JPH011970A - 電流検出装置 - Google Patents

電流検出装置

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JPH011970A
JPH011970A JP62-157407A JP15740787A JPH011970A JP H011970 A JPH011970 A JP H011970A JP 15740787 A JP15740787 A JP 15740787A JP H011970 A JPH011970 A JP H011970A
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detection element
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勝山 昭史
満男 山下
篠原 久次
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Fuji Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は電流の作る磁界を検出することKよって、そ
の電流の流れる導体に接触することなく電流を検出する
装置に関する。
〔従来の技術〕
第8図はこの種の装置を過電流遮断器における電流検出
に適用した場合の検出部の構成図である。
収納空間の制約から全体はきわめて小形に形成されてい
る。樹脂製のホルダ3が検出する電流の流れる導体4を
支持している。一対からなる検出素子1と2とが導体4
に対して対称かつ直角に配置されるようホルダ3中の保
持孔5と6に挿入されて検出部7を構成する。この配置
によって導体4を流れる電流によって生ずる磁界の方向
は検出素子1と2との長手方向と一致し、互いに逆向き
となる。
検出素子1と2とは保持力が小さく最大透磁率ノ大キい
たとえばコバルト系のアモルファス合金のような強磁性
体の薄板あるいは細線を束ねた小片8.9をコアとし、
そのコア8,9に巻線10゜11を施したものである。
コア8.9としてのアモルファス合金の小片は断面積に
対する長さの比の比較的小さい形状とし、磁化された場
合にそれ自身の磁極の作る磁界すなわち反磁界の影響を
受けやすいものにしておく。巻線10.11は導線12
.13によって第9図に示すインピーダンスブリッジ1
4に接続される。
第9図は電流検出装置の構成図である。検出部7の検出
素子1.2と2個の抵抗R1とで破線で囲んで示したイ
ンピーダンスブリッジ14を構成し、このインピーダン
スブリッジ8に高周波電源15より正極性の高周波の脈
流を与えて検出素子1と2とを励磁し、検出する電流の
流れない状態で、可変抵抗R2によりインピーダンスブ
リッジ14を平衡させておく。検出素子1と2の巻線1
0と11は、それぞれの巻線に与えられる励磁電流によ
る磁界の向きと検出する電流による磁界のそれぞれの検
出素子内における方向とが一方の検出素子では同方向、
他方の検出素子では反対方向となるようにインピーダン
スブリッジに結線する0アモルファス合金は保持力が小
さいためヒステリシスがきわめて小さく、シたがってそ
の磁化特性は第10図(jL)のように−本の折線によ
って近似的に示される。この場合最大透磁率も大きな値
をもつため、磁束密度Bは飽和値B、に達するまでは本
来B軸に一致した特性を示す。ところが前に記したよう
に反磁界の影響を受けやすい形状に作られているので磁
束密度Bは飽和値B8に達するまで:真空透磁率、N:
反磁界係数)で示されるよう反磁界の影響は反磁界係数
Nの値が大きい程大きく、それにつれて直線の勾配はゆ
るやかになる。
磁束密度Bは飽和値B8に達する磁界H8よりさらに犬
な磁界に対してはB = B、で与えられる特性を示す
。実線で示した範囲が励磁電流による磁界の最大値H1
までの特性である。
検出素子1と2とに検出する磁界Hiが加わると、励磁
による磁界と検出する磁界とが同方向の素子での磁化特
性は第10図(b)の実線1反対方向の素子では第10
図(C)の実線のようになる。これら(a)。
(b)、 (C)に対して、励磁電流Iとその励磁電流
のもたらすアモルファス合金中の磁束Φとの関係は第1
0図(由で示される。工1は磁界H1を与える励磁電流
である。このような磁束φと励磁電流工との間の非線形
特性により、L=φ/工で与えられる検出素子1と2と
のインダクタンスLは検出する磁界に対応して変化し、
下記によって示される。
ただし   k=φ工/I、、。
工。=−H8 で、nは単位長当りの巻線の巻数である。上記より検出
素子に検出磁界±Hiが加わった場合のインダクタンス
の変化ΔLは であることが導かれる(毛利佳年雄ほか:非晶質ニ ー磁心マルチバイブレータブリッジによるマグネ1トメ
ータ0日本応用磁気学会誌、 Vol、 7 *扁2゜
P 143〜146(1983)参照)0すなわち検出
素子1と2のインダクタンスLは検出する磁界H1に比
例した変化を示し、一方ではΔL増加し、他方ではΔL
減少する◎したがって第9図に示すインピーダンスブリ
ッジ14は2ΔLに相当する不平衡電圧を出力し、その
出力は高周波電源15より与えられる高周波が検出する
電流の作る磁界で変調された波形をもつため、これを増
幅器16で増幅し、高周波成分を低減p波器17で除去
して、検出する電流ならびにその方向に対応した出力信
号18を得る。
〔発明が解決しようとする問題点〕
種々の大きさの電流を検出するためには検出する電流値
の範囲に応じて電流の作る磁界の検出感度を変更して対
処する。上記の検出装置における磁界の検出感度の変更
に対しては、検出素子1゜2の強磁性体小片の長さを変
えるか、あるいは検出素子1.2と導体4との距離を変
えることが一般的に行われる0強磁性体小片の長さを変
えると反磁界係数Nが変わり、第10図に示す飽和値取
出素子1.2と導体4との距離lを変えると、検出する
電流1の作る磁界H1はHi=丁青−で示されるので、
lに対する磁界Hiの値が変わり、検出感度が変わる。
しかしながら強磁性体の長さを変える場合は、短かくす
ると所定の巻数の巻線を施すことが困難となり、長くす
ると検出部の寸法が大きくなることもあって、採用でき
る長さの範囲が限られる。
また距離lも短かい方は検出素子1.2と導体との電気
的絶縁上限度があり、長い方も検出部の寸法上の制約と
外部磁界の影響を受けやすくなることからの制約とがあ
る。さらに測定電流の値に応じて強磁性体の長さや検出
素子と導体との距離をその都度変じた検出部を準備する
ことは、小形の検出部を作る上での作業性を損ない好ま
しいことではない。
この発明は上述の問題点を解決し、強磁性体小片の長さ
および検出素子と導体との間の距離を一定に保ったまま
で電流の検出範囲の変更が可能な電流検出装置を提供す
ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明は導体に対する検出素子の位置を固定し、これ
らの検出素子の配置された箇所の近傍の導体のその導体
に沿う周囲の少なくとも一部ならびに検出素子の前記の
導体に沿う周囲の少なくとも一部を覆う第2の強磁性体
からなる板を配置し、検出する電流の値〈応じて前記の
第2の強磁性体からなる板の前記の検出素子ならびに前
記の導体に体する配置を異ならせて、検出素子を構成す
る第1の強磁性体内部において前記の検出する電流によ
って生ずる磁束の密度が異なるようにして電流の検出感
度を変更する。
〔作 用〕 導体に対する検出素子の位置を固定し、導体の周囲の少
なくとも一部ならびに検出素子の周囲の少なくとも一部
を覆う第2の強磁性体からなる板を配置して、検出素子
ならびに導体に対する第2の強磁性体からなる板の配置
を変すると、導体を流れる電流によってその導体の周囲
に作られる磁気回路の磁気抵抗が変化する◎検出素子は
その磁気回路中にあるので、検出素子を構成する第1の
強磁性体内部の磁束密度は前記の磁気抵抗の変化に応じ
て変る。したがって検出素子を構成する第1の強磁性体
の長さや導体に対する検出素子の位置が一定であっても
、電流の検出感度を変することが可能となる。
〔実施例〕
第1図はこの発明による検出部の実施例を示した斜視図
である0樹脂製のホルダ21に検出する電流の流れる導
体4が支持され、一対の検出素子lと2とが前記の導体
4にそれぞれ垂直に配置されるようにホルダ21中の保
持孔22と23に挿入されている。2個の保持孔は導体
4と平行方向に配列されているので、検出素子1.2と
導体4との距離はそれぞれ等しく、かつ一定に保たれる
検出素子1と2とはそれぞれの巻線10.IIK与えら
れる励磁電流による磁界の向きと検出する電流の作る磁
界の向きとが一方の検出素子では同方向、他方の検出素
子では反対方向となるように尋線12,13により既に
第9図に示したインビーダ7 スフIJ ツシ14 K
接続される◇ホルダ21の三方を硅素鋼板のような第2
の強磁性体材料からなる薄板24で覆って検出部2oと
する。
この第2の強磁性体材料からなる薄板24による検出部
の覆い方で導体4の周囲の磁気回路の磁気抵抗を変化さ
せ、これにともなう磁束分布の変化によって検出素子1
.2を通る磁束に変化を与え、導体4を流れる電流の検
出感度をさまざまに変えることが可能となる。
第2図はこの発明の実施例の検出部における第2の強磁
性体としての硅素鋼板の薄板のさまざまな配置例を示し
た断面図である。
(a)は薄板を設けないもの、 (b)、 (C)は検
出部の三方を囲む薄板24の配置をそれぞれ異ならせた
もの、 (d)、 (e)、 (f)は検出部の四方を
囲む薄板25を設けたものである。このうち(e)には
さらに検出素子1.2と導体4との間の領域だその領域
の磁気抵抗を減少させるバイパス片26.27を設けた
もの、(f)も同様なバイパス片28.29を検出素子
1゜2を含む磁気回路に設けたもので検出素子1.2を
通る磁束の増大をはかったものである。
第3図は第2図の検出部の導体4の周囲の磁気回路を電
気的な等価回路として示した回路図である。導体4の周
囲に検出部2004つの辺に対応して4つの領域を仮想
し、それぞれの領域の磁気抵抗をrl 、 r2 、 
r3とする。特に検出素子1.2を含む磁気回路を磁気
抵抗r1をもつ領域と並列に考慮し、その磁気抵抗をr
、で示す。起磁力は導体を流れる電流1である。
上記の等価回路において検出素子1.2を通る磁束Φは で示される。まだr。はrlとrlを並列接続したこと
による合成抵抗値で である。
(11式によって明らかなように検出素子を通る磁束Φ
はKの値によって変る。すなわちKの値の大小によって
検出感度を調節することができ、このKの値を定めるの
は磁気回路の磁気抵抗である。
第2図の(a)から(f)に対するKはそれぞれ下記に
よって与えられる。
(a)の場合 rl ” R1+ r2−R21r3 =R31rl 
−Rg 1 r ro=RAとおく。
R1,R2,R3は導体4の周囲のホルダ21の樹脂の
磁気抵抗である。
0))の場合 薄板24の各領域の磁気抵抗をRMとするとRM<<R
2,RM<<R3なので、r2 = r3 WRMであ
る。さらにrl =R1r ”* = Rjl 1とし
て(C)の場合 rlについてはR1と並列にRMが接続されたのと等は
’3 =R3r rs −R81+ rO=RBとおく
(d)の場合 り、 (e)の場合 バイパス片26.27を備えた領域の磁気抵抗をR11
l # ro=Rcとして、 (f)の場合 バイパス片28.29を備え検出素子1,2を含r2=
r3=RM + rm=RI!12 <RBl + r
Q=RDとして次に上記それぞれの場合のKの値の大小
関係すなわちそれぞれの場合の配置による検出感度の大
小関係を比較すると以下のようになる。
関係を用いて比較する。
したがって(3)、 +61式より Ka> Kcal いると、 の関係が導かれるので に&<ξ           α◆ おいて したがって Kb> Kd          Q9Q
))  Kdとに6 式において よって  Kd < K、           鰻で
ある。ところが第2図・のバイパス片26.27の長さ
を短かくして、この部分の磁気抵抗R4を増すとRcキ
RBとなり Kd−Ke            aηとなる。これ
は第2図(6)においてバイパス片26゜27を除いた
ものが第2図(d)であることからも明らかである。
(8)式と舖式、およびaD式と01式とより上記の2
式に対してRsl> R,2を考慮すると陶< Kf(
22) ■ Kaとに0 ARC (’、’3RM<<2R2+R3)         
 (23)したがって Ka<K8(24) c)KbとKf が得られ、これと(5)式とから である。一方(21)式を再記して変形するととなる。
(26)式(27)式の分母の差りを作ると中R51(
1−4X)  (’、’R工>>RM)    (28
)す、これにともなって となる。すなわちKbとKfの大小関係は検出素子を含
む部分の磁気抵抗すなわちバイパス片28゜29の長さ
等によって左右される。
以上の説明における(13) 、 (14) 、 (1
5) 、 (16) 、 (17) 。
(22) 、 (24) 、 (29)の各式で与えら
れる条件からKb、 Kf ) Kd≧Ke>Ka>K
c(30)の関係が成立し、薄板24や25.さらにこ
れらの延長としてのバイパス片26,27,28.29
の配置によってさまざまな検出感度を与えることが可能
となる。
第4図は第2図の(a)、 (b)、 (e)、 (d
)に対する検出装置の出力と導体4を流れる電流値との
関係を実測した結果を示すグラフであって、(30式で
示される関係が立証されている。なお点線で示したのは
(30)式から予想される第2図の(6)と(f)の関
係である。
第2図の((り、 (d)、 (e)、 (f)のよう
に薄板24や25が検出素子1と2の周囲を覆う構成の
ものは、薄板25の磁気遮蔽効果により、検出素子1.
2が外部の機器の作る磁界の影響を受けなくなるという
利点もある。また検出素子1.2の径方向の磁界は影響
を与えにくいので、第2図(b)においても検出素子1
,2を薄板24の設けられていない面の近傍に配置する
ことを避け、また前記の薄板24の設けられていない面
の方向からきわめて大きな磁界が加わることのないよう
圧すれば、外部からの磁界に影響されにくくなる。
第2図(d)の構成の検出部が外部磁界の影響を受けな
いことを示したのが第5図のグラフである。
このグラフは第2図(d)の検出部に近接して導体4と
は別の導体を配置してこれに3OAの交流を与えながら
導体4の電流を測定した結果である。電流の検出特性は
検出部に加わる外部磁界の影響を全く受けていないこと
が示されている。
第6図はこの発明の別の実施例であり、第2図Φ)と(
C)の薄板24の設けられていない面の方向からの外部
磁界を遮蔽するようにしたものである。
第6図(a)、伽)はそれぞれ第2図(b)、(e)に
対応する。薄板30は外部磁界を遮蔽する迷路を形成す
る形状にして検出部の周囲に設けられるが不連続であっ
て、この部分の磁気抵抗に大きな値を与え、第2図(b
)、 (e)と類似の磁束分布を得るようにしである。
この構成においては第2図に示したホルダ21に樹脂製
のスペーサ31を重ね、全体を薄板30で囲むようにし
て、第2図に示す検出部が適用できることを考慮してい
るO 第7図はこの発明の第3の実施例、を示した断面図であ
る0この実施例においては検出部を汎用の電流検出装置
の検出部として構成してあり、既に配線されている導体
に適用できるように導体4を分割可能なホルダ32と3
3とで挾み、両者を非磁性体の止めねじ34で固定し、
これを一方が開放された第2の強磁性体の薄板で囲むよ
うにしである。第7図(a)は第2図(b)に相当する
もので、ホルダ33の上部に非磁性体のスペーサ36を
挿入して薄板36で押える構成としである。第7図(b
)は第2図(d)に相当する例であって、ホルダ33の
上部に(a)のスペーサ36と同一寸法の薄板35と同
一の第2の強磁性体材料の薄板37を挿入し、ホルダ3
2.33の周囲を第2の強磁性体の薄板が囲む構造とな
るようにしたものである。スペーサ36.薄板37はと
もに着脱可能で、検出感度に応じて差し換えを行なうこ
とができる。この実施例ではホルダ32と33とを止め
ねじ34で固定するようにしたが、この止めねじ34を
用いずに薄板35で囲むことによってホルダ32と33
とを固定することも可能である。
〔発明の効果〕
この発明によれば電流の流れる導体とその導体近くに配
置されて前記の電流の作る磁界を検出する検出素子の周
囲の少なくとも一部を強磁性体の薄板で覆い、その薄板
の配置を変えて導体周囲の磁気回路の磁気抵抗をさまざ
まに変えるようKしたので、導体と検出素子とを固定し
た11で検出素子内の磁束を変えることができ、これK
よって検出する電流の値に応じた適切な検出感度を与え
ることが可能となる。特に導体と検出素子との相対位置
は固定したままで、検出感度の調節を検出部の外部で容
易に行えることは大きな利点である。
さらに検出素子を強磁性体の薄板が囲むので、磁気遮蔽
が施されて外部の磁界に影響されることなく電流が検出
できるので小電流も精度よく検出できる。
これらのことからきわめて広い範囲にわたる電流の検出
を容易に行うことができる0
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例を示す斜視図、第2図は強磁
性体の薄板の諸配置を示す断面図、第3図は磁気回路の
等価回路を示す回路図、第4図は第2図に示した強磁性
体の諸配置に対する検出電流値と装置の出力電圧の関係
を示すグラフ、第5図は検出電流値と装置の出力電圧の
関係における外部磁界の影響を示すグラフ、第6図、第
7図はこの発明のそれぞれ異なる実施例を示す断面図。 第8図は従来技術における検出部の断面図、第9図は電
流検出装置の構成図、第10図は検出素子の磁束密度と
磁界との関係および励磁電流その励磁電流のもたらす磁
束との関係をそれぞれ示すグラフである。 1.2:検出素子、3.20.32.33:ホルダ、4
:導体、7,20:検出部、8.9:コア、10.11
:巻線、24.25,30.35:薄板〇 第1図 傳イ本電已jtz (A) 第5図 311イ;シ・電五庁((A) 第4図 第9図 第10図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)保磁力が小さく最大透磁率が大きく、かつ磁束密度
    と磁界との関係に有意な反磁界の影響があらわれる長さ
    をもつ第1の強磁性体からなる小片に巻線を施した検出
    素子の一対のそれぞれの前記の巻線に周期的に変化する
    励磁電流を与えてその励磁電流の尖頭値においては前記
    の第1の強磁性体からなる小片の内部の磁束が飽和を示
    す励磁を行い、その励磁による磁界の向きと検出する電
    流の作る磁界の向きとが一方の検出素子では同方向、他
    方の検出素子では反対方向となるようにこれらの検出素
    子を検出する電流の流れる導体の近傍に配置し、前記の
    検出する電流の作る磁界がもたらす前記各検出素子内部
    の磁界の差異に起因して各検出素子のインダクタンスに
    生じる差異を検出し、その検出を介して前記の電流を検
    出する装置において、導体に対する検出素子の位置を固
    定し、これら検出素子の配置された箇所の近傍の導体の
    その導体に沿う周囲の少なくとも一部ならびに前記の検
    出素子の前記の導体に沿う周囲の少なくとも一部を覆う
    第2の強磁性体からなる板を配置し、その第2の強磁性
    体からなる板の前記の検出素子ならびに前記の導体に対
    する配置を異ならせて電流の検出感度を変更することを
    特徴とする電流検出装置。 2)特許請求の範囲第1項記載の装置において、第1の
    強磁性体がコバルト系アモルファス合金であることを特
    徴とする電流検出装置。 3)特許請求の範囲第1項あるいは第2項記載の装置に
    おいて、第2の強磁性体からなる板が硅素鋼板であるこ
    とを特徴とする電流検出装置。 4)特許請求の範囲第1項あるいは第2項記載の装置に
    おいて、第2の強磁性体からなる板が純鉄系材料の板で
    あることを特徴とする電流検出装置。
JP62157407A 1987-06-24 1987-06-24 Current detector Pending JPS641970A (en)

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