JPH01200808A - 半導体集積回路における熱遮断回路 - Google Patents

半導体集積回路における熱遮断回路

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JPH01200808A
JPH01200808A JP63025898A JP2589888A JPH01200808A JP H01200808 A JPH01200808 A JP H01200808A JP 63025898 A JP63025898 A JP 63025898A JP 2589888 A JP2589888 A JP 2589888A JP H01200808 A JPH01200808 A JP H01200808A
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JP
Japan
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transistor
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turned
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JP63025898A
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Jun Tanaka
純 田中
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、周囲温度の変化に伴って動作、非動作状態
となる半導体集積回路における熱遮断回路に関するもの
である。
〔従来の技術〕
第2図は従来の半導体集積回路における熱遮断回路を示
す図であり、図において、1は定電圧回路、2.3は基
準電圧をつくり出すための抵抗列、4は温度ヒステリシ
スをかけるための抵抗、5は温度検知のためのトランジ
スタ、6,7,8.9は温度検知のためのトランジスタ
5の信号により出力信号を出力する出力回路のトランジ
スタ及び抵抗群、またトランジスタ7は抵抗4へ温度ヒ
ステリシスをかけるための電流を流す帰還回路をかねて
いる。10.1)は定電流源である。
次に動作について説明する。定電圧回路1で出力された
電圧を抵抗2.3で分割して基準電圧をつくる。この基
準電圧は常温でのトランジスタのベース・エミッタ間電
圧(以下■□と略記する)より小さく設定する。なぜな
ら、トランジスタの■、は、温度が、上がればその値は
小さくなるため、熱遮断回路の温度検知用の基準電圧と
しては、常温での値より小さく設定する必要があるから
である。この基準電圧は、抵抗4を介して温度検知用ト
ランジスタ5のベースに接続される。
ここで、この回路の周囲温度が上がった場合を考えてみ
る。温度検知用トランジスタ5は、常温では基準電圧の
方がv sr +s> よりも低いのでオフ状態にある
。周囲温度が上がってくると、トランジスタの■1は徐
々に下がってくるので、ある温度で温度検知用トランジ
スタ5はオン状態となる。
するとトランジスタ6はオフとなり、トランジスタ7.
8はオンとなるので、トランジスタ8は電流吸込みの状
態になる。またこの時、トランジスタ7は、温度検知用
トランジスタ5のベースに接続されている抵抗4へ電流
を流し込み、温度検出用基準電圧を引き上げる。
このため、周囲温度が下がってきた場合、Vo(5) 
は徐々に上昇してゆくが、第2図の回路がオン状態にな
った温度まで周囲温度が下がっても回路のオン状態は解
除されない。なぜなら、温度検知用トランジスタ5のベ
ース電位は、前述のとおりトランジスタ7からの帰還電
流により抵抗4の電圧降下分持ち上げられているからで
ある。このようにして、より低い温度になった時回路は
オフ状態になり、いわゆる温度ヒステリシスがかかるの
である。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の半導体集積回路における熱遮断回路は以上のよう
な構成になっているので、温度検知用トランジスタが動
作時飽和状態になって寄生トランジスタが働くことを防
止するために基準電圧を高目に設定する必要があったり
、また、ウェハプロセスによっては温度検知用のトラン
ジスタ5の寄生トランジスタが働き、抵抗4へ流れ込む
べき電流をぬかれるので、温度検知用トランジスタ5の
ベース電圧が持ち上がらず、温度ヒステリシスがかから
なくなるという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、安定して温度ヒステリシスのかかる半導体集
積回路における熱遮断回路を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る半導体集積回路における熱遮断回路は、
温度検知用トランジスタのエミッタ面積を大きくとると
ともに、基準電圧設定用の抵抗列のひとつの抵抗を短絡
して基準電圧を持ち上げる帰還回路を設け、温度ヒステ
リシスをかけるようにしたものである。
〔作用〕
この発明においては、温度検知用トランジスタのエミッ
タ面積を大きくとることにより、基準電圧の設定値を小
さくとれるようになり、寄生トランジスタがはたらきに
くくなる。また、基準電圧設定用抵抗列のひとつの抵抗
をショートして基準電圧を持ち上げることにより、温度
検知用トランジスタのベースへの電流流し込みをするこ
とな(、温度ヒステリシスをかけることができる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、1は定電圧回路、2,3゜40は基準電圧
をつくり出すための抵抗列、5は温度検知のためのトラ
ンジスタ、6,7,8.9は温度検知のためのトランジ
スタ5の信号により出力信号を出力する出力回路のトラ
ンジスタ及び抵抗群、また、?、12.13.14,1
5.16は温度ヒステリシスをかけるため基準電圧をつ
くり出す抵抗群2,3.40のひとつの抵抗を短絡する
帰還回路、10.1)は定電流源である。
また、温度検知用トランジスタ5のNSは標準のトラン
ジスタのN倍のエミッタ面積を持つことを意味している
次に動作について説明する。定電圧回路1で出力された
電圧を抵抗2,3.4で分割してイの点に基準電圧を設
定する。この基準電圧は常温でのトランジスタの■1よ
り小さく設定され、そして、温度検知用トランジスタ5
のベース電圧となっている。また、温度検知用トランジ
スタ5はエミッタ面積を標準のトランジスタのN倍とし
ているが、これは、イに設定する基準電圧の値を小さく
して。
温度検知用トランジスタ5が動作時飽和状態になった場
合、第3図に示すような寄生トランジスタが働かないよ
うにすることを目的としている。
回路の周囲温度が上がってくると、温度検知用トランジ
スタ5の■、が徐々に下がって、イの基1yffB m
圧をよぎると温度検知用トランジスタ5はオン状態とな
り、トランジスタ6をオフし、トランジスタ7.8をオ
ンさせる。このためトランジスタ8は電流吸込みの状態
となる。またこの時、トランジスタ7はトランジスタ1
4へもベース電流を供給し、オン状態にさせる。トラン
ジスタ14がオンすると、トランジスタ12をオンさせ
る。
このトランジスタ12は基準電圧を設定する抵抗列2,
3.4のうちのひとつの抵抗2を短絡する、いわゆるス
イッチとして働く。トランジスタ12によってひとつの
抵抗2を短絡された抵抗列3゜4はイの基準電圧を持ち
上げる。すると、温度検知用トランジスタ5は動作開始
時の■1よりも高いVBEが加わるため周囲温度が下が
らない限り常にオン状態となり、回路全体を動作状態に
保つ。
次に周囲温度が下がって(ると、温度検知用トランジス
タ5の■、は徐々に上がってきて、前述のヒステリシス
のかかった基準電圧イを越えると、温度検知用トランジ
スタ5はオフ状態となる。温度検知用トランジスタ5が
オフするとトランジスタ6をオン、トランジスタ7.8
をオフし、また、トランジスタ7.12,14、抵抗1
3.15゜16からなる帰還回路もオフし、抵抗2が短
絡状態から解除され基準電圧イは最初の低い設定値にも
どり、温度検知用トランジスタ5はオフ状態を保つ。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明に係る半導体集積回路における
熱遮断回路によれば、温度検知用トランジスタの面積を
大きくし、また温度ヒステリシスをかけるために、抵抗
列の中のひとつの抵抗を短絡して基準電圧を変化させる
ようにしているので、基準電圧を小さく設定でき、高温
時での寄生トランジスタの働きをおさえることができ、
安定して温度ヒステリシスがかかる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による半導体集積回路にお
ける熱遮断回路を示す回路図、第2図は従来の半導体集
積回路における熱遮断回路を示す回路図、第3図はNP
N トランジスタの寄生トランジスタの様子を示す図で
ある。 1は定電圧回路、2.3.40は基準電圧をつくるため
の抵抗列、5は温度検知用トランジスタ、6.8は出力
回路のトランジスタ、7は出力回路と帰還回路とをかね
たトランジスタ、9は出力回路の抵抗、12.14は帰
還回路のトランジスタ、13.15.16は帰還回路の
抵抗。 なお、図中同一符号は、同一または相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)定電圧回路と、 該定電圧回路から基準電圧をつくるための抵抗列と、 そのベース端子が上記基準電圧に接続され、かつエミッ
    タ面積を大きくとった温度検知用トランジスタと、 該温度検知用トランジスタの信号により出力信号を出す
    出力回路と、 上記温度検知用トランジスタの信号により上記基準電圧
    をつくるための抵抗列のうちのひとつの抵抗を短絡する
    ことにより、基準電圧を変動させ温度ヒステリシスをか
    ける帰還回路とを備えた半導体集積回路における熱遮断
    回路。
JP63025898A 1988-02-05 1988-02-05 半導体集積回路における熱遮断回路 Expired - Lifetime JP2618950B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0481105A1 (de) * 1990-10-15 1992-04-22 Siemens Aktiengesellschaft Schaltungsanordnung zum Erfassen der Übertemperatur eines elektronischen Bauelements

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS49119557A (ja) * 1973-03-14 1974-11-15
JPS6149616A (ja) * 1984-08-10 1986-03-11 シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト 温度保護用回路装置
JPS6170809A (ja) * 1984-09-14 1986-04-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 熱保護回路

Patent Citations (3)

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