JPH01178448A - 低誘電率セラミックスの製造方法 - Google Patents

低誘電率セラミックスの製造方法

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JPH01178448A
JPH01178448A JP329588A JP329588A JPH01178448A JP H01178448 A JPH01178448 A JP H01178448A JP 329588 A JP329588 A JP 329588A JP 329588 A JP329588 A JP 329588A JP H01178448 A JPH01178448 A JP H01178448A
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JP
Japan
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ceramic
dielectric constant
ceramics
layers
sintered body
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Pending
Application number
JP329588A
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English (en)
Inventor
Wakichi Tsukamoto
塚本 和吉
Yasunobu Yoneda
康信 米田
Yukio Sakabe
行雄 坂部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、例えば電子回路用基板、誘電体アンテナ等
に用いられる低誘電率セラミックスの製造方法に関する
(従来の技術〕 回路基板等に用いられるセラミックスには、−船釣にそ
の誘電率εが小さいことが要求される。
これは例えば、当該基板の伝搬遅延時間τは、光速をC
とするとτ=F/cで表され、誘電率εが大きいと高速
動作回路の実現等に支障を来すようになるからである。
この場合、緻密質のセラミックスよりも低い誘電率を得
るためには、セラミックス中に空孔を導入するのが一般
的な方法である。
但し、この空孔が三次元的に連続した空孔であると、湿
度の高い環境に置かれる等すると、空孔に湿気が浸入し
、Q値の低下や絶縁抵抗の低下を引き起こす。
そのため、このポーラスなセラミックスを実際に使用す
るに当たっては、樹脂を空孔に充填し、湿気の浸入を防
ぐコンポジット構造にしている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、樹脂はセラミックスよりもQ値が小さい
ため、コンポジット構造にすれば、セラミックスのみの
単一構造よりQ値は低下してしまう。
また、樹脂の電気的信頼性はセラミックスのそれより低
いため、コンポジット構造の場合の信頼性は樹脂の信頼
性によって規定されてしまう。
以上のような理由で、樹脂とのコンポジット構造は、セ
ラミックスが本来備えている□高いQ値と高い信頼性を
損なうという問題がある。
そこでこの発明は、セラミックスの持つ高いQ値と高い
信頼性を維持しつつ、緻密質のセラミックスよりも低い
誘電率を持つ低誘電率セラミックスを製造する方法を提
供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明の低誘電率セラミックスの製造方法は、未焼成
のセラミックス成形体であってその内部に当該セラミッ
クスの焼成温度よりも低い温度で焼失する材料から成る
層を1層以上有するものを作製してそれを焼成し、それ
によって内部に空隙層を1層以上有するセラミックス焼
結体を作ることを特徴とする。
〔作用〕
セラミックス焼結体内部に空隙層を設けることで、全体
の誘電率を緻密質のセラミックスよりも下げることがで
き、それによって低誘電率セラミックスが得られる。し
かも従来のコンポジット構造と違って樹脂を用いていな
いため、セラミックスの持つ高いQ値と高い信頼性を維
持することができる。
尚、セラミックスの焼成温度よりも低い温度で焼失する
材料は、有機材料、無機材料のいずれでも良い。
また、空隙層の暦数は目的とする誘電率等に応じて定め
れば良(、特定のものに限定されない。
また、空隙層はセラミックス焼結体内部にほぼ均等に設
けても良いし、所要の場所に偏在させても良い。
〔実施例1〕 アルミナ(純度99.8%、平均粒径り、。=1゜OI
Im)にアルリル系バインダーと可塑剤を加えて混合し
、ドクターブレード法によりアルミナグリ−ンシート(
厚さ300μm)を作製し、これを15mmφに打ち抜
いた。
一方、上記アルミナの焼成温度よりも低い温度で焼失す
るものの例として、カーボン(平均粒径り、。=1.0
μm)にセルロースとテレピネオールヲ加えて粘度20
00cpsのカーボンペーストを作製した。
そして第1図(A)に示すように、このカーボンペース
ト2を上記セラミックグリーンシート1に印刷した後、
それらを積層し、熱圧着して未焼成のセラミックス成形
体を得た。
次いでこれを、大気中で1700°Cにて焼成すること
で、第1図(B)に示すように、内部に複数の空隙層4
を有するアルミナ焼結体3が得られた。これは、アルミ
ナグリーンシートlの焼成に伴って、カーボンペースト
2が焼失してその後に空隙が残るためである。ちなみに
このアルミナ焼結体3の空隙率は70体積%であった。
そしてこれをIMH2,100MH2,l0GHzのそ
れぞれでその誘電率εとQ値を測定したところ、周波数
に拘らず、ε−3,9、Q=5×104であった。ちな
みに緻密質アルミナの誘電率は9〜10程度である。ま
た、銀電極を焼付けて地縁抵抗を測定したところ10′
3Ωであり、絶縁体として十分なものであった。
〔実施例2〕 同一出願人が別途提案している低温焼成可能なセラミッ
クス、即ちSiO□を25〜70重量%、AhOsを1
重量%以上20重量%未満、CaOを0重量%を超え3
0重量%以下、BaOを15〜70f!ffi%および
B2O3を1.5重量%以上3重量%未満含んで成る仮
焼粉砕物(平均粒径I)s。
−3μm)に、アルリル系バインダーと可塑剤を加えて
ドクターブレード法によりセラミックグリーンシート(
厚さ100 am)を作製し、これを15mmφに打ち
抜いた。
一方、上記セラミックスの焼成温度よりも低い温度で焼
失するものの例として、上記アクリル系バインダーと可
塑剤とを混合したものを同じくドクターブレード法によ
りシート状に成形しく厚さ100μm)、この有機シー
トを10mmφに打ち抜いた。
そして第2図(A)に示すように、この有機シート12
と上記セラミックグリーンシート11とを積層し、熱圧
着して未焼成のセラミックス成形体を得た。
次いでこれを、H2O/NZ  (即ち窒素中に水蒸気
を含む)雰囲気中で950〜1000°Cで焼成するこ
とで、第2図(B)に示すように、内部に複数の空隙層
14を有するセラミックス焼結体13が得られた。これ
は、セラミックグリーンシート11の焼成に伴って有機
シート12が焼失してその後に空隙が残るためである。
ちなみにこのセラミックス焼結体13の空隙率は50体
積%であった。そしてこれを実施例1と同様な条件で誘
電率ε、Q値および絶縁抵抗を測定したところ、ε=3
.5、Q=5X10’、絶縁抵抗=IQllΩであった
(発明の効果〕 以上のようにこの発明によれば、セラミックスの持つ高
いQ値と高い信頼性を維持しつつ、緻密質のセラミック
スよりも低い誘電率を持つ低誘電率セラミックスを得る
ことができる。しかもこの製造方法は、特定種類のセラ
ミックスに限定されルモノではなく、あらゆる種類のセ
ラミックスに適用することができる。
またこの製造方法によれば、内部の空隙層を偏在させる
ことも可能であり、そのようにすれば一つのセラミック
スに誘電率の高い部分と低い部分を持たせることができ
、例えば前者の部分はコンデンサとして、後者の部分は
高速で信号を伝達する回路等として使用することもでき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、実施例1の製造方法を説明するための図であ
る。第2図は、実施例2の製造方法を説明するための図
である。 1・・・アルミナグリーンシート、21.・カーボンペ
ースト、3・・・アルミナ焼結体、4.14・・、空隙
層、11・・・セラミックグリーンシート・12・・・
有機シート、13・・・セラミックス焼結体。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)未焼成のセラミックス成形体であってその内部に
    当該セラミックスの焼成温度よりも低い温度で焼失する
    材料から成る層を1層以上有するものを作製してそれを
    焼成し、それによって内部に空隙層を1層以上有するセ
    ラミックス焼結体を作ることを特徴とする低誘電率セラ
    ミックスの製造方法。
JP329588A 1988-01-11 1988-01-11 低誘電率セラミックスの製造方法 Pending JPH01178448A (ja)

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