アンプ、A/Dコンバータを通して、
計算機に入力される。
即ち、(2−5)式において、vsはステージ50の移
動速度であるから、一定値として決定できる。従って、
コイル10で検知される磁石50の磁束密度は(3)式
を使って求められる。
動速度であるから、一定値として決定できる。従って、
コイル10で検知される磁石50の磁束密度は(3)式
を使って求められる。
■
JBztlll=□・−・・−・−−一−−−−−−−
−−−−−・−・・・・・−−−−−−−・(3)s また、コイル20で検知される磁石50のX。
−−−−−・−・・・・・−−−−−−−・(3)s また、コイル20で検知される磁石50のX。
y軸への磁束密度は(2−14)式から、j”Bx (
x+y)dl−−cosoj″Vds/hv。
x+y)dl−−cosoj″Vds/hv。
SBy (x、y)d 1= −s inθJVds/
hv。
hv。
となり、得られた電圧を積分すれば、コイル30にて検
知されるx、y方向の磁石50の磁束密度を求めること
ができる。
知されるx、y方向の磁石50の磁束密度を求めること
ができる。
第7図に測定対象としたU学位石4と測定対象面5を示
す。
す。
第8図及び第9図は第7図に示した測定対象面5に対す
る再構成結果である。本来、再構成された磁束密度分布
は3次元ベクトル量の分布となるが、3次元ベクトルの
表示は紙面上では不可能なため、z軸方向とxy平面に
分離して表示している。
る再構成結果である。本来、再構成された磁束密度分布
は3次元ベクトル量の分布となるが、3次元ベクトルの
表示は紙面上では不可能なため、z軸方向とxy平面に
分離して表示している。
第8図は第6図に示した対象磁界の2方向の磁束密度成
分の再構成画像である。再構成領域は139mm X
139mmで、図上部が2軸の正方向を、また、高さは
2構成分の絶対値を示す。
分の再構成画像である。再構成領域は139mm X
139mmで、図上部が2軸の正方向を、また、高さは
2構成分の絶対値を示す。
第9図は第6図に示した対象磁界のxy平面での磁束密
度分布の再構成画像である。表示された線分は磁束密度
ベクトルのXY平面内の投影成分を表している。ただし
、ベクトルの方位は表示が煩雑になるため省略しである
が、(a)図は発散方位(N−3)、(b部図は収束方
位(S−N)に磁束密度ベクトルは向いている。
度分布の再構成画像である。表示された線分は磁束密度
ベクトルのXY平面内の投影成分を表している。ただし
、ベクトルの方位は表示が煩雑になるため省略しである
が、(a)図は発散方位(N−3)、(b部図は収束方
位(S−N)に磁束密度ベクトルは向いている。
以上のように、本発明により、磁界の空間的分布をベク
トル的に再構成することが可能となった6〔発明の効果
〕 以上の本発明によれば簡易構成にて高速に磁界分布の映
像化ができ、その工業的効果は多大なものである。
トル的に再構成することが可能となった6〔発明の効果
〕 以上の本発明によれば簡易構成にて高速に磁界分布の映
像化ができ、その工業的効果は多大なものである。
第1〜5図は本発明の原理説明図、第6図は本発明の詳
細な説明図、第7図は測定対象説明図。 第8図はZ成分の再構成画像、第9図はX、 Y成分の
再構成画像を示す。 図において10.30はコイル、20.40はアンプ、
80はA/Dコンバータ、90はコンピュータ、100
はCRTデイスプレィモニタを示す。 本発明/)涼理誂明図 悌I 図 不発明の涼理跳明日 茅2目 悴l#図 第5図 +e 6月 /1 尼邑ミaty凄1 ;5マニ日11
口茅を図
細な説明図、第7図は測定対象説明図。 第8図はZ成分の再構成画像、第9図はX、 Y成分の
再構成画像を示す。 図において10.30はコイル、20.40はアンプ、
80はA/Dコンバータ、90はコンピュータ、100
はCRTデイスプレィモニタを示す。 本発明/)涼理誂明図 悌I 図 不発明の涼理跳明日 茅2目 悴l#図 第5図 +e 6月 /1 尼邑ミaty凄1 ;5マニ日11
口茅を図
Claims (2)
- (1)磁界発生源、該磁界発生源の磁界領域中に配置さ
れる線状導体およびコイル、該線状導体およびコイルに
誘起される前記磁界の磁束分布による電磁誘導電圧を検
出する電圧検出手段を具備し、映像化しようとする断面
内に前記線状導体と、該断面に鎖交し垂直に前記コイル
を配置し、該線状導体とコイルを該断面に沿って移動さ
せながら前記電圧検出手段にて前記電磁誘導電圧を逐次
検出し、該検出値にコンピュータ断層映像手法を適用し
て、前記線状導体によりZ軸方向の磁束密度分布を、前
記コイルによりX軸およびY軸方向の磁束密度分布を求
め磁界の空間分布をベクトル的に映像化することを特徴
とする磁界の映像化法。 - (2)磁束密度分布を積分し、これを再構成することに
より磁界のポテンシャル分布を求めて映像化することを
特徴とする特許請求第1項記載の磁界の映像化法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62321076A JP2564866B2 (ja) | 1987-12-18 | 1987-12-18 | 磁界の映像化法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62321076A JP2564866B2 (ja) | 1987-12-18 | 1987-12-18 | 磁界の映像化法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01162180A true JPH01162180A (ja) | 1989-06-26 |
| JP2564866B2 JP2564866B2 (ja) | 1996-12-18 |
Family
ID=18128538
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62321076A Expired - Lifetime JP2564866B2 (ja) | 1987-12-18 | 1987-12-18 | 磁界の映像化法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2564866B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114966488A (zh) * | 2021-02-24 | 2022-08-30 | 丰田自动车株式会社 | 车辆用磁场评价系统以及存储介质 |
-
1987
- 1987-12-18 JP JP62321076A patent/JP2564866B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114966488A (zh) * | 2021-02-24 | 2022-08-30 | 丰田自动车株式会社 | 车辆用磁场评价系统以及存储介质 |
| JP2022128685A (ja) * | 2021-02-24 | 2022-09-05 | トヨタ自動車株式会社 | 車両用磁界評価システム及び車両用磁界評価プログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2564866B2 (ja) | 1996-12-18 |
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