JPH0119657B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0119657B2 JPH0119657B2 JP19589481A JP19589481A JPH0119657B2 JP H0119657 B2 JPH0119657 B2 JP H0119657B2 JP 19589481 A JP19589481 A JP 19589481A JP 19589481 A JP19589481 A JP 19589481A JP H0119657 B2 JPH0119657 B2 JP H0119657B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- count value
- output
- pulse
- phase comparator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003631 expected effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R25/00—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents
- G01R25/08—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents by counting of standard pulses
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、位相比較器に関するものであり、例
えば基準信号から作成される被サンプリング信号
のダイナミツクレンジのセンターを回転体から検
出される位置検出信号（以下PG信号と称す）に
よりサンプリングし、そのサンプリングした誤差
信号により前記回転体を前記基準信号に位相同期
させる回転制御系に利用される位相比較器として
利用効果が大きいものである。磁気録画再生装置
（VTR）においては、回転ヘツドシリンダより検
出される前記PG信号をヘツド切換信号とするた
め、２個のヘツドを切換えることにより乱れがち
な画面のつなぎ目を画面下部に位置させる必要が
あり、前記PG信号を前記基準信号に対して一定
の位相差をもたせる必要がある。
えば基準信号から作成される被サンプリング信号
のダイナミツクレンジのセンターを回転体から検
出される位置検出信号（以下PG信号と称す）に
よりサンプリングし、そのサンプリングした誤差
信号により前記回転体を前記基準信号に位相同期
させる回転制御系に利用される位相比較器として
利用効果が大きいものである。磁気録画再生装置
（VTR）においては、回転ヘツドシリンダより検
出される前記PG信号をヘツド切換信号とするた
め、２個のヘツドを切換えることにより乱れがち
な画面のつなぎ目を画面下部に位置させる必要が
あり、前記PG信号を前記基準信号に対して一定
の位相差をもたせる必要がある。
第１図は既に提案されているVTRの位相比較
器の構成を示すブロツク図であり、ここで１は単
安定マルチバイブレータ（以下モノマルチと称
す）、２は台形波発生回路、３はサンプルホール
ド回路である。第２図は第１図の位相比較器の各
部の波形図であり、第２図を参照しながら第１図
の従来の位相比較器の動作説明をする。
器の構成を示すブロツク図であり、ここで１は単
安定マルチバイブレータ（以下モノマルチと称
す）、２は台形波発生回路、３はサンプルホール
ド回路である。第２図は第１図の位相比較器の各
部の波形図であり、第２図を参照しながら第１図
の従来の位相比較器の動作説明をする。
基準信号、すなわち記録時のビデオ信号から分
離された垂直同期信号S3が台形波発生回路２に入
力され台形波状の被サンプリング信号S4（30Hz）
が作成され、サンプルホールド回路３に入力され
る。一方回転体の回転位相を検出するPG信号S1
がモノマルチ１をトリガし、そのモノマルチ１の
立下り出力により前記被サンプリング信号S4の傾
斜部のセンターをサンプリングすることにより、
誤差信号S5を得る。つまり、第１図の位相比較器
の出力を受けて前記回転体を駆動する駆動回路
（図示せず）の動作点は、一般に位相比較器の出
力のダイナミツクレンジのセンターに設定されて
おり、位相引込み位置は被サンプリング信号S4の
傾斜部のセンター近傍となるわけである。この時
のPG信号S1と垂直同期信号S3の位相差αは α＝τ1−τ2／２ となる。ここでτ1はモノマルチ１の遅延量であ
り、τ2は被サンプリング信号S4の傾斜期間であ
る。
離された垂直同期信号S3が台形波発生回路２に入
力され台形波状の被サンプリング信号S4（30Hz）
が作成され、サンプルホールド回路３に入力され
る。一方回転体の回転位相を検出するPG信号S1
がモノマルチ１をトリガし、そのモノマルチ１の
立下り出力により前記被サンプリング信号S4の傾
斜部のセンターをサンプリングすることにより、
誤差信号S5を得る。つまり、第１図の位相比較器
の出力を受けて前記回転体を駆動する駆動回路
（図示せず）の動作点は、一般に位相比較器の出
力のダイナミツクレンジのセンターに設定されて
おり、位相引込み位置は被サンプリング信号S4の
傾斜部のセンター近傍となるわけである。この時
のPG信号S1と垂直同期信号S3の位相差αは α＝τ1−τ2／２ となる。ここでτ1はモノマルチ１の遅延量であ
り、τ2は被サンプリング信号S4の傾斜期間であ
る。
位相差αを一定にするためには、この従来の位
相比較器では次のような欠点が存在する。
相比較器では次のような欠点が存在する。
１ 被サンプリング信号S4の傾斜期間τ2が台形波
発生回路２を構成する抵抗とコンデンサでばら
つくため、位相差αを一定にするためにモノマ
ルチ１の遅延量τ1を調整する必要がある。
発生回路２を構成する抵抗とコンデンサでばら
つくため、位相差αを一定にするためにモノマ
ルチ１の遅延量τ1を調整する必要がある。
２ 抵抗、コンデンサが温度特性を有するため上
記τ1およびτ2が温度変化で変化し、よつてαが
変動する。
記τ1およびτ2が温度変化で変化し、よつてαが
変動する。
３ 抵抗、コンデンサ、およびボリユームを必要
とするため集積回路化に適していない。
とするため集積回路化に適していない。
本発明は上記従来例の欠点を解決し得る位相比
較器を提供するものである。
較器を提供するものである。
第３図は本発明による位相比較器の一実施例で
あり、４はタイミングパルス発生回路、５はｍビ
ツト２進カウンタ、６は計数値検出回路６１と２
つのRSフリツプフロツプ６２，６３より構成さ
れる計数値検出ブロツク、７は２つのNANDゲ
ート回路（例えば図中の７１と７２）がシリーズ
に接続されて１ビツト分を構成するｎ段のゲート
群、８はｎビツトレジスタである。
あり、４はタイミングパルス発生回路、５はｍビ
ツト２進カウンタ、６は計数値検出回路６１と２
つのRSフリツプフロツプ６２，６３より構成さ
れる計数値検出ブロツク、７は２つのNANDゲ
ート回路（例えば図中の７１と７２）がシリーズ
に接続されて１ビツト分を構成するｎ段のゲート
群、８はｎビツトレジスタである。
第４図は第３図のデジタル式位相比較器の各部
の動作波形図であり、S8はｍビツト２進カウンタ
５の計数動作を、S10はｎ段のゲート群の出力を、
S11はｎビツトレジスタ８の出力をそれぞれアナ
ログ的に表現したものである。
の動作波形図であり、S8はｍビツト２進カウンタ
５の計数動作を、S10はｎ段のゲート群の出力を、
S11はｎビツトレジスタ８の出力をそれぞれアナ
ログ的に表現したものである。
タイミングパルス発生回路４はクロツクパルス
S6を用いて基準信号（垂直同期信号）S3に同期し
た信号S7を発生する。すなわち１パルスおきに基
準信号S3が入力後の最初のクロツクパルスS6に同
期した信号を発生させる。したがつて、垂直同期
信号S3の周波数v（Hz）とする）と位相比較の基
準信号となる信号S7（REF（Hz）とする）との関係
は REF＝v／２ である。前記信号S7は前記ｍビツト２進カウンタ
５を所定の計数値No（Noは０を含む整数値）に
プリセツトするためのプリセツトパルスである。
ｍビツト２進カウンタ５の計数動作にあたつては
第４図に示すごとく、前記プリセツトパルスS7に
よつて計数値Noにセツトされ、その直後から前
記クロツクパルスS6の計数を開始し、つぎのプリ
セツトパルスS7が入力されるまで計数動作を行な
い、以上の動作を繰り返す。計数値検出ブロツク
６は、計数値検出回路６１によつて前記ｍビツト
２進カウンタ５の計数値が所定の計数値No，
Na，Nbになつたことを検出し、それぞれの検出
に応じて検出信号S93，S94，S95を発生させ、そ
れらの信号を入力とする２つのRSフリツプフロ
ツプ６２，６３によつてゲート信号S91，S92を作
成させる。そして前記ｎ段のゲート群７では、前
記ゲート信号S92の低レベル（以下Ｌレベルと称
す）により、ｎ個のNANDゲート回路７２，７
４，……７６の出力はすべてＬレベルとなり、つ
まり０（ゼロ）となり、また前記ゲート信号S91の
Ｌレベルと前記ゲート信号S92の高レベル（以下
Ｈレベルと称す）によりｎ個のNANDゲート回
路７１，７３，……７５の出力はすべてＬレベ
ル、ｎ個のNANDゲート回路７２，７４，……
７６の出力はすべてＨレベルとなり、つまり
2(n-1)となり、また前記ゲート信号S91のＨレベル
と前記ゲート信号S92のＨレベルによりｎ個の
NANDゲート回路７２，７４，……７６の出力
には前記ｍビツト２進カウンタ５の下位ｎビツト
の計数値が出力され、以上により第４図S10に示
すような台形波が得られる。
S6を用いて基準信号（垂直同期信号）S3に同期し
た信号S7を発生する。すなわち１パルスおきに基
準信号S3が入力後の最初のクロツクパルスS6に同
期した信号を発生させる。したがつて、垂直同期
信号S3の周波数v（Hz）とする）と位相比較の基
準信号となる信号S7（REF（Hz）とする）との関係
は REF＝v／２ である。前記信号S7は前記ｍビツト２進カウンタ
５を所定の計数値No（Noは０を含む整数値）に
プリセツトするためのプリセツトパルスである。
ｍビツト２進カウンタ５の計数動作にあたつては
第４図に示すごとく、前記プリセツトパルスS7に
よつて計数値Noにセツトされ、その直後から前
記クロツクパルスS6の計数を開始し、つぎのプリ
セツトパルスS7が入力されるまで計数動作を行な
い、以上の動作を繰り返す。計数値検出ブロツク
６は、計数値検出回路６１によつて前記ｍビツト
２進カウンタ５の計数値が所定の計数値No，
Na，Nbになつたことを検出し、それぞれの検出
に応じて検出信号S93，S94，S95を発生させ、そ
れらの信号を入力とする２つのRSフリツプフロ
ツプ６２，６３によつてゲート信号S91，S92を作
成させる。そして前記ｎ段のゲート群７では、前
記ゲート信号S92の低レベル（以下Ｌレベルと称
す）により、ｎ個のNANDゲート回路７２，７
４，……７６の出力はすべてＬレベルとなり、つ
まり０（ゼロ）となり、また前記ゲート信号S91の
Ｌレベルと前記ゲート信号S92の高レベル（以下
Ｈレベルと称す）によりｎ個のNANDゲート回
路７１，７３，……７５の出力はすべてＬレベ
ル、ｎ個のNANDゲート回路７２，７４，……
７６の出力はすべてＨレベルとなり、つまり
2(n-1)となり、また前記ゲート信号S91のＨレベル
と前記ゲート信号S92のＨレベルによりｎ個の
NANDゲート回路７２，７４，……７６の出力
には前記ｍビツト２進カウンタ５の下位ｎビツト
の計数値が出力され、以上により第４図S10に示
すような台形波が得られる。
すなわち、計数値Noに対応する信号S93のパル
スから計数値Naに対応する信号S94のパルスの間
は前記ｎ段のゲート群７を遮断して０が出力さ
れ、計数値Naに対応する信号S94のパルスから計
数値Nbに対応する信号S95のパルスの間は前記ｎ
段のゲート群７には前記ｍビツト２進カウンタ５
の下位ｎビツトの計数値として０から2(n-1)まで
の計数値が出力され、計数値Nbに対応する信号
S95のパルスから計数値Noに対応する信号S93の
パルスの間は前記ｎ段のゲート群７を遮断して
2(n-1)が出力されるように構成されている。この
ように被サンプリング信号を台形波とするのは制
御系全体のゲイン配分により位相比較器に要求さ
れるゲインが決定され、また本位相比較器の出力
に許されるダイナミツクレンジにも制限があるた
めである。
スから計数値Naに対応する信号S94のパルスの間
は前記ｎ段のゲート群７を遮断して０が出力さ
れ、計数値Naに対応する信号S94のパルスから計
数値Nbに対応する信号S95のパルスの間は前記ｎ
段のゲート群７には前記ｍビツト２進カウンタ５
の下位ｎビツトの計数値として０から2(n-1)まで
の計数値が出力され、計数値Nbに対応する信号
S95のパルスから計数値Noに対応する信号S93の
パルスの間は前記ｎ段のゲート群７を遮断して
2(n-1)が出力されるように構成されている。この
ように被サンプリング信号を台形波とするのは制
御系全体のゲイン配分により位相比較器に要求さ
れるゲインが決定され、また本位相比較器の出力
に許されるダイナミツクレンジにも制限があるた
めである。
この台形波すなわち被サンプリング信号S10を
回転体より検出されるPG信号S1により傾斜部の
センター近傍すなわちダイナミツクレンジのセン
ター近傍をサンプリングすることにより、誤差信
号S11を得、前記回転体の制御を行なう。つまり、
本位相比較器の出力を受けて前記回転体を駆動す
る駆動回路（図示せず）の動作点は、一般に本位
相比較器の出力のダイナミツクレンジのセンター
に設定されており、位相引込み位置は被サンプリ
ング信号S10の傾斜部のセンター近傍となるわけ
である。
回転体より検出されるPG信号S1により傾斜部の
センター近傍すなわちダイナミツクレンジのセン
ター近傍をサンプリングすることにより、誤差信
号S11を得、前記回転体の制御を行なう。つまり、
本位相比較器の出力を受けて前記回転体を駆動す
る駆動回路（図示せず）の動作点は、一般に本位
相比較器の出力のダイナミツクレンジのセンター
に設定されており、位相引込み位置は被サンプリ
ング信号S10の傾斜部のセンター近傍となるわけ
である。
この時前記被サンプリング信号S10においてプ
リセツトパルスS7から被サンプリング信号S10の
ダイナミツクレンジのセンターまでの期間τaを τa＝１／V−α とし、かつダイナミツクレンジのセンターから次
のプリセツトパルスS7までの期間τbを τb＝１／V＋α とすればPG信号S1と基準信号すなわち垂直同期
信号S3を一定の位相差α（sec）に設定できる。
リセツトパルスS7から被サンプリング信号S10の
ダイナミツクレンジのセンターまでの期間τaを τa＝１／V−α とし、かつダイナミツクレンジのセンターから次
のプリセツトパルスS7までの期間τbを τb＝１／V＋α とすればPG信号S1と基準信号すなわち垂直同期
信号S3を一定の位相差α（sec）に設定できる。
τaおよびτbの設定法については、例えば前記被
サンプリング信号S10のダイナミツクレンジのセ
ンターに対応する前記ｍビツト２進カウンタ５の
計数値Ncを Nc＝CK（１／V−α）＋No とすれば上記の目的は達成できる。
サンプリング信号S10のダイナミツクレンジのセ
ンターに対応する前記ｍビツト２進カウンタ５の
計数値Ncを Nc＝CK（１／V−α）＋No とすれば上記の目的は達成できる。
以上説明した如く、本発明によれば全ての構成
をデジタル化したため従来のような位相差αの調
整が不要であり、また温度変化により位相差αが
変化する欠点も除去でき、かつコンデンサ、抵抗
ボリユーム等が不用であり集積回路化に適してい
る等の特徴があり、予想される効果は絶大なもの
である。
をデジタル化したため従来のような位相差αの調
整が不要であり、また温度変化により位相差αが
変化する欠点も除去でき、かつコンデンサ、抵抗
ボリユーム等が不用であり集積回路化に適してい
る等の特徴があり、予想される効果は絶大なもの
である。
第１図は従来の位相比較器を示すブロツク図、
第２図はその各部の動作波形図、第３図は本発明
による位相比較器の一実施例を示すブロツク図、
第４図はその動作波形図である。 ４……タイミングパルス発生回路、５……ｍビ
ツト２進カウンタ、６……計数値検出ブロツク、
７……ｎ段のゲート群、８……ｎビツトレジス
タ。
第２図はその各部の動作波形図、第３図は本発明
による位相比較器の一実施例を示すブロツク図、
第４図はその動作波形図である。 ４……タイミングパルス発生回路、５……ｍビ
ツト２進カウンタ、６……計数値検出ブロツク、
７……ｎ段のゲート群、８……ｎビツトレジス
タ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 一定周波数（CK（Hz））のクロツク信号を順
次計数する計数手段と、一定周波数（REF（Hz））
の基準信号により前記計数手段の計数値を予め定
められた第１の計数値Noにプリセツトする手段
と、前記計数手段の計数値が第１の計数値No、
第２の計数値Na、第３の計数値Nb（No＜Na＜
Nb）に達した時それぞれ第１、第２、第３のパ
ルスを発生する計数値検出手段と、前記第１のパ
ルス発生より第２のパルス発生時まで前記第２の
計数値Naに対応した出力を発生し、前記第２の
パルス発生より第３のパルス発生時まで前記計数
手段の数値出力を発生し、前記第３のパルス発生
より第１のパルス発生時まで前記第３の計数値
Nbに対応した出力を発生するゲート手段と、そ
のゲート手段の出力を比較すべき信号によりサン
プリングする手段とを有し、そのサンプリング手
段の出力を前記比較すべき信号と基準信号との位
相差出力とする位相比較器であつて、前記第１の
計数値No、第２の計数値Na、第３の計数値Nb
の関係を ｜No−（Na＋Nb）／２｜ ＝CK（１／2REF−α） とすることにより前記基準信号と前記比較すべき
信号との位相差をα（sec）に設定することを特徴
とする位相比較器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56195894A JPS5896417A (ja) | 1981-12-04 | 1981-12-04 | 位相比較器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56195894A JPS5896417A (ja) | 1981-12-04 | 1981-12-04 | 位相比較器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5896417A JPS5896417A (ja) | 1983-06-08 |
| JPH0119657B2 true JPH0119657B2 (ja) | 1989-04-12 |
Family
ID=16348751
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56195894A Granted JPS5896417A (ja) | 1981-12-04 | 1981-12-04 | 位相比較器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5896417A (ja) |
-
1981
- 1981-12-04 JP JP56195894A patent/JPS5896417A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5896417A (ja) | 1983-06-08 |
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