JPH01188308A - 半導体ウェハのダイシング装置 - Google Patents

半導体ウェハのダイシング装置

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JPH01188308A
JPH01188308A JP63013012A JP1301288A JPH01188308A JP H01188308 A JPH01188308 A JP H01188308A JP 63013012 A JP63013012 A JP 63013012A JP 1301288 A JP1301288 A JP 1301288A JP H01188308 A JPH01188308 A JP H01188308A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor wafer
stage
water
ice
wafer
Prior art date
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Pending
Application number
JP63013012A
Other languages
English (en)
Inventor
Masato Ujiie
氏家 正人
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体ウェハのダイシング装置に関する。
〔従来の技術〕
第3図に示すように、従来の技術で半導体ウェハ3の完
全切断を行なう場合、フラットリング4に貼付けられた
ウェハシート7を介して、半導体ウェハが、冷却バイブ
ロを有するステージ5の主面上の真空吸着溝8に、真空
吸着により固定され、切削部に当たるダイヤモンドブレ
ード1の近傍に、噴射ノズル2より冷却水を噴射しなが
ら、ダイヤモンドブレードlで、順に半導体ウェハ3を
ダイシングしていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
前述した従来のダイシング装置及びダイシング方法では
、半導体ウェハ3を貫いてウェハシート7にまでダイヤ
モンドブレードlで切り込むいわゆる完全切断を行なう
場合、ウェハシート7には一般に塩化ビニル、ポリエチ
レンなどの高分子材料が使われていた。ここで、ダイヤ
モンドブレードlに生じる摩擦熱の除去は、噴出ノズル
2より出る水と、ステージ5に設けた冷却機構の冷却バ
イブロで行なっている。しかし、ウェハシート7は高分
子材料であるため、熱伝導度か10  W/cm℃程度
と、一般の金属などの数W/Cm℃と比べて、十分の一
程度と悪い。このため、十分な冷却効果が得られなかっ
た。また、ウェハシート7にダイヤモンドブレード1が
切り込んだ場合、ウェハシート7が断熱材として働き、
熱が放散せず、この摩擦熱によジ著しくダイヤモンドブ
レード1の寿命を短かくするという欠点があった。
本発明の目的は、前記欠点が解決され、熱の放散が良好
で、ダイヤモンドブレードの寿命が伸びるようにした半
導体ウェハのダイシング装置t−提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の構成は、主面上に半導体ウェハを載置し、かつ
冷却機構を有するステージと、前記ステージの上方に設
けられたダイヤモンドブレードと、前記ステージの上方
に設けられた水供給装置とを有する半導体ウェハのダイ
シング装置において、前記半導体ウェハと水の入る凹部
を有する金属体を前記ステージの主面に設けたことを特
徴とする。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の半導体ウェハのダイシ
ング装置の断面図である。同図において、本実施例のダ
イシング装置は、ステージ5の主面上に凹部を有する金
属体11が載置され、このステージ5の主面に設けられ
た真空吸着溝8により、真空吸着による固定がされる。
次に、水供給パイプ9よシ水が凹部ヲ肩する金属体11
に入れられ、ステージ5に設けられた冷却バイブロ中に
、例えばフロンガスなどを用いて、これにより瞬時に凍
結され、氷lOとなる。この氷10の主面上に、半導体
ウェハ3が置かれ、氷10との被着面において半導体ウ
ェハ3の有する熱エネルギにより、−瞬氷1’Oが解け
、再び凍結することにより、この半導体ウェハ3は完全
に固定される。この固定された半導体ウェハ3を、ダイ
ヤモンドブレードlで、近傍に設けられた噴出ノズル2
より冷却水を当てながら、ダイシングする。このとき、
凹部を有する金属体11の材料としては、ステンレスや
アルミニウムなどの加工しやすい金属であればよい。ま
た、氷10の厚さは、水供給パイプ9から供給する水の
量を一定量にし、20〜50μm程度とすれば、充分で
ある。
本実施例の半導体ウェハのダイシング装置への固着方法
は、ステージ5上に設けた金属体11の凹部に水供給装
置の水供給パイプ9からの水を入れ、ステージ5上に設
けた冷却機構の冷却バイ16により凍結させた上で、ダ
イヤモンドブレードlによるダイシングをすることを主
な特徴とする。
第2図は本発明の第2の実施例の半導体ウェハのダイシ
ング装置の断面図である。同図において、本実施例のダ
イシング装置は、噴出ノズル2がない点が前記第1の実
施例と異なる主な点である。
従来、半導体ウェハ3のダイシングは、噴出ノズルより
冷却水を常時噴出し、ダイシングブレード1を冷却して
いたが、本実施例の装置を用いることにより、ダイシン
グブレード1の冷却は不要となる。なぜならば、水が瞬
時に凍結する温度まで、半導体ウェハ3自体が冷えてい
るからである。本実施例では、この凍結が瞬時に行な軌
れる必要があるため、凹部を有する金属体11の材質も
、加工しやすいばかりでなく、高熱伝導率の材質例えば
銅やタングステンなどを用いる。
本実施例では、ダイヤモンドブレード1に冷却水を当て
なくて良いため、多量の水が節約でき、又廃水設備本簡
単になる。その上、ダイシング中に水を使用しない為°
、ダイシングで生じる切り屑も粉状であり、圧縮空気等
を用いれば、簡単に除去できる等多くの利点を有する。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、冷却機構を有するステ
ージの主面上に凹部を有する金属体を設け、半導体ウェ
ハの固着を、水供給パイプよシ供給される水を用いて、
半導体ウェハと金属体との間の凍結方法により行ない、
ダイヤモンドブレードの冷却効果を著しく向上させ、し
かもダイヤモンドグレードに常時多量の水を必ずしも噴
射する必要もなくなるため、多量の水が節約でき、廃水
設備も簡単にでき、半導体装置の製造コストを低減する
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の半導体ウェハのダイシ
ング装置の断面図、第2図は本発明の第2の実施例の半
導体ウェハのダイシング装置の断面図、第3図は従来の
半導体ウェハのダイシング装置の断面図である。 l・・・・・・ダイヤモンドブレード、2・・・・・・
噴出ノズル、3・・・・・・半導体ウェハ、4・・・・
・・フラットリング、5・・・・・・ステージ、6・・
・・・・冷却パイプ、7・・・・・・ウェハシート、8
・・・・・・真空吸着溝、9・・・・・・水供給パイプ
、10・・・・・・氷、11・・・・・・凹部を有する
金属体。 代理人 弁理士  内 原   音 !2回

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)主面上に半導体ウェハを載置し、かつ冷却機構を
    有するステージと、前記ステージの上方に設けられたダ
    イヤモンドブレードと、前記ステージの上方に設けられ
    た水供給装置とを有する半導体ウェハのダイシング装置
    において、前記半導体ウェハと水の入る凹部を有する金
    属体を前記ステージの主面に設けたことを特徴とする半
    導体ウェハのダイシング装置。
  2. (2)冷却機構は、凹部に入った水を冷却して氷にする
    冷却パイプを有している特許請求の範囲第1項記載の半
    導体ウェハのダイシング装置。
JP63013012A 1988-01-22 1988-01-22 半導体ウェハのダイシング装置 Pending JPH01188308A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6588308B2 (en) 1999-01-19 2003-07-08 Meco Equipment Engineers B.V. Method and device for separating products, mounted on a common substrate, from each other along (a) cutting line(s)
KR100817276B1 (ko) * 2006-11-03 2008-03-27 삼성전기주식회사 반도체 웨이퍼의 다이싱 장치 및 그 다이싱 방법
US7462312B2 (en) 2004-06-07 2008-12-09 Fujitsu Limited Method of fabricating element having microstructure
KR100953078B1 (ko) * 2008-02-11 2010-04-19 에스티에스반도체통신 주식회사 냉각 기능을 강화시킨 웨이퍼 소잉 장치
JP2016157732A (ja) * 2015-02-23 2016-09-01 防衛装備庁長官 冷凍ピンチャック装置および冷凍ピンチャック方法
CN112151446A (zh) * 2020-09-24 2020-12-29 长江存储科技有限责任公司 晶圆切割固定方法及其装置

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