JPH01167986A - ランプ異常検出回路 - Google Patents

ランプ異常検出回路

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JPH01167986A
JPH01167986A JP33288687A JP33288687A JPH01167986A JP H01167986 A JPH01167986 A JP H01167986A JP 33288687 A JP33288687 A JP 33288687A JP 33288687 A JP33288687 A JP 33288687A JP H01167986 A JPH01167986 A JP H01167986A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 この発明は、蛍光ランプ等の放電ランプを複数本並列点
灯させる放電灯点灯装置において、放電ランプの寿命末
期のフィラメントエミッタの消耗。
フィラメント切れ等の異常を検出するランプ異常検出回
路に関するものである。
〔背景技術〕
蛍光ランプ等の放電ランプを高周波点灯させるインバー
タ式の放電灯点灯装置においては、放電ランプの寿命末
期のフィラメントエミッタの消耗。
フィラメント切れ等の異常の発生時に、例えば放電ラン
プへ高周波電力を供給するインバータ回路のスイッチン
グ素子に過大なストレスが加えられ、スイッチング素子
が破壊されることがある。
このような問題を防止するために、ランプ異常検出回路
を設けて放電ランプの寿命末期のフィラメントエミッタ
の消耗、フィラメント切れ等の異常の発生によるランプ
電圧の上昇を検出し、この検出時にインバータ回路にお
いてスイッチング素子のオンオフを制御する制御回路に
異常信号を与えることにより、スイッチング素子を強制
遮断し、スイッチング素子の保護を図るようにしていた
。
この種の従来の放電灯点灯装置として、特開昭56−5
4792号公報に開示された放電灯点灯装置がある。こ
の放電灯点灯装置は、バランサを介して複数個の放電ラ
ンプを接続したものにおいて、バランサに磁気的に結合
した検知巻線を介して半波放電状態になったときの異常
電圧を検知するものである。
ところが、この放電灯点灯装置は、交流成分を検出する
ものであって、直流成分を検出することができなかった
。そのため、検出精度が低かった。
また、バランサを有する点灯回路でなければ異常を検出
できなかった。
このような放電灯点灯装置の問題を解消できるものとし
て、第9図および第10図に示す放電灯点灯装置が提案
されている。
まず、第9図の放電灯点灯装置は、X点およびY点間に
インバータ回路(図示せず)からの高周波電圧が印加さ
れ、この高周波電圧がバランサL1を介して放電ランプ
LP、、  Lpgに加えられ、放電ランプLP、、L
P2が並列点灯するようになっている。そして、ランプ
異常検出回路は、放電ランプLP、のランプ電圧、すな
わちA1点の電圧■A1をダイオードDI+ 抵抗R,
,R1およびコンデンサC7よりなる平滑型電圧検出部
■で整流、平滑および分圧し、また放電ランプL P 
tのランプ電圧、すなわちA2点の電圧■^2をダイオ
ードDt、抵抗R,,R,およびコンデンサC1よりな
る平滑型電圧検出部■で整流、平滑および分圧し、平滑
型電圧検出部■の81点から得られた電圧Vllを電圧
比較部■のコンパレータ(演算増幅器よりなる)OP3
に加えてツェナーダイオードZD、の両端に生じる基準
電圧(ツェナー電圧)と比較し、また平滑型電圧検出部
■の82点から得られた電圧V、をコンパレータ(演算
増幅器よりなる)OP4に加えてツェナーダイオードZ
 D aの両端に生じる基準電圧(ツェナー電圧)と比
較し、コンパレータOP、、OP、の出力の論理和をオ
ア回路OR,で求め、このオア回路OR,の高レベル出
力を2点よりランプ異常信号として出力している。
この場合、放電ランプLP、に寿命末期のフィラメント
エミッタの消耗、フィラメント切れ等の異常が発生して
A1点の電圧VAIが上昇すると、B1点の電圧Vl1
1も上昇し、81点の電圧がツェナーダイオードZD、
lによって作られた基準電圧を超えた時にコンパレータ
OP、の出力が高レベルとなり、オア回路OR,から高
レベルの異常検出信号が出力され、例えばインバータ回
路のスイッチング素子に与えるベース電流を停止してス
イッチング素子の保護を図る。放電ランプLP、に異常
が発生した場合には、A、点の電圧vA!が上昇して8
2点の電圧Vl12が上昇し、オア回路OR。
から高レベルの異常信号が出力されることになる。
なお、C+ 、CwはLC直列共振用のコンデンサであ
る。
この第9図の回路においては、放電ランプLP、、LP
、の異常を検出するのに、放電ランプLP、、t、pg
のランプ電圧を一定の基準電圧と比較するだけであった
ので、周囲温度や電源電圧等が変化した場合や調光を行
った場合等におけるランプ電圧の変動による誤動作の防
止の対策が必要であった。
第10図の放電灯点灯装置は、第9図の回路の問題を解
決できるものである。この放電灯点灯装置におけるラン
プ異常検出回路は、第9図における電圧比較部■に代え
て、電圧比較部■を用いている。この電圧比較部■は、
比較器OP、。
OP、、  ツェナーダイオードZD、、ZD!および
オア回路OREからなり、平滑型電圧検出部■。
■から出力される電圧V□+vl1g  の差電圧の絶
対値がツェナーダイオードZD、、ZD、のツェナー電
圧を超えた時にオア回路OR,がら高レベルの異常信号
が出力されることになる。
このように構成すると、2本の放電ランプLP1.LP
2に同時に生じるランプ電圧の変動(ランプ異常ではな
い)がキャンセルされることになり、周囲温度や電源電
圧等が変化した場合や調光を行った場合等の誤動作を防
止することができる。
しかしながら、放電ランプLP、、LP、のランプ電圧
■□+VAtを平滑した電圧V□+VIKは、正常時と
異常時とで差が顕著に現れることが少なく、この場合に
放電ランプの異常を確実に検出することは容易でなかっ
た。
その他の従来例として、ホトセンサを使用して、2本の
放電ランプ間の光束を比較してエミッタ消耗時に光束が
下がると検出信号を送り出す構成も考えられるが、ホト
センサの取付位置の課題が残される。
また、半波放電時にはフィラメントに過大な電流が流れ
ることを利用して、2本の放電ランプ間のフィラメント
電流差を検出することも考えられるが、検出用のチョー
クコイル等が必要となり、回路構成が複雑になる。
〔発明の目的〕  。
この発明の目的は、放電ランプの異常を容易かつ確実に
検出することができるランプ異常検出回路を提供するこ
とである。
(発明の開示〕 この発明は、2本の放電ランプを並列点灯させる場合に
、何れか1本に放電ランプの寿命末期のフィラメントエ
ミッタの消耗、フィラメント切れ等の異常の発生が発生
すると、瞬時ランプ電圧および瞬時ランプ電流の位相が
正常な放電ランプの瞬時ランプ電圧および瞬時ランプ電
流の位相とずれるごとを利用して放電ランプの異常を検
出するようにしたものである。
このために、この発明のランプ異常検出回路は、第1お
よび第2の非平滑型検出部で第1および第2の放電ラン
プの瞬時ランプ電圧または瞬時ランプ電流をそれぞれ検
出し、比較部で第1および第2の非平滑型検出部により
検出した第1および第2の瞬時ランプ電圧または瞬時ラ
ンプ電流の差の絶対値を基準値と比較し、前記差の絶対
値が前記基準値を超えた時に比較部から異常信号を発生
させるようにしたものである。
この発明の構成によれば、非平滑型検出部で第1および
第2の放電ランプの瞬時ランプ電圧または瞬時ランプ電
流を検出し、検出した第1および第2の瞬時ランプ電圧
または瞬時ランプ電流の差の絶対値を基準値と比較し、
前記差の絶対値が前記基準値を超えた時に比較部から異
常信号を発生させるようにしたので、第1および第2の
放電ランプの何れか一方の異常時に第1および第2の放
電ランプの瞬時ランプ電圧または瞬時ランプ電流の相互
間にたとえ振幅の差がでなくても、位相に差がでるだけ
で、第1および第2の瞬時ランプ電圧または瞬時ランプ
電流に大きな差が現れることになり、第1および第2の
瞬時ランプ電圧または瞬時ランプ電流の差の絶対値を基
準値と比較することにより、第1および第2の放電ラン
プの何れか一方の異常を容易かつ確実に検出することが
できる。
実施例 この発明の第1の実施例を第1図ないし第3図に基づい
て説明する。すなわち、このランプ異常検出回路は、第
1図に示すように、第1および第2の非平滑型検出部■
、■で第1および第2の放電ランプLP+、LPtの瞬
時ランプ電圧をそれぞれ検出している。すなわち、A1
点およびA8点の電圧VA1.  vatを整流および
分圧している。
また、このランプ異常検出回路は、比較部■で第1およ
び第2の非平滑型検出部[、Ifにより検出してa、点
および88点から整流および分圧されて出力される電圧
V、、V、、の差の絶対値を基準値と比較し、差の絶対
値が基準値を超えた時に比較部■から異常信号を発生さ
せるようにしている。
以下、このランプ異常検出回路を含む放電灯点灯回路の
構成および動作を詳しく説明する。
この放電灯点灯装置は、第1図に示すように、交流電源
Eの電圧をダイオードブリッジDBで全波整流し、さら
に平滑コンデンサC6で平滑して直流電源を得、この直
流電源よりハーフブリッジ構成のインバータ回路INV
に給電している。
インバータ回路INVは、発振器O8Cと、前記直流電
源に直列状態で接続されて発振器OSCの出力でもって
交互にオンオフするスイッチング素子Tr2.7r4と
、発振器OSCの発振周波数を決定する抵抗R@、R*
およびコンデンサC2と発振周波数を切り替えるスイッ
チS、とからなり、所定の周波数の高周波出力をスイッ
チング素子Tr、の両端よりチョークコイルLtおよび
電源用の容量の大きいコンデンサC4ならびにバランサ
L1を介して2本の放電ランプLP+、LPgに印加し
て放電ランプLP+ 、LPzを始動点灯させるように
なっている。この場合、放電ランプLP+、LPzに並
列接続したコンデンサC8゜CzはチョークコイルL2
とで共振回路を構成し、発振回路OSCは、上記共振回
路の共振周波数の近傍周波数で発振させ、その発振周波
数の変化させることにより、コンデンサC,,C2の両
端電圧すなわち放電ランプLP、、t、pgに印加され
る電圧を調整できるようになっている。
また、ランプ異常検出回路は、前記したように、非平滑
型検出部I、■と比較部mとからなる。
非平滑型検出部lは、ダイオードD、と抵抗R,,R1
からなり、放電ランプLP、の瞬時ランプ電圧を検出す
る。具体的には、A、点の電圧■□を整流および分圧し
、a1点より電圧V0を出力する。
また、非平滑型検出部■は、ダイオードD2と抵抗Rx
、R’aからなり、放電ランプLPgの瞬時ランプ電圧
を検出する。具体的には、A2点の電圧VA!を整流お
よび分圧し、32点より電圧Vatを出力する。
比較部■は、比較器OP、、op2. ツェナーダイオ
ードZ Dr 、  Z Dz 、  ダイオードD3
.D4からなり、a1点の電圧V□と32点の電圧Va
2との差電圧の絶対値IV−+  V−glをツェナー
ダイオードZD+、ZDzのツェナー電圧■2゜と比較
する。
l vMI  Vat l > Vzo       
” ・・・・(tlが成立するときに、比較器OP 1
.  OP zの何れか一方の出力が高レベルとなり、
オア回路を構成するダイオードDs、Dgのカソード側
に高レベルの異常信号が出力されることになり、l V
at  V−z l ≦Vzn       ・・” 
・(21のときは、比較器op、、opzの両方の出力
が低レベルとなり、オア回路を構成するダイオードD:
+、Dnのカソード側が高インピーダンス状態となる。
抵抗R1゜、R1およびコンデンサC3は、充放電回路
を構成し、上記ダイオードDs、D=のカソード側が高
レベルのときにコンデンサC3が充電され、上記ダイオ
ードDy、Daのカソード側が高インピーダンス状態の
ときにコンデンサC1が放電する。この充放電回路のコ
ンデンサC3の電圧に応じて前記の発振周波数の切替用
のスイッチS1のオンオフが切替られる。ダイオードD
5、D4のカソード側に高レベルの異常信号が出力され
たときは、スイッチS、の切替によって発振器OSCの
発振周波数が前記の共振回路の共振周波数から離れる方
向に変化して、放電ランプL P + 。
LPtに印加される電圧が下がることになる。
放電ランプLP+、、LP2の両方が正常であるときは
、放電ランプLPI 、  Lpzのランプ電圧すなわ
ちA1点およびA2点の電圧Vヶ1.v、2を整流およ
び分圧した電圧vII + +  ■a Kがそれぞれ
第2図において破線H,,H2で示すように、略同相の
波形になり、83点および32点の電圧■□。
Vaffiに電位差はほとんどない。したがって、比較
部■の出力端は高インピーダンス状態となり、コンデン
サC1は充電されず、放電するのみで、通常は零となっ
ている。
ところが、放電ランプLP1.LP2のうちの1本、例
えば放電ランプLPIがフィラメントエミッタの消耗ま
たはフィラメント切れ等の異常になると、a、点の電圧
■mlが第3図ta+において破線J、で示すようにな
り、また32点の電圧V。
が第3図(a)において破線J2で示すようになり、両
者を比較すると、位相がずれている(この図の場合、振
幅の方も相違しているが、振幅の方は同しであっても問
題はない)。
この結果、a1点の電圧V□とa’を点の電圧Vatと
の差電圧は、電圧■、1と電圧VaZの間の位相差の存
在により、部分的にツェナーダイオードZ Dr 、 
’Z Dzのツェナー電圧VZDを超えることになる。
この場合、期間T+ 、T3 、T、にて、・ (11
式の条件が成立して比較部■の、出力が高レベルとなり
、コンデンサC3が抵抗R1゜を通して充電され、その
両端電圧VCSは、第3図(blで実線J3で示すよう
に上昇し、期間”rz、raにて(2)弐の条件が成立
して比較部■の出力端が高インピーダンス状態となって
コンデンサC8が抵抗R7を通して放電され、コンデン
サC5の両端電圧■。、が下降することになる。このと
き、コンデンサC3の両端電圧VC3は平均すると零で
はなく、ある値をもつことになり、この電圧■。、でも
ってスイッチS、が制御され、発振回路OSCの発振周
波数が共振回路の共振周波数から離れる方向に変化して
インバータ回路TNVから放電ランプLP、。
LP2へ供給される電力が制限されることになる。
したがって、放電ランプLP+、LPzの寿命末期のフ
ィラメントエミッタの消耗、フィラメント切れ等の異常
の発生時に、例えば放電ランプLP、、LP、へ高周波
電力を供給するインバータ回路INVのスイッチング素
子7r3.Traに過大なストレスが加えられることは
なく、インバータ回路INV中のスイッチング素子のT
r、。
Tr、の破壊等を防止することができる。
この実施例のランプ異常検出回路は、非平滑型検出部■
、■で第1および第2の放電ランプLP、、LP、の瞬
時ランプ電圧を検出し、検出した第1および第2の瞬時
ランプ電圧の差の絶対値を基準値と比較し、前記差の絶
対値が前記基準値を超えた時に比較部■から異常信号を
発生させるようにしたので、第1および第2の放電ラン
プt、p、、Lp、の何れか一方の異常時に第1および
第2の放電ランプしp+、t、pzの瞬時ランプ電圧の
相互間にたとえ振幅の差がでなくても、位相に差がでれ
ば、第1および第2の瞬時ランプ電圧に大きな差が現れ
ることになり、第1および第2の瞬時ランプ電圧の差の
絶対値を基準値と比較することにより、第1および第2
の放電ランプLP+ 、  LPtの何れか一方の異常
を容易かつ確実に検出することができる。
この発明の第2の実施例を第4図ないし第6図に基づい
て説明する。このランプ異常検出回路は、第4図に示す
ように、第1図における比較部■に代えて、比較部■′
を用いたもので、その他は第1図のものと同様である。
この比較部■′は、トランジスタTr、、Tr。
のコレクタを共通接続するとともにトランジスタTr+
、Tr!のエミッタを抵抗Rs、Rhを介してトランジ
スタTr、 、Tr、のベースにそれぞれ接続し、トラ
ンジスタTr!、Trlのエミッタをそれぞれa3点+
at点に接続し、トランジスタTr、、Tr、の共通の
コレクタをダイオードDSを介してコンデンサC1およ
び抵抗R7の並列回路に接続し、コンデンサC3の両端
電圧VC2でもってスイッチS、を制御するようにして
いる。
動作について説明する。今、放電ランプLP、。
LP!の両方に異常がない場合、31点の電圧v0とa
t点の電圧V、とは同相であり、電圧■□と電圧v、!
との差電圧の絶対値1v□−V、21は、σをトランジ
スタT r r 、T rtを導通させるために必要な
ベース・エミッタ間の電圧としたときに、 IV−1−V−11≦σ であり、トランジスタTr、、Tr、はともに遮断して
いる。
ところが、例えば放電ランプLP、の寿命末期のフィラ
メントエミッタの消耗、フィラメント切れ等の異常の発
生により31点の電圧V□が第5図で破線G1で示すよ
うになるとともに、a!点の電圧■、!が第5図で実線
G2で示すようになって、電圧V□+V11gとの間に
位相差が生じることになる。
電圧vat + Vatとの間に位相差が生じると、期
間T+ 、Ts 、T&においては、電圧v、1と電圧
v、!との差電圧の絶対値I V−+−V−zlが電圧
σより高(かつコンデンサC2の両端電圧vc2より高
いため、トランジスタTrl、’l’r、の何れか一方
が導通するとともにダイオードD、が導通して電圧■、
と電圧v、tとの差電圧の絶対値1v□V−zlでもっ
てコンデンサC1が充電され、コンデンサC1の両端電
圧VCIが第5図において太線G、で示すように上昇し
ている。ところが、期間T t 、 T sにおいては
、電圧■□と電圧V、との差電圧の絶対値I V−+ 
 V−zlが電圧σより低いため、トランジスタTr、
、Tr、の両方が遮断し、コンデンサC1は放電し、電
圧Ve3は下降する。期間T4においては、電圧V□と
電圧V m tとの差電圧の絶対値IV−+  V−z
lが電圧σより高いがコンデンサC1の両端電圧vc、
より低いので、コンデンサC1は充電されず、コンデン
サC3の両端電圧■。は下降する。この際のコンデンサ
C3の放電電流は、ダイオードD5によるブロックでト
ランジスタTrl、Trzには流入しない。
そして、前記第1の実施例と同様に、コンデンサC3の
両端電圧VC+でもってスイッチS1のオンオフが制御
されることになる。
なお、この実施例は、2灯型の放電灯点灯装置だけでな
く、多灯型(偶数本)の放電灯点灯装置にも適用できる
。この場合、例えば2n本の放電ランプにそれぞれ非平
滑型検出回路を各々設け、第6図に示すように、この内
1本の放電ランプに設けた非平滑型検出回路の出力端を
端子all〜al11に接続して非平滑型検出回路の出
力電圧を合成してトランジスタTr、のエミッタに入力
し、残りの1本の放電ランプに設けた非平滑型検出回路
の出力端を端子azl−a!、lに接続して非平滑型検
出回路の出力電圧を合成してトランジスタTr2のエミ
ッタに入力するようにしたものである。
上記のトランジスタTr、、  Tr2のエミッタには
、同数の放電ランプに設けた非平滑型検出回路の出力電
圧を合成して供給しているので、全ての放電ランプが正
常である場合は、トランジスタTrl、Trzのエミッ
タに加わる電圧の位相は同相になり、トランジスタTr
+ * Tr2の両方が遮断状態でコンデンサC3は充
電されない。−方、何れか1本の放電ランプが異常とな
ると、トランジスタTr1.Tr2のエミッタに加わる
電圧の位相がずれることになり、前記と同様に検出する
ことができる。
上記以外の動作は第1図の放電灯点灯装置と同様である
。
この実施例の効果は第1の実施例と同様である。
この発明の第3の実施例を第7図に基づいて説明する。
このランプ異常検出回路は、上記実施例のようにランプ
電圧を検出するのではなく、放電ランプLP、、LP2
 と直列にランプ電流検出用の抵抗等のインピーダンス
素子1’、II’を挿入接続し、ランプ電流の位相差か
ら放電ランプLP、、LP2の異常を検出するようにし
たもので、インピーダンス素子1’、n’の両端電圧の
差の絶対値が第1図または第4図の比較部■または■′
と同様の比較部に入力されることになり、異常の検出の
手順は前記の実施例と同様である。
この実施例の効果は前記各実施例と同様である。
この発明の第4の実施例を第8図に基づいて説明する。
このランプ異常検出回路は、変流器TSによりコンデン
サC,,Cmに流れる電流の差を検出し、得られた差電
流の絶対値を差電圧の場合と同様に基準値と比較するこ
とで放電ランプLP+、LPzの異常を検出するように
なっている。
この場合、変流器TSは、同巻数の第1および第2の一
次巻線” I ++  ” +2を互いに逆極性にトロ
イダルコア等に巻装するとともに、二次巻線n2を同ト
ロイダルコアに巻装したものである。この変流器TSは
、第1および第2の一次巻線nll+01□に流れる電
流が同位相でかつ同振幅のときに互いの電流による磁束
が打ち消されて二次巻線の出力は零であるが、第1およ
び第2の一次巻線nll+  nl□に流れる電流の振
幅および位相の何れかが相違すると二次巻線n2に所定
の出力が現れる。
2本の放電ランプLP1.LP2の両方が正常であると
きは、コンデンサC,,C2に流れる電流が同振幅でか
つ同位相であるため、両型流の差に相当する二次巻線n
2の出力は零である。ところが、2本の放電ランプLP
+ 、LPzの何れか一方に異常が生じると、コンデン
サC+、Czに流れる電流に少なくとも位相差が生じる
ことになり、この結果、前記各実施例と同様の手順を経
て放電ランプLP、、LP2の異常が検出されることに
なる。
なお、この実施例では、コンデンサC+、Czに流れる
電流を検出しているが、これは放電ランプLp、、t、
p2に流れるランプ電流が変化すれば、それに応じて変
化するもので、間接的にランプ電流を検出しているとい
える。
この実施例の効果は葡記各実施例と同様である。
なお、この実施例は、バランサを用いて放電ランプを並
列点灯させるものを示しているが、バランサを用いずに
放電ランプを並列点灯させるものにもこの発明を適用で
きる。
〔発明の効果〕
この発明のランプ異常検出回路によれば、非平滑型検出
部で第1および第2の放電ランプの瞬時ランプ電圧また
は瞬時ランプ電流を検出し、検出した第1および第2の
瞬時ランプ電圧または瞬時ランプ電流の差の絶対値を基
準値と比較し、前記差の絶対値が前記基準値を超えた時
に比較部から異常信号を発生させるようにしたので、第
1および第2の放電ランプの何れか一方の異常時に第1
および第2の放電ランプの瞬時ランプ電圧または瞬時ラ
ンプ電流の相互間にたとえ振幅の差がでなくても、位相
に差がでれば、第1および第2の瞬時ランプ電圧または
瞬時ランプ電流に大きな差が現れることになり、第1お
よび第2の瞬時ランプ電圧または瞬時ランプ電流の差の
絶対値を基準値と比較することにより、第1および第2
の放電ランプの何れか一方の異常を容易かつ確実に検出
することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の第1の実施例の構成を示す回路図、
第2図および第3図はそれぞれ異常検出動作を説明する
ための第1図の各部の波形図、第4図はこの発明の第2
の実施例の構成を示す回路図、第5図は異常検出動作を
説明するための第4図の各部の波形図、第6図は第4図
の回路の変形例を示す回路図、第7図はこの発明の第3
の実施例の構成を示す要部の回路図、第8図はこの発明
の第4の実施例の構成を示す要部の回路図、第9図およ
び第10図はそれぞれ従来例の構成を示す回路図である
。 1、  U・・・非平滑型検出部、■・・・比較部T、
T2T3T4T5   →鴫間 all a12   aln 〇− 」

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 第1および第2の放電ランプの瞬時ランプ電圧または瞬
    時ランプ電流をそれぞれ検出する第1および第2の非平
    滑型検出部と、この第1および第2の非平滑型検出部に
    より検出した第1および第2の瞬時ランプ電圧または瞬
    時ランプ電流の差の絶対値を基準値と比較し前記差の絶
    対値が前記基準値を超えた時に異常信号を発生する比較
    部とを備えたランプ異常検出回路。
JP62332886A 1987-12-23 1987-12-23 ランプ異常検出回路 Expired - Lifetime JPH0634396B2 (ja)

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