JPH01194586A - 固体撮像素子の位置測定方法 - Google Patents
固体撮像素子の位置測定方法Info
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- JPH01194586A JPH01194586A JP63018035A JP1803588A JPH01194586A JP H01194586 A JPH01194586 A JP H01194586A JP 63018035 A JP63018035 A JP 63018035A JP 1803588 A JP1803588 A JP 1803588A JP H01194586 A JPH01194586 A JP H01194586A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はCCD等の固体撮像素子を撮像光学系の所定位
置に配置して撮像する固体撮像装置において、基準位置
に対する固体撮像素子の位置を測定する場合に適用する
固体撮像素子の位置測定方法に関するものである。
置に配置して撮像する固体撮像装置において、基準位置
に対する固体撮像素子の位置を測定する場合に適用する
固体撮像素子の位置測定方法に関するものである。
従来の技術
一般にカラー固体撮像装置では一本の撮像光を色分解光
学系にて複数の色光成分に分解して各色成分の被写体像
をそれぞれCCD等の固体撮像素子で撮像することによ
ってテレビジョン信号を得ている。
学系にて複数の色光成分に分解して各色成分の被写体像
をそれぞれCCD等の固体撮像素子で撮像することによ
ってテレビジョン信号を得ている。
複数の固体撮像素子を用いたカラー固体撮像装置では撮
像管のように電気的なレジストレーション調整を行うこ
とができないので、機械的に極めて高い精度でそれぞれ
の固体撮像素子相互の位置あわせを行い、これを維持す
る必要がある。
像管のように電気的なレジストレーション調整を行うこ
とができないので、機械的に極めて高い精度でそれぞれ
の固体撮像素子相互の位置あわせを行い、これを維持す
る必要がある。
すなわち各固体撮像素子により撮像される各色成分の被
写体像のレジストレーション調整を、第6図にその方向
を示すように (1)水平方向位置調整(±X方向) (2)垂直方向位置調整(±Y力方向 (3)バックフォーカス調整(±Z力方向(4)水平方
向のあおり調整(±Ry方向)(5)垂直方向のあおり
調整(±Rx方向)(6)ローテーション調整(±Rz
調整)の6軸方向について行った後に各固体撮像素子を
色分解光学系の色分解プリズムの各出射面に取り付けて
いる。各固体撮像素子を色分解プリズムの出射面に取り
付ける際には、固体撮像素子を動かすことが可能である
から、例えば特開昭61−288684号公報などに示
されている方法などによって6軸方向についてそれぞれ
固体撮像素子を微動しながら最良の位置を検出し、その
位置に設定することが可能である。
写体像のレジストレーション調整を、第6図にその方向
を示すように (1)水平方向位置調整(±X方向) (2)垂直方向位置調整(±Y力方向 (3)バックフォーカス調整(±Z力方向(4)水平方
向のあおり調整(±Ry方向)(5)垂直方向のあおり
調整(±Rx方向)(6)ローテーション調整(±Rz
調整)の6軸方向について行った後に各固体撮像素子を
色分解光学系の色分解プリズムの各出射面に取り付けて
いる。各固体撮像素子を色分解プリズムの出射面に取り
付ける際には、固体撮像素子を動かすことが可能である
から、例えば特開昭61−288684号公報などに示
されている方法などによって6軸方向についてそれぞれ
固体撮像素子を微動しながら最良の位置を検出し、その
位置に設定することが可能である。
発明が解決しようとする課題
しかるに、各固体撮像素子を色分解プリズムの出射面に
取り付けた後に上記の±Z力方向±Rx方向、±Ry方
向のレジストレーションを測定しようとする場合には、
各固体撮像素子を動かすことができないので有効な測定
方法がなかった。 、本発明はかかる点に鑑みてなさ
れたものであり、光学系の所定の位置に取り付けられた
固体撮像素子の位置を高精度で測定することを目的とし
たものである。
取り付けた後に上記の±Z力方向±Rx方向、±Ry方
向のレジストレーションを測定しようとする場合には、
各固体撮像素子を動かすことができないので有効な測定
方法がなかった。 、本発明はかかる点に鑑みてなさ
れたものであり、光学系の所定の位置に取り付けられた
固体撮像素子の位置を高精度で測定することを目的とし
たものである。
課題を解決するための手段
上記の問題点を解決するための技術的手段は、固体撮像
素子の水平或いは垂直方向に濃淡を繰り返す格子状パタ
ーンを撮像レンズを介して固体撮像素子により撮像し、
前記格子状パターンを前記撮像レンズの光軸方向に移動
させるとともに、前記格子状パターンと前記固体撮像素
子の画素配列とにより生成されるモアレのコントラスト
が最大となる位置を検出し、この位置の物体側基準位置
に対する相対位置関係より前記固体撮像素子の光軸方向
における像側基準位置に対する相対位置関係に換算する
ようにしたものである。
素子の水平或いは垂直方向に濃淡を繰り返す格子状パタ
ーンを撮像レンズを介して固体撮像素子により撮像し、
前記格子状パターンを前記撮像レンズの光軸方向に移動
させるとともに、前記格子状パターンと前記固体撮像素
子の画素配列とにより生成されるモアレのコントラスト
が最大となる位置を検出し、この位置の物体側基準位置
に対する相対位置関係より前記固体撮像素子の光軸方向
における像側基準位置に対する相対位置関係に換算する
ようにしたものである。
作用
本発明に係る固体撮像素子の位置測定方法では、固体撮
像素子の水平或いは垂直方向に濃淡を繰り返す格子状パ
ターンを撮像レンズを介して固体撮像素子に結像させて
得られる繰り返しパターン像と固体撮像素子の画素配列
とにより生成されるモアレ成分を得る。このモアレ成分
のコントラストはデフォーカス量、すなわち上記±Z力
方向レジストレーション誤差に依存して変化し、最良像
面において最大となる。
像素子の水平或いは垂直方向に濃淡を繰り返す格子状パ
ターンを撮像レンズを介して固体撮像素子に結像させて
得られる繰り返しパターン像と固体撮像素子の画素配列
とにより生成されるモアレ成分を得る。このモアレ成分
のコントラストはデフォーカス量、すなわち上記±Z力
方向レジストレーション誤差に依存して変化し、最良像
面において最大となる。
したがって上記格子状パターンを光軸方向に移動させて
モアレ成分のコントラストが最大となる位置を検出する
ことにより、この位置の物体側基準位置に対する相対位
置関係より縦倍率の関係から固体撮像素子の像側基準位
置に対する相対位置関係に換算することによる。
モアレ成分のコントラストが最大となる位置を検出する
ことにより、この位置の物体側基準位置に対する相対位
置関係より縦倍率の関係から固体撮像素子の像側基準位
置に対する相対位置関係に換算することによる。
実施例
まず、本発明に係る固体撮像素子の位置測定方法の原理
について第1図により説明する。第1図において、H,
H’はそれぞれレンズの前側主平面、後側主平面であり
、またF、F’ は前側焦点、後側焦点、f、f’は
前側焦点距離、後側焦点距離である。いま、(a)図の
ように前側焦点FからXなる位置すなわち物点○にある
物体yがレンズによって後側焦点F′からX゛なる位置
すなわち像点O′に像y゛を結像する。この時の結像関
係は次式で表される。
について第1図により説明する。第1図において、H,
H’はそれぞれレンズの前側主平面、後側主平面であり
、またF、F’ は前側焦点、後側焦点、f、f’は
前側焦点距離、後側焦点距離である。いま、(a)図の
ように前側焦点FからXなる位置すなわち物点○にある
物体yがレンズによって後側焦点F′からX゛なる位置
すなわち像点O′に像y゛を結像する。この時の結像関
係は次式で表される。
x−x゛=f−f゛ ・・・(1)
次に、(b)図のように前側焦点Fからx+xl の物
点Q+ にある物体y1が同じレンズにより後側焦点F
′からx’ 十xビの像点01゛に像y1’を結像した
とする。別の言い方をすれば、後側焦点F゛からX’
+XI’の位置に像Yl’を与える物体y1 が前側焦
点Fからx+x+ の位置にあるとする。この時の結
像関係は次式で表される。
点Q+ にある物体y1が同じレンズにより後側焦点F
′からx’ 十xビの像点01゛に像y1’を結像した
とする。別の言い方をすれば、後側焦点F゛からX’
+XI’の位置に像Yl’を与える物体y1 が前側焦
点Fからx+x+ の位置にあるとする。この時の結
像関係は次式で表される。
(x+x+)(x’+x+’)=f * t” @
@ ・(2)上式(1)、C)より次の縦倍率による換
算式を得る。
@ ・(2)上式(1)、C)より次の縦倍率による換
算式を得る。
x+’= −(x−xl>/ (x + x+)=−(
α・xl)/ (1+x+/ x )ここでαは(a)
図の状態における縦倍率であり、α=x’/xであられ
される。したがって(a)図の状態における物点位置X
と縦倍率αが明らかであれば、XlからXI’を求める
ことができる。
α・xl)/ (1+x+/ x )ここでαは(a)
図の状態における縦倍率であり、α=x’/xであられ
される。したがって(a)図の状態における物点位置X
と縦倍率αが明らかであれば、XlからXI’を求める
ことができる。
さらに、X+/Xが小さい場合には近似換算式として次
式を与えることができる。
式を与えることができる。
XI’ζ−α・Xl
すなわち(a)図の状態を基準として、像点O゛に対す
る像点Q+’の位置の差、すなわちXI’を求めようと
すると、物点Oに対する物点OIの位置の差、すなわち
xlを求めることによって上記の縦倍率による換算式を
用いて算出することができる。
る像点Q+’の位置の差、すなわちXI’を求めようと
すると、物点Oに対する物点OIの位置の差、すなわち
xlを求めることによって上記の縦倍率による換算式を
用いて算出することができる。
本発明はこの原理に基づいて、物点を光軸方向に移動さ
せながら最良像点を与える物点位置を求めて、この物点
位置の基準物点位置に対する相対位置関係を、求めよう
とする像点の基準像点位置に対する相対位置関係に換算
するものである。
せながら最良像点を与える物点位置を求めて、この物点
位置の基準物点位置に対する相対位置関係を、求めよう
とする像点の基準像点位置に対する相対位置関係に換算
するものである。
以下、本発明に係る固体撮像素子の位置測定方法の一実
施例について、図面に従って詳細に説明する。
施例について、図面に従って詳細に説明する。
第2図ないし第5図は三板式CCDカラー撮像装置のレ
ジストレーションを測定するレジストレーション測定装
置に本発明を適用したものである。第2図はレジストレ
ーション測定装置を模式的に示した構成図である。所定
のパターンを有したテストチャート1を光軸2に対して
垂直に配設し、このテストチャート1からの撮像光を撮
像レンズ3により撮像装置の光学系に導く。撮像レンズ
3を通過した撮像光は三色分解プリズム4により赤色帯
域光R1緑色帯域光G、青色帯域光Bの三原色光に分光
され、それぞれの撮像光は三色分解プリズムの出射面に
取り付けられた固体撮像素子5r、5g、5bにより受
光される。固体撮像素子5r、5g、5bは固体撮像素
子駆動回路6により駆動されて上記各色撮像光すなわち
テストチャート1を撮像する。各固体撮像素子5r、5
g、5bの撮像信号は増幅器7を経たのちA/D変換器
8によりディジタル信号に変換され一旦フレームメモリ
ー9に蓄積される。フレームメモリー9に蓄積された撮
像信号は逐次パーソナルコンピューター10に供給され
演算処理され、その結果はプロッター11に出力される
。
ジストレーションを測定するレジストレーション測定装
置に本発明を適用したものである。第2図はレジストレ
ーション測定装置を模式的に示した構成図である。所定
のパターンを有したテストチャート1を光軸2に対して
垂直に配設し、このテストチャート1からの撮像光を撮
像レンズ3により撮像装置の光学系に導く。撮像レンズ
3を通過した撮像光は三色分解プリズム4により赤色帯
域光R1緑色帯域光G、青色帯域光Bの三原色光に分光
され、それぞれの撮像光は三色分解プリズムの出射面に
取り付けられた固体撮像素子5r、5g、5bにより受
光される。固体撮像素子5r、5g、5bは固体撮像素
子駆動回路6により駆動されて上記各色撮像光すなわち
テストチャート1を撮像する。各固体撮像素子5r、5
g、5bの撮像信号は増幅器7を経たのちA/D変換器
8によりディジタル信号に変換され一旦フレームメモリ
ー9に蓄積される。フレームメモリー9に蓄積された撮
像信号は逐次パーソナルコンピューター10に供給され
演算処理され、その結果はプロッター11に出力される
。
更に、テストチャート1は送りテーブル12に取り付け
られて光軸方向に移動可能であり、パーソナルコンピュ
ーター10の指令にもとづいてドライブ回路13を介し
てモーター14を駆動し送りテーブル12を制御するこ
とができる。
られて光軸方向に移動可能であり、パーソナルコンピュ
ーター10の指令にもとづいてドライブ回路13を介し
てモーター14を駆動し送りテーブル12を制御するこ
とができる。
次に、この実施例におけるテストチャート1について説
明する。テストチャート1には第3図に模式的に示すよ
うに一定ピッチで濃淡を繰り返す傾斜した格子状パター
ンがチャートの中央部と、水平方向の中心線CLh及び
垂直方向の中心線CLvを挟んで上下及び左右の対称な
位置に配されている。中央部の格子状パターンPTcは
±Z力方向位置ずれ、すなわちバックフォーカスの測定
に用い、上下及び左右のパターンPTu、PTd、PT
I、PTrはそれぞれ±Rx方向及び±Ry方向のあお
りの測定に用いる。格子状パターンは本実情例のように
特定の領域にあってもよいし、テストチャート1の全域
にあってもよい。また、格子状パターンのピッチについ
ては厳密な制約はな(、固体撮像素子に結像した時、画
素配列と係合してモアレを生成する程度であればよい。
明する。テストチャート1には第3図に模式的に示すよ
うに一定ピッチで濃淡を繰り返す傾斜した格子状パター
ンがチャートの中央部と、水平方向の中心線CLh及び
垂直方向の中心線CLvを挟んで上下及び左右の対称な
位置に配されている。中央部の格子状パターンPTcは
±Z力方向位置ずれ、すなわちバックフォーカスの測定
に用い、上下及び左右のパターンPTu、PTd、PT
I、PTrはそれぞれ±Rx方向及び±Ry方向のあお
りの測定に用いる。格子状パターンは本実情例のように
特定の領域にあってもよいし、テストチャート1の全域
にあってもよい。また、格子状パターンのピッチについ
ては厳密な制約はな(、固体撮像素子に結像した時、画
素配列と係合してモアレを生成する程度であればよい。
格子状パターンは必ずしも傾斜させる必要はないが、次
に述べる理由から傾斜させる方が望ましい。第4図は2
つの重ねあわされた格子と、この重ねあわせによって得
られるモアレとの関係を求める格子ベクトル法の原理図
である。ここで言う2つの格子とは固体撮像素子に結像
した格子状パターン像と固体撮像素子の画素配列に相当
する。
に述べる理由から傾斜させる方が望ましい。第4図は2
つの重ねあわされた格子と、この重ねあわせによって得
られるモアレとの関係を求める格子ベクトル法の原理図
である。ここで言う2つの格子とは固体撮像素子に結像
した格子状パターン像と固体撮像素子の画素配列に相当
する。
格子ベクトルGをそれぞれの格子構造の格子線方向に垂
直で、大きさが格子ビッヂの逆数に等しいベクトルと定
義する。ピッチSlの基準となる第1の格子21すなわ
ち固体撮像素子の画素配列に、ピッチS2の第2の格子
22すなわち格子状パターン像がαなる角度で重ねあわ
されたとき得られるモアレ23を鈍い交角の対点を結ぶ
線群として求めることができる。更に、G1.G2の二
つの格子ベクトルの差ベクトルG3がモアレのベクトル
になることが知られている。二つの格子ベクトルGl、
G2とモアレのベクトルG3とで作られる三角形に余弦
定理を適用して次式が得られる。
直で、大きさが格子ビッヂの逆数に等しいベクトルと定
義する。ピッチSlの基準となる第1の格子21すなわ
ち固体撮像素子の画素配列に、ピッチS2の第2の格子
22すなわち格子状パターン像がαなる角度で重ねあわ
されたとき得られるモアレ23を鈍い交角の対点を結ぶ
線群として求めることができる。更に、G1.G2の二
つの格子ベクトルの差ベクトルG3がモアレのベクトル
になることが知られている。二つの格子ベクトルGl、
G2とモアレのベクトルG3とで作られる三角形に余弦
定理を適用して次式が得られる。
g3 =gl +g2 −2g1g2・co
sagl、g2、g3はそれぞれベタ1トルGl、G2
、G3の大きさを表す。
sagl、g2、g3はそれぞれベタ1トルGl、G2
、G3の大きさを表す。
したがって、傾斜しない格子状パターンを撮像した場合
、その像と画素配列との成す交差角はα=0であるから
、gl≠g2のときは像ピッチと画素配列ピッチとのピ
ッチ差にもとず(ビートが得られるが、glとg2が等
しくなるにしたがってg3がOに近づくためビートが得
られずコントラストを計測することができない。本発明
のようにテストチャート1を光軸方向に移動させると、
それにともなって像の大きさが変化するから上記のよう
なビートの得られない場合も充分に有りうるから結像倍
率の設定にあたっては注意を必要とする。
、その像と画素配列との成す交差角はα=0であるから
、gl≠g2のときは像ピッチと画素配列ピッチとのピ
ッチ差にもとず(ビートが得られるが、glとg2が等
しくなるにしたがってg3がOに近づくためビートが得
られずコントラストを計測することができない。本発明
のようにテストチャート1を光軸方向に移動させると、
それにともなって像の大きさが変化するから上記のよう
なビートの得られない場合も充分に有りうるから結像倍
率の設定にあたっては注意を必要とする。
これに対して傾斜した格子状パターンを撮像した場合の
交差角はα≠0であるから、g3がOになることはな(
必ずモアレを得ることができる。したがって格子状パタ
ーンを傾斜させる方が条件的に制約を受けないのでより
効率的な測定が可能となる。
交差角はα≠0であるから、g3がOになることはな(
必ずモアレを得ることができる。したがって格子状パタ
ーンを傾斜させる方が条件的に制約を受けないのでより
効率的な測定が可能となる。
次に本実施例における固体撮像素子の位置測定の手順に
ついて説明する。三板式CCDカラー撮像装置における
±Z力方向レジストレーションをG−Chの固体撮像素
子5gを基準として測定する場合を考える。
ついて説明する。三板式CCDカラー撮像装置における
±Z力方向レジストレーションをG−Chの固体撮像素
子5gを基準として測定する場合を考える。
まず、テストチャート1を送りテーブル12のストロー
クの中央付近に設定してこれを撮像し、G−chの固体
撮像素子5gからの撮像出力をモニターテレビで見るな
どしてほぼジャストフォーカスになるよう撮像レンズ3
を調節して設定する。
クの中央付近に設定してこれを撮像し、G−chの固体
撮像素子5gからの撮像出力をモニターテレビで見るな
どしてほぼジャストフォーカスになるよう撮像レンズ3
を調節して設定する。
続いてテストチャートを送りテーブル12の始点に移動
させ、ここを測定開始点としてテストチャート1の中央
部の格子状パターンPTcによって得られるモアレのコ
ントラストをそれぞれの固体撮像素子5r、5g、5b
について計測する。
させ、ここを測定開始点としてテストチャート1の中央
部の格子状パターンPTcによって得られるモアレのコ
ントラストをそれぞれの固体撮像素子5r、5g、5b
について計測する。
以下順次テストチャート1を送りテーブル12の終端ま
でステップ的に移動させながらそれぞれの位置における
コントラストを計測する。
でステップ的に移動させながらそれぞれの位置における
コントラストを計測する。
このようにして第5図に示すように、R,G。
Bそれぞれの固体撮像素子5r、5g、5bのテストチ
ャート1の位置に対するコントラストの計測結果が得ら
れる。この計測結果より各チャンネルにおいてコントラ
ストが最大となるテストチャート位置Xr、Xg、Xb
を求め、(Xg−Xr)、(Xg−Xb)から前記縦倍
率による換算式によってG−chの固体撮像素子5gに
対するR−ch、B−chの固体撮像素子5r、5bの
光軸方向の位置ずれを算出する。
ャート1の位置に対するコントラストの計測結果が得ら
れる。この計測結果より各チャンネルにおいてコントラ
ストが最大となるテストチャート位置Xr、Xg、Xb
を求め、(Xg−Xr)、(Xg−Xb)から前記縦倍
率による換算式によってG−chの固体撮像素子5gに
対するR−ch、B−chの固体撮像素子5r、5bの
光軸方向の位置ずれを算出する。
コントラスト計測に際しては、テストチャート1の移動
に伴い像の大きさすなわち撮像領域が変化することをふ
まえたうえで、計測領域を必要最少限に設定すればよい
。計測領域に設定されたm×n個の画素の撮像信号はA
/D変換器8を例えば8ビツトA/D変換器とすると2
56階調のディジタル信号となるから、これらの信号の
うち最大値、最小値をそれぞれT max、、1ain
、とするとコントラストCは次式で与えられる。
に伴い像の大きさすなわち撮像領域が変化することをふ
まえたうえで、計測領域を必要最少限に設定すればよい
。計測領域に設定されたm×n個の画素の撮像信号はA
/D変換器8を例えば8ビツトA/D変換器とすると2
56階調のディジタル信号となるから、これらの信号の
うち最大値、最小値をそれぞれT max、、1ain
、とするとコントラストCは次式で与えられる。
C=(In+ax、 −1m1n、)/(Imax、
+ I+in、)この式かられかるようにコントラスト
はテストチャートの照度変化や照度ムラに依存しないの
で、デフォーカス量を正当に評価することができる。
+ I+in、)この式かられかるようにコントラスト
はテストチャートの照度変化や照度ムラに依存しないの
で、デフォーカス量を正当に評価することができる。
なお、本実施例では三板式CCDカラー撮像装置につい
て説明したが、単一の固体撮像素子を用いる単板式撮像
装置でも同様にして計測することができる。この場合は
設計的に決定した物点とそれに対する像点を基準にして
、基準物点に対する相対位置関係を基準像点に対する相
対位置関係に換算すればよい。
て説明したが、単一の固体撮像素子を用いる単板式撮像
装置でも同様にして計測することができる。この場合は
設計的に決定した物点とそれに対する像点を基準にして
、基準物点に対する相対位置関係を基準像点に対する相
対位置関係に換算すればよい。
発明の効果
土工述べてきたように本発明によれば、固体撮像素子の
水平あるいは垂直方向に濃淡を繰り返す格子状パターン
を撮像レンズを介して固体撮像素子により撮像し、前記
格子状パターンを前記撮像レンズの光軸方向に移動させ
るとともに、前記格子状パターンと前記固体撮像素子の
画素配列とにより生成されるモアレのコントラストが最
大となる位置を検出し、この位置の物体側基準位置に対
する相対位置関係より前記固体撮像素子の光軸方向にお
ける像側基準位置に対する相対位置関係に換算するによ
り、簡単かつ高精度に固体撮像素子の光軸方向位置ずれ
を測定することができる。
水平あるいは垂直方向に濃淡を繰り返す格子状パターン
を撮像レンズを介して固体撮像素子により撮像し、前記
格子状パターンを前記撮像レンズの光軸方向に移動させ
るとともに、前記格子状パターンと前記固体撮像素子の
画素配列とにより生成されるモアレのコントラストが最
大となる位置を検出し、この位置の物体側基準位置に対
する相対位置関係より前記固体撮像素子の光軸方向にお
ける像側基準位置に対する相対位置関係に換算するによ
り、簡単かつ高精度に固体撮像素子の光軸方向位置ずれ
を測定することができる。
さらに、格子状パターンを水平あるいは垂直方向に対し
て傾斜した傾斜パターンにすることにより、いかなる撮
像倍率においても必ずモアレを得ることができ測定条件
に制約を与えることがないので効率的な測定が可能とな
る。
て傾斜した傾斜パターンにすることにより、いかなる撮
像倍率においても必ずモアレを得ることができ測定条件
に制約を与えることがないので効率的な測定が可能とな
る。
第1図は本発明の一実施例の固体撮像素子の位置測定方
法の原理図、第2図は本発明を適用した三板式CCDカ
ラー撮像装置のレジストレーション測定装置の一実施例
を模式的に示した構成図、第3図は同実施例におけるレ
ジストレーション測定用テストチャートの構成を示す模
式図、第4図はモアレの生成を説明するための格子ベク
トル法の原理図、第5図は同装置のレジストレーション
測定結果を示す図、第6図はレジストレーション調整に
おける調整方向を説明するための固体撮像素子の外観斜
視図である。 1・・テストチャート、3・・撮像レンズ、5r、5g
、5b・・固体撮像素子。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか1名城0− $3 図 第4図 t 第 5 図 Ah テストチi−ト旬hI第 6
図
法の原理図、第2図は本発明を適用した三板式CCDカ
ラー撮像装置のレジストレーション測定装置の一実施例
を模式的に示した構成図、第3図は同実施例におけるレ
ジストレーション測定用テストチャートの構成を示す模
式図、第4図はモアレの生成を説明するための格子ベク
トル法の原理図、第5図は同装置のレジストレーション
測定結果を示す図、第6図はレジストレーション調整に
おける調整方向を説明するための固体撮像素子の外観斜
視図である。 1・・テストチャート、3・・撮像レンズ、5r、5g
、5b・・固体撮像素子。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか1名城0− $3 図 第4図 t 第 5 図 Ah テストチi−ト旬hI第 6
図
Claims (2)
- (1)固体撮像素子の水平或いは垂直方向に濃淡を繰り
返す格子状パターンを撮像レンズを介して固体撮像素子
により撮像し、前記格子状パターンを前記撮像レンズの
光軸方向に移動させるとともに、前記格子状パターンと
前記固体撮像素子の画素配列とにより生成されるモアレ
のコントラストが最大となる位置を検出し、この位置の
物体側基準位置に対する相対位置関係より前記固体撮像
素子の光軸方向における像側基準位置に対する相対位置
関係に換算する固体撮像素子の位置測定方法。 - (2)格子状パターンは前記固体撮像素子の水平或いは
垂直方向に対して傾斜した傾斜パターンである請求項1
に記載の固体撮像素子の位置測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63018035A JPH01194586A (ja) | 1988-01-28 | 1988-01-28 | 固体撮像素子の位置測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63018035A JPH01194586A (ja) | 1988-01-28 | 1988-01-28 | 固体撮像素子の位置測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01194586A true JPH01194586A (ja) | 1989-08-04 |
Family
ID=11960417
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63018035A Pending JPH01194586A (ja) | 1988-01-28 | 1988-01-28 | 固体撮像素子の位置測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01194586A (ja) |
-
1988
- 1988-01-28 JP JP63018035A patent/JPH01194586A/ja active Pending
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