JPH01169340A - 液晶の屈折率および異方性屈折率の測定方法 - Google Patents
液晶の屈折率および異方性屈折率の測定方法Info
- Publication number
- JPH01169340A JPH01169340A JP33388087A JP33388087A JPH01169340A JP H01169340 A JPH01169340 A JP H01169340A JP 33388087 A JP33388087 A JP 33388087A JP 33388087 A JP33388087 A JP 33388087A JP H01169340 A JPH01169340 A JP H01169340A
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- Japan
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- refractive index
- cell
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- anisotropic
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
本発明は、液晶の屈折率および異方性屈折率の測定方法
に関し、 パネル製作の際に適用する評価系を用いて、容易に液晶
の屈折率および異方性屈折率が測定可能となるようにす
ることを目的とし、 ホモジニアス配列させた液晶セルの前後に互いに平行な
直線偏光板を配置し、これに特定波長の光を入射し、上
記液晶セルを回転させて入射光の角度に対する透過率特
性を測定し、透過率曲線の極大値（ζ１．０）および極
小値（ζ０）を与える角度をそれぞれθ■およびθ０、
液晶セルの液晶層の厚さをｄ、入射光の波長をλ、 ｋ＝２π／λ、 およびａを偶数として次式、 および、 Δｎ＝ｎ＊ −ｎＯ に代入して、液晶の屈折率ｎ０および異方性屈折率△ｎ
を求めることを含み構成する。
に関し、 パネル製作の際に適用する評価系を用いて、容易に液晶
の屈折率および異方性屈折率が測定可能となるようにす
ることを目的とし、 ホモジニアス配列させた液晶セルの前後に互いに平行な
直線偏光板を配置し、これに特定波長の光を入射し、上
記液晶セルを回転させて入射光の角度に対する透過率特
性を測定し、透過率曲線の極大値（ζ１．０）および極
小値（ζ０）を与える角度をそれぞれθ■およびθ０、
液晶セルの液晶層の厚さをｄ、入射光の波長をλ、 ｋ＝２π／λ、 およびａを偶数として次式、 および、 Δｎ＝ｎ＊ −ｎＯ に代入して、液晶の屈折率ｎ０および異方性屈折率△ｎ
を求めることを含み構成する。
本発明は、液晶の屈折率および異方性屈折率の測定方法
に関する。
に関する。
この液晶の屈折率および異方性屈折率は、液晶の表示特
性を決定するうえで、プレチルト角およびセル厚になら
ぶ重要なパラメータである。従って液晶パネルを製作す
る際に、この液晶の屈折率および異方性屈折率を把握し
ておくことは大切である。
性を決定するうえで、プレチルト角およびセル厚になら
ぶ重要なパラメータである。従って液晶パネルを製作す
る際に、この液晶の屈折率および異方性屈折率を把握し
ておくことは大切である。
現在、液晶パネルを製作する側は、液晶の屈折”率およ
び異方性屈折率はメーカ側から情報として入手するだけ
で測定はしていない。一方、メーカ側は液晶デイスプレ
ィのことは考慮せずに液晶材料としての観点から液晶の
屈折率および異方性屈折率を測定するだけである。
び異方性屈折率はメーカ側から情報として入手するだけ
で測定はしていない。一方、メーカ側は液晶デイスプレ
ィのことは考慮せずに液晶材料としての観点から液晶の
屈折率および異方性屈折率を測定するだけである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかも、液晶パネルを製作する側は、液晶の屈折率およ
び異方性屈折率の値をメーカ側から入手しても、その値
がパネル化したときに適用できるかを深く考慮せずにパ
ネル化を行っている。しかし、これでは早暁パネル特性
向上が頭うちになる。
び異方性屈折率の値をメーカ側から入手しても、その値
がパネル化したときに適用できるかを深く考慮せずにパ
ネル化を行っている。しかし、これでは早暁パネル特性
向上が頭うちになる。
そこで本発明は、このような事情に鑑みてなされたもの
であって、パネル製作の際に適用する評価系を用いて、
容易に液晶の屈折率セよび異方性屈折率が測定可能とな
るようにすることを目的とする。
であって、パネル製作の際に適用する評価系を用いて、
容易に液晶の屈折率セよび異方性屈折率が測定可能とな
るようにすることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段］
本発明は、このような目的を達成するためになされたも
のであって、ホモジニアス配列させた液晶セルの前後に
互いに平行な直線偏光板を配置し、これに特定波長の光
を入射し、上記液晶セルを回転させて入射光の角度に対
する透過率特性を測定し、透過率曲線の極大値（！＝＝
；１．０）および極小値（−０）を与える角度をそれぞ
れθ■およびθ０、液晶セルの液晶層の厚さをｄ、入射
光の波長をλ、 ｋ＝２π／λ、 およびａを偶数として次式、 △ｎ＝ｎ１ｌ−ｎ。
のであって、ホモジニアス配列させた液晶セルの前後に
互いに平行な直線偏光板を配置し、これに特定波長の光
を入射し、上記液晶セルを回転させて入射光の角度に対
する透過率特性を測定し、透過率曲線の極大値（！＝＝
；１．０）および極小値（−０）を与える角度をそれぞ
れθ■およびθ０、液晶セルの液晶層の厚さをｄ、入射
光の波長をλ、 ｋ＝２π／λ、 およびａを偶数として次式、 △ｎ＝ｎ１ｌ−ｎ。
・・・（２）、
に代入して、液晶の屈折率ｎ０および異方性屈折率Δｎ
を求めることを特徴とする液晶の屈折率および異方性屈
折率の測定方法により達成される。
を求めることを特徴とする液晶の屈折率および異方性屈
折率の測定方法により達成される。
液晶セルを製作する際に、配向膜のプレチルト角の評価
に使用する測定系、すなわち結晶回転法による光の入射
角に対する液晶セルの透過率特性を調べる測定系をその
まま用いて、液晶の屈折率および異方性屈折率が容易に
求められる。
に使用する測定系、すなわち結晶回転法による光の入射
角に対する液晶セルの透過率特性を調べる測定系をその
まま用いて、液晶の屈折率および異方性屈折率が容易に
求められる。
まず、均一にホモジニアス配向させた評価用の液晶セル
を作製する。この評価用セルは、ラビング方によるボリ
ミイドまたはＰＶＡの配向膜を使用して容易に得られる
。
を作製する。この評価用セルは、ラビング方によるボリ
ミイドまたはＰＶＡの配向膜を使用して容易に得られる
。
次いで、この評価用セルの光の入射角に対する透過率を
測定する。第１図は、評価用セルの透過率を測定するＨ
Ｈの配置構成図である。同図において、ｌおよび３は直
線偏向板、２は評価用セルである。これは従来プレチル
ト角を調べるときに使用する測定系と同じである。同図
に示すように、評価用セル２の前後に直線偏光板１およ
び３を互いに平行に配置する。直線偏光板１および３の
偏向方向は共に水平軸に対し４５＠である。これに特定
波長の光を水平に入射し、評価用セルを鉛直軸まわりに
回転させて、評価用セル２の入射角に対する透過率特性
を調べる。
測定する。第１図は、評価用セルの透過率を測定するＨ
Ｈの配置構成図である。同図において、ｌおよび３は直
線偏向板、２は評価用セルである。これは従来プレチル
ト角を調べるときに使用する測定系と同じである。同図
に示すように、評価用セル２の前後に直線偏光板１およ
び３を互いに平行に配置する。直線偏光板１および３の
偏向方向は共に水平軸に対し４５＠である。これに特定
波長の光を水平に入射し、評価用セルを鉛直軸まわりに
回転させて、評価用セル２の入射角に対する透過率特性
を調べる。
この結果をグラフにすると、第２図のように透過率曲線
はφ−０の軸に対称になる。このときφ−０が完全な垂
直入射条件になっているわけではなく、実際は評価用セ
ルをセットするときに幾分ずれが生じていると思われる
ので、極値を与える真の角度θは、同じ属性の極値を与
える角度θ゛および−θ−の２つから、（θ°＋θ−）
／２として補正する。
はφ−０の軸に対称になる。このときφ−０が完全な垂
直入射条件になっているわけではなく、実際は評価用セ
ルをセットするときに幾分ずれが生じていると思われる
ので、極値を与える真の角度θは、同じ属性の極値を与
える角度θ゛および−θ−の２つから、（θ°＋θ−）
／２として補正する。
第２図の場合はθ。−３２１、θ■＝５９°である。ま
た用意した評価用セルのセルＷ−ｄはｄ＝２０Ａ１ｍ、
入射光の波長λはλ＝６３２．８ｎｍであり、またａの
値は８である。これらの値を（１）式および（２）式に
代入して液晶の屈折率ｎ０および異方性屈折率Δｎが、 ｎｏ＝１．４９、 Δｎ＝０．２７０゜ と求まる。
た用意した評価用セルのセルＷ−ｄはｄ＝２０Ａ１ｍ、
入射光の波長λはλ＝６３２．８ｎｍであり、またａの
値は８である。これらの値を（１）式および（２）式に
代入して液晶の屈折率ｎ０および異方性屈折率Δｎが、 ｎｏ＝１．４９、 Δｎ＝０．２７０゜ と求まる。
このように、結晶回転法による光の入射角に対する液晶
セルの透過率特性を調べる測定系をそのまま用いて、液
晶の屈折率および異方性屈折率が容易に求められる。従
って、実セルとの対応がとりやすく、液晶パネルの表示
特性の向上に結びつく。
セルの透過率特性を調べる測定系をそのまま用いて、液
晶の屈折率および異方性屈折率が容易に求められる。従
って、実セルとの対応がとりやすく、液晶パネルの表示
特性の向上に結びつく。
液晶パネルを製作する側が、製作時に適用する評価系を
そのまま用いて、液晶の屈折率および異方性屈折率が容
易に求められるようになるので、実セルとの対応がとり
やすく、液晶パネルの表示特性の向上に結びつく。
そのまま用いて、液晶の屈折率および異方性屈折率が容
易に求められるようになるので、実セルとの対応がとり
やすく、液晶パネルの表示特性の向上に結びつく。
また、測定角度から算出するので誤差が少なく、高い精
度で求まる。
度で求まる。
第１図は、評価用セルの透過率を測定する装置の配置構
成図、 第２図は、評価用セルの透過率曲線図である。 （符号の説明） １．３・・・直線偏光板、 ２・・・評価用セル。
成図、 第２図は、評価用セルの透過率曲線図である。 （符号の説明） １．３・・・直線偏光板、 ２・・・評価用セル。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ホモジニアス配列させた液晶セルの前後に互いに平行
な直線偏光板を配置し、これに特定波長の光を入射し、
上記液晶セルを回転させて入射光の角度に対する透過率
特性を測定し、透過率曲線の極大値（≒１．０）および
極小値（≒０）を与える角度をそれぞれθ＿■およびθ
＿０、液晶セルの液晶層の厚さをｄ、入射光の波長をλ
、 ｋ＝２π／λ、 およびａを偶数として次式、 ▲数式、化学式、表等があります▼ および、 ▲数式、化学式、表等があります▼ に代入して、液晶の屈折率ｎ＿０および異方性屈折率Δ
ｎを求めることを特徴とする液晶の屈折率および異方性
屈折率の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33388087A JPH01169340A (ja) | 1987-12-24 | 1987-12-24 | 液晶の屈折率および異方性屈折率の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33388087A JPH01169340A (ja) | 1987-12-24 | 1987-12-24 | 液晶の屈折率および異方性屈折率の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01169340A true JPH01169340A (ja) | 1989-07-04 |
Family
ID=18270984
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33388087A Pending JPH01169340A (ja) | 1987-12-24 | 1987-12-24 | 液晶の屈折率および異方性屈折率の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01169340A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0724146A3 (en) * | 1995-01-27 | 1997-05-21 | Canon Kk | Method and apparatus for measuring optical anisotropy |
| KR20040038520A (ko) * | 2002-11-01 | 2004-05-08 | 엘지전자 주식회사 | 각도 분포형 렌즈 |
-
1987
- 1987-12-24 JP JP33388087A patent/JPH01169340A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0724146A3 (en) * | 1995-01-27 | 1997-05-21 | Canon Kk | Method and apparatus for measuring optical anisotropy |
| US5903352A (en) * | 1995-01-27 | 1999-05-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for measuring optical anisotropy |
| KR20040038520A (ko) * | 2002-11-01 | 2004-05-08 | 엘지전자 주식회사 | 각도 분포형 렌즈 |
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