JPH01185496A - X線絞り装置 - Google Patents
X線絞り装置Info
- Publication number
- JPH01185496A JPH01185496A JP63009879A JP987988A JPH01185496A JP H01185496 A JPH01185496 A JP H01185496A JP 63009879 A JP63009879 A JP 63009879A JP 987988 A JP987988 A JP 987988A JP H01185496 A JPH01185496 A JP H01185496A
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- JP
- Japan
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- roi
- ray
- image
- rays
- reducer
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- Granted
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、X線発生器と検出器との間に設けられX線透
視又は撮影時の視野を制限するX線絞り装置に関する。
視又は撮影時の視野を制限するX線絞り装置に関する。
(従来の技術)
X線TVシステム等を用いたX線診断においては、透硯
の最中に1.!、サイズを切換えたり、関心領域(RO
I)のみを表示したりすることがある。特に、後者は、
近時に至って急速に普及してきたP T A (P e
rcutaneous T ransluo+1na
lA ngioplasty:経皮的血管形成術)にお
いて、バルーンカテーテルのバルーン部分に注目し、バ
ルーンの膨脂の程度を克明に観察するときに必要となっ
てきている。
の最中に1.!、サイズを切換えたり、関心領域(RO
I)のみを表示したりすることがある。特に、後者は、
近時に至って急速に普及してきたP T A (P e
rcutaneous T ransluo+1na
lA ngioplasty:経皮的血管形成術)にお
いて、バルーンカテーテルのバルーン部分に注目し、バ
ルーンの膨脂の程度を克明に観察するときに必要となっ
てきている。
しかるに、ROIのみにX線曝射を行えば、当初の目的
は達成されるものであるが、この場合、ROIのみを表
示することは画像上のことであってX線曝射とは別のこ
とであり、実際には被写体のROI以外の部分にもX線
が曝射されるケースが多い。これは、通常、この種のシ
ステムに備わっているX線絞り装置は手動によって操作
するものであるため、術者にとっては画像の観察とX線
照射野の把握との2者を考慮しなければならない等の大
変面倒な作業であることにその理由がある。
は達成されるものであるが、この場合、ROIのみを表
示することは画像上のことであってX線曝射とは別のこ
とであり、実際には被写体のROI以外の部分にもX線
が曝射されるケースが多い。これは、通常、この種のシ
ステムに備わっているX線絞り装置は手動によって操作
するものであるため、術者にとっては画像の観察とX線
照射野の把握との2者を考慮しなければならない等の大
変面倒な作業であることにその理由がある。
(発明が解決しようとする課題)
X線がROIや選択された!、I、の視野面積以上に曝
射されれば、被曝線量を増加させるのみならず散乱X線
を生じ検出器のダイナミックレンジを損う、という問題
点がある。
射されれば、被曝線量を増加させるのみならず散乱X線
を生じ検出器のダイナミックレンジを損う、という問題
点がある。
そこで本発明の目的は、ROIや選択された1、1.の
視野だけにX線曝射を行うことができるようにし、もっ
て被曝線量を増加させず且つ散乱X線を抑制して検出器
のダイナミックレンジを損わないようにしたX線絞り装
置を提供することにある。
視野だけにX線曝射を行うことができるようにし、もっ
て被曝線量を増加させず且つ散乱X線を抑制して検出器
のダイナミックレンジを損わないようにしたX線絞り装
置を提供することにある。
口発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は上記課題を解決し且つ目的を達成するために次
のような手段を講じたことを特徴としている。すなわち
、本発明は、X線発生器と検出器との間に設けられX線
透現又は撮影時の視野を制限するX線絞り装置において
、透視又は撮影された画像上に設定された領域より外側
の画素濃度を検知し当該画素濃度が予め定めた値以下と
なるようにX線絞りの位置を制御する手段を具備したこ
とを特徴とする。
のような手段を講じたことを特徴としている。すなわち
、本発明は、X線発生器と検出器との間に設けられX線
透現又は撮影時の視野を制限するX線絞り装置において
、透視又は撮影された画像上に設定された領域より外側
の画素濃度を検知し当該画素濃度が予め定めた値以下と
なるようにX線絞りの位置を制御する手段を具備したこ
とを特徴とする。
(作用)
このような構成によれば、人手によらずに自動的に画像
上の領域を認識でき、そして領域内をX線照射野とする
ことができるようになり、よって被曝線量を増加させず
且つ散乱X線を抑制して検出器のダイナミックレンジを
損わないようにすることができる。
上の領域を認識でき、そして領域内をX線照射野とする
ことができるようになり、よって被曝線量を増加させず
且つ散乱X線を抑制して検出器のダイナミックレンジを
損わないようにすることができる。
(実施例)
以下本発明にかかるX線絞り装置の一実施例を第1図を
参照して説明する。図示しないX線発生器から曝射され
たX線は絞り器1によりその照射野を制限できるように
なっている。この絞り器1は、上下の鉛1i1A1.I
A2及び左右の鉛板IA3.1A4と、その駆動回路I
BI、IB2とを有している。そして、駆動回路IBI
は内蔵したモータにより上下の鉛板IAI、IA2をペ
アで上下方向に駆動でき、駆動回路IB2は内蔵したモ
ータにより左右の鉛板IA3.IA4をペアで左右方向
に駆動できる。よって、X線照射野として利用される鉛
板IA1.IA2.IA3゜1A4の内縁の内側を所望
の大きさに設定できるようになる。
参照して説明する。図示しないX線発生器から曝射され
たX線は絞り器1によりその照射野を制限できるように
なっている。この絞り器1は、上下の鉛1i1A1.I
A2及び左右の鉛板IA3.1A4と、その駆動回路I
BI、IB2とを有している。そして、駆動回路IBI
は内蔵したモータにより上下の鉛板IAI、IA2をペ
アで上下方向に駆動でき、駆動回路IB2は内蔵したモ
ータにより左右の鉛板IA3.IA4をペアで左右方向
に駆動できる。よって、X線照射野として利用される鉛
板IA1.IA2.IA3゜1A4の内縁の内側を所望
の大きさに設定できるようになる。
絞り器1で照射野を制限されたX線は、PTAが行なわ
れている図示しない被検者を透過して1、I、(イメー
ジインテンシファイヤ)2に至り、ここで光学像に変換
され、これをTV左カメラにて画像入力して電気信号化
し、A/D変換器4にてディジタル信仔化した後に画像
メモリ5に格納する。
れている図示しない被検者を透過して1、I、(イメー
ジインテンシファイヤ)2に至り、ここで光学像に変換
され、これをTV左カメラにて画像入力して電気信号化
し、A/D変換器4にてディジタル信仔化した後に画像
メモリ5に格納する。
画像メモリ5に格納されたX線画像は映像化処理回路に
てD/A変換を含む拡大等の画像処理を経た後にモニタ
7にて表示かなされる。また、ROI設定回路8により
画像上にROI設定を行うことかでき、当該ROI 領
域の拡大表示を行うことができるようになっている。
てD/A変換を含む拡大等の画像処理を経た後にモニタ
7にて表示かなされる。また、ROI設定回路8により
画像上にROI設定を行うことかでき、当該ROI 領
域の拡大表示を行うことができるようになっている。
第2図(a)は拡大を行なわない場合のモニタ7におけ
る表示例であり、第2図(b)は第2図(a)の画像中
のバルーンカテーテルBCの先端のバルーンが位置して
いる部位をROIとして設定し該ROI領域の拡大を行
なう場合のモニタ7における表示例である。すなわち、
第2図(b)に示すRO1部分だけの表示を診断情報と
しているにもかかわらず、第2図(a)に示すようにR
OI以外の部分(ROIの外側)にもX線が曝射され、
被曝線量を増加させるのみならず散乱X線を生じ検出器
のダイナミックレンジを損わせていることを示している
。
る表示例であり、第2図(b)は第2図(a)の画像中
のバルーンカテーテルBCの先端のバルーンが位置して
いる部位をROIとして設定し該ROI領域の拡大を行
なう場合のモニタ7における表示例である。すなわち、
第2図(b)に示すRO1部分だけの表示を診断情報と
しているにもかかわらず、第2図(a)に示すようにR
OI以外の部分(ROIの外側)にもX線が曝射され、
被曝線量を増加させるのみならず散乱X線を生じ検出器
のダイナミックレンジを損わせていることを示している
。
本実施例では、ROI設定回路8により与えられたRO
Iの外側の画素濃度を検知し、このl農度の変化により
コントロール回路1oに対して指令を与えて絞り器1の
絞りを制御することができるようになっており、以下そ
の具体例を説明する。
Iの外側の画素濃度を検知し、このl農度の変化により
コントロール回路1oに対して指令を与えて絞り器1の
絞りを制御することができるようになっており、以下そ
の具体例を説明する。
すなわち、画素濃度検知回路9は、ROI設定回路8に
より画像上にROI設定を行ったとき、ROIの外側P
L、P2.P3’、P4の画素濃度の変化を検知するこ
とができるようになっている。
より画像上にROI設定を行ったとき、ROIの外側P
L、P2.P3’、P4の画素濃度の変化を検知するこ
とができるようになっている。
例えば、一画素濃度検知回路9に4つのレジスタを持た
せ、この4つのレジスタそれぞれにROIの外側Pi、
P2.P3.P4の画素濃度データを入れる。そして、
絞り器1の絞り、先ず上下方向の絞りを小さくするにつ
れてROIの外側P1゜P2の画素l農度データの変化
をモニタリングし、PL、P2の内の少なくとも一方が
30%以上の濃度低下が検知された時点で上下の絞りを
閉じるのを停止し、この状態で上下の絞りの位置を保つ
ようにする。また、左右方向の絞りについても同様であ
る。
せ、この4つのレジスタそれぞれにROIの外側Pi、
P2.P3.P4の画素濃度データを入れる。そして、
絞り器1の絞り、先ず上下方向の絞りを小さくするにつ
れてROIの外側P1゜P2の画素l農度データの変化
をモニタリングし、PL、P2の内の少なくとも一方が
30%以上の濃度低下が検知された時点で上下の絞りを
閉じるのを停止し、この状態で上下の絞りの位置を保つ
ようにする。また、左右方向の絞りについても同様であ
る。
このようにすることにより、第3図(a)に示すように
ROI以外の部分(ROIの外側の斜線部分)にはX線
が曝射されずに、第3図(b)に示すRO1部分だけの
表示を診断情報として利用でき、よって、被曝線量を増
加させることなく、散乱X線の発生を抑制して検出器の
ダイナミックレンジを↑員わせないものとなる。
ROI以外の部分(ROIの外側の斜線部分)にはX線
が曝射されずに、第3図(b)に示すRO1部分だけの
表示を診断情報として利用でき、よって、被曝線量を増
加させることなく、散乱X線の発生を抑制して検出器の
ダイナミックレンジを↑員わせないものとなる。
以上の動作原理を説明する。すなわち、X線絞りを絞っ
て来るとROIの外側の画素濃度は、ROIの外側は絞
りによりX線が当たらず且つX線が当たっている部分か
らの散乱X線成分だけとなるため非常に低い値となる。
て来るとROIの外側の画素濃度は、ROIの外側は絞
りによりX線が当たらず且つX線が当たっている部分か
らの散乱X線成分だけとなるため非常に低い値となる。
特に、ROIを決める領域の境界付近の濃度はその付近
までX線絞りが閉じられて来ると急激に小さくなる。従
って、上記の例では、ROIの外側Pi、P2.P3゜
P4の画素濃度変化により絞りの位置を決めることがで
きることができる。
までX線絞りが閉じられて来ると急激に小さくなる。従
って、上記の例では、ROIの外側Pi、P2.P3゜
P4の画素濃度変化により絞りの位置を決めることがで
きることができる。
上記の実施例では、ROIは画面上の特定領域であると
したが、画面全体であってもよく、またRotの設定は
自動°又は手動のいずれてもよい。
したが、画面全体であってもよく、またRotの設定は
自動°又は手動のいずれてもよい。
さらに、上記の例では絞り器1の絞り動作は上下と左右
とを2系統にて動作するものとしているが、4枚の鉛板
をそれぞれ別個に動作させる構成のものでもよい。また
、絞り器としては、4枚の鉛板を有するもの以外に、円
形の絞り羽根を有するものでもよい。
とを2系統にて動作するものとしているが、4枚の鉛板
をそれぞれ別個に動作させる構成のものでもよい。また
、絞り器としては、4枚の鉛板を有するもの以外に、円
形の絞り羽根を有するものでもよい。
なお、絞りコントロール回路10はX線透視又は撮影ス
イッチ11がオンのときのみ働き、オフされたときには
、その直前で絞り位置かロックされる構成であり、これ
により、絞り制御は透視又は撮影時にのみ効果的に動作
が行なわれるようになる。また、上記絞り制御を、RO
Iを設定した時点で動作するように構成してもよい。
イッチ11がオンのときのみ働き、オフされたときには
、その直前で絞り位置かロックされる構成であり、これ
により、絞り制御は透視又は撮影時にのみ効果的に動作
が行なわれるようになる。また、上記絞り制御を、RO
Iを設定した時点で動作するように構成してもよい。
もちろん、上述したような画面上にROIを設定したと
きにROI内のみに曝射かなされるようにする例以外に
、1.1.サイズに応じ該サイズ内にX線曝射がなされ
るように絞り制御を行う例にも適用できるものであり、
透視モードだけに特定されず撮影モードにも適用できる
。
きにROI内のみに曝射かなされるようにする例以外に
、1.1.サイズに応じ該サイズ内にX線曝射がなされ
るように絞り制御を行う例にも適用できるものであり、
透視モードだけに特定されず撮影モードにも適用できる
。
この池水発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実
施できるものである。
施できるものである。
[発明の効果]
以上のように本発明では、透視又は撮影された画像上に
設定された領域より外側の画素濃度を検知し当該画素を
農度が予め定めた値以下となるようにX線絞りの位置を
制御する手段を具備したことにより、人手によらずに自
動的に画像上の領域を認識でき、そして領域内をX線照
射野とすることができるようになり、よって被曝線;を
増加させず且つ散乱X線を抑制して検出器のダイナミッ
クレンジを損わないようにしたX線絞り装置を提供でき
る。
設定された領域より外側の画素濃度を検知し当該画素を
農度が予め定めた値以下となるようにX線絞りの位置を
制御する手段を具備したことにより、人手によらずに自
動的に画像上の領域を認識でき、そして領域内をX線照
射野とすることができるようになり、よって被曝線;を
増加させず且つ散乱X線を抑制して検出器のダイナミッ
クレンジを損わないようにしたX線絞り装置を提供でき
る。
第1図は本発明にかかるX線絞り装置の一実施例の構成
を示す図、第2図及び第3図はそれぞれ同実施例の作用
を示す図である。 1・・・絞り器、2・・・I、I、 、3・・TVカ
メラ、4・・・A/D変換器、5・・・画像メモリ、6
・・・映像化処理回路、7・・・モニタ、8・・ROI
設定回路、9・・画素濃度検知回路、10・・・絞りコ
ントロール回路、11・・・X線透視又は撮影スイッチ
。 出願人代理人、弁理士 鈴江武彦
を示す図、第2図及び第3図はそれぞれ同実施例の作用
を示す図である。 1・・・絞り器、2・・・I、I、 、3・・TVカ
メラ、4・・・A/D変換器、5・・・画像メモリ、6
・・・映像化処理回路、7・・・モニタ、8・・ROI
設定回路、9・・画素濃度検知回路、10・・・絞りコ
ントロール回路、11・・・X線透視又は撮影スイッチ
。 出願人代理人、弁理士 鈴江武彦
Claims (1)
- X線発生器と検出器との間に設けられX線透視又は撮影
時の視野を制限するX線絞り装置において、透視又は撮
影された画像上に設定された領域より外側の画素濃度を
検知し当該画素濃度が予め定めた値以下となるようにX
線絞りの位置を制御する手段を具備したことを特徴とす
るX線絞り装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63009879A JP2695809B2 (ja) | 1988-01-20 | 1988-01-20 | X線絞り装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63009879A JP2695809B2 (ja) | 1988-01-20 | 1988-01-20 | X線絞り装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01185496A true JPH01185496A (ja) | 1989-07-25 |
| JP2695809B2 JP2695809B2 (ja) | 1998-01-14 |
Family
ID=11732442
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63009879A Expired - Fee Related JP2695809B2 (ja) | 1988-01-20 | 1988-01-20 | X線絞り装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2695809B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007024262A (ja) * | 2005-07-20 | 2007-02-01 | Tabuchi Corp | エルボ管継手 |
| JP2010193956A (ja) * | 2009-02-23 | 2010-09-09 | Toshiba Corp | X線診断治療装置 |
| JP2011212108A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Fujifilm Corp | 画像処理装置、画像処理方法、および放射線画像システム |
| JP2011229559A (ja) * | 2010-04-23 | 2011-11-17 | Shimadzu Corp | 放射線撮影装置 |
| WO2014098250A1 (ja) * | 2012-12-21 | 2014-06-26 | 株式会社 東芝 | X線診断装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4740348B2 (ja) * | 2009-02-10 | 2011-08-03 | 株式会社東芝 | X線診断装置 |
-
1988
- 1988-01-20 JP JP63009879A patent/JP2695809B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007024262A (ja) * | 2005-07-20 | 2007-02-01 | Tabuchi Corp | エルボ管継手 |
| JP2010193956A (ja) * | 2009-02-23 | 2010-09-09 | Toshiba Corp | X線診断治療装置 |
| JP2011212108A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Fujifilm Corp | 画像処理装置、画像処理方法、および放射線画像システム |
| JP2011229559A (ja) * | 2010-04-23 | 2011-11-17 | Shimadzu Corp | 放射線撮影装置 |
| WO2014098250A1 (ja) * | 2012-12-21 | 2014-06-26 | 株式会社 東芝 | X線診断装置 |
| JP2014138837A (ja) * | 2012-12-21 | 2014-07-31 | Toshiba Corp | X線診断装置 |
| US9888888B2 (en) | 2012-12-21 | 2018-02-13 | Toshiba Medical Systems Corporation | X-ray diagnostic apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2695809B2 (ja) | 1998-01-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |