JPH01206241A - Defect detecting method - Google Patents

Defect detecting method

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JPH01206241A
JPH01206241A JP3063088A JP3063088A JPH01206241A JP H01206241 A JPH01206241 A JP H01206241A JP 3063088 A JP3063088 A JP 3063088A JP 3063088 A JP3063088 A JP 3063088A JP H01206241 A JPH01206241 A JP H01206241A
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JP
Japan
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signal
defect
sheet
light
light beam
Prior art date
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Pending
Application number
JP3063088A
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Japanese (ja)
Inventor
Masaaki Sakaguchi
正明 坂口
Kazuo Kubota
一雄 窪田
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To enable the detection of a defect in accordance with the kind of a sheet and the purpose of inspection, by judging the sheet as a defective article only when the defect is detected continuously substantially across scanning lines of a prescribed number or more. CONSTITUTION:A reflected light from the surface of a web 2 which is obtained from a light beam Q from a projecting means 3 is sensed by a light sensing means 4 and a light quantity signal, an electric signal of a level corresponding to the quantity of the sensed light is generated. This light quantity signal is amplified by an amplifier 5, the level of the amplified signal is compared with a reference level in a discriminator circuit 6, and when the level of the light quantity signal is lower, a defect signal is outputted. Then, it is detected in a counter-comparator circuit 8 whether or not the defect signal from the discriminator circuit 6 appears continuously across scanning lines of a prescribed number or more, and when it appears continuously, a decision signal is outputted to an alarm circuit 7.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、例えばビデオテープやオーディオテープ等の
磁気テープの製造工程において、磁性体塗布前の支持体
ウェブや磁性体塗布後の磁気テープ等の各種のシート状
物の表面欠陥を自動検出する方法に関し、詳しくはシー
ト幅方向に光ビームを走査し、シート表面からの光量情
報に基づいてシートの表面欠陥を検出する欠陥検出方法
に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention is applicable to, for example, in the manufacturing process of magnetic tapes such as video tapes and audio tapes, a support web before being coated with a magnetic substance, a magnetic tape after being coated with a magnetic substance, etc. This article relates to a method for automatically detecting surface defects on various sheet materials, and more specifically, it relates to a defect detection method that scans a light beam in the width direction of the sheet and detects surface defects on the sheet based on information on the amount of light from the sheet surface. be.

(従来の技術) オーディオテープやビデオテープ等の磁気テープの製造
工程においては、支持体ウェブ製造工程や最終検査工程
等各工程で表面の傷、変形、異物付管等により生じる表
面欠陥の検出を行ない表面欠陥のあるものを選別してい
る。
(Prior art) In the manufacturing process of magnetic tapes such as audio tapes and video tapes, it is necessary to detect surface defects caused by surface scratches, deformations, tubes with foreign objects, etc. in each process such as the support web manufacturing process and the final inspection process. Then, those with surface defects are sorted out.

このような表面欠陥を検出する方法として、テープや支
持体ウェブ等(以下シートという)の長平方向に走行す
るテープに対し光ビームをシート幅方向に走査してシー
ト表面からの反射光を検出し、その検出した反射光の光
量信号に基づいてシート欠陥を検出する方法が知られて
いる。
As a method for detecting such surface defects, a light beam is scanned in the sheet width direction against a tape or a support web (hereinafter referred to as a sheet) running in the longitudinal direction, and the reflected light from the sheet surface is detected. A method is known in which sheet defects are detected based on a light amount signal of the detected reflected light.

従来このような欠陥検出方法においては、上記光量信号
の中でレベルが極端に小さくなったところを欠陥信号と
定義し、いずれかの走査においてこの欠陥信号が1つで
も出力されれば、そのシートは欠陥品であるとして選別
排除していた。
Conventionally, in such a defect detection method, a point in the light amount signal where the level becomes extremely low is defined as a defect signal, and if even one defect signal is output in any scanning, that sheet is detected. were rejected as defective products.

(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上記シートの種類や検査の目的によって
は一つの欠陥信号が出力されたからといって欠陥品とし
て扱われなくても良いようなものがある。例えば外観検
査において、磁気テープの磁性体塗布面と反対の面に小
さな(走査線の中程度の)傷がついているからといって
欠陥品とする必要はない。従来の方法によってはこのよ
うにシートの種類や検査の目的を考慮することなく欠陥
信号が出力されればこのシートを欠陥品として処理して
いたので過剰検出となっていた。
(Problems to be Solved by the Invention) However, depending on the type of sheet and the purpose of the inspection, there are some sheets that do not need to be treated as defective even if one defect signal is output. For example, in a visual inspection, there is no need to judge a magnetic tape as defective just because there is a small scratch (medium in the scanning line) on the opposite side of the magnetic tape to the side coated with the magnetic material. Depending on the conventional method, if a defect signal is output without considering the type of sheet or the purpose of inspection, the sheet is treated as a defective product, resulting in excessive detection.

本発明はこのような事情に鑑み、シートに欠陥があると
判断される場合であっても、そのシートの種類および検
査の目的に応じ、問題となる程度の欠陥を発見した場合
のみそのシートを欠陥品と判定し得る簡単な欠陥検出方
法を提供することを目的とするものである。
In view of these circumstances, the present invention is designed to remove the sheet only when a problematic level of defect is discovered, depending on the type of the sheet and the purpose of the inspection, even if it is determined that the sheet has a defect. The purpose is to provide a simple defect detection method that can determine that a product is defective.

(課題を解決するための手段) 本発明の欠陥検出方法は、シートの被検査面に対し光ビ
ームをラスクスキャンし、この被走査面から反射された
光ビームの光量が所定値以上変化して検出されたとき欠
陥が存在すると判断し、この欠陥が所定数以上の走査線
に亘って連続もしくは略連続して出現したときシート表
面に問題となる程度の欠陥が存在するとしてこのシート
を欠陥品として判定することを特徴とするものである。
(Means for Solving the Problems) The defect detection method of the present invention scans a light beam over a surface to be inspected of a sheet, and detects a change in the amount of light beam reflected from the surface to be scanned by a predetermined value or more. When a defect is detected, it is determined that a defect exists, and when this defect appears continuously or almost continuously over a predetermined number of scanning lines, it is determined that there is a defect of a problem level on the surface of the sheet, and the sheet is classified as a defective product. This feature is characterized in that it is determined as follows.

(作  用) 本発明の欠陥検出方法は、シートの被検査面からの反射
光量が所定値以上変化したとき欠陥があると判断するが
、この欠陥が1つ検出されたとき直ちに欠陥品として判
定するものではなく、その後に続く所定数以上の走査線
に亘って略連続して欠陥が検出されたとき欠陥品として
判定する。すなわち、例えば外観検査において人間の目
でみて欠陥がA以上の長さのとき欠陥品として判断され
へ るとすれば、検査用光ビームの走査線ピッチが可であれ
ば連続して5本以上の走査線に亘って欠陥が検出されれ
ば欠陥品と判断するようにしているので、人間の目と同
じ基準でシート表面の欠陥を検出することができる。な
お、このような細長の欠陥は必ずしも一様のレベルで検
出されるものではないので、反射光量信号に基づく検出
によっては、このような欠陥を横ぎる複数本の走査線の
うちの一部に欠陥がないとして判定されることかある。
(Function) The defect detection method of the present invention determines that there is a defect when the amount of reflected light from the inspected surface of the sheet changes by more than a predetermined value, but when one defect is detected, it is immediately determined that the product is defective. Rather, when defects are detected substantially continuously over a predetermined number or more of subsequent scanning lines, the product is determined to be defective. In other words, for example, in visual inspection, if a defect is judged to be defective when it is seen by the human eye and has a length of A or more, then if the scanning line pitch of the inspection light beam is acceptable, five or more consecutive inspection light beams are detected. Since a defect is determined to be a defective product if a defect is detected over the scanning lines, defects on the sheet surface can be detected using the same criteria as the human eye. Note that such elongated defects are not necessarily detected at a uniform level, so depending on the detection based on the reflected light amount signal, some of the multiple scanning lines that cross such defects may be detected. Sometimes it is determined that there are no defects.

しかしこのような場合、人間の目には連続した欠陥とし
て見えるものがほとんどであるから、本発明の方法では
連続の場合のみならず略連続して所定数以上の走査線に
亘って欠陥が出現する場合にも欠陥品と判定するように
しており、これにより目視検査等に対応する、より実情
に即した欠陥検出を行なうことができる。
However, in such cases, most of the defects appear to the human eye as continuous defects, so the method of the present invention allows defects to appear not only continuously but also substantially continuously over a predetermined number of scanning lines or more. Even when the product is defective, it is determined that the product is defective, so that it is possible to perform defect detection that corresponds to visual inspection or the like and is more in line with the actual situation.

また、一般に磁気記録テープ等を製造する際には、種々
の製造工程で長尺シートを長手方向に走行させつつ処理
するため長尺シートの表面には走行方向、すなわち長手
方向に延びる傷やむら等の欠陥が発生しやすい。したが
って、この後上記長尺シートが長さ方向または中方向に
裁断され、この裁断されたものについて表面検査を行な
う場合にもほとんどの欠陥が一定方向(上記長手方向)
に延びるものであって外観的に目立つような欠陥である
か否かはこの方向に延びる長さ如何によって決まると考
えてよい。
Additionally, when manufacturing magnetic recording tapes, etc., the long sheets are generally processed while running in the longitudinal direction during various manufacturing processes, so the surface of the long sheets has scratches and unevenness that extend in the running direction, that is, the longitudinal direction. Such defects are likely to occur. Therefore, when the long sheet is then cut in the longitudinal direction or in the middle direction and a surface inspection is performed on the cut sheet, most defects are found in a certain direction (the longitudinal direction).
It can be considered that whether or not the defect is visually conspicuous is determined by the length of the defect extending in this direction.

本発明の欠陥検出方法ではこのような経験的事実を前提
としており、シートの一方向(上記走行方向に対応する
方向)のみについて欠陥の長さを検出することにより簡
易に欠陥検出を行なうことが可能となる。
The defect detection method of the present invention is based on this empirical fact, and can easily detect defects by detecting the length of the defect in only one direction of the sheet (the direction corresponding to the traveling direction). It becomes possible.

(実 施 例) 以下、本発明の実施例について図面を用いて説明する。(Example) Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例方法を実施するための表面欠
陥検出装置を示す概略図である。この装置は、2つの巻
取リールla、 lb間を矢印A方向に定速走行する磁
気テープの支持体ウェブ(以下単にウェブと称する)2
上に光ビームQをラスクスキャンせしめる投光手段3、
この投光手段3からの光ビームQのうちウェブ2表面か
らの反射光を受光し、この受光量に応じたレベルの電気
信号である光量信号を発生せしめる受光手段4、該光量
信号を増幅する増幅部5、この増幅部5から出力された
光量信号のレベルを所定の基準レベルと比較し、光量信
号のレベルの方が低い場合に欠陥信号を出力する弁別回
路6、弁別回路6からの欠陥信号が所定数以上の走査線
に亘り連続して出現するか否かを検出し、連続して出現
する場合には警報回路7に判定信号を出力するカウンタ
・比較回路8からなっている。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a surface defect detection apparatus for carrying out a method according to an embodiment of the present invention. This device consists of a magnetic tape support web (hereinafter simply referred to as web) 2 that runs at a constant speed in the direction of arrow A between two take-up reels la and lb.
a light projecting means 3 for causing the light beam Q to perform a rask scan above;
A light receiving means 4 receives reflected light from the surface of the web 2 out of the light beam Q from the light projecting means 3, and generates a light amount signal, which is an electrical signal of a level corresponding to the amount of received light, and amplifies the light amount signal. an amplification section 5; a discrimination circuit 6 that compares the level of the light amount signal output from the amplification section 5 with a predetermined reference level and outputs a defect signal when the level of the light amount signal is lower; and a defect detection circuit 6; It consists of a counter/comparison circuit 8 that detects whether or not a signal appears continuously over a predetermined number of scanning lines or more, and outputs a judgment signal to an alarm circuit 7 if the signal appears continuously.

上記投光手段3からの光ビームQはウェブの幅方向に一
定周期で走査されるようになっており、また上述したよ
うにウェブ2は定速で走行するので、光ビームは第2図
に示すようにウェブ表面上でラスクスキャンされる。こ
の光ビームQのウェブ2上でのスポット径は0.4〜0
.5mm程度であり、またウェブ走行スピードは15c
m/SeC程度であってウェブの被走査面の略全面に亘
って検査されるようになっている。なお、この光ビーム
Qのウェブ2への入射角αおよび反射角βは例えば22
.5゜に設定される。受光手段4に入射する光ビームQ
は、ビーム照射されたウェブ2各部の光量情報を含んで
いる。すなわち、ウェブ表面に光ビームQが照射されて
いるとき受光手段4による受光量が最大となり、光ビー
ムQがウェブ表面からはずれると上記受光量は略0とな
り、また、ウェブ表面に例えば傷等の表面欠陥9がある
と、その部分から受光手段4に入射する反射光量が減少
する。これにより、受光手段4の受光量を測定すればウ
ェブ2上に形成された傷等による表面欠陥の有無を判定
することができる。ただし、実際には上記光ビームQは
受光手段4により光量信号に光電変換されるため、この
受光手段4から出力される光量信号に含まれる光量情報
を測定して表面欠陥の有無を判定することになる。
The light beam Q from the light projecting means 3 is scanned at a constant period in the width direction of the web, and since the web 2 runs at a constant speed as described above, the light beam Q is as shown in FIG. A rask scan is performed on the web surface as shown. The spot diameter of this light beam Q on the web 2 is 0.4 to 0.
.. It is about 5mm, and the web running speed is 15c.
m/SeC, and almost the entire surface of the web to be scanned is inspected. Incidentally, the incident angle α and reflection angle β of this light beam Q to the web 2 are, for example, 22
.. It is set at 5°. Light beam Q incident on light receiving means 4
contains light amount information of each part of the web 2 irradiated with the beam. That is, when the web surface is irradiated with the light beam Q, the amount of light received by the light receiving means 4 is maximum, and when the light beam Q deviates from the web surface, the amount of light received becomes approximately 0. If there is a surface defect 9, the amount of reflected light that enters the light receiving means 4 from that portion decreases. Thereby, by measuring the amount of light received by the light receiving means 4, it is possible to determine the presence or absence of surface defects such as scratches formed on the web 2. However, in reality, the light beam Q is photoelectrically converted into a light amount signal by the light receiving means 4, so the presence or absence of surface defects is determined by measuring the light amount information included in the light amount signal output from the light receiving means 4. become.

上記弁別回路6は光量信号のうち、ウェブ2上からの反
射光に対応する信号期間のみ取り出し、この期間内で、
所定の基準値よりも低いレベルがあればこれを“1“レ
ベルの欠陥信号として出力するものであり、具体的には
ゲート回路とコンパレータ回路とからなっている。なお
、所定の基準値はサーメットトリマ6aにより外部から
設定、変更が可能である。
The discrimination circuit 6 extracts only the signal period corresponding to the reflected light from the web 2 from the light amount signal, and within this period,
If there is a level lower than a predetermined reference value, this is output as a "1" level defect signal, and specifically consists of a gate circuit and a comparator circuit. Note that the predetermined reference value can be set and changed from the outside using the cermet trimmer 6a.

上記カウンタ・比較回路8では欠陥信号が入力される度
にカウンタがインクリメントされ、外部の設定部8aに
より設定された数値とカウンタ・比較回路8の数値が一
致したとき判定信号が警報回路7に出力される。また、
−走査期間に亘って欠陥信号が出現しないときは、弁別
回路6からカウンタ・比較回路8のカウンタにリセット
パルスが出力されカウンタは0にリセットされるので、
設定部8aで設定した数量上の走査線に亘り連続して欠
陥が存在するときのみ、判定信号が出力されることにな
る。なお、欠陥が出現する確率は極めて小さいので通常
、−走査期間中に2つの欠陥信号が出現することを考慮
する必要はない。
In the counter/comparison circuit 8, the counter is incremented each time a defect signal is input, and when the value set by the external setting section 8a matches the value of the counter/comparison circuit 8, a judgment signal is output to the alarm circuit 7. be done. Also,
- When no defect signal appears during the scanning period, a reset pulse is output from the discrimination circuit 6 to the counter of the counter/comparison circuit 8, and the counter is reset to 0.
A determination signal is output only when defects exist continuously over the number of scanning lines set by the setting unit 8a. Note that since the probability that a defect will appear is extremely small, there is usually no need to consider the appearance of two defect signals during the -scanning period.

なお、警報回路7は、音を発することにより欠陥品があ
ることをオペレータに知らせるものであるが、判定信号
を例えばLEDに入力せしめて視覚的にオペレータに知
らせたり自動選別機に入力せしめて欠陥品を自動選別す
ることも可能である。
The alarm circuit 7 notifies the operator that there is a defective product by emitting a sound, but it also inputs a judgment signal into an LED to notify the operator visually, or inputs it into an automatic sorting machine to notify the operator that there is a defect. It is also possible to automatically sort items.

次にウェブ2上に第3a図に示すような小さな欠陥9a
がある場合と、第3b図に示すようなやや大きい欠陥9
bがある場合の、弁別回路6への入力信号および出力信
号について第4a図及び第4b図を用いて説明する。
Next, a small defect 9a as shown in FIG. 3a is formed on the web 2.
In some cases, there is a slightly larger defect 9 as shown in Figure 3b.
The input signal and output signal to the discrimination circuit 6 in the case where there is b will be explained using FIGS. 4a and 4b.

第3a図に示すような小さな欠陥がウェブ2上にある場
合は、欠陥9a’は1本の走査線(1)上にのみ位置し
走査線(2)、 (3)上には位置しない。したがって
弁別回路6に入力される光量信号Saには走査線(1)
に対応する区間T1にのみ、基準レベルPよりも小さい
信号部分が存在する。この信号部分の立ち下がりに同期
して所定幅のパルス信号である欠陥信号りがこの弁別回
路6から出力される。
If there is a small defect on the web 2 as shown in FIG. 3a, the defect 9a' is located only on one scan line (1) and not on scan lines (2) and (3). Therefore, the light amount signal Sa input to the discrimination circuit 6 includes the scanning line (1).
A signal portion smaller than the reference level P exists only in the section T1 corresponding to . A defect signal, which is a pulse signal of a predetermined width, is outputted from the discrimination circuit 6 in synchronization with the fall of this signal portion.

これに対し、第3b図に示すような、やや細長くて大き
い欠陥9bがウェブ2上にある場合は、欠陥9bは複数
の走査線(1) 、 (2) 、 (3)上に位置する
。したがって弁別回路6に入力される光量信号sbには
走査線(1) 、 (2) 、 (3)に各々対応する
区間TI。
On the other hand, when a slightly elongated and large defect 9b is present on the web 2 as shown in FIG. 3b, the defect 9b is located on a plurality of scanning lines (1), (2), and (3). Therefore, the light amount signal sb input to the discrimination circuit 6 has sections TI corresponding to scanning lines (1), (2), and (3), respectively.

”2 * T3毎に基準レベルPよりも小さい信号部分
が存在する。したがってこれら各信号部分の立ち下がり
に同期して略1走査期間間隔で欠陥信号りが弁別回路6
から出力される。この後、この欠陥信号りはカウンタ・
比較回路8に入力され、カウンタの数値を3までインク
リメントせしめる。
``2*There is a signal portion smaller than the reference level P for every T3.Therefore, in synchronization with the falling edge of each of these signal portions, the defective signal is detected by the discrimination circuit 6 at approximately one scanning period interval.
is output from. After this, this defect signal is output to the counter.
The signal is input to the comparator circuit 8, and the counter value is incremented to 3.

したがって設定部8aの設定値が例えば3であれば警報
回路7に判定信号が出力されることになる。
Therefore, if the setting value of the setting section 8a is, for example, 3, a determination signal will be output to the alarm circuit 7.

なお、上記実施例においては、カウンタ・比較回路8に
連続して所定数以上の欠陥信号が入力された場合のみ、
すなわち、欠陥が所定数以上の走査線に亘って連続して
存在するとき判定信号が出力されるようになっているが
、カウンタ・比較回路8の構成を変更することにより所
定数Aの走査線のうち所定数8以上の走査線に欠陥が存
在するとき判定信号が出力されるようにすることも可能
である。
In the above embodiment, only when a predetermined number or more of defective signals are continuously input to the counter/comparison circuit 8,
In other words, a determination signal is output when a defect exists continuously over a predetermined number of scanning lines or more, but by changing the configuration of the counter/comparison circuit 8, It is also possible to output a determination signal when a defect exists in a predetermined number of eight or more scanning lines.

さらに、本発明方法を実施するための装置としては上記
実施例の装置に限られるものではなく、その他種々の構
成の装置を用いることが可能である。
Further, the apparatus for carrying out the method of the present invention is not limited to the apparatus of the above embodiments, and it is possible to use apparatuses with various other configurations.

(発明の効果) 以上説明したように、本発明の欠陥検出方法によれば、
欠陥が1つ検出されたときにシート(ウェブ)を直ちに
欠陥品として判定するものではなく、所定数以上の走査
線に亘って略連続して欠陥が検出されたときにのみシー
トを欠陥品として判定するためシートの種類や検査の目
的に応じた欠陥検出を行なうことができる。この結果、
例えば外観検査等においては目視検査等と一致するよう
な検査、すなわち人間の目に欠陥の存在を印象づけるよ
うな大きい欠陥についてのみ欠陥品として判定すること
ができ従来方法のように過剰検出をするおそれがない。
(Effects of the Invention) As explained above, according to the defect detection method of the present invention,
A sheet (web) is not immediately determined to be defective when one defect is detected, but a sheet is determined to be defective only when defects are detected substantially continuously across a predetermined number of scanning lines or more. In order to make a determination, it is possible to perform defect detection according to the type of sheet and the purpose of inspection. As a result,
For example, in appearance inspections, etc., only defects that are large enough to impress the human eye with defects can be determined as defective products, which corresponds to visual inspections, etc., and there is a risk of over-detection as in conventional methods. There is no.

また、シート表面に付着した小さな塵埃等によりシート
が欠陥品として判定される状況を回避することもできる
Further, it is also possible to avoid a situation where the sheet is determined to be defective due to small dust or the like adhering to the sheet surface.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明の一実施例方法を実施するための表面
欠陥検出装置を示す概略図、第2図は第1図に示す光ビ
ームの走査の様子を説明するための概略図、第3a図お
よび第3b図はウェブ上に形成された欠陥と走査線の関
係を説明するための概略図、第4a図および第4b図は
、ウェブ上に各々第3a図および第3b図のような欠陥
がある場合に第1図に示す弁別回路に入力される信号お
よびこの回路から出力される信号の形状を示すタイムチ
ャートである。 2・・・支持体ウェブ(ジートン
FIG. 1 is a schematic diagram showing a surface defect detection apparatus for carrying out a method according to an embodiment of the present invention, FIG. 3a and 3b are schematic diagrams for explaining the relationship between defects formed on the web and scanning lines, and FIGS. 4a and 4b are schematic diagrams for explaining the relationship between defects formed on the web and scanning lines, and FIGS. 2 is a time chart showing the shape of a signal input to the discrimination circuit shown in FIG. 1 and a signal output from this circuit when there is a defect. 2...Support web (Giton)

Claims (1)

【特許請求の範囲】 シートの被検査面に光ビームを照射し、この光ビームを
該被走査面の巾方向に主走査するとともに長さ方向に副
走査し、 前記被走査面からの前記光ビームの反射光量に基づいて
前記シートの表面欠陥を検出する欠陥検出方法において
、 前記光ビームの反射光量が所定値以上変化したことによ
り検出された欠陥が所定数以上の走査線に亘って略連続
して出現したとき前記シートを欠陥品として判定するこ
とを特徴とする欠陥検出方法。
[Scope of Claims] A light beam is irradiated onto the surface to be inspected of the sheet, and the light beam is scanned in the width direction of the surface to be scanned and sub-scanned in the length direction, and the light beam from the surface to be scanned is In the defect detection method of detecting surface defects of the sheet based on the amount of reflected light of the light beam, the defects detected due to a change in the amount of reflected light of the light beam by a predetermined value or more are substantially continuous over a predetermined number or more of scanning lines. A defect detection method characterized in that when a defective sheet appears, the sheet is determined to be a defective product.
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