JPH011979A

JPH011979A - 高速エッジコネクタ試験器

Info

Publication number: JPH011979A
Application number: JP63-130044A
Authority: JP
Inventors: ロバート・イー・ステイプルズ
Original assignee: オーガット・インコーポレーテッド
Priority date: 1987-05-27
Filing date: 1988-05-27
Publication date: 1989-01-06

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）この発明は、複数個のエツジコネクタ接触用プローブ接
触子を線状キャリエツジに装着しこれら接触子をユニッ
ト・アンプ・ラストのエツジコネクタに接脱させる高速
エツジコネクタ試験器に関する。

（従来の技術）ここに関係文献として組み入れた米国特許第４．５９８
．２４６号および第４．６２５，１６４号に記載されて
いるようなテストヘッドは、電子回路を、回路の構成部
品の一体性および構成部品間の協同を決定するよう作動
する自動試験装置に解放可能で確実に接続させるインタ
フェースを有する。

従来のテストヘッドの大きな欠点は試験を周期的に行え
る速度に制限があることである。時間遅延の原因の１つ
は電路長に関係がある。電路長が長ければ長いほど、電
気信号を伝播するに必要な時間が多くなり、披試験多装
置の処理能力が少なくなる。時間遅延の他の原因は容量
、インダクタンスおよび電線の他の電気的性質により誘
発される過渡状態であり、これは試験が進行する前に解
決されねばならない。両効果は信号路の全延長または長
さに直接依存し、従来のテストヘッドでは、特に電気回
路装置の試験用エツジコネクタ接触子を備えたものでは
、電線長は約１フイート半であり、これは数ミリ秒のサ
イクル当りのロストタイムに相互関係があり、また、非
受容処理能力遅延でない場合には望ましくない。

（発明の目的とその構成）本発明の主たる目的は、複数個のエツジコネクタ接触用
プローブ接触子を、これら接触子をユニット・アンプ・
テストのエツジコネクタに接脱するように移動できる線
状キャリエツジに装着する高速エツジコネクタ試験器を
提供することにある。

キャリエツジに装着される複数個の自動試験装置接触用
プローブ接触子は非油な最小長さの電導線を介して対応
するエツジコネクタ接触用接触子に個々に接続される。

線状に可動なキャリエツジ、エツジ接触用プローブ接触
子および自動試験装置接触用プローブ接触子は自動試験
装置接触用プローブ接触子を自動試験装置と電気的に接
続するよう移動できるテスト取付具に装着される。最小
路長電気的相互接続は数個のプローブと相互接続線とを
介し自動試験装置とユニット・アンプ・テストのエツジ
コネクタとの間で行われる。本発明は少なくとも、従来
の装置よりも信号処理速度を高速化することができる。

本発明の他の目的、態様および特徴は以下の例示的で非
限定の詳細な説明および添付図面を参照して本発明がよ
りよく理解できるに伴い明らかとなる。

（実施例）第１図において、本発明による新規な高速エツジコネク
タ試験アセンブリ１０の斜視図が示されている。このエ
ツジコネクタ試験器１０は、テストヘッドまたは、前述
の米国特許に開示された形式の自動試験装置の取付具と
協同する。これらテスト取付具は、固定プローブ支持板
にだいし上下動するように取付けた電子回路板受入れ面
を含む。

電子回路板、一般にユニット・アンプ・テスト（Ｕ　Ｕ
　Ｔ）が受入れ面に受入れられ、真空状態を生じさせて
ユニット・アンプ・テストを引き下げてプローブ支持板
に支持されたプローブに接触させるようになっている。

これらプローブは自動試験装置に電気的に接続される。

エツジコネクタ試験器１０は受入れ面に取付けられ一緒
に上下動する。コンピュータや記憶装置等容ユニット・
アンダΦテストにはエツジコネクタがエツジに沿いまた
は離れて典型的には半田付で、また他の方法で固定され
ている。第１図と第２図の実施例では物理的エツジから
離れて設けられたユニット・アンプ・テストのエツジコ
ネクタに接触し、第３図の実施例では物理的エツジに実
質的に重ねられたユニット・アンプ・テストのエツジコ
ネクタに接触する。

試験器１０ではプレートないしボード１４に複数個のエ
ツジコネクタ接触用接触子１２が取付けられている。図
示例では接触子には２列にされているが、１列または３
列もしくは何列としてもよく、ただ接触子（プローブ）
１２の列数はそれが接触する接触子の列数と等しくしな
ければならない。プローブ数は特定のユニット・アンダ
φテストの被接触接触子の数と等しく選択でき、または
複数個の被試験ユニットのいずれかに接触できるユニバ
ーサル試験パターンを得るように選択できる。接触子１
２は好ましくは、ボード１４に個々に取りはずし可能で
掌擦的に保持されるｒＰＯＧＯ」スプリングプローブで
ある。

自動試験装置接触用接触子１６の第２配列は、□ボード
１８に取付けられている。このボード１８はウェブ２０
を経てボード１４に固定され、接触子１６が接触子１２
の後ろで下になる位置を占める。接触子１２．１６配列
間の横方向距離は特定のユニット・アンダφテストのエ
ツジコネクタの横方向位置ずれを調節するように選択さ
れる。

スプリング端部から隔離したプローブ１２の端部は、第
２図に示すワイヤラップ２２を経てスプリング端部から
隔離したプローブ１６の端部の１つと結合される。ワイ
ヤラップ２２は非曲性であり、従って寿命がきわめて長
い。

プローブ１２．１６の交換は、スプリング接触子をはず
して新しいまたは作り直したものと交換するだけで容易
に行える。

ボード１４は線状ベアリング２４に摺動可能に取り付け
られ、ボードの各縦端に隣接して、／％ウジング２６に
片持ち状に固定される。第２図に見られるように、ハウ
ジング２６は自動試験装置用試験取付具の可動回路板受
入れ面２８と移動するように取付けられる。矢印３２で
略示するように、ユニット・アンプ・テスト受入れ面２
８は固定プローブ支持板３０にたいし移動できる。受入
れ面２８は任意の手段によって固定板３０にたいし移動
するよう取り付けられ、上記特許に開示されるスプリン
グ・サスペンション・弾性層支持体が好ましい。

ハウジング２６にアクチュエータ３４が取り付けられて
ボード１４を線状ベアリング２４に沿って往復動させる
。第１図では、ボード１４の中央にアクチュエータ３４
を１つだけ示されているが複数個のアクチュエータを使
用してもよい。

つぎに第２図を参照すると、アクチュエータ３４はラム
３６を含む。このアクチュエータは好ましくは、空気シ
リンダであり、ラム３６はその延長方向に往復動できる
。ボード１４とシリンダ３４のラム３６の対向端との間
に継手３８が設けられる。ボードが線状ベアリング（第
１図）に案内されるかぎり、継手３８は好ましくは、シ
リンダのラムの移動方向に沿って力を直接伝達するが、
線状ベアリングに沿う摺動作用の干渉やジャムがないよ
うに運動方向にたいする横方向に遊びをａする軸向き継
手が選ばれる。好ましい実施例において、継手３８は所
謂“Ｔ″継手あって、ボード１４に固定される“Ｔ”ス
ロットを有するブラケット４０と、ラム３６の自由端に
ねじ付けその他により固定される協同ボタンヘッド４２
とを含む。

ユニット・アンプ・テストは４４で示されている。図面
に示すように、そのエツジコネクタ４６はユニット・ア
ンプ・テスト４４の物理的エツジから離れた距離だけ間
隔をおいている。エツジからユニット４４のコネクタ４
６の距離はプローブ支持ボード１４．１８の横ずれによ
って調節される。第３図に示すように、エツジコネクタ
４８はユニット・アンプ・テスト５０の物理的エツジに
重ねられると、単ボード５２だけで、試験取付具接触用
接触子５６と共にエツジ接触用接触子５４の接触子を支
持する。第３図に示す実施例においては、特定のエツジ
コネクタ４８の列数に相当する３列の接触子５４が示さ
れている。なおまた、３列の接触子５４は２列の接触子
５６と電気的に組をなし、接触子５４の数は接触子５６
の数と等しくされ、さらに、接触子５４はダッシュ線５
８で略示される非油導体によって接触子５６と選択的か
つ電気的に相互接続される。

第２図に戻ると、複数個のスプリングＰＯＧＯ接触子６
０が、プローブ支持ボード３０に固着されてユニット・
アンプ・テスト４４の回路点の試験を行う。

他の複数個のスプリングＰＯＧＯ接触子６２がプローブ
支持板３０に固着され、これら接触子６２の数はプロー
ブ１６の数に対応する。接触子６２はプローブ支持板３
０に装着した直角コネクタ６４に配設された接触子６３
と整列している。接触子６５は内側が接触子６３と接続
され、接触子１６と整列している。コネクタ６４により
接触子６２と１６を接続する。ユニット６４には、任意
の直角コネクタ、例えば、直角ヘッダ・アセンブリが使
用できる。接触子６０．６２はダッシュ線６６に略示す
るように自動試験装置に電気的に接続される。

作動に際し、第２図の矢印１８で略示するように可動ユ
ニット・アンプ・テストに受入れ而２８に真空が付与さ
れる。受入れ面２８は真空に応じて降下して接触子６３
を接触子６２に接触させ、接触子６０を被試験ユニット
・アンプ・テスト４４の回路の所定回路点に電気的に接
触させる。自動試験装置は回路点に電気的に接触し同時
に接触子６３は接触子６２に接触することによって自動
試験装置は直角コネクタ６４に電気的に接続する。

アクチュエータ３４の作動によりラム３６を第２図にお
いて左側へ移動させ、ボード１４と接触子には一緒に左
側へ移動する。接触子にはエツジコネクタ４６に進入し
、各プローブ端はコネクタ４６の対応する接触子開口に
受入れられる。コネクタ４６の接触と同時に、プローブ
１６は直角コネクタ６４の接触子６５に接触することに
よって、自動試験装置は電線２２を介してプローブ１２
に、従ってエツジコネクタ４６の接触子に電気的に接続
される。それと共に自動試験装置は所定の接続一体性（
所謂回路試験において）および（または）装置機能（機
能的試験）を検査できる。試験が完了した後、アクチュ
エータ３４はラムを第２図において右側に引いて、ボー
ト１４を移動させ、それと共にプローブ１２を右側へ移
動させることによって、コネクタ４６と直角コネクタ６
４との接続をしゃ断する。真空を解放して、接触子６０
とユニット・アンプ・テスト点との接続をしゃ断すると
共に、接触子６２と直角コネクタ６４の接触子６３との
接続をしゃ断する。

以上明らかなように、伝播が生ずる電線の長さは、本発
明によれば、妥当なかぎり短かくして安定過渡状態と伝
播信号遅延を少なくする。本発明は、今日の多くの高速
試験用途に好適なエツジコネクタを提供するように、処
理能力の多大の改良がなされている。

ここに開示された発明の多くの変型は特許請求の範囲か
ら逸脱しないで当業者によってなしうる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の新規な高速エツジコネクタ試験アセン
ブリを示す斜視図、第２図は自動試験装置の試験取付具
に装着され、ユニット・アンプ・テストのエツジコネク
タと接触する状態にあるアセンブリを示す一部断面一部
絵図的側面図、第３図は、これも自動試験装置の試験取
付具に装管され非接触状態にあることを示す本発明の他
の実施例の一部断面一部絵図的側面図である。１２．１６・・・接触子（プローブ）、２８・・・可動
回路板受入れ面、３４・・・アクチュエータ、３８・・
・継手、４４．５０・・・ユニット・アンプ・テスト、
４６．４８・・・エツジコネクタ。外１名ＦＩＧ、１手続？ｉｌｉ正書く方式）％式％発明の名称高速エツジコネクタ試験器補正をする者事件との関係　　特許出願人

Claims

【特許請求の範囲】

（１）被試験回路点を有する電子回路装置と被試験接触
子を有するエッジコネクタとの試験を行う高速エッジコ
ネクタ・アセンブリにおいて、可動電子回路装置受入れ
面と固定プローブ支持面とを有する試験取付具と、電子回路装置の回路点を試験する配列を規制する第１の
複数個の固定信号接触子を備えるプローブ支持板に固着
される第１の複数個のスプリング・プローブと、互いに直角に規制される夫々平面において第１および第
２の複数個の接触子を有する電気回路装置に固着される
直角コネクタと、前記直角コネクタの前記第１の複数個の接触子と接触す
る配列を規制する第２の複数個の固定信号接触子を備え
るプローブ支持板に固着される端部を有する第２の複数
個のスプリング・プローブと、エッジコネクタの接触子数と少なくとも数が等しい第３
の複数個のスプリング・プローブと、前記第３の複数個
のスプリング接触子数と少なくとも数が等しい第４の複
数個のスプリング・プローブと、前記第３の複数個のスプリング接触子が前記エッジ接触
子と選択的に接続し前記第４の複数個のスプリング接触
子が前記第２接触子と選択的に接続するように、前記第
４と第３の複数個のスプリング接触子を移動させるため
第３と第４の複数個に結合される手段とを備える高速エ
ッジコネクタ・アセンブリ。
（２）前記第１と第２の複数個のスプリング接触子は垂
直に直立しかつ平行に整列される特許請求の範囲第１項
に記載のアセンブリ。
（３）前記第３と第４の複数個のスプリング接触子は水
平に配向されかつ平行に整列される特許請求の範囲第２
項に記載のアセンブリ。
（４）前記移動手段は、前記第３と第４の複数個の接触
子を支持する手段と、前記支持手段をエッジコネクタに
接離して線状に往復動させる手段に結合される手段とを
含む特許請求の範囲第３項に記載のアセンブリ。
（５）前記支持手段結合移動手段は前記可動電子装置受
入れ面に装着される特許請求の範囲第４項に記載のアセ
ンブリ。
（６）前記支持手段結合移動手段は、線状ベアリングに
装着されるキャリエッジと、線状ベアリングに沿いキャ
リエッジを移動させるアクチュエータとを含む特許請求
の範囲第５項に記載のアセンブリ。
（７）前記アクチュエータは空気作動され、一軸力伝達
、トランスアキシアル力遊びおよびすべりを確認する手
段によって前記キャリエッジに結合される特許請求の範
囲第６項に記載のアセンブリ。
（８）前記第４と第３の複数個のプローブは同一ボード
により支持される特許請求の範囲第４項に記載のアセン
ブリ。
（９）前記支持手段は２枚の横方向に間隔をおいたボー
ドを含み、前記第４と第３の複数個のスプリング接触子
は夫々、前記横方向に間隔をおいたボードに装着されか
つ、ウエブによって相互接続される特許請求の範囲第４
項に記載のアセンブリ。
（１０）前記第１、第２、第３および第４の複数個のス
プリング接触子はＰＯＧＯスプリング接触子または同等
品である特許請求の範囲第１項に記載のアセンブリ。