JPH01169341A - 赤外線吸収スペクトルのバックグラウンド軽減アクセサリー - Google Patents
赤外線吸収スペクトルのバックグラウンド軽減アクセサリーInfo
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- JPH01169341A JPH01169341A JP62271704A JP27170487A JPH01169341A JP H01169341 A JPH01169341 A JP H01169341A JP 62271704 A JP62271704 A JP 62271704A JP 27170487 A JP27170487 A JP 27170487A JP H01169341 A JPH01169341 A JP H01169341A
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- infrared
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は透過法によって不均一系試料の赤外線吸収ス
ペクトルを測定する場合に生ずる大きなバックグラウン
ドを除去するためのアクセサリ−に関するものである。
ペクトルを測定する場合に生ずる大きなバックグラウン
ドを除去するためのアクセサリ−に関するものである。
従来、石炭粉末などの不均一系試料の赤外線吸収スペク
トルを測定する場合には、得られたスペクトルから直線
とか曲線を用いてベースラインを差し引くことによりバ
ックグラウンドを消去していた（大沢祥拡、松村秀彦、
藤井修治、燃協誌、４８＋７０３（１９６９）＋ Ｐｅ
ｔｅｒ Ｒ，Ｓｏｌｏｍｏｎ ａｎｄ ＲｏｂｅｒｔＭ
、Ｃａｒａｎｇｅｌｏ、 Ｆｕｅｌ、 ６１，６６３（
１９８２））、 この方法では、光の散乱とか反射に基
づくバックグラウンドがひとまとめにして差し引かれる
ことになる。
トルを測定する場合には、得られたスペクトルから直線
とか曲線を用いてベースラインを差し引くことによりバ
ックグラウンドを消去していた（大沢祥拡、松村秀彦、
藤井修治、燃協誌、４８＋７０３（１９６９）＋ Ｐｅ
ｔｅｒ Ｒ，Ｓｏｌｏｍｏｎ ａｎｄ ＲｏｂｅｒｔＭ
、Ｃａｒａｎｇｅｌｏ、 Ｆｕｅｌ、 ６１，６６３（
１９８２））、 この方法では、光の散乱とか反射に基
づくバックグラウンドがひとまとめにして差し引かれる
ことになる。
〔発明が解決しようとする問題点］
この方法では真のバックグラウンドは不明確であり、バ
ックグラウンドとしての直線や曲線の決定を人間の勘に
鎖らざるをえないところから分析精度に問題があっ°た
。
ックグラウンドとしての直線や曲線の決定を人間の勘に
鎖らざるをえないところから分析精度に問題があっ°た
。
本発明者らはこのような問題点を解決するべく鋭意検討
の結果、ＣｓｌとＫＢｒ等特定の関係にある２種以上の
無機物の均一混合物よりなる窓材を錠剤化した試料の後
方に密着して設置することによりバックグラウンドを軽
減させる窓材の作製方法を案出し、その内容を第３５回
日本分析化学会に発表した。この方法は、錠剤化試料の
透過光と散乱光を一様に散乱させることによって真の吸
収スペクトルを得ようとするものであり、バックグラウ
ンドが軽減されるほどピークの強度は大きくなり、Ｓ／
Ｂ比（シグナルバックグラウンド比）を約５倍程度改善
することができた。ところが光を散乱させるために検出
器に入射する光量が減少し、その結果Ｓ／Ｂ比（シグナ
ルノイズ比）がやや悪化するという問題点を生じた。
の結果、ＣｓｌとＫＢｒ等特定の関係にある２種以上の
無機物の均一混合物よりなる窓材を錠剤化した試料の後
方に密着して設置することによりバックグラウンドを軽
減させる窓材の作製方法を案出し、その内容を第３５回
日本分析化学会に発表した。この方法は、錠剤化試料の
透過光と散乱光を一様に散乱させることによって真の吸
収スペクトルを得ようとするものであり、バックグラウ
ンドが軽減されるほどピークの強度は大きくなり、Ｓ／
Ｂ比（シグナルバックグラウンド比）を約５倍程度改善
することができた。ところが光を散乱させるために検出
器に入射する光量が減少し、その結果Ｓ／Ｂ比（シグナ
ルノイズ比）がやや悪化するという問題点を生じた。
本発明はこれらの問題点を解決して不均一系試料の赤外
線スペクトルのＳ／Ｂ比及びＳ／Ｎ比を改善し、分析精
度を向上させることを目的としている。
線スペクトルのＳ／Ｂ比及びＳ／Ｎ比を改善し、分析精
度を向上させることを目的としている。
本発明はこのような目的を達成するべくなされたもので
あり、錠剤化された試料及び試料後方に密着した赤外線
散乱窓の周囲に配設され該試料より出射される赤外散乱
光及び反射光を捕集する反射鏡又はプリズムよりなる赤
外線吸収スペクトルのバックグラウンド軽減アクセサリ
−によりこの目的を達成したものである。
あり、錠剤化された試料及び試料後方に密着した赤外線
散乱窓の周囲に配設され該試料より出射される赤外散乱
光及び反射光を捕集する反射鏡又はプリズムよりなる赤
外線吸収スペクトルのバックグラウンド軽減アクセサリ
−によりこの目的を達成したものである。
第１図にこのアクセサリ−の使用Ｂ様の一例を示す。同
図に示すように反射鏡１の焦点位置２に錠剤化された試
料３が配置されている。この試料３は窓材４の中央の凹
所に嵌め込まれている。赤外光５は入射口６から反射鏡
１に入り、試料３に入射して透過、反射あるいは散乱さ
れる。透過光も窓材４により散乱される。また、前方に
散乱した赤外光も集光している。これらの試料からの出
射光は反射鏡１により集められ、平面鏡７、凹面鏡８を
通って検出器９に収束される。
図に示すように反射鏡１の焦点位置２に錠剤化された試
料３が配置されている。この試料３は窓材４の中央の凹
所に嵌め込まれている。赤外光５は入射口６から反射鏡
１に入り、試料３に入射して透過、反射あるいは散乱さ
れる。透過光も窓材４により散乱される。また、前方に
散乱した赤外光も集光している。これらの試料からの出
射光は反射鏡１により集められ、平面鏡７、凹面鏡８を
通って検出器９に収束される。
このように反射鏡には楕円面鏡あるいは放物面鏡等が用
いられる。反射鏡の径及び焦点距離は個個の赤外線分光
光度計に応じて適当になるように定めればよい。錠剤化
した試料は第１図に示す如く原則として焦点位置の付近
に置いて測定する。
いられる。反射鏡の径及び焦点距離は個個の赤外線分光
光度計に応じて適当になるように定めればよい。錠剤化
した試料は第１図に示す如く原則として焦点位置の付近
に置いて測定する。
しかしながら、試料の出入の便宜の点で第４図に示す如
く反射鏡（図ではプリズム１０）に嵌め込む形で設けて
もよい。反射鏡には赤外光線を試料に入射させる入射口
と試料を出し入れし所定位置に支持する機構が必要であ
る。散乱光の回収率を高めるために入射口の面積はなる
べく小さくするのがよい。そのために、例えば第２図に
示す如く入射赤外光線を反射鏡面付近で焦点を結ぶよう
に入射せしめてもよい。そのほか、反射鏡内の試料透過
光の通る部位に第３図に示す如く反射板１１等を設けて
透過光も反射させてもよい。反射板の形状としては平板
、円錐、球面などが利用される。
く反射鏡（図ではプリズム１０）に嵌め込む形で設けて
もよい。反射鏡には赤外光線を試料に入射させる入射口
と試料を出し入れし所定位置に支持する機構が必要であ
る。散乱光の回収率を高めるために入射口の面積はなる
べく小さくするのがよい。そのために、例えば第２図に
示す如く入射赤外光線を反射鏡面付近で焦点を結ぶよう
に入射せしめてもよい。そのほか、反射鏡内の試料透過
光の通る部位に第３図に示す如く反射板１１等を設けて
透過光も反射させてもよい。反射板の形状としては平板
、円錐、球面などが利用される。
反射鏡の代わりに第５図に示すようなプリズム１０を用
いてもよい。プリズムも反射鏡と同様に楕円面鏡又は放
物面鏡等の形状にして使用する。このプリズムは全反射
を利用するところに特徴があり、それによって高い反射
率が得られる点で反射鏡にまさる。材質は、ＫＲＳ−５
，ＫＲＳ−６，ＫＢｒ、 ＮａＣ１゜ＡｇＣｌ、 Ｃｓ
Ｌ ＣｓＢｒ、 ｓｔなど屈折率の高いものが好ましい
。外面に第５図に示すようにＡｔ被膜１２などを設けれ
ば光の漏出を防いで散乱光のさらに高い回収率を得るこ
とができる。プリズムの使用方法は反射鏡と同様でよい
。
いてもよい。プリズムも反射鏡と同様に楕円面鏡又は放
物面鏡等の形状にして使用する。このプリズムは全反射
を利用するところに特徴があり、それによって高い反射
率が得られる点で反射鏡にまさる。材質は、ＫＲＳ−５
，ＫＲＳ−６，ＫＢｒ、 ＮａＣ１゜ＡｇＣｌ、 Ｃｓ
Ｌ ＣｓＢｒ、 ｓｔなど屈折率の高いものが好ましい
。外面に第５図に示すようにＡｔ被膜１２などを設けれ
ば光の漏出を防いで散乱光のさらに高い回収率を得るこ
とができる。プリズムの使用方法は反射鏡と同様でよい
。
反射鏡あるいはプリズムによって集めた光は検出器の検
出面に収束させる。そのために凹面鏡、レンズ等を適宜
付加することができる。そのほか光度計内部の配置の関
係で光路を変える必要がある場合には平面鏡等が適宜追
加されることはいうまでもない。一方、第４図に示す如
（反射鏡あるいはプリズムを楕円球状とし、その一方の
焦点に試料を置いて他方の焦点に検出器を置く態様も可
能である。その場合、反射鏡とプリズムを組合せてもよ
い。
出面に収束させる。そのために凹面鏡、レンズ等を適宜
付加することができる。そのほか光度計内部の配置の関
係で光路を変える必要がある場合には平面鏡等が適宜追
加されることはいうまでもない。一方、第４図に示す如
（反射鏡あるいはプリズムを楕円球状とし、その一方の
焦点に試料を置いて他方の焦点に検出器を置く態様も可
能である。その場合、反射鏡とプリズムを組合せてもよ
い。
本発明のアクセサリ−は本発明者らが先に開発した窓材
と組合せて用いることによって威力を発渾するものであ
る。
と組合せて用いることによって威力を発渾するものであ
る。
この窓材は屈折率の異なる２種以上の無機物から形成さ
れ、少な（ともその一のものの屈折率は錠剤を形成せし
める無機物の屈折率と０．１以上異ならなくてはならな
い。他の無機物の屈折率は前記錠剤用無機物の屈折率と
異ならなくてもよく、例えばこの錠剤用無機物と同一で
あってもよい。
れ、少な（ともその一のものの屈折率は錠剤を形成せし
める無機物の屈折率と０．１以上異ならなくてはならな
い。他の無機物の屈折率は前記錠剤用無機物の屈折率と
異ならなくてもよく、例えばこの錠剤用無機物と同一で
あってもよい。
次に、この窓材を形成する無機物はいずれも表面反射損
失が少なくかつ赤外線吸収スペクトルを測定する全波長
にわたって赤外光を透過しうるちのでなければならない
。表面反射損失は少なければ少ない程好ましく、１／３
以下、なるべく１／３以下であることが好ましい。赤外
線吸収スペクトルは通常波数６００〜４０００ｃｍ−’
程度の範囲が測定されるからこの全範囲で透過性を有す
ることが必要である。
失が少なくかつ赤外線吸収スペクトルを測定する全波長
にわたって赤外光を透過しうるちのでなければならない
。表面反射損失は少なければ少ない程好ましく、１／３
以下、なるべく１／３以下であることが好ましい。赤外
線吸収スペクトルは通常波数６００〜４０００ｃｍ−’
程度の範囲が測定されるからこの全範囲で透過性を有す
ることが必要である。
透過性はなるべく高いことが好ましく、例えば厚さ５Ｍ
で透過率６０％以上あればよい。
で透過率６０％以上あればよい。
このような窓材用無機物に適するものの例としてはＮａ
Ｃ１（Ｍ折率１．５１９）、ＫＢｒ （屈折率１ 、５
２６）、ＫＲＳ−５（屈折率２．３７１）、ＫＲ３〜６
（屈折率２．１７７）、ＡｇＣ１（屈折率１．９８０）
、Ｃｓ１（屈折率１．７３８）、Ｃ５Ｂｒ（屈折率１．
６６２）、Ｓｉ（屈折率３．４２２）、などを挙げるこ
とができる。錠剤用無機物にＫＢｒを用いた場合にはこ
れと屈折率の異なる窓材用無機物としてはＫＲＳ−５、
にＲ５−６、ＡｇＣ１，５ｉＳＣ３Ｉ及びＣｓＢｒが適
当であり、ＮａＣ１は屈折率の差が小さすぎるため適当
でない。
Ｃ１（Ｍ折率１．５１９）、ＫＢｒ （屈折率１ 、５
２６）、ＫＲＳ−５（屈折率２．３７１）、ＫＲ３〜６
（屈折率２．１７７）、ＡｇＣ１（屈折率１．９８０）
、Ｃｓ１（屈折率１．７３８）、Ｃ５Ｂｒ（屈折率１．
６６２）、Ｓｉ（屈折率３．４２２）、などを挙げるこ
とができる。錠剤用無機物にＫＢｒを用いた場合にはこ
れと屈折率の異なる窓材用無機物としてはＫＲＳ−５、
にＲ５−６、ＡｇＣ１，５ｉＳＣ３Ｉ及びＣｓＢｒが適
当であり、ＮａＣ１は屈折率の差が小さすぎるため適当
でない。
これらのなかではＣｓｌ及びＣｓＢｒが特に好ましい。
ＫＲＳ−５及びＫＲＳ−６は表面反射損失が２４〜２８
％と大きく、ＡｇＣ１は表面反射損失が２０％と比較的
大きいことに加えて測定波長域の両端部における透過率
が大きくない点で問題が残る。これらと組合せる他の窓
材用無機物としては例えばＫＢｒＳＮａＣｌなどが適当
である。無機物の適当な混合比は重量比で通常９５：５
〜５：９５の範囲にある。一つの無機物にＫＣｌ５Ｎａ
Ｃ１、Ｋｌなどを用いた場合にもこれと組合わせる適当
な無機物が同様に選択される。
％と大きく、ＡｇＣ１は表面反射損失が２０％と比較的
大きいことに加えて測定波長域の両端部における透過率
が大きくない点で問題が残る。これらと組合せる他の窓
材用無機物としては例えばＫＢｒＳＮａＣｌなどが適当
である。無機物の適当な混合比は重量比で通常９５：５
〜５：９５の範囲にある。一つの無機物にＫＣｌ５Ｎａ
Ｃ１、Ｋｌなどを用いた場合にもこれと組合わせる適当
な無機物が同様に選択される。
窓材用無機物は２種に限定されるものではな（，３種以
上を混合して用いることもできる。
上を混合して用いることもできる。
窓材用無機物の混合比はバックグラウンドをなるべく小
さくしうるように定められ、例えばＫＢｒ錠剤法におい
て窓材としてＣ５Ｉ−にＢｒを用いた場合にはＣｓＩ
５０〜６０％程度が適当である。他の場合には適当な混
合比を実験によって求めればよい。
さくしうるように定められ、例えばＫＢｒ錠剤法におい
て窓材としてＣ５Ｉ−にＢｒを用いた場合にはＣｓＩ
５０〜６０％程度が適当である。他の場合には適当な混
合比を実験によって求めればよい。
核無機物は粒子状態で窓材に加工する。粒径は１〜１０
０即程度、特に３〜２０１程度が好ましい。各粉末は前
記無機物の純品のほか２種以上の前記無機物の固溶体あ
るいは均一分散体であってもよい。
０即程度、特に３〜２０１程度が好ましい。各粉末は前
記無機物の純品のほか２種以上の前記無機物の固溶体あ
るいは均一分散体であってもよい。
窓材は屈折率の異なる上記の無機物粒子が寄集まった状
態になるように成型される。この成型方法としては無機
物粒子の混合粉末を例えば真空プレス成型すればよい。
態になるように成型される。この成型方法としては無機
物粒子の混合粉末を例えば真空プレス成型すればよい。
このような窓材においては、屈折率の異なる無機物がラ
ンダムに寄り集゛まった状態になるため赤外光が無機物
の境界面で屈折し表面反射もひきおこす。その結果、光
の散乱度が増して窓材から検出器へ放出される光の均一
性が向上し、スペクトルのＳ／Ｂ比を同上させる。光の
一部は試料部に反射され、試料から再び窓材へ戻される
ことによってその情報量が増すという効果もある。
ンダムに寄り集゛まった状態になるため赤外光が無機物
の境界面で屈折し表面反射もひきおこす。その結果、光
の散乱度が増して窓材から検出器へ放出される光の均一
性が向上し、スペクトルのＳ／Ｂ比を同上させる。光の
一部は試料部に反射され、試料から再び窓材へ戻される
ことによってその情報量が増すという効果もある。
窓材の厚さは０．５〜５ｆｆｆｆ１１程度が適当である
。形状は例えば打錠された試料と同径あるいは異径のデ
ィスク状であってもよく、あるいは第６図に示すような
打錠された試料３を挿入する凹所を有する皿状としても
よい。第６図の例のものは特に好ましい。
。形状は例えば打錠された試料と同径あるいは異径のデ
ィスク状であってもよく、あるいは第６図に示すような
打錠された試料３を挿入する凹所を有する皿状としても
よい。第６図の例のものは特に好ましい。
この窓材は打錠された試料の後方に密着させて使用する
必要がある。
必要がある。
本発明のアクセサリ−の効果を高めるために試料はなる
べく小型にすることが好ましい。適当な試料の大きさは
アクセサリ−と相対的に定まり、例えば楕円鏡の場合、
たとえば短径の１／３以下にすることが好ましい。
べく小型にすることが好ましい。適当な試料の大きさは
アクセサリ−と相対的に定まり、例えば楕円鏡の場合、
たとえば短径の１／３以下にすることが好ましい。
試料の錠剤化の際に使用される従来のＫＢｒ等の希釈剤
の代わりに上記窓側と同様の無機物混合粉末を使用する
ことによって赤外吸収スペクトルの信号比をさらに増加
させることができる。この無機物は窓材と同一であって
もよく異なっていてもよい。この粉末を試料の錠剤化用
に使用する方法は従来のＫＢｒ等の単品の場合と同様で
よく、試料と均一に混合後所定の形状に真空プレス成型
すればよい。試料との混合比率も従来と同様でよい。
の代わりに上記窓側と同様の無機物混合粉末を使用する
ことによって赤外吸収スペクトルの信号比をさらに増加
させることができる。この無機物は窓材と同一であって
もよく異なっていてもよい。この粉末を試料の錠剤化用
に使用する方法は従来のＫＢｒ等の単品の場合と同様で
よく、試料と均一に混合後所定の形状に真空プレス成型
すればよい。試料との混合比率も従来と同様でよい。
不均一系試料の透過法によるスペクトルに大きなバック
グラウンドが生じる原因は散乱にあると考えられる。す
なわち、散乱された光はその一部分しか検出されていな
いために大きなノ＜・ツクグラウンドが生じる。従って
、散乱光、反射光及び透過光のすべてを捕集することが
できれば７１′ツタグラウンドの問題は解決する。この
ような着想のもとになされたものが本発明である。
グラウンドが生じる原因は散乱にあると考えられる。す
なわち、散乱された光はその一部分しか検出されていな
いために大きなノ＜・ツクグラウンドが生じる。従って
、散乱光、反射光及び透過光のすべてを捕集することが
できれば７１′ツタグラウンドの問題は解決する。この
ような着想のもとになされたものが本発明である。
一方錠剤化された試料から出射される赤外光Ｇよ面光源
と同様になるためその光を焦点に配置した検出器にすべ
て集めることは事実上困難である。
と同様になるためその光を焦点に配置した検出器にすべ
て集めることは事実上困難である。
そこで、前記窓材を用いてまず試料から一様に散乱され
るようにし、その光をなるべく多く捕集すればこの捕集
された光を試料から出射される全体の光にさらに近すけ
、バックグラウンドの消去を達成することができる。
るようにし、その光をなるべく多く捕集すればこの捕集
された光を試料から出射される全体の光にさらに近すけ
、バックグラウンドの消去を達成することができる。
本発明のアクセサリ−の例を第１図〜第５図に示す。
第１図〜第４図の例のものはいずれも楕円面鏡を反射鏡
１として用いており、第１図〜第３図の例においては錠
剤化された試料３が窓材４の凹所に嵌め込まれて、また
、第４図の例においては試料と略同形のディスク形窓材
の前方に密接させていずれも焦点位置２に配置されてい
る。第２図の例は赤外光５を入射口６付近に収束させて
入射口６を小さくした例であり、第３図の例は試料３の
後方にカセグレン式の反射板１１を配設して試料の透過
光も反射させるようにした例である。第４図の例は楕円
面ｍ１の一方の焦点に試料３をそして他方の焦点に検出
器９を配置した例である。
１として用いており、第１図〜第３図の例においては錠
剤化された試料３が窓材４の凹所に嵌め込まれて、また
、第４図の例においては試料と略同形のディスク形窓材
の前方に密接させていずれも焦点位置２に配置されてい
る。第２図の例は赤外光５を入射口６付近に収束させて
入射口６を小さくした例であり、第３図の例は試料３の
後方にカセグレン式の反射板１１を配設して試料の透過
光も反射させるようにした例である。第４図の例は楕円
面ｍ１の一方の焦点に試料３をそして他方の焦点に検出
器９を配置した例である。
第５図の例は散乱光の集光にプリズム１０を利用した例
である。このプリズム１０はＫＲＳ−５を楕円面鏡状に
加工しその外面にＡＩ被膜１２の鏡面を設けている。窓
材４に収容された試料３はプリズムｌＯの中央部に嵌め
込む形で配置されている。
である。このプリズム１０はＫＲＳ−５を楕円面鏡状に
加工しその外面にＡＩ被膜１２の鏡面を設けている。窓
材４に収容された試料３はプリズムｌＯの中央部に嵌め
込む形で配置されている。
第１図に示すようにして赤外線吸収スペクトルを測定し
た結果を第７図に示す。
た結果を第７図に示す。
試料は石炭粉末であり、ＫＢｒで錠剤化した。窓材には
Ｃ５Ｉの微粉末（１２５１ｒｍアンダー）とにＢｒの微
粉末（１２５ｐアンダー）を各種比率で混合し、第６図
に示す形状に真空プレス成型して用いた。第７図におい
てａは従来例であり、反射鏡及び窓材のいずれも使用せ
ずに測定して得られたスペクトルである。ｂ−ｆは窓材
のみを使用した例であり、ＣｓＩの混合比（重量含有率
）をｂは２０％、Ｃは３０％、ｄは４０％、ｅは５０％
そしてｆは６０％のものを用いて得られたスペクトルで
ある。ｇはＣｓｌの含有率６０％の窓材を用いさらに反
射鏡を使用して測定して得られたスペクトルである。
Ｃ５Ｉの微粉末（１２５１ｒｍアンダー）とにＢｒの微
粉末（１２５ｐアンダー）を各種比率で混合し、第６図
に示す形状に真空プレス成型して用いた。第７図におい
てａは従来例であり、反射鏡及び窓材のいずれも使用せ
ずに測定して得られたスペクトルである。ｂ−ｆは窓材
のみを使用した例であり、ＣｓＩの混合比（重量含有率
）をｂは２０％、Ｃは３０％、ｄは４０％、ｅは５０％
そしてｆは６０％のものを用いて得られたスペクトルで
ある。ｇはＣｓｌの含有率６０％の窓材を用いさらに反
射鏡を使用して測定して得られたスペクトルである。
次に、赤外線吸収スペクトルを測定した別の例を第８図
に示す。
に示す。
試料はやはりアモルファスシリコン粉末であり、ＫＢｒ
で錠剤化した０図中りは従来例であり、ｉはＣｓｌの微
粉末（１２５ａｍアンダー）６０重量％とＫＢｒの微粉
末（１２５ｎアンダー） ４０１Ｆ１％の混合粉末をデ
ィスク状に真空プレス成型した窓材を用いて得られたス
ペクトルである。また、ｊはこの窓材に加えて楕円面鏡
を用い第４図に示すようにして測定した例である。同図
に示すように窓材を用いることによって例えば波数２０
００ｃｍ−’付近に従来例では不明の新しいピークが明
瞭に現れている。さらに、この例では感度不足のためス
ペクトルのリズル成分が大きいがｊの例においてはこの
振動もなくなってピークの高さを正確に知ることができ
た。
で錠剤化した０図中りは従来例であり、ｉはＣｓｌの微
粉末（１２５ａｍアンダー）６０重量％とＫＢｒの微粉
末（１２５ｎアンダー） ４０１Ｆ１％の混合粉末をデ
ィスク状に真空プレス成型した窓材を用いて得られたス
ペクトルである。また、ｊはこの窓材に加えて楕円面鏡
を用い第４図に示すようにして測定した例である。同図
に示すように窓材を用いることによって例えば波数２０
００ｃｍ−’付近に従来例では不明の新しいピークが明
瞭に現れている。さらに、この例では感度不足のためス
ペクトルのリズル成分が大きいがｊの例においてはこの
振動もなくなってピークの高さを正確に知ることができ
た。
本発明のアクセサリ−により、散乱光の集光率を高め、
Ｓ／Ｂ比及びＳ／Ｎ比を改善して不均一系試料の正確な
赤外線スペクトルを得ることができ、分析精度を大幅に
高めることができる。従来法では発見しに（かったピー
クも発見できる。かかる本発明のアクセサリ−は従来測
定が困難であった不均一で散乱性が強く光学的に暗い試
料に対して特に有効で良質なスペクトルを得ることがで
きる。
Ｓ／Ｂ比及びＳ／Ｎ比を改善して不均一系試料の正確な
赤外線スペクトルを得ることができ、分析精度を大幅に
高めることができる。従来法では発見しに（かったピー
クも発見できる。かかる本発明のアクセサリ−は従来測
定が困難であった不均一で散乱性が強く光学的に暗い試
料に対して特に有効で良質なスペクトルを得ることがで
きる。
第１図は本発明の一実施例であるアクセサリ−に反射鏡
を用いて不均一系試料の赤外線吸収スペクトルを測定す
る状態の概要を示す側面断面図であり、第２図及び第３
図はこの反射鏡の変更例を示す側面断面図である。第４
図は楕円面鏡の一方の焦点に試料をそして他方の焦点に
検出器を置いて測定する例を示す側面断面図である。第
５図はアクセサリ−にプリズムを用いた例を示す側面断
面図である。第６図は窓材に打錠した試料を入れた状態
の断面図であり、第７図及び第８図は本発明のアクセサ
リ−を用いて得られた不均一系試料の赤外線吸収スペク
トルを用いなかった場合と対比して示したスペクトル図
である
を用いて不均一系試料の赤外線吸収スペクトルを測定す
る状態の概要を示す側面断面図であり、第２図及び第３
図はこの反射鏡の変更例を示す側面断面図である。第４
図は楕円面鏡の一方の焦点に試料をそして他方の焦点に
検出器を置いて測定する例を示す側面断面図である。第
５図はアクセサリ−にプリズムを用いた例を示す側面断
面図である。第６図は窓材に打錠した試料を入れた状態
の断面図であり、第７図及び第８図は本発明のアクセサ
リ−を用いて得られた不均一系試料の赤外線吸収スペク
トルを用いなかった場合と対比して示したスペクトル図
である
Claims (3)
- （１）錠剤化された試料及び試料後方に密着した赤外線
散乱窓の周囲に配設され該試料より出射される赤外線散
乱光及び反射光を捕集する反射鏡又はプリズムよりなる
、赤外吸収スペクトルのバックグラウンド軽減アクセサ
リー - （２）赤外線散乱窓が少なくとも一のものの屈折率が他
のものの屈折率と０．１以上異なり、表面反射損失が１
／３以下でかつ赤外光を透過しうる、屈折率の異なる２
種以上の無機物よりなる赤外線散乱剤によって形成され
ている特許請求の範囲第１項記載のアクセサリー - （３）試料が少なくとも一のものの屈折率が他のものの
屈折率と０．１以上異なり、表面反射損失が１／３以下
でかつ赤外光を透過しうる、屈折率の異なる２種以上の
無機物よりなる赤外吸収スペクトルの増感希釈剤によっ
て錠剤化されたものである特許請求の範囲第１項又は第
２項記載のアクセサリー
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62271704A JPH01169341A (ja) | 1986-12-24 | 1987-10-29 | 赤外線吸収スペクトルのバックグラウンド軽減アクセサリー |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61-306572 | 1986-12-24 | ||
| JP30657286 | 1986-12-24 | ||
| JP62271704A JPH01169341A (ja) | 1986-12-24 | 1987-10-29 | 赤外線吸収スペクトルのバックグラウンド軽減アクセサリー |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01169341A true JPH01169341A (ja) | 1989-07-04 |
| JPH0545901B2 JPH0545901B2 (ja) | 1993-07-12 |
Family
ID=17958670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62271704A Granted JPH01169341A (ja) | 1986-12-24 | 1987-10-29 | 赤外線吸収スペクトルのバックグラウンド軽減アクセサリー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01169341A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5057691A (en) * | 1989-06-28 | 1991-10-15 | Nkk Corporation | Dilution material, filter and accessory for measuring infrared spectra |
| JP2009150808A (ja) * | 2007-12-21 | 2009-07-09 | Yamatake Corp | 曇り検出装置および鏡面冷却式露点計 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51128544A (en) * | 1975-04-30 | 1976-11-09 | Canon Inc | Light difusive material |
-
1987
- 1987-10-29 JP JP62271704A patent/JPH01169341A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51128544A (en) * | 1975-04-30 | 1976-11-09 | Canon Inc | Light difusive material |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5057691A (en) * | 1989-06-28 | 1991-10-15 | Nkk Corporation | Dilution material, filter and accessory for measuring infrared spectra |
| JP2009150808A (ja) * | 2007-12-21 | 2009-07-09 | Yamatake Corp | 曇り検出装置および鏡面冷却式露点計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0545901B2 (ja) | 1993-07-12 |
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