JPH01184472A - 伝送路特性測定装置 - Google Patents
伝送路特性測定装置Info
- Publication number
- JPH01184472A JPH01184472A JP63007818A JP781888A JPH01184472A JP H01184472 A JPH01184472 A JP H01184472A JP 63007818 A JP63007818 A JP 63007818A JP 781888 A JP781888 A JP 781888A JP H01184472 A JPH01184472 A JP H01184472A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transmission line
- memory
- read
- frequency component
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、伝送路における振幅歪や位相歪などの伝送路
特性を測定する伝送路特性測定装置に関するものである
。
特性を測定する伝送路特性測定装置に関するものである
。
(従来の技術)
一般に、公衆回線や専用回線を介してディジタル信号を
伝送するシステムでは、符号量干渉が生じると伝送効率
の低下を招く。符号量干渉の最大の要因は伝送路におけ
る振幅歪や位相歪であり、ディジタル信号を高速伝送す
る場合や、多重化して伝送する場合には、これらの歪を
補正することが必要になる。
伝送するシステムでは、符号量干渉が生じると伝送効率
の低下を招く。符号量干渉の最大の要因は伝送路におけ
る振幅歪や位相歪であり、ディジタル信号を高速伝送す
る場合や、多重化して伝送する場合には、これらの歪を
補正することが必要になる。
そこで、“10011001”など予め定めたパターン
形状の試験パルスを伝送路を介して送信側から受信側に
伝送し、受信側において受信した試験パルスの周波数成
分を分析することにより、伝送路の振幅歪や位相歪など
の伝送路特性を測定する測定装置が知られている。
形状の試験パルスを伝送路を介して送信側から受信側に
伝送し、受信側において受信した試験パルスの周波数成
分を分析することにより、伝送路の振幅歪や位相歪など
の伝送路特性を測定する測定装置が知られている。
この測定装置は、送信側から送信する試験パルスの周波
数成分をR(ω)、伝送詫特性をH(ω)、伝送路で歪
を受けた試験パルスの周波数成分をX(ω)とすると、 X(ω)=R(ω)・H(ω)・・・(1)H(ω)=
X(ω)/R(ω)・・・(2)の関係式によって伝送
路特性を算出するもので、具体的には×(ω)を高速フ
ーリエ変換によって求め、この×(ω)と、該知のR(
ω)の逆数(1/R(ω))とを乗算することによって
算出するものである。
数成分をR(ω)、伝送詫特性をH(ω)、伝送路で歪
を受けた試験パルスの周波数成分をX(ω)とすると、 X(ω)=R(ω)・H(ω)・・・(1)H(ω)=
X(ω)/R(ω)・・・(2)の関係式によって伝送
路特性を算出するもので、具体的には×(ω)を高速フ
ーリエ変換によって求め、この×(ω)と、該知のR(
ω)の逆数(1/R(ω))とを乗算することによって
算出するものである。
(発明が解決しようとする課題)
ところが、上記の測定装置において、伝送路の逆特性1
/H(ω)を求めるためには、最初にH(ω)を求め、
次にその逆数を求めるという除算処理が必要となるが、
除算処理は、通常、加算と減算処理の組合せで行なわれ
ている。このため、伝送路の逆特性を算出するまでの時
間が長くなるという問題があった。
/H(ω)を求めるためには、最初にH(ω)を求め、
次にその逆数を求めるという除算処理が必要となるが、
除算処理は、通常、加算と減算処理の組合せで行なわれ
ている。このため、伝送路の逆特性を算出するまでの時
間が長くなるという問題があった。
本発明の目的は、伝送路歪の逆特性を短時間で求めるこ
とができる伝送路特性測定装置を提供することにある。
とができる伝送路特性測定装置を提供することにある。
(課題を解決するための手段)
本発明では、伝送路を介して受信した試験パルスを記憶
する試験パルスメモリと、記憶された試験パルスを読み
出してその周波数成分を高速フーリエ変換によって算出
する高速フーリエ演算手段と、算出された周波数成分に
対応したアドレスに該周波数成分の逆数を予め記憶し、
前記高速フーリエ演算手段によって算出された周波数成
分の値がアドレス信号として入力されることにより、そ
の逆数を出力する第1の−出し専用メモリと、送信側か
ら送信する試験パルスの周波数成分の値を予め記憶した
第2の読出し専用メモリと、前記第1の読出し専用メモ
リから読み出された値と前記第2の読出し専用メモリに
記憶された値とを乗算し、伝送路歪の逆特性を算出する
乗算器とを設けることにより、上記の目的を達成するも
のである。
する試験パルスメモリと、記憶された試験パルスを読み
出してその周波数成分を高速フーリエ変換によって算出
する高速フーリエ演算手段と、算出された周波数成分に
対応したアドレスに該周波数成分の逆数を予め記憶し、
前記高速フーリエ演算手段によって算出された周波数成
分の値がアドレス信号として入力されることにより、そ
の逆数を出力する第1の−出し専用メモリと、送信側か
ら送信する試験パルスの周波数成分の値を予め記憶した
第2の読出し専用メモリと、前記第1の読出し専用メモ
リから読み出された値と前記第2の読出し専用メモリに
記憶された値とを乗算し、伝送路歪の逆特性を算出する
乗算器とを設けることにより、上記の目的を達成するも
のである。
(作用)
高速フーリエ変換によって求めた周波数成分×(ω)を
第1の読出し専用メモリに入力し、その逆数1/x(ω
)に変換し、この1/x(ω)と第2の読出し専用メモ
リに記憶させておいたR(ω)と乗算する。
第1の読出し専用メモリに入力し、その逆数1/x(ω
)に変換し、この1/x(ω)と第2の読出し専用メモ
リに記憶させておいたR(ω)と乗算する。
これによって、1/H(ω)を乗n処理のみによる短い
演算時間で求めることができる。
演算時間で求めることができる。
(実施例)
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図であり、伝
送路に接続された入力端子1からの試験パルスを受信し
、受信信号メモリ3に記憶させるプロセッサ2と、Rω
)を記憶した読出し専用メtす(ROM>4と、1/x
(ω)を記憶り、?−読出し専用メモリ5と、R(ω)
・1/X(ω)を演算する乗算器6とから構成されてい
る。
送路に接続された入力端子1からの試験パルスを受信し
、受信信号メモリ3に記憶させるプロセッサ2と、Rω
)を記憶した読出し専用メtす(ROM>4と、1/x
(ω)を記憶り、?−読出し専用メモリ5と、R(ω)
・1/X(ω)を演算する乗算器6とから構成されてい
る。
この構成において、入力端子1から試験パルスが入力さ
れると、プロセッサ2はこの試験パルスを受信信号メモ
リ3に記憶させた後、この記憶させた試験パルスを読出
してその周波数成分×(ω)を高速フーリエ変換によっ
て算出する。次に、このX(ω)をROM5のアドレス
信号として入力し、×(ω)の逆数1/x(ω)を読出
す。さらに、ROM4から送信側から送信した試験パル
スの周波数成分R(ω)を読み出し、このR(ω)と1
/X(ω)を乗算器6に入力する。これにより、乗算器
6では 1/H(ω)=R(ω)・1/x(ω)の演算が行なわ
れ、伝送路歪の逆特性が算出される。
れると、プロセッサ2はこの試験パルスを受信信号メモ
リ3に記憶させた後、この記憶させた試験パルスを読出
してその周波数成分×(ω)を高速フーリエ変換によっ
て算出する。次に、このX(ω)をROM5のアドレス
信号として入力し、×(ω)の逆数1/x(ω)を読出
す。さらに、ROM4から送信側から送信した試験パル
スの周波数成分R(ω)を読み出し、このR(ω)と1
/X(ω)を乗算器6に入力する。これにより、乗算器
6では 1/H(ω)=R(ω)・1/x(ω)の演算が行なわ
れ、伝送路歪の逆特性が算出される。
なお、通常の伝送路特性については、破線で示す読出し
専用メモリ7を設け、ここに1/R(ω)を記憶させて
おき、X(ω)と1/R(ω)とを乗算器6において乗
算することによって求めることができる。
専用メモリ7を設け、ここに1/R(ω)を記憶させて
おき、X(ω)と1/R(ω)とを乗算器6において乗
算することによって求めることができる。
以上説明したように本発明においては、読出し専用メモ
リに1/X(ω)を予め記憶させておき、この1/x(
ω)とR(ω)とを乗算することにより伝送路歪の逆特
性を求めるようにしたため、伝送路の逆特性を短時間で
求めることができるようになり、適応形等化器やプリセ
ット形等化器など各種の等止器のタップ係数値を高速で
設定できる効果がある。
リに1/X(ω)を予め記憶させておき、この1/x(
ω)とR(ω)とを乗算することにより伝送路歪の逆特
性を求めるようにしたため、伝送路の逆特性を短時間で
求めることができるようになり、適応形等化器やプリセ
ット形等化器など各種の等止器のタップ係数値を高速で
設定できる効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
1・・・入力端子、2・・・プロセッサ、3・・・受信
信号メモリ、4,5・・・ROM、6・・・東口器。
信号メモリ、4,5・・・ROM、6・・・東口器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 送信側から予め定めたパターンの試験パルスを送信し、
該試験パルスを伝送路を介して受信した受信側において
伝送路特性を測定する伝送路特性測定装置において、 伝送路を介して受信した試験パルスを記憶する試験パル
スメモリと、 記憶された試験パルスを読み出してその周波数成分を高
速フーリエ変換によって算出する高速フーリエ演算手段
と、 算出された周波数成分に対応したアドレスに該周波数成
分の逆数を予め記憶し、前記高速フーリエ演算手段によ
って算出された周波数成分の値がアドレス信号として入
力されることにより、その逆数を出力する第1の読出し
専用メモリと、送信側から送信する試験パルスの周波数
成分の値を予め記憶した第2の読出し専用メモリと、前
記第1の読出し専用メモリから読み出された値と前記第
2の読出し専用メモリに記憶された値とを乗算し、伝送
路歪の逆特性を算出する乗算器と を備える伝送路特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63007818A JPH01184472A (ja) | 1988-01-18 | 1988-01-18 | 伝送路特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63007818A JPH01184472A (ja) | 1988-01-18 | 1988-01-18 | 伝送路特性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01184472A true JPH01184472A (ja) | 1989-07-24 |
Family
ID=11676172
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63007818A Pending JPH01184472A (ja) | 1988-01-18 | 1988-01-18 | 伝送路特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01184472A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08233880A (ja) * | 1995-01-06 | 1996-09-13 | Fluke Corp | ケーブルテストシステム |
| JP2011523043A (ja) * | 2008-05-14 | 2011-08-04 | コミサリア ア レネルジィ アトミーク エ オ ゼネ ルジイ アルテアナティーフ | 多搬送波反射率測定装置及び、少なくとも1つの伝送回線のオンライン分析 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60123931A (ja) * | 1983-12-07 | 1985-07-02 | Nec Corp | 演算回路 |
| JPS6162240A (ja) * | 1984-09-04 | 1986-03-31 | Toshiba Corp | 等化装置 |
| JPS6278629A (ja) * | 1985-10-02 | 1987-04-10 | Hitachi Denshi Ltd | 逆数値演算方式 |
-
1988
- 1988-01-18 JP JP63007818A patent/JPH01184472A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60123931A (ja) * | 1983-12-07 | 1985-07-02 | Nec Corp | 演算回路 |
| JPS6162240A (ja) * | 1984-09-04 | 1986-03-31 | Toshiba Corp | 等化装置 |
| JPS6278629A (ja) * | 1985-10-02 | 1987-04-10 | Hitachi Denshi Ltd | 逆数値演算方式 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08233880A (ja) * | 1995-01-06 | 1996-09-13 | Fluke Corp | ケーブルテストシステム |
| JP2011523043A (ja) * | 2008-05-14 | 2011-08-04 | コミサリア ア レネルジィ アトミーク エ オ ゼネ ルジイ アルテアナティーフ | 多搬送波反射率測定装置及び、少なくとも1つの伝送回線のオンライン分析 |
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