JPH01189614A - 石英系光導波路及びその製造方法 - Google Patents
石英系光導波路及びその製造方法Info
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- JPH01189614A JPH01189614A JP1508388A JP1508388A JPH01189614A JP H01189614 A JPH01189614 A JP H01189614A JP 1508388 A JP1508388 A JP 1508388A JP 1508388 A JP1508388 A JP 1508388A JP H01189614 A JPH01189614 A JP H01189614A
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- cladding
- cladding layer
- optical waveguide
- layer
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、光通信用部品分野に広範囲な応用をもつ石英
系光導波路及びその製造方法に関するものである。
系光導波路及びその製造方法に関するものである。
(従来の技術)
石英系光導波路の製造方法として、従来、火炎加水分解
反応を利用した技術が知られている。この技術はガラス
微粒子堆積工程と透明化工程からなり、実効的に高品質
な石英系ガラス導波膜を形成することができる。この技
術による石英系光導波路の形成方法の1例を第2図に示
す。第2図に於て、1は導波膜を形成する基板、2はク
ラッド層、3はコア層、4はクラッド層である。第2図
のプロセスを説明すると、まず基板1上にガラス微粒子
の集合体であるクラッド層2とコア層3を一順次形成す
る。次に1300〜1400℃の温度中で熱処理して透
明なりラッド層2とコア層3を形成する(第2図(a)
)。その後、コア層3の不要部分を反応性イオンエツチ
ングにより除去してエツジ形状部3aを形成する(第2
図(b))。エツジ形状部3aを形成した後再度クラッ
ド層4を堆積してエツジ形状部(コア部)3aを埋め熱
処理する(第2図(C))。上記工程中、第2図(a)
に示したクラッド層2とコア層3の堆積は別工程でも問
題はない。
反応を利用した技術が知られている。この技術はガラス
微粒子堆積工程と透明化工程からなり、実効的に高品質
な石英系ガラス導波膜を形成することができる。この技
術による石英系光導波路の形成方法の1例を第2図に示
す。第2図に於て、1は導波膜を形成する基板、2はク
ラッド層、3はコア層、4はクラッド層である。第2図
のプロセスを説明すると、まず基板1上にガラス微粒子
の集合体であるクラッド層2とコア層3を一順次形成す
る。次に1300〜1400℃の温度中で熱処理して透
明なりラッド層2とコア層3を形成する(第2図(a)
)。その後、コア層3の不要部分を反応性イオンエツチ
ングにより除去してエツジ形状部3aを形成する(第2
図(b))。エツジ形状部3aを形成した後再度クラッ
ド層4を堆積してエツジ形状部(コア部)3aを埋め熱
処理する(第2図(C))。上記工程中、第2図(a)
に示したクラッド層2とコア層3の堆積は別工程でも問
題はない。
(発明が解決しようとする課題)
上記工程による石英系光導波路の製造において、使用す
る基板1の融点を考慮すると、熱処理の際の透明ガラス
化温度を基板材料の溶融温度よりも低い温度に設定しな
ければならない。例えば、基板1としてシリコン基板を
使用する場合、シリコン基板の融点は1420℃である
ので熱処理のガラス化温度は1420℃以下にしなけれ
ばならない。このために従来、クラッド層2,4とコア
層3に一様にB(ホウ素)とP(リン)をドープしてガ
ラス化温度を低下させている。さらにコア層3にはクラ
ッド層2,4よりも屈折率を高める目的でGe(ゲルマ
ニウム)やTi(チタン)がドープされている。すなわ
ち、従来のガラス膜組成でコア層3の軟化温度(ガラス
化温度)とクラッド層2゜4の軟化温度を比べると、ク
ラッド層2.4の方が高い組成になっている。従って、
第2図(a)及び(e)の工程において、熱処理温度は
クラッド層2.4の軟化温度以上であって、さらに基板
1の融点以下となるように設定される。結果的に、この
温度はコア層3の軟化温度よりも高い温度となる。この
ようにコア層3は熱処理によってコアガラスの軟化温度
以上の温度に加熱されるのでコア層3の形状が変形する
という問題が生じる。この問題を具体的に説明する。第
2図(b)において、コア層3はイオンエツチングによ
り不要部分が除去され、エツジ形状のコア部3aが形成
される。
る基板1の融点を考慮すると、熱処理の際の透明ガラス
化温度を基板材料の溶融温度よりも低い温度に設定しな
ければならない。例えば、基板1としてシリコン基板を
使用する場合、シリコン基板の融点は1420℃である
ので熱処理のガラス化温度は1420℃以下にしなけれ
ばならない。このために従来、クラッド層2,4とコア
層3に一様にB(ホウ素)とP(リン)をドープしてガ
ラス化温度を低下させている。さらにコア層3にはクラ
ッド層2,4よりも屈折率を高める目的でGe(ゲルマ
ニウム)やTi(チタン)がドープされている。すなわ
ち、従来のガラス膜組成でコア層3の軟化温度(ガラス
化温度)とクラッド層2゜4の軟化温度を比べると、ク
ラッド層2.4の方が高い組成になっている。従って、
第2図(a)及び(e)の工程において、熱処理温度は
クラッド層2.4の軟化温度以上であって、さらに基板
1の融点以下となるように設定される。結果的に、この
温度はコア層3の軟化温度よりも高い温度となる。この
ようにコア層3は熱処理によってコアガラスの軟化温度
以上の温度に加熱されるのでコア層3の形状が変形する
という問題が生じる。この問題を具体的に説明する。第
2図(b)において、コア層3はイオンエツチングによ
り不要部分が除去され、エツジ形状のコア部3aが形成
される。
この工程はいわゆる微細加工技術の分野であり0.1μ
mの精度で微細加工ができる。従って、エツジ形状のコ
ア部3aは極めて高精度に形成される。
mの精度で微細加工ができる。従って、エツジ形状のコ
ア部3aは極めて高精度に形成される。
この状態でクラッド層4を堆積して熱処理し光導波路が
得られるが、熱処理の温度はクラッド層4が透明になる
温度であり、コア部3aの軟化温度よりもかなり高い温
度となる。このため、コア部3aが溶融状態になって形
状が変化してしまう。
得られるが、熱処理の温度はクラッド層4が透明になる
温度であり、コア部3aの軟化温度よりもかなり高い温
度となる。このため、コア部3aが溶融状態になって形
状が変化してしまう。
例えば、コア部3a、クラッド層2,4の軟化温度が各
々1200°C,1300℃の場合、熱処理の温度はク
ラッド層2,4が完全に透明なガラス膜となるように1
350℃前後に設定される。この温度は、コア部3aの
軟化温度より150℃もdい温度であり、コア部3aは
微細加工技術で形成された形状が保てなくなる。
々1200°C,1300℃の場合、熱処理の温度はク
ラッド層2,4が完全に透明なガラス膜となるように1
350℃前後に設定される。この温度は、コア部3aの
軟化温度より150℃もdい温度であり、コア部3aは
微細加工技術で形成された形状が保てなくなる。
光導波路による光回路構成では、導波路の分岐、交差、
曲がりが含まれ、これらの個所の微細寸法は光回路設計
段階で決められる。しかし、上記のように熱処理の際コ
ア部形状が変形してしまうため、“得られるコア部形状
は光回路設計で決められた形状から大幅に変化してしま
う問題が生じている。また、光回路の応用として方向性
結合器や光周波数多重合分波回路が提案されている。こ
れらの場合には1対以上の光導波路が数μmの間隔で回
路設計される。しかし、コア部形状の変形により光導波
路の間隔が所望の設計値にならない問題があった。さら
にコア部が変形することによって光導波路の基本的な特
性である光伝搬特性が劣化するという問題があった。
曲がりが含まれ、これらの個所の微細寸法は光回路設計
段階で決められる。しかし、上記のように熱処理の際コ
ア部形状が変形してしまうため、“得られるコア部形状
は光回路設計で決められた形状から大幅に変化してしま
う問題が生じている。また、光回路の応用として方向性
結合器や光周波数多重合分波回路が提案されている。こ
れらの場合には1対以上の光導波路が数μmの間隔で回
路設計される。しかし、コア部形状の変形により光導波
路の間隔が所望の設計値にならない問題があった。さら
にコア部が変形することによって光導波路の基本的な特
性である光伝搬特性が劣化するという問題があった。
° 本発明の目的は、以上の従来技術で生じる問題点
を解決し、高精度・高品質な石英系光導波路及びその製
造方法を提供することにある。
を解決し、高精度・高品質な石英系光導波路及びその製
造方法を提供することにある。
(課題を解決するための手段及び作用)従来技術の問題
点は、コア部を形成するためのコア層の軟化温度T1と
クラッド層の軟化温度T2がTl <T2の関係のため
に生じている。従って、本発明の最も特徴とするところ
は、コア層とクラッド層の軟化温度をTI >T2の関
係とすることである。コアの軟化温度T1をクラッド層
の軟化温度T2よりも高くすることにより、エツジ形状
に精密加工したコア部とクラッド層を熱処理する際の温
度はクラッド層が透明になる温度でよく、コア部は溶融
状態にならない。すなわち、コア形状が変形しない温度
設定が可能となる。例えば、第2図(e)の工程におい
て、透明なりラッド層2と透明なコア部3aが形成され
ているところに両者を覆うようにガラス微粒子の集合体
であるクラッド層4(第2図(C)は熱処理後の概略図
である)を形成したで場合で本発明を説明する。
点は、コア部を形成するためのコア層の軟化温度T1と
クラッド層の軟化温度T2がTl <T2の関係のため
に生じている。従って、本発明の最も特徴とするところ
は、コア層とクラッド層の軟化温度をTI >T2の関
係とすることである。コアの軟化温度T1をクラッド層
の軟化温度T2よりも高くすることにより、エツジ形状
に精密加工したコア部とクラッド層を熱処理する際の温
度はクラッド層が透明になる温度でよく、コア部は溶融
状態にならない。すなわち、コア形状が変形しない温度
設定が可能となる。例えば、第2図(e)の工程におい
て、透明なりラッド層2と透明なコア部3aが形成され
ているところに両者を覆うようにガラス微粒子の集合体
であるクラッド層4(第2図(C)は熱処理後の概略図
である)を形成したで場合で本発明を説明する。
クラッド層4を透明化するための熱処理温度はクラッド
層4の軟化温度T2を基準にして設定される。この際、
コア部3aの軟化温度T1はT2より高いのでコア部3
aの粘性は低下せず形状変化は生じない(第1図参照)
。一方、従来技術の熱処理温度もクラッド層4の軟化温
度T2を基準に設定されるが、Tl <T2の関係にあ
るためコア部3aは非常に高い温度に曝されることにな
り形状変化が生じてしまう。
層4の軟化温度T2を基準にして設定される。この際、
コア部3aの軟化温度T1はT2より高いのでコア部3
aの粘性は低下せず形状変化は生じない(第1図参照)
。一方、従来技術の熱処理温度もクラッド層4の軟化温
度T2を基準に設定されるが、Tl <T2の関係にあ
るためコア部3aは非常に高い温度に曝されることにな
り形状変化が生じてしまう。
導波構造を形成するためには、まずコア部の屈折率n1
をクラッド層の屈折率n2よりも高くしなければならな
い。本発明はこの屈折率条件を満たした上で軟化温度が
Tl >T2の関係になるドーパント材を8102にド
ープするものである。
をクラッド層の屈折率n2よりも高くしなければならな
い。本発明はこの屈折率条件を満たした上で軟化温度が
Tl >T2の関係になるドーパント材を8102にド
ープするものである。
ドーパント材としてはGe(ゲルマニウム)、Ti(チ
タン)、Sn(スズ)、AI(アルミニウム)、sb(
アンチモン)、Zr(ジルコニウム)、P(リン)、F
(フッ素)B(ホウ素)等を用いることができる。屈折
率を高めるドーパント材はGe、Ti、Sn、Al、S
b、Zr、Pであり、ドープ量が多いほど屈折率は高く
なる。
タン)、Sn(スズ)、AI(アルミニウム)、sb(
アンチモン)、Zr(ジルコニウム)、P(リン)、F
(フッ素)B(ホウ素)等を用いることができる。屈折
率を高めるドーパント材はGe、Ti、Sn、Al、S
b、Zr、Pであり、ドープ量が多いほど屈折率は高く
なる。
また屈折率が低下するものはF、Bであり、ドープ量が
多いほど屈折率は低下する。さらにAI。
多いほど屈折率は低下する。さらにAI。
Zr、を除いた全てのドーパント材が軟化温度を低下さ
せ、この傾向は屈折率と同様にドープ量に依存する。中
でも、F、P、B、は少量のドープで軟化温度が大幅に
低下するので、本発明ではクラッド層のドーパント材と
して最適である。特にFドーパントは使用波長域での光
吸収がないのでコア層及びクラッド層にド、−プするこ
とができる。
せ、この傾向は屈折率と同様にドープ量に依存する。中
でも、F、P、B、は少量のドープで軟化温度が大幅に
低下するので、本発明ではクラッド層のドーパント材と
して最適である。特にFドーパントは使用波長域での光
吸収がないのでコア層及びクラッド層にド、−プするこ
とができる。
このようなドーパント材の特性を鑑みると、本発明に従
う第1の形態は屈折率を高めるドーパント材を1種類コ
ア層にドープし、クラッド層には軟化温度が大幅に低下
、し、しかも屈折率も低下するドーパント材をドープす
るのが好ましい。この際、クラッド層には複数のドーパ
ント材をドープすることが可能であり、これによってク
ラッド層の軟化温度をより低下させることができる。ま
た、屈折率を高めるドーパント材をクラッド部にドープ
することも可能であるが、この場合にはコア層とクラッ
ド層の屈折率差と軟化温度差を考慮してクラッド層には
多量のF、Bをドープする必要がある。屈折率差から、
屈折率を高めるドーパント材をクラッド層にドープする
場合にはコア層にドープした材料と同一の材料が好まし
い。なお、Pはドープすることにより屈折率を高めるが
、他の材料に較べるとその結果は非常にわずかな変化で
あるのでコアの組成に係わらずクラッド層にドープする
ことができる。
う第1の形態は屈折率を高めるドーパント材を1種類コ
ア層にドープし、クラッド層には軟化温度が大幅に低下
、し、しかも屈折率も低下するドーパント材をドープす
るのが好ましい。この際、クラッド層には複数のドーパ
ント材をドープすることが可能であり、これによってク
ラッド層の軟化温度をより低下させることができる。ま
た、屈折率を高めるドーパント材をクラッド部にドープ
することも可能であるが、この場合にはコア層とクラッ
ド層の屈折率差と軟化温度差を考慮してクラッド層には
多量のF、Bをドープする必要がある。屈折率差から、
屈折率を高めるドーパント材をクラッド層にドープする
場合にはコア層にドープした材料と同一の材料が好まし
い。なお、Pはドープすることにより屈折率を高めるが
、他の材料に較べるとその結果は非常にわずかな変化で
あるのでコアの組成に係わらずクラッド層にドープする
ことができる。
以上の点を考慮して本発明の第1の形態に従えばコア層
とクラッド層の組成は以下の組合せが好ましい。
とクラッド層の組成は以下の組合せが好ましい。
番号 コア組成 クラッド組成
■ S io 2 F S 102B
OS io 2 F B OS iO2 F−P2O3−8iO2 ■ F S iOF S t O2F−B203
−8iO2 F−P2O3−8iO2 ■ G e O2S i、02 F−GeO−8iO F S iO2 F B OS io 2 F−B205−8iO2 ■ T I OS io 2 F−TiO−8iO2 F S iO2 F−B203−8iO2 F P OS io 2 ■ P2O5−8iO2 F−B205−8iO2 F S iO2 F−B203−8iO2 ■ S n OS iO2 F S n 02 S t O2F S iO
2 F−B、、 03−3 i 02 F−B205−8iO2 ■ A1゜03−8iO2 F−A1203−8iO2 F S io 2 F−B203−8iO2 F−B205−8iO2 ■ 5b203−8iO2 F−8b203−8iO2 F S iO2 F−B203−8iO2 F−B205−8iO2 ■ Z r O2S iO2 F Z r 02 S iO2 F S io 2 F B OS iO2 F P OS iO2 上記組成のなかで、■、■、■はコア層の軟化温度TI
がSiO2と同等もしくは高くなるので、クラッド層に
はBを1種類ドープすることでT1>72の関係が容易
に得られる。他の組成の組合せでは、軟化温度を最も低
下させるFをクラッド組成の1種類としてドープするこ
とが本発明では非常に効果的である。また、クラッド組
成にはFとXl (1種類のドーパント)の2種類の組
合せ= 12− を示したが、Xが2種類以上でも何ら問題はない。
OS io 2 F B OS iO2 F−P2O3−8iO2 ■ F S iOF S t O2F−B203
−8iO2 F−P2O3−8iO2 ■ G e O2S i、02 F−GeO−8iO F S iO2 F B OS io 2 F−B205−8iO2 ■ T I OS io 2 F−TiO−8iO2 F S iO2 F−B203−8iO2 F P OS io 2 ■ P2O5−8iO2 F−B205−8iO2 F S iO2 F−B203−8iO2 ■ S n OS iO2 F S n 02 S t O2F S iO
2 F−B、、 03−3 i 02 F−B205−8iO2 ■ A1゜03−8iO2 F−A1203−8iO2 F S io 2 F−B203−8iO2 F−B205−8iO2 ■ 5b203−8iO2 F−8b203−8iO2 F S iO2 F−B203−8iO2 F−B205−8iO2 ■ Z r O2S iO2 F Z r 02 S iO2 F S io 2 F B OS iO2 F P OS iO2 上記組成のなかで、■、■、■はコア層の軟化温度TI
がSiO2と同等もしくは高くなるので、クラッド層に
はBを1種類ドープすることでT1>72の関係が容易
に得られる。他の組成の組合せでは、軟化温度を最も低
下させるFをクラッド組成の1種類としてドープするこ
とが本発明では非常に効果的である。また、クラッド組
成にはFとXl (1種類のドーパント)の2種類の組
合せ= 12− を示したが、Xが2種類以上でも何ら問題はない。
光導波路を形成する基板の融点を考慮すれば、コア層の
軟化温度が高い■、■、■の組成では石英ガラス基板な
ど融点の高い基板を用いたほうがよいが、シリコン基板
上に光導波路を形成したい場合には、本発明に従う第2
の形態が好ましい。
軟化温度が高い■、■、■の組成では石英ガラス基板な
ど融点の高い基板を用いたほうがよいが、シリコン基板
上に光導波路を形成したい場合には、本発明に従う第2
の形態が好ましい。
本発明の第2の形態は、上記組成の組合せにおいてコア
層にFをドープしてコア層とクラッド層の軟化温度差を
Tl >T2とすることである。例えば、コア層組成を
F A l OS io 2、クラッド層組成をF
P OS iO2とし、コア層には少量のFをク
ラッド層にはコア層よりも多くFをドープすることによ
りTl >T2の関係を保ちつつ両者の軟化温度を低下
させることができる。この第2の形態によれば、表に示
した組成を含めた石英系光導波路を融点が低いシリコン
基板上に形成することができる。
層にFをドープしてコア層とクラッド層の軟化温度差を
Tl >T2とすることである。例えば、コア層組成を
F A l OS io 2、クラッド層組成をF
P OS iO2とし、コア層には少量のFをク
ラッド層にはコア層よりも多くFをドープすることによ
りTl >T2の関係を保ちつつ両者の軟化温度を低下
させることができる。この第2の形態によれば、表に示
した組成を含めた石英系光導波路を融点が低いシリコン
基板上に形成することができる。
以下、実施例によって本発明を説明する。
(実施例−1)
外形80、厚さ2II1mの石英ガラス基板上に火炎加
水分解反応によって生成したF−8iO2微粒子を堆積
して多孔質状のクラッド層を堆積した。
水分解反応によって生成したF−8iO2微粒子を堆積
して多孔質状のクラッド層を堆積した。
その後、同様の方法でクラッド層の表面に多孔質状のS
iOコア層を堆積した。次に、SiO2コア層の軟化温
度を考慮して電気炉温度を1450℃に保持し、H’e
雰囲気中で2時間熱処理して透明なF S iO2ク
ラッド層(厚み30μm)、Sio コア層(厚み8μ
m)を得た。SiO2コア層の不要部分を反応性イオン
エツチングで除去し、断面形状が正方形で一辺が8μm
のコア部を形成した。この後、クラッド層及びコア部を
覆うように多孔質状のF S iO2クラッド層を形
成し、該クラッド層の軟化温度を考慮して温度1280
℃のHe雰囲気中で2時間熱処理した。得られた光導波
膜の組成はコア部310 sクラッド層がF S
iO2であり、断面形状は第1図のようであった。すな
わち、コア部3aの形状は反応性イオンエツチングで加
工形状を保ち、従未見られたコア部(第2図(e)参照
)の変形はなかった。
iOコア層を堆積した。次に、SiO2コア層の軟化温
度を考慮して電気炉温度を1450℃に保持し、H’e
雰囲気中で2時間熱処理して透明なF S iO2ク
ラッド層(厚み30μm)、Sio コア層(厚み8μ
m)を得た。SiO2コア層の不要部分を反応性イオン
エツチングで除去し、断面形状が正方形で一辺が8μm
のコア部を形成した。この後、クラッド層及びコア部を
覆うように多孔質状のF S iO2クラッド層を形
成し、該クラッド層の軟化温度を考慮して温度1280
℃のHe雰囲気中で2時間熱処理した。得られた光導波
膜の組成はコア部310 sクラッド層がF S
iO2であり、断面形状は第1図のようであった。すな
わち、コア部3aの形状は反応性イオンエツチングで加
工形状を保ち、従未見られたコア部(第2図(e)参照
)の変形はなかった。
この結果は、2回目の熱処理温度がコアの軟化温度より
も低く設定できたためである。
も低く設定できたためである。
(実施例−2)
実施例−1において、Fドープを雰囲気制御で行った。
すなわち、石英ガラス基板上に多孔質状の5102層を
形成し、これを熱処理する際、H(3を31/分、S
iF 4を100 cc/分炉内炉内給してFドープし
、F S iO2層を形成した。次に、実施例−1と
同様に多孔質状のS iO2層の堆積、熱処理、イオン
エツチング加工してコア部を形成した。この後、クラッ
ド層、コア部を覆うように多孔質状のSiO2層を形成
し、再度Heを31/分、S iF 4を100 cc
/分供給した雰囲気中で2時間熱処理して透明なF−8
iO。クラッド層を形成した。なお、熱処理温度はFド
ープしてクラッド層を形成する際には1280℃、コア
層を形成する際には1450℃とした。得られた光導波
路の組成はコア部がSiO、クラッド層がFS iO2
であり、断面形状は第1図と同様にコア部形状が全く変
形しないものであった。
形成し、これを熱処理する際、H(3を31/分、S
iF 4を100 cc/分炉内炉内給してFドープし
、F S iO2層を形成した。次に、実施例−1と
同様に多孔質状のS iO2層の堆積、熱処理、イオン
エツチング加工してコア部を形成した。この後、クラッ
ド層、コア部を覆うように多孔質状のSiO2層を形成
し、再度Heを31/分、S iF 4を100 cc
/分供給した雰囲気中で2時間熱処理して透明なF−8
iO。クラッド層を形成した。なお、熱処理温度はFド
ープしてクラッド層を形成する際には1280℃、コア
層を形成する際には1450℃とした。得られた光導波
路の組成はコア部がSiO、クラッド層がFS iO2
であり、断面形状は第1図と同様にコア部形状が全く変
形しないものであった。
(実施例−3)
直径75+nmφのシリコン基板上に多孔質状のB
OS iO2クラッド層を堆積し、実施例−2のように
雰囲気制御でFドープを行い、F−B OS i 0
2クラッド層を形成した。SiF4の供給量は100
cc/分とした。次に、多孔質状のTiO−SiO2微
粒子を堆積して、1400℃のHe雰囲気中で熱処理し
透明なコア層を得た。イオンエツチングによりコア部を
形成したのち、多孔質状のB OS iO2クラッド
層を堆積してF雰囲気中で処理しF−B203−810
2クラッド層を得た。Fドープの際の熱処理温度は12
80℃とした。得られた光導波路の組成はコア部がT
iOS iOsクラッド層がF−TiO−8in2であ
り、断面形状は第1図の結果と同様にコア部形状が全く
変形しないものであった。
OS iO2クラッド層を堆積し、実施例−2のように
雰囲気制御でFドープを行い、F−B OS i 0
2クラッド層を形成した。SiF4の供給量は100
cc/分とした。次に、多孔質状のTiO−SiO2微
粒子を堆積して、1400℃のHe雰囲気中で熱処理し
透明なコア層を得た。イオンエツチングによりコア部を
形成したのち、多孔質状のB OS iO2クラッド
層を堆積してF雰囲気中で処理しF−B203−810
2クラッド層を得た。Fドープの際の熱処理温度は12
80℃とした。得られた光導波路の組成はコア部がT
iOS iOsクラッド層がF−TiO−8in2であ
り、断面形状は第1図の結果と同様にコア部形状が全く
変形しないものであった。
(実施例−4)
実施例−2の方法において、石英基板上にF−B O
S iO2のクラッド層を形成し、次にコア層としてA
1203−8iO2を形成した。
S iO2のクラッド層を形成し、次にコア層としてA
1203−8iO2を形成した。
イオンエツチングでコア部を形成した後、再度F−B2
03−8iO2クラッド層を形成した。各工程における
熱処理温度は1280℃、1450℃、1280℃とし
た。得られた光導波路の組成はコア部がAI O−8
iO、クラッド層がF−A120 S 102であ
り、断面形状は第1図の結果と同様にコア形状が全く変
形しないものであった。
03−8iO2クラッド層を形成した。各工程における
熱処理温度は1280℃、1450℃、1280℃とし
た。得られた光導波路の組成はコア部がAI O−8
iO、クラッド層がF−A120 S 102であ
り、断面形状は第1図の結果と同様にコア形状が全く変
形しないものであった。
(実施例−5)
直径75mmφのシリコン基板上に実施例−2の方法で
P2O5−8iO2のクラッド層を堆積し、F雰囲気中
で熱処理した。熱処理温度は1280℃、SiF4の供
給量は200 cc/分とした。次□に多孔質状のA1
゜Oa S iO3を堆積してコア層を形成し、熱処
理した。熱処理温度は1380℃、SiF4の供給量は
60cc/分とした。コア層にイオンエツチング加工し
た後、多孔質状のB20.−8iO2クラッド層を堆積
し、温度が1280℃、S I F 4の供給量が20
0 cc/分の条件で熱処理した。得られた光導波路の
組成はコア部がF−AI O−8iO、クラッド層が
F−P OS I O2であり、断面形状は第1図の
結果と同様にコア形状が全く変形しないものであった。
P2O5−8iO2のクラッド層を堆積し、F雰囲気中
で熱処理した。熱処理温度は1280℃、SiF4の供
給量は200 cc/分とした。次□に多孔質状のA1
゜Oa S iO3を堆積してコア層を形成し、熱処
理した。熱処理温度は1380℃、SiF4の供給量は
60cc/分とした。コア層にイオンエツチング加工し
た後、多孔質状のB20.−8iO2クラッド層を堆積
し、温度が1280℃、S I F 4の供給量が20
0 cc/分の条件で熱処理した。得られた光導波路の
組成はコア部がF−AI O−8iO、クラッド層が
F−P OS I O2であり、断面形状は第1図の
結果と同様にコア形状が全く変形しないものであった。
以上、本発明の第1の形態の実施例、及び第2゛ の形
態の実施例について説明した。実施例以外の組成におい
ても熱処理によってコア部形状が変形しない結果が得ら
れた。
態の実施例について説明した。実施例以外の組成におい
ても熱処理によってコア部形状が変形しない結果が得ら
れた。
(発明の効果)
以上説明した如く、本発明によれば、従来技術で問題で
あった熱処理時のコア部の変形のない光導波路を提供で
きる。また本発明方法によれば熱処理時のコア部の変形
を防ぐことができるため、光回路設計で精密に決められ
、また加工されたコア形状と一致した形状の光導波回路
の作製が可能となる。また、コア部の微細加工を必要と
する方向性結合器や周波数多重合分波回路の設計が容易
になり、これらの特性構造はもとより、より微細構造回
路の実現に効果を発揮するものである。
あった熱処理時のコア部の変形のない光導波路を提供で
きる。また本発明方法によれば熱処理時のコア部の変形
を防ぐことができるため、光回路設計で精密に決められ
、また加工されたコア形状と一致した形状の光導波回路
の作製が可能となる。また、コア部の微細加工を必要と
する方向性結合器や周波数多重合分波回路の設計が容易
になり、これらの特性構造はもとより、より微細構造回
路の実現に効果を発揮するものである。
第1図は本発明を適用して形成した光導波路の断面概略
図、第2図は従来の光導波路を形成するプロセスを説明
した図である。 1・・・基板 2.4・・・クラッド層 3・・・コア層 3a・・・コア部 特 許 出 願 人 日本電信電話株式会社代理人
弁理士 吉 1)精 孝 第1図
図、第2図は従来の光導波路を形成するプロセスを説明
した図である。 1・・・基板 2.4・・・クラッド層 3・・・コア層 3a・・・コア部 特 許 出 願 人 日本電信電話株式会社代理人
弁理士 吉 1)精 孝 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、火炎加水分解反応を利用したガラス微粒子堆積工程
と透明化工程とにより、基板上にコア部と該コア部の屈
折率よりも低い屈折率を有するクラッド部とを形成した
石英系光導波路において、前記コア部を形成するコア材
料の軟化温度T1と前記クラッド部を形成するクラッド
材料の軟化温度T2がT1>T2の関係であることを特
徴とする石英系光導波路。 2、火炎加水分解反応を利用したガラス微粒子堆積工程
と透明化工程とにより、基板上にコア部と該コア部の屈
折率よりも低い屈折率を有するクラッド部とを形成する
石英系光導波路の製造方法において、前記工程の熱処理
に際し、前記コア部を形成するコア材料の軟化温度T1
と前記クラッド部を形成するクラッド材料の軟化温度T
2がT1>T2の関係となるようドーパント材をドープ
することを特徴とする石英系光導波路の製造方法。 3、コア材料をSiO_2とし、クラッド材料を、{F
、P、B}から選ばれる一又は二以上のドーパント材を
ドープしたものとすることを特徴とする請求項1記載の
石英系光導波路の製造方法。 4、コア材料を、SiO_2に{F、Ti、Ge、P、
Sn、Al、Sb、Zr}から選ばれる一又は二以上の
ドーパント材をドープしたものとし、クラッド材料を、
該コア材料にドープしたドーパント材又は{F、P、B
}から選ばれる一または二以上のドーパント材をドープ
したものとすることを特徴とする請求項1記載の石英系
光導波路の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1508388A JPH01189614A (ja) | 1988-01-26 | 1988-01-26 | 石英系光導波路及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1508388A JPH01189614A (ja) | 1988-01-26 | 1988-01-26 | 石英系光導波路及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01189614A true JPH01189614A (ja) | 1989-07-28 |
Family
ID=11878951
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1508388A Pending JPH01189614A (ja) | 1988-01-26 | 1988-01-26 | 石英系光導波路及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01189614A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0375606A (ja) * | 1989-08-17 | 1991-03-29 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 埋込み型石英系光導波路およびその製造方法 |
| US5485540A (en) * | 1992-11-16 | 1996-01-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical waveguide device bonded through direct bonding and a method for fabricating the same |
| US6605228B1 (en) | 1998-10-19 | 2003-08-12 | Nhk Spring Co., Ltd. | Method for fabricating planar optical waveguide devices |
| WO2005081023A1 (ja) * | 2004-02-25 | 2005-09-01 | Kansai Paint Co., Ltd. | 光導波路及びその製造方法 |
| US7103252B2 (en) * | 2001-10-25 | 2006-09-05 | Fujitsu Limited | Optical waveguide and fabricating method thereof |
| JP2013210623A (ja) * | 2012-02-28 | 2013-10-10 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 光導波路素子およびその製造方法 |
| US10371890B2 (en) | 2013-02-26 | 2019-08-06 | Furukawa Electric Co., Ltd. | Optical waveguide element |
-
1988
- 1988-01-26 JP JP1508388A patent/JPH01189614A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0375606A (ja) * | 1989-08-17 | 1991-03-29 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 埋込み型石英系光導波路およびその製造方法 |
| US5485540A (en) * | 1992-11-16 | 1996-01-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical waveguide device bonded through direct bonding and a method for fabricating the same |
| US5785874A (en) * | 1992-11-16 | 1998-07-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical waveguide device bonded through direct bonding and a method for fabricating the same |
| US6605228B1 (en) | 1998-10-19 | 2003-08-12 | Nhk Spring Co., Ltd. | Method for fabricating planar optical waveguide devices |
| US7103252B2 (en) * | 2001-10-25 | 2006-09-05 | Fujitsu Limited | Optical waveguide and fabricating method thereof |
| WO2005081023A1 (ja) * | 2004-02-25 | 2005-09-01 | Kansai Paint Co., Ltd. | 光導波路及びその製造方法 |
| JP2013210623A (ja) * | 2012-02-28 | 2013-10-10 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 光導波路素子およびその製造方法 |
| US10371890B2 (en) | 2013-02-26 | 2019-08-06 | Furukawa Electric Co., Ltd. | Optical waveguide element |
| US11125942B2 (en) | 2013-02-26 | 2021-09-21 | Furukawa Electric Co., Ltd. | Optical waveguide element |
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