JPH0119225B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0119225B2
JPH0119225B2 JP54000672A JP67279A JPH0119225B2 JP H0119225 B2 JPH0119225 B2 JP H0119225B2 JP 54000672 A JP54000672 A JP 54000672A JP 67279 A JP67279 A JP 67279A JP H0119225 B2 JPH0119225 B2 JP H0119225B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnification
brightness
data
excitation current
upper limit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP54000672A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5593643A (en
Inventor
Toshuki Oohashi
Masashi Kamimura
Moriki Kubozoe
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP67279A priority Critical patent/JPS5593643A/ja
Publication of JPS5593643A publication Critical patent/JPS5593643A/ja
Publication of JPH0119225B2 publication Critical patent/JPH0119225B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子顕微鏡における明るさ制御方法、
特に最終像の明るさをその倍率に応じて制御する
ことができる電子顕微鏡における明るさ制御方法
に関する。
電子顕微鏡においては、最終像の倍率は広範囲
に亘つて変えられるが、この場合でも最終像の明
るさは実質的に一定であることが望ましい。
最終像の明るさは試料上の明るさに比例する
が、最終像の倍率の2乗に逆比例することから、
その倍率の変化に無関係に最終像の明るさを一定
にするには試料上の明るさを最終像の倍率の2乗
に比例して変えることが必要である。これは試料
を照射する電子ビームの照射角を最終像の倍率に
比例して変えることによつて達成される。試料上
の明るさは試料を照射する電子ビームの照射角の
2乗に比例するからである。
一方、試料上の明るさを最終像の倍率の2乗に
比例して変えると、高倍率のときに試料の損傷や
コンタミネーシヨンの問題が生ずる。
試料の損傷やコンタミネーシヨンを軽減するた
めに、最終像の倍率の切換えに連動して、試料面
上の電子流密度が試料に損傷を与えない範囲に抑
えられるように電子銃のフイラメント電流、バイ
フス電圧を制御するという考え方が知られてい
る。この考え方を記載したものとしては特開昭53
−62978号公報が挙げられる。
この公知の技術は電子銃のフイラメント電流、
バイアスを変えることにより電子源の輝度を変え
て試料上の電子流密度を制御するという考え方に
もとづくものである。
しかし、電子源の輝度はフイラメントの経時変
化により変化する。したがつて、同じ輝度を得る
ためにはフイラメント電流やバイアスは経時的に
異なるはずであるから、このような状態で、試料
の損傷やコンタミネーシヨンを軽減するように倍
率に連動してフイラメント電流、バイアスを変え
て輝度を希望どおり変化させることは実際上不可
能に近い。
本発明の目的は最終像のある倍率以下の倍率範
囲であその像の明るさをその像の倍率と無関係に
実質的に一定に維持することおよびそれ以上の倍
率範囲ではいろいろな試料についてその損傷やコ
ンタミネーシヨンの軽減を図ることが非常に容易
にかつ簡単な手段で達成され得る電子顕微鏡にお
ける明るさ制御方法を提供することにある。
本発明の電子顕微鏡における明るさ制御方法
は、その目的を達成するために、試料上の明るさ
を最終像の倍率の2乗に実質的に比例して変える
ために必要なコンデンサレンズの倍率対応励磁電
流データと前記試料上の明るさの上限を決める前
記コンデンサレンズの明るさ上限決定励磁電流デ
ータとを記憶装置に記憶しておき、倍率指定によ
り最終像の任意の倍率を選択してこの選択された
倍率に対応する倍率対応励磁電流データを前記記
憶装置から読出すと共に、明るさ上限指定により
試料上の任意の明るさ上限を選択してこの選択さ
れた明るさ上限に対応する明るさ上限決定励磁電
流データを前記記憶装置から読出し、これらの読
出された倍率対応励磁電流データおよび明るさ上
限決定励磁電流データを互いに比較して、前者の
データが後者のデータと一致する倍率以下の倍率
範囲では指定された倍率に対応して読出された倍
率対応励磁電流データにより前記コンデンサレン
ズを前記試料上の明るさが前記最終像の倍率に実
質的に比例して変わるように制御し、前者のデー
タが後者のデータと一致する倍率以上の倍率範囲
ではその一致した倍率対応励磁電流データにより
前記コンデンサレンズを前記試料上の明るさが実
質的に一定に維持されるように制御することを特
徴としている。
第1図は通常の電子顕微鏡の電子光学系を示
す。同図において、陰極、グリツドおよびアノー
ドからなる電子銃1から放出される加速電子ビー
ムは第1および第2のコンデンサーレンズ3およ
び4からなるコンデンサーレンズ系によつて収束
され、試料5を照射する。試料5を照射した電子
ビームは試料5を透過し、その透過した電子ビー
ムは対物レンズ6、中間レンズ7および投射レン
ズ8からなる拡大レンズ系によつて拡大され、蛍
光スクリーン9に投射される。したがつて、蛍光
スクリーン9上で試料5の電子顕微鏡像すなわち
最終像を観察することができる。
第2図は本発明の方法を実施するための電子顕
微鏡における明るさ制御装置の一実施例を示す。
コンデンサーレンズ系は第1図に示されるように
通常第1および第2のコンデンサーレンズ3およ
び4からなるが、図では簡単化のために第2のコ
ンデンサーレンズ4だけが示されている。又、拡
大レンズ系は第1図に示されるように対物、中間
および投射レンズ6,7および8からなる3段レ
ンズ系である場合もあるし、投射レンズとして二
つのレンズを用いる4段レンズ系である場合もあ
る。図では拡大レンズ11が拡大レンズ系全体を
代表するものとして示されている。
最終像の倍率は拡大レンズ11を流れる電流、
すなわちそのレンズの励磁電流を変えることによ
つて可変されるもので、設定されるべき倍率に対
応する拡大レンズの励磁電流のデータはリードオ
ンリーメモリー、すなわちROM12にデイジタ
ル量として記憶されている。倍率指定器13は設
定されるべき倍率を指定するもので、これとして
はたとえばキースイツチを用いることができる。
この倍率指定器13を操作することによつてこれ
から得られる倍率指定信号はインターフエース1
4を介して駆動電源29により駆動される中央処
理装置、すなわちCPU15に与えられ、これに
よつてROM12から倍率指定器13により指定
される倍率に対応するデータが読み出される。こ
のデータはインターフエース10を介してデイジ
タル−アナログ変換器、すなわちD−A変換器1
6に与えられてここでアナログ信号に変換され、
該アナログ信号は誤差増幅器17の一方の入力端
子に与えられる。
一方、直流電源18から制御用トランジスタ1
0を介して直流電流が拡大レンズ11に与えられ
る。この拡大レンズ11を流れる電流は検出抵抗
20によつて電圧信号として検出され、これは誤
差増幅器17の他方の入力端子に与えられる。誤
差増幅器17はこれへの二つの入力信号を比較し
てその差の信号を発生し、この差の信号にもとづ
きこの差が零になるように制御用トランジスタ1
9によつて拡大レンズ11を流れる電流が制御さ
れる。
かくして、倍率指定器13により倍率を指定す
るだけでその指定された倍率に対応する電流でも
つて拡大レンズ11を励磁し得ることが理解され
る。
前述したように、試料5上の明るさはこれを照
射する電子ビームに照射角βの2乗に比例し、ま
た最終像の明るさBは試料5上の明るさIに比例
すると共に、最終像の倍率Mの2乗に逆比例す
る。したがつて、試料5上の明るさIが倍率Mの
2乗に比例して変わるように倍率Mに比例して照
射角βを変えると、最終像の倍率Mと無関係に最
終像の明るさBを一定にすることができる。
照射角βは第2のコンデンサーレンズ4の励磁
電流iを変えることによつて変えられ得る。第3
図はこのiに対するβの関係を示すもので、この
関係は一般に良く知られている。第3図におい
て、iCは最大照射角βnaxが得られるときの励磁電
流を表わしている。iCはまた電子ビームを試料5
に収束されるときの励磁電流でもあり、したがつ
て電子ビームはiCよりも小さい励磁電流範囲では
試料5よりも下方の位置に、iCよりも大きい励磁
電流範囲では試料5よりも上方の位置にそれぞれ
収束されることになる。
今、明るさ制御のためにiC以上の励磁電流範囲
が利用されるものとする。この励磁電流範囲で
は、励磁電流iの増大に伴なつて照射角βが減少
する。したがつて、この励磁電流範囲では、小励
磁電流側は高倍率側に対応し、大励磁電流側は低
倍率側に対応することになる。理解を容易にする
ために、倍率可変範囲はMnio〜Mnax(Mnio
Mnax)、最低倍率Mnioのときの励磁電流はiO、倍
率がMnioから増大されてMC(MC<Mnax)に達し
たときの励磁電流はiCであるとし、そしてこのiC
は倍率がMCから最高倍率Mnaxに至る倍率範囲に
おいてそのまま維持されるものとする。
このような条件下で、倍率MをMnioからMnax
に至る範囲内で変えてもそれに無関係に最終像の
明るさBを実質的に一定にするために必要な、倍
率Mに対する試料5上の明るさIの関係を示すと
第4図のようになる。同図によれば、試料上の明
るさIはMC以下の倍率範囲では倍率Mの2乗に
比例して変えられ、MCの位置において最大値
Inaxに達する。また、MCからMnaxまでの倍率範
囲では最大値Inaxはそのまま維持される。これ
は、MCからMnaxまでの倍率範囲では励磁電流i
がiCに維持し続けられ、したがつて照射角βは最
大値βnax維持し続けられるためである。
MCからMnaxまでの倍率範囲においてもMC
下の倍率範囲におけると同様に励磁電流iを減少
させ続けるとそれに伴つて照射角βも減少し、し
たがつて試料5上の明るさIはだんだん暗くな
る。
しかし、MCからMnaxまでの倍率範囲は一般に
狭い。したがつて、この倍率範囲では、前述した
ように励磁電流iをiC一定、したがつて試料5上
の明るさIをInax一定に維持する限りにおいては
最終像は実用上差支えがある程度には暗くなら
ず、全倍率範囲に亘つて倍率Mに無関係に実質的
に一定の明るさをもつ最終像が得られるというこ
とができる。
ROM12には更に第4図に示される倍率Mに
対する試料上の明るさIの関係を得るのに必要な
第2のコンデンサーレンズ4の励磁電流すなわち
倍率対応励磁電流iC〜iOのデータがデイジタル量
として記憶されている。したがつて、倍率指定器
13によつて倍率を指定すると、CPU15によ
つてROM12からその指定された倍率に対応す
る倍率対応励磁電流iのデータが読み出される。
このデータはインターフエース21を介してデイ
ジタル−アナログ変換器、すなわちD−A変換器
22によつてアナログ信号に変換され、該アナロ
グ信号は誤差増幅器23の一方の入力端子に与え
られる。
一方、第2のコンデンサーレンズ4には直流電
源18から制御トランジスタ24を介して直流電
流が与えられ、そして第2のコンデンサーレンズ
4を流れる電流は検出抵抗25によつて電圧信号
として検出され、これは誤差増幅器23の他方の
入力端子に与えられる。誤差増幅器23はこれへ
の二つの入力信号の差の信号を発生し、制御用ト
ランジスタ24はこの差の信号にもとづいてその
差が零になるように第2のコンデンサーレンズ4
を流れる電流を制御する。
したがつて、倍率指定器13によつて倍率Mを
MnioからMnaxまで順次指定すると、拡大レンズ
11にはそれに対応する励磁電流が与えられると
同時に、第2のコンデンサーレンズ4にはiOから
iCまでの励磁電流が与えられ、その結果試料上の
明るさIは第4図に示されるような関係で変化す
る。すなわち、試料を照射する電子ビームの照射
角βは倍率Mの増大に伴なつて増大して行つて倍
率MがMCに達したとき、すなわち倍率対応励磁
電流iがiCに達したとき最大値βnaxをとるように
なるが、MC〜Mnaxの倍率範囲ではiCが第2のコ
ンデンサーレンズ4に与えられ続けることとなつ
てその間中照射角βは最大値βnaxをとり続けるの
で、試料上の明るさIはMnio〜MCの倍率範囲で
は倍率Mの2乗に比例して変化し、MC〜Mnax
倍率範囲では最大値Inaxを維持することとなる。
これは、指定された倍率に対応する倍率対応励磁
電流iを最大値Inaxに対応する値inと比較して、
その両者が一致した倍率以上の倍率範囲ではin
データによりコンデンサーレンズ4を制御するこ
とによつて達成される。したがつて、前述したよ
うに最終像の明るさは全倍率範囲Mnio〜Mnax
おいて実質的に一定に維持されるということがで
きる。
試料のコンタミネーシヨンや損傷を軽減するた
めには試料上の明るさの上限(これをILとする)
を小さくする必要がある。しかし、この上限IL
試料の種類に依存することが多い。したがつて、
このILを最大値Inax以下の範囲内において複数段
階に切換え得るようにすれば、いろいろな種類に
試料についてそのコンタミネーシヨンや損傷を軽
減することができる。
この点を第2図に関連して説明するに、Inax
下の複数のILに対応する第2のコンデンサーレン
ズ4の励磁電流すなわち明るさ上限決定励磁電流
(これをiLとする)のデータはROM12に予め記
憶されている。どのiLを選択するかはキースイツ
チからなる明るさ上限指定器30を操作し、それ
からの明るさ上限指定信号をインターフエース1
4を介してCPU15に与えることによつて行な
われる。倍率MをMnioからMnaxまで順次変える
ように倍率指定器13を操作すると、ROM12
にある第2のコンデンサーレンズ4の元々の倍率
対応励磁電流iのデータが読み出され、このデー
タによつて第2のコンデンサーレンズ4が制御さ
れる。一方、明るさ上限指定器30によつて指定
されたiLはCPU15によつてROM12から読み
出され、このiLとROM12から読み出された
元々のiがCPU15で比較され、後者が前者と
一致した倍率以上の倍率範囲ではその一致した倍
率対応励磁電流iによつて第2のコンデンサーレ
ンズ4が制御される。したがつて、試料上の明る
さIはiがiLと一致するまでの倍率範囲では倍率
の2乗に比例して変化するが、iがiLと一致する
倍率以上の倍率範囲ではその一致したi、すなわ
ちこの場合iL、がそのまま維持されることにな
る。
以上説明したところを簡単に要約すると、試料
上の明るさを最終像の倍率の2乗に実質的に比例
して変えるために必要なコンデンサレンズの倍率
対応励磁電流データは記憶装置であるROMに予
め記憶されていると共に、試料上の明るさの上限
を決めるコンデンサーレンズの明るさ上限決定励
磁電流データも同様に記憶装置であるROMに記
憶されている。
最終像の倍率の選択は倍率指定により達成さ
れ、そのようにして倍率が選択されるとこれに対
応する倍率対応励磁電流データは記憶装置である
ROMから読出される。同様にして、試料上の明
るさ上限の選択は明るさ上限指定により達成さ
れ、そのようにして明るさ上限が選択されるとこ
れに対応する明るさ上限決定励磁電流データは同
様に記憶装置であるROMから読み出される。
そのようにして読出された倍率対応励磁電流デ
ータおよび明るさ上限決定励磁電流データは互い
に比較され、前者のデータが後者のデータと一致
する倍率以下の倍率範囲では試料上の明るさが最
終像の倍率に実質的に比例して変るように指定さ
れた倍率に対応して読出された倍率対応励磁電流
データによりコンデンサレンズが制御され、また
前者のデータが後者のデータと一致する倍率以上
の倍率範囲ではその一致した倍率対応励磁電流デ
ータによりコンデンサーレンズが制御されて試料
上の明るさが実質的に一定に維持される。
以上の説明から、最終像のある倍率以下の倍率
範囲ではその像の明るさをその像の倍率と無関係
に実質的に一定に維持すること並びにそれ以上の
倍率範囲ではいろいろな試料についてその損傷や
コンタミネーシヨンの軽減を図ることが非常に容
易にかつ簡単な手段で達成されることが理解され
る。
なお、電子銃のフイラメントの経時変化により
電子源の輝度は変わる。しかし、これはそのフイ
ラメント電流、バイアス電圧を変えることで簡単
に補正できる。したがつて、前述した従来技術に
おけるような問題は生じない。
最終像の明るさレベルはオペレータの好みに応
じて変えられ得ることが好ましい。また、試料の
種類によつても最終像の明るさレベルを変えたい
場合もあり得る。更に最終像を写真撮影するとき
はその像の観察時よりも最終像を一般的には暗く
する必要がある。
このように、最終像の明るさレベルは必要に応
じて変えられるようになつていることが望まし
い。
この点を第2図に関連して説明するに、キース
イツチからなる明るさ調整スイツチ25を押す
と、これからの明るさ指定信号はインターフエー
ス14を介してCPU15に与えられ、そしてそ
のスイツチを押している時間の関数として、
ROM12がにめ記憶されているデータがCPU1
5内でインクリメントされ、このインクリメント
されたデータはランダムアクセスメモリ、すなわ
ちRAM26に記憶される。この状態で倍率Mを
MnioからMnaxまで順次変えるように倍率指定器
13を操作すると、RAM26に記憶されている
データとROM12に記憶されている第2のコン
デンサーレンズ4の倍率対応励磁電流iのデータ
との間で加算(または減算)がCPU15内で行
なわれる。この加算(または減算)されたデータ
はインターフエース21を介してD−A変換器2
2に与えられてここでアナログ信号に変換され、
このアナログ信号によつて前述と同様にして第2
のコンデンサーレンズ4が制御される。したがつ
て、第4図に示される試料上の明るさの曲線はそ
の縦軸方向に、明るさ調整スイツチ25が押され
た時間に相当する明るさ変化分だけ平行移動し
て、明るさレベルが変わることになる。
一方、上記加算(または減算)されたデータは
ROM12内にあるInaxに対応する第2のコンデ
ンサーレンズ4の励磁電流iCのデータとCPU15
内で比較され、前者が後者と等しくなつた後はそ
の両者が等しくなつた時点での上記加算(又は減
算)されたデータによつて第2のコンデンサーレ
ンズ4が制御される。
もちろん、試料上の明るさの上限ILがInaxでは
なく、これよりも小さい値に設定される場合は、
上記加算(または減算)されたデータがICではな
く、ILに対応するiLのデータと比較される必要が
あることは当然である。
以上の説明から、明るさレベルを望みに応じて
容易にしかも簡単な手段により変更し得ることが
理解される。
今までの説明では、最終像の明るさ制御のため
に第2図のiC以上の励磁電流範囲が用いられた
が、この代りにiC以下の励磁電流範囲が用いられ
てもよい。しかし、電子光学的な観点から一般に
はiC以下の励磁電流範囲よりもiC以上の励磁電流
範囲を用いる方が試料を照射する電子ビームの照
射角βの変化範囲が広く、したがつて試料上の明
るさ変化範囲が広いため、この点からはiC以上の
励磁電流範囲を用いることが望ましい。
なお、収束レンズ系としてはシングルコンデン
サーレンズが用いられることがあり、この場合明
るさ制御のためにはこのシングルコンデンサーレ
ンズが制御されることになる。
以上説明したところから明らかなように、本発
明によれば、前述した本発明の目的が達成される
ので、その実用上の効果は頗る大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は一般に知られている電子顕微鏡の電子
光学系を示す図、第2図は本発明の方法を実施す
るための電子顕微鏡における明るさ制御装置の一
実施例のブロツク図、第3図は第2のコンデンサ
ーレンズの励磁電流に対する試料を照射する電子
ビームの照射角の関係を示す図、第4図は倍率に
対する試料上の明るさの関係を示す図である。 1……電子銃、3および4……コンデンサーレ
ンズ、5……試料、6……対物レンズ、7……中
間レンズ、8……投射レンズ、9……蛍光スクリ
ーン、10,14および21……インターフエー
ス、11……拡大レンズ、12……ROM、13
……倍率指定器、15……CPU、16および2
2……D−A変換器、17および23……誤差増
幅器、25……明るさ調整スイツチ、26……
ROM、30……明るさ上限指定器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 試料上の明るさを最終像の倍率の2乗に実質
    的に比例して変えるために必要なコンデンサレン
    ズの倍率対応励磁電流データと前記試料上の明る
    さの上限を決める前記コンデンサレンズの明るさ
    上限決定励磁電流データとを記憶装置に記憶して
    おき、倍率指定により最終像の任意の倍率を選択
    してこの選択された倍率に対応する倍率対応励磁
    電流データを前記記憶装置から読出すと共に、明
    るさ上限指定により試料上の任意の明るさ上限を
    選択してこの選択された明るさ上限に対応する明
    るさ上限決定励磁電流データを前記記憶装置から
    読出し、これらの読出された倍率対応励磁電流デ
    ータおよび明るさ上限決定励磁電流データを互い
    に比較して、前者のデータが後者のデータと一致
    する倍率以下の倍率範囲では指定された倍率に対
    応して読出された倍率対応励磁電流データにより
    前記コンデンサレンズを前記試料上の明るさが前
    記最終像の倍率に実質的に比例して変わるように
    制御し、前者のデータが後者のデータと一致する
    倍率以上の倍率範囲ではその一致した倍率対応励
    磁電流データにより前記コンデンサレンズを前記
    試料上の明るさが実質的に一定に維持されるよう
    に制御することを特徴とする電子顕微鏡における
    明るさ制御方法。 2 試料上の明るさを最終像の倍率の2乗に実質
    的に比例して変えるために必要なコンデンサレン
    ズの倍率対応励磁電流データと前記試料上の明る
    さの上限を決める前記コンデンサレンズの明るさ
    上限決定励磁電流データとをリードオンリーメモ
    リに記憶しておくと共に、予め定められたデータ
    をランダムアクセスメモリに記憶しておき、倍率
    指定により最終像の任意の倍率を選択してこの選
    択された倍率に対応する倍率対応励磁電流データ
    を前記リードオンリーメモリから読出すと共に上
    記ランダムアクセスメモリ内の予め定められたデ
    ータを読出してその両者の加算または減算を行
    い、更に明るさ上限指定により試料上の任意の明
    るさ上限を選択してこの選択された明るさ上限に
    対応する明るさ上限決定励磁電流データを前記リ
    ードオンリーメモリから読出し、この読出された
    明るさ上限決定励磁電流データと前記加算または
    減算されたデータとを比較して、後者のデータが
    前者のデータと一致する倍率以下の倍率範囲では
    前記リードオンリーメモリから指定された倍率に
    対応して読出された倍率対応励磁電流データと前
    記ランダムアクセスメモリから読出されたデータ
    との加算または減算により得られたデータにより
    前記コンデンサレンズを前記試料上の明るさが前
    記最終像の倍率に実質的に比例して変わるように
    制御し、後者のデータが前者のデータと一致する
    倍率以上の倍率範囲ではその一致した、加算また
    は減算されたデータにより前記コンデンサレンズ
    を前記試料上の明るさが実質的に一定に維持され
    るように制御し、前記ランダムアクセスメモリに
    記憶されるデータは明るさ調整手段の操作により
    その操作時間の関数として変えられるようになつ
    ていることを特徴とする電子顕微鏡における明る
    さ制御方法。
JP67279A 1979-01-10 1979-01-10 Brightness controller in electron microscope Granted JPS5593643A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP67279A JPS5593643A (en) 1979-01-10 1979-01-10 Brightness controller in electron microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP67279A JPS5593643A (en) 1979-01-10 1979-01-10 Brightness controller in electron microscope

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5593643A JPS5593643A (en) 1980-07-16
JPH0119225B2 true JPH0119225B2 (ja) 1989-04-11

Family

ID=11480225

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP67279A Granted JPS5593643A (en) 1979-01-10 1979-01-10 Brightness controller in electron microscope

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5593643A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5866244A (ja) * 1981-10-16 1983-04-20 Jeol Ltd 電子顕微鏡
JPS62110241A (ja) * 1985-11-07 1987-05-21 Univ Osaka 電子顕微鏡のプロ−ブ電流制御方法及び装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5593643A (en) 1980-07-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS60140641A (ja) 電子顕微鏡の像補正制御変数を光学的に調整する方法
JPH03152846A (ja) 電子顕微鏡のオートフォーカス方法
US4097740A (en) Method and apparatus for focusing the objective lens of a scanning transmission-type corpuscular-beam microscope
US4547669A (en) Electron beam scanning device
JPH0119225B2 (ja)
US4851674A (en) Electron beam control apparatus for use in transmission electron microscope
JP3524776B2 (ja) 走査電子顕微鏡
JPH03134944A (ja) 電子線装置
JPH06236743A (ja) 電子線装置のプローブ電流設定方式
US5134289A (en) Field emission electron device which produces a constant beam current
JP4229610B2 (ja) 荷電粒子ビーム装置、及びその制御方法
JP4041260B2 (ja) 荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置の制御方法
JPH0793119B2 (ja) 電子顕微鏡
JP3123861B2 (ja) 電子線装置
JP2705056B2 (ja) 自動焦点装置
JPH051585B2 (ja)
JPH0370340B2 (ja)
JPH03289036A (ja) 電子顕微鏡の信号検出装置
JPH10270331A (ja) 荷電粒子ビーム装置
JPH073772B2 (ja) 電子ビ−ム収束装置
JP2948242B2 (ja) 収束電子線回析装置
JPH0562629A (ja) 電子顕微鏡におけるフオーカス調整方式
JPS62110241A (ja) 電子顕微鏡のプロ−ブ電流制御方法及び装置
JPH0756787B2 (ja) 走査電子顕微鏡の自動焦点制御装置
JPH04522Y2 (ja)