JPH01203967A - 温度補償型超音波探傷装置 - Google Patents
温度補償型超音波探傷装置Info
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- JPH01203967A JPH01203967A JP63029679A JP2967988A JPH01203967A JP H01203967 A JPH01203967 A JP H01203967A JP 63029679 A JP63029679 A JP 63029679A JP 2967988 A JP2967988 A JP 2967988A JP H01203967 A JPH01203967 A JP H01203967A
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 31
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims abstract description 22
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は材料中の欠陥の検査に用いられる超音波探傷装
置に係わり、物体認識、形状測定、物体間の距離等の絶
対値測定に用いられる超音波センサとしても適用可能な
超音波探傷装置に関するものである。
置に係わり、物体認識、形状測定、物体間の距離等の絶
対値測定に用いられる超音波センサとしても適用可能な
超音波探傷装置に関するものである。
一般に、溶接部の欠陥、管あるいは板等の広範囲な探傷
に超音波による斜角探傷法が利用されている。これは超
音波振動子を内蔵した超音波探触子を被検体の表面に取
りつけ、表面に対して斜め方向に超音波パルスを発信し
、被検体内部のクランク等の欠陥箇所から反射した反射
波を同じ超音波探触子で受信して電気信号に変換し、ブ
ラウン管上に表示し、超音波パルスを発信してから受信
するまでの時間を測定して欠陥位置を探索するものであ
る。
に超音波による斜角探傷法が利用されている。これは超
音波振動子を内蔵した超音波探触子を被検体の表面に取
りつけ、表面に対して斜め方向に超音波パルスを発信し
、被検体内部のクランク等の欠陥箇所から反射した反射
波を同じ超音波探触子で受信して電気信号に変換し、ブ
ラウン管上に表示し、超音波パルスを発信してから受信
するまでの時間を測定して欠陥位置を探索するものであ
る。
第5図はこのような従来の超?)゛波探(W装置を示す
図で、図中1は超音波探触子、2は超音波探傷器、3は
被検体、4は欠陥、5は超音波ビーム、6.7は温度変
化により屈折角の変化した超音波ビームである。
図で、図中1は超音波探触子、2は超音波探傷器、3は
被検体、4は欠陥、5は超音波ビーム、6.7は温度変
化により屈折角の変化した超音波ビームである。
図において、超音波探傷を行う場合、被検体3に設けた
超音波探触子1から発信した超音波ビーム5は欠陥位置
4で反射を生じ、その反射波を超音波探触子lで受信す
る。そして超音波探傷器2で超音波パルスを発信してか
ら受信するまでの時間を求めることにより欠陥位置4を
検出している。
超音波探触子1から発信した超音波ビーム5は欠陥位置
4で反射を生じ、その反射波を超音波探触子lで受信す
る。そして超音波探傷器2で超音波パルスを発信してか
ら受信するまでの時間を求めることにより欠陥位置4を
検出している。
この場合、被検体3の温度が変化すると屈折角が変化し
て破線で示した超音波ビーム6又は7のようになるが、
超音波ビームはある広がり幅を持っているため、その幅
の中に欠陥があれば欠陥信号として検出することができ
る。
て破線で示した超音波ビーム6又は7のようになるが、
超音波ビームはある広がり幅を持っているため、その幅
の中に欠陥があれば欠陥信号として検出することができ
る。
ところで、温度変化があると前述したように屈折角が変
化するために反射波の音圧が変化したり、或いは振動子
自体の発振出力、即ち音圧が変化することにも起因して
感度が変化してしまう。
化するために反射波の音圧が変化したり、或いは振動子
自体の発振出力、即ち音圧が変化することにも起因して
感度が変化してしまう。
したがって、従来は材料の温度と同一温度に感度校正用
試験片を加熱又は冷却して感度校正を行うか、或いは基
準温度で校正し、温度変化による感度の変化をバックグ
ランドノイズとして扱ってこれを補正するようにしてい
た。
試験片を加熱又は冷却して感度校正を行うか、或いは基
準温度で校正し、温度変化による感度の変化をバックグ
ランドノイズとして扱ってこれを補正するようにしてい
た。
このように従来の超音波探傷装置は材料の温度が変化す
るにしたがって、その都度感度の校正を行わなければな
らなかった。このため、温度変化の激しい材料での微小
な欠陥の探傷や、特に高温領域での探傷では、探傷の信
組性が問題となって探傷できない場合もあり、温度変化
による超音波探触子の感度変化を低減することが切望さ
れている。
るにしたがって、その都度感度の校正を行わなければな
らなかった。このため、温度変化の激しい材料での微小
な欠陥の探傷や、特に高温領域での探傷では、探傷の信
組性が問題となって探傷できない場合もあり、温度変化
による超音波探触子の感度変化を低減することが切望さ
れている。
本発明は上記問題点を解決するためのもので、超音波探
触子で被検体湯度を検知することにより、感度補正を自
動的に行い、超音波探傷時の作業の効率化、簡易化、作
業時間の短縮化、さらに超音波探傷への信頼性を向上さ
せることができる温度補償型超音波探傷装置を提供する
ことを目的とず【発明が解決しようとする課題〕 本発明の温度補償型超音波探傷装置は、超音波振動子を
内蔵した超音波探触子と、超音波探触子へ超音波信号を
送ると共に、探触子からの検出信号を受信する受信器を
有する超音波探傷器とからなる超音波探傷装置において
、被検体の温度を検出する温度検出手段と検出温度信号
により感度補正する感度補正手段を設け、被検体の温度
を検出して温度変化に伴う超音波の屈折角の変化による
感度変化を補正することを特徴とする。
触子で被検体湯度を検知することにより、感度補正を自
動的に行い、超音波探傷時の作業の効率化、簡易化、作
業時間の短縮化、さらに超音波探傷への信頼性を向上さ
せることができる温度補償型超音波探傷装置を提供する
ことを目的とず【発明が解決しようとする課題〕 本発明の温度補償型超音波探傷装置は、超音波振動子を
内蔵した超音波探触子と、超音波探触子へ超音波信号を
送ると共に、探触子からの検出信号を受信する受信器を
有する超音波探傷器とからなる超音波探傷装置において
、被検体の温度を検出する温度検出手段と検出温度信号
により感度補正する感度補正手段を設け、被検体の温度
を検出して温度変化に伴う超音波の屈折角の変化による
感度変化を補正することを特徴とする。
本発明の温度補償型超音波探傷装置は、被検体温度を検
出し、検出した温度信号により感度補正することにより
感度の補正を自動的に行い、超音波探傷時の作業の効率
化、簡易化、作業時間の短縮化、さらに超音波探傷への
信幀性を向上させることができる。
出し、検出した温度信号により感度補正することにより
感度の補正を自動的に行い、超音波探傷時の作業の効率
化、簡易化、作業時間の短縮化、さらに超音波探傷への
信幀性を向上させることができる。
以下、図面を参照して実施例を説明する。
第1図〜第3図は本発明による温度補償型超音波探傷装
置の一実施例を示す図で、第1図は超音波探触Tの内部
を示す図、第2図は被検体に超音波探触子を取り付けた
図、第3図は超音波探傷の全体構成を示す図で、第5図
と同一番号は同一内容を示す、なお、11は超音波探触
子、12は超音波探傷器、13は振動子、14は(さび
材、15は温度センサ、16はコネクタ、17は発信器
、18は受信器、19は温度補正式ゲインコントロール
ユニット、20は増幅器、21はCRTである。
置の一実施例を示す図で、第1図は超音波探触Tの内部
を示す図、第2図は被検体に超音波探触子を取り付けた
図、第3図は超音波探傷の全体構成を示す図で、第5図
と同一番号は同一内容を示す、なお、11は超音波探触
子、12は超音波探傷器、13は振動子、14は(さび
材、15は温度センサ、16はコネクタ、17は発信器
、18は受信器、19は温度補正式ゲインコントロール
ユニット、20は増幅器、21はCRTである。
図において、超音波探触子11はくさび材14のネ1面
に超音波を斜めに発信するように取り付けた振動子13
と被検体3の温度計測を行う温度センサ15を内蔵し、
外側に設けたコネクタ16を介して振動子13、及び温
度センサ15の出力は信号用電源によって外部の超音波
探傷1t2に接続されている。
に超音波を斜めに発信するように取り付けた振動子13
と被検体3の温度計測を行う温度センサ15を内蔵し、
外側に設けたコネクタ16を介して振動子13、及び温
度センサ15の出力は信号用電源によって外部の超音波
探傷1t2に接続されている。
また、超音波探傷器12は第3図のブロック図に示すよ
うに発信器17、受信器18、温度補償式ゲインコント
ロールユニット19、tt9幅120、CRT21から
構成されている。
うに発信器17、受信器18、温度補償式ゲインコント
ロールユニット19、tt9幅120、CRT21から
構成されている。
このような構成において、発信器17より振動子I3か
ら被検体3内に超音波が発射され、被検体3に入射され
た超音波ビームは、欠陥箇所があった場合にはそこで反
射されて振動子13で受信され、その受kj信号は増幅
器20に入力される。
ら被検体3内に超音波が発射され、被検体3に入射され
た超音波ビームは、欠陥箇所があった場合にはそこで反
射されて振動子13で受信され、その受kj信号は増幅
器20に入力される。
一方、温度センサ15で測定した被検体3の温度検出信
号は温度補正式ゲインコントロールユニット19に加え
られる。そして、この出力により温度に応して増幅器2
0のゲインを制御することにより感度補正が行われる。
号は温度補正式ゲインコントロールユニット19に加え
られる。そして、この出力により温度に応して増幅器2
0のゲインを制御することにより感度補正が行われる。
増幅された受信信号はCRT上に表示され、測定点から
欠陥場所までの距がか反射波の到達時間より求められる
。こうして、温度変化による感度変化を補正して欠陥位
置の検出を行うことができる。
欠陥場所までの距がか反射波の到達時間より求められる
。こうして、温度変化による感度変化を補正して欠陥位
置の検出を行うことができる。
勿論、この場合超音波探傷器12には温度による探傷信
号レベルの増減データを記憶させておく必要がある。な
お、音速の不明な被検体については、別に予め探傷信号
の温度の影響を測定し、超音波探傷器12に記f、αさ
せておく。また、本装置に用いる超音波探触子の屈折角
は何度でもよく、取付角度の異なった振動子を複数個使
用した超音波探4!J’4Wを使用することもできる。
号レベルの増減データを記憶させておく必要がある。な
お、音速の不明な被検体については、別に予め探傷信号
の温度の影響を測定し、超音波探傷器12に記f、αさ
せておく。また、本装置に用いる超音波探触子の屈折角
は何度でもよく、取付角度の異なった振動子を複数個使
用した超音波探4!J’4Wを使用することもできる。
第4図は本発明による他の実施例を示す図で、図中、第
3図と同一番号は同一内容を示す。なお、22は15i
;rIJ子、23は温度補正式超音波入射角コントロー
ルユニット、24はくさび材、25は入射角可変機構部
、2Gは超音波探傷器である。
3図と同一番号は同一内容を示す。なお、22は15i
;rIJ子、23は温度補正式超音波入射角コントロー
ルユニット、24はくさび材、25は入射角可変機構部
、2Gは超音波探傷器である。
被検体3の温度を温度センサ15で測定した温度信号を
温度補正式超音波入射角コントロールユニット23に入
力し、その出力で入射角可変機構部25を駆動し、くさ
び材24上の円弧面上で振動子22を移動させ、超音波
の入射角を制御する。
温度補正式超音波入射角コントロールユニット23に入
力し、その出力で入射角可変機構部25を駆動し、くさ
び材24上の円弧面上で振動子22を移動させ、超音波
の入射角を制御する。
このようにして、被検体3の温度によって変化する被検
体3内の屈折角を常に基準温度の屈折角にして探傷する
。
体3内の屈折角を常に基準温度の屈折角にして探傷する
。
以上のように本発明によれば、超音波探触子で被検体の
温度を検知することにより、温度補正を自動的に行うこ
とができ、被検体の温度を考慮する必要がないので、超
音波探傷時の作業の効率化、単純化、従って作業時間を
短縮することが可能となり、作業経費を低減することが
でき、超音波探傷器への信頼性を向上することができる
。
温度を検知することにより、温度補正を自動的に行うこ
とができ、被検体の温度を考慮する必要がないので、超
音波探傷時の作業の効率化、単純化、従って作業時間を
短縮することが可能となり、作業経費を低減することが
でき、超音波探傷器への信頼性を向上することができる
。
第1図は本発明の超音波探傷装置における探触子を示す
図、第2図は被検体に超音波探触子を取り付けた状態を
示す図、第3図は超音波探傷装置の全体構成図、第4図
は本発明の他の実施例を示す図、第5図は従来の超音波
探傷装置を示す図である。 1・・・超音波探触子、2・・・超音波探傷器、3・・
・被検体、4・・・欠陥、5・・・超音波ビーム、6.
7・・・温度変化により屈折角の変化した超音波ビーム
、11・・・超音波探触子、12・・・超音波探傷器、
13・・・振動子、14・・・くさび材、15・・・温
度センサ、16・・・コネクタ、17・・・発信器、1
8・・・受信器、19・・・温度補正式ゲインコントロ
ールユニット、20・・・増幅器、21・・・CRT、
22・・・振動子、23・・・温度補正式超音波入射角
コントロールユニット、24・・・くさび材、25・・
・入射角可変機構部、26・・・超音波探傷器。 出 願 人 動力炉・核燃fi開発事業団代理人弁
理士 蛭 川 昌 信(外4名)第1図 第2図 第5図
図、第2図は被検体に超音波探触子を取り付けた状態を
示す図、第3図は超音波探傷装置の全体構成図、第4図
は本発明の他の実施例を示す図、第5図は従来の超音波
探傷装置を示す図である。 1・・・超音波探触子、2・・・超音波探傷器、3・・
・被検体、4・・・欠陥、5・・・超音波ビーム、6.
7・・・温度変化により屈折角の変化した超音波ビーム
、11・・・超音波探触子、12・・・超音波探傷器、
13・・・振動子、14・・・くさび材、15・・・温
度センサ、16・・・コネクタ、17・・・発信器、1
8・・・受信器、19・・・温度補正式ゲインコントロ
ールユニット、20・・・増幅器、21・・・CRT、
22・・・振動子、23・・・温度補正式超音波入射角
コントロールユニット、24・・・くさび材、25・・
・入射角可変機構部、26・・・超音波探傷器。 出 願 人 動力炉・核燃fi開発事業団代理人弁
理士 蛭 川 昌 信(外4名)第1図 第2図 第5図
Claims (4)
- (1)超音波振動子を内蔵した超音波探触子と、超音波
探触子へ超音波信号を送ると共に、探触子からの検出信
号を受信する受信器を有する超音波探傷器とからなる超
音波探傷装置において、被検体の温度を検出する温度検
出手段と検出温度信号により感度補正する感度補正手段
を設け、被検体の温度を検出して温度変化に伴う超音波
の屈折角の変化による感度変化を補正することを特徴と
する温度補償型超音波探傷装置。 - (2)感度補正手段は、検出温度に応じて受信信号を増
幅する増幅器のゲインを制御する請求項1記載の温度補
償型超音波探傷装置。 - (3)感度補正手段は、検出温度に応じて探触子の取付
角度を変えて温度変化に伴う超音波の屈折角を一定にな
るように制御する請求項1記載の温度補償型超音波探傷
装置。 - (4)探触子は、円弧面に沿って取付角度が変えられる
請求項3記載の温度補償型超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63029679A JPH01203967A (ja) | 1988-02-09 | 1988-02-09 | 温度補償型超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63029679A JPH01203967A (ja) | 1988-02-09 | 1988-02-09 | 温度補償型超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01203967A true JPH01203967A (ja) | 1989-08-16 |
Family
ID=12282802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63029679A Pending JPH01203967A (ja) | 1988-02-09 | 1988-02-09 | 温度補償型超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01203967A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7470056B2 (en) * | 2004-02-12 | 2008-12-30 | Industrial Measurement Systems, Inc. | Methods and apparatus for monitoring a condition of a material |
| US8256953B2 (en) | 2008-10-31 | 2012-09-04 | Yuhas Donald E | Methods and apparatus for measuring temperature and heat flux in a material using ultrasound |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54153690A (en) * | 1978-05-24 | 1979-12-04 | Hitachi Ltd | Variable angle ultrasonic probe |
| JPS5710449A (en) * | 1980-06-21 | 1982-01-20 | Teruo Kishi | Temperature compensation type crack measuring device |
| JPS5940250A (ja) * | 1982-08-31 | 1984-03-05 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 可変角超音波センサ |
-
1988
- 1988-02-09 JP JP63029679A patent/JPH01203967A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54153690A (en) * | 1978-05-24 | 1979-12-04 | Hitachi Ltd | Variable angle ultrasonic probe |
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| US7726875B2 (en) | 2004-02-12 | 2010-06-01 | Industrial Measurement Systems, Inc. | Methods and apparatus for monitoring a condition of a material |
| US8256953B2 (en) | 2008-10-31 | 2012-09-04 | Yuhas Donald E | Methods and apparatus for measuring temperature and heat flux in a material using ultrasound |
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